JPH0890416A - 表面粗さ処理方法および表面粗さ処理装置 - Google Patents

表面粗さ処理方法および表面粗さ処理装置

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JPH0890416A
JPH0890416A JP22619194A JP22619194A JPH0890416A JP H0890416 A JPH0890416 A JP H0890416A JP 22619194 A JP22619194 A JP 22619194A JP 22619194 A JP22619194 A JP 22619194A JP H0890416 A JPH0890416 A JP H0890416A
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祐介 山田
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 高画質、高性能の現像剤坦持体とするため、
円筒状基体の表面をサンドブラスト処理により平均粗さ
Raが0.5〜3.0μmの粗面に処理する際に、円筒
状基体の変形を少なくする。 【構成】 円筒状基体2は回転式置き台13上に円筒状
基体2の軸線を中心に回転可能(図中矢印方向)に取り
付けられている。円筒状基体2の側面から一定の距離離
れた位置には、円筒状基体2の表面に砥粒15を吹き付
けるための二つのブラストノズル14が配置され、二つ
のブラストノズル14は円筒状基体2を介して相対する
位置にある。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、サンドブラストによる
表面粗さ処理方法および表面粗さ処理装置に関し、特
に、電子写真法や静電記録法などにより形成される静電
潜像を現像する現像装置に使用される現像剤坦持体とな
る円筒状基体の表面粗さ処理方法および表面粗さ処理装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、一成分現像剤・二成分現像剤,磁
性・非磁性現像剤や絶縁性・誘電性現像剤を問わず、現
像剤を坦持して搬送させる円筒状の現像剤坦持体(以下
「スリーブ」という)上の現像剤の塗布状態にムラを発
生させないために、その表面に粗面化処理を施すことが
必須な条件とされてきた。
【0003】このとき、スリーブ表面に粗面化処理を施
す方法としては、サンドペーパーでスリーブ面を擦るサ
ンドペーパー法、化学処理による粗し法、球形粒子によ
るビーズブラスト法や、不定型粒子によるサンドブラス
ト法やこれらの混合法などが提案されており、また実施
されている。
【0004】最近ではスリーブ表面に導電性顔料を含有
した樹脂膜層を、ゴースト像などの防止のために設けて
画質の向上を図っている。
【0005】以下、上記スリーブへの樹脂膜層のコート
について説明する。
【0006】一成分現像剤を使用する現像装置が電子写
真複写機や電子写真プリンタに多用されている。
【0007】このような現像装置で、従来、スリーブ表
面に粗面化処理を施して現像剤搬送性能を向上したもの
が、特開昭55−14O858,同56−11317
2,同57−66455号公報などに記載されている。
【0008】ところで一成分現像剤を使用する現像装置
では、トナー粒子はスリーブとの間の摩擦により潜像を
現像するための極性に帯電する。上述の粗面化処理され
たスリーブは、トナー粒子を適度に摩擦帯電させるのに
も寄与する。
【0009】一方、スリーブの像坦持体の非画像部に対
向した領域では現像剤は消費されないが、この消費され
ない状態が続くとスリーブには、静電的鏡映力に起因す
ると考えられるが、微粉現像剤層が強く付着して、像坦
持体の画像域に対しても容易に消費されなくなるばかり
でなく、微粉現像剤層上の現像剤の帯電量を低下させて
しまう。このため、現像画像上にゴースト像を生じさ
せ、画像の質を劣化させてしまう。
【0010】このゴーストのメカニズムは、スリーブ上
に形成される微粉の層に深く関わっている。つまり、ス
リーブのトナー最下層の粒度分布に、トナー消費部分と
トナー非消費部分との間で明きらかな差が生じ、非消費
部分でのトナー最下層に微粉層が形成されている。微粉
は体積当りの表面積が大きいために粒径の大きなものに
比べると、質量当りに有する摩擦帯電電荷量が大きくな
り、鏡映力によりスリーブに対し、静電的に強く拘束さ
れる。このため、微粉層が形成された部分の上にあるト
ナーは、スリーブと十分な摩擦帯電できないために現像
能力が低下し、画像上にゴーストとして現れてしまう。
【0011】このため、近年、電子写真装置の高画質化
のために、トナーの一層の小粒径化が図られている。例
えば電子写真式レーザービームプリンタで言えば、印字
密度を従来の300dpiから倍の600dpi(2
3.6pel)に上げたものの実現にあったては、解像
度、シャープネス等を上げて静電潜像を忠実に再現させ
ることが、粒径9μm乃至4μm程度のトナーを用いる
ことで比較的簡単に解決される。
【0012】このような小粒径トナーの一例を示すと、
体積平均粒径が6.0μmであり、体積平均粒径3.5
μm以下のものが個数分布で約20%以下、体積平均粒
径16μm以上のものが体積分布で約1%以下の割合で
含まれているトナー等である。
【0013】ところが、このような小粒径トナーは、従
来のトナーと比べると体積当りの比表面積が大きいの
で、体積、重量当りの帯電量が増加するとともに、上記
したように、微粉量が大きく増加するために、これら小
粒径トナー内の樹脂成分が豊富になり、その結果、これ
らの小粒径トナーの高摩擦帯電微粉により、スリーブの
表面が汚染され易い。これによって前述したのと同様
に、ゴーストが生じ易くなる。
【0014】以上の現象に対する対策として、スリーブ
にカーボンブラック微粒子、グラファイト微粒子等を結
着樹脂中に分散させた表面層を設け、帯電微粉の電荷を
リークさせる技術が特開平1−276174,同1−2
77265,同2−176682号公報に記載されてい
る。
【0015】上記技術はゴースト防止効果が優れている
が、長期間に亙って使用している間に、表面層が部分的
に剥離し易いこと、表面層が摩擦してトナーの帯電性や
搬送性が劣化し、トナー層のムラが生じてくること、以
上のような改善を望まれる点が存在する。また所望の表
面粗さを有する表面層を容易に形成できるようにするこ
とも、上記先行技術に望まれる改善点の一つである。
【0016】上記先行技術に望まれる改善点を解消する
ために、スリーブは、サンドブラスト処理によって形成
された平均表面粗さRaが0.5〜3.0μmの粗面を
有する基体と、この基体の粗面に塗布された、結着樹脂
にグラファイト微粒子が分散された表面層とを有してお
り、前記表面層の表面層の表面の平均表面粗さRaは
0.4〜3.0μmである。
【0017】このように基体の上記粗面に表面層を表面
層を塗布しているので、表面層は基体に強く付着して剥
離しくいし、また表面層の表面粗さの使用に伴う変化を
小さく抑えることができ、さらに所要の平均表面粗さを
有する表面層を形成し易い、ということが知られてい
る。
【0018】しかしながら、上述の従来の方法では円筒
状基体の表面に所望の平均表面粗さをつけるためサンド
ブラスト処理によりアルミナ粉末を所定空気圧で吹き付
けると、その圧力により円筒状基体が変形する。
【0019】すなわち、一般にスリーブとして使われる
円筒状基体は、主にアルミを材料とした高精度部品であ
り、その直径は10mm位から100mm位まで、長さ
は150mm位〜400mm位まで各種ある。このとき
の円筒状基体の真直度は5〜30μmであり、振れ値は
5〜40μm以内である。そこへ表面に所望の平均表面
粗さをつけるためにサンドブラスト処理によりアルミナ
粉末を吹き付けると、アルミパイプの円筒状基体は肉厚
が薄いと真直度や振れ値がもとの精度よりも数μm〜数
十μm悪くなる、という問題点が生じる。
【0020】この真直度や振れ値における精度の低下
は、円筒状基体の直径や肉厚、およびサンドブラスト加
工時のエア圧により異なる。一般的に真直度および振れ
値は、円筒状基体の直径がφ12〜30mmの間では直
径が大きい方がサンドブラスト加工により悪くなり、肉
厚については直径が同じであれば薄い方がサンドブラス
ト加工により悪くなる。また、サンドブラスト時のエア
圧が強いほど悪くなるという傾向がある。
【0021】円筒状基体の直径は、使用する機械本体の
大きさや構造によって異なるが、一般には機械本体の大
きさに比例する。
【0022】円筒状基体の肉厚は直径と関係しており、
直径がφ12〜30mmでは肉厚0.7〜1.0mm程
度であるが、同じ直径で肉厚が薄いと強度が弱くなり、
厚いと円筒状基体内部の容積が小さくなり中に入るマグ
ネットの大きさが制限される。
【0023】マグネットの大きさが制限されると、高精
度のスリーブを開発する際に磁力の強さや均一さに悪影
響を及ぼす。
【0024】一方、サンドブラスト処理は、円筒状基体
表面に所望の平均表面粗さをつける手段として現在多く
用いられているが、この際、粒径20〜300μmのア
ルミナの粉をエア圧2.0〜5.0Kgf/cm
2(1.96×105〜4.9×10 5Pa)でアルミニ
ウムの円筒状基体表面に10〜20cmの距離から吹き
付けており、円筒状基体の表面平均粗さをRa=0.5
〜3.0にしている。このとき、円筒状基体の受ける圧
力のために真直度や振れ値に悪影響が生じる。特にエア
圧が大きいほど、また円筒状基体とブラストノズルの距
離が近いほど影響が大きい、つまり円筒状基体が変形す
る。しかし、変形を避けるためにエア圧を低くし、ブラ
ストノズルの距離を遠ざけると、円筒状基体の表面に所
望の粗さが得られない。
【0025】また、粒径50〜250μmのアルミナの
粉、またはガラスビーズ(以下、「砥粒」と称する)を
エア圧1.0〜5.0kgf/cm2(9.8×104
4.9×105Pa)で、φ3〜10mmのノズルから
吐出させ、被加工物基体に5〜30cmの距離から吹き
付けたときも、砥粒の径が大きいほど、またエア圧が高
いほど、またノズルと被加工物の距離が近いほど被加工
物の表面粗さは粗くなる。処理時間については、被加工
物全体に均一に砥粒が当たれば、時間にあまり影響しな
いで、粗さはほぼ一定である。
【0026】このような表面粗さ処理を行う従来の装置
を図12及び図13に示す。
【0027】図12は従来の表面粗さ処理装置の一構成
例を示し、(a)は平面図、(b)は側面図である。図
13は従来の表面粗さ処理装置の他の構成例を示し、
(a)は平面図、(b)は側面図である。
【0028】これらの図に示すように、円筒状基体10
1は回転式置き台102により円筒状基体101の軸線
を中心に回転可能となっている。円筒状基体101の側
面から一定距離離れた位置には、円筒状基体101の表
面に砥粒104を吹き付けるためのブラストノズル10
3が配置されている。ブラストノズル103には、エア
ーを供給するためのブラストエア供給管106と、砥粒
104を供給するための砥粒供給管105が接続されて
いる。このような構成の表面粗さ処理装置では、ブラス
トノズル103が、図12に示すように円筒状基体10
1の軸線と平行に移動可能なものや、図13に示すよう
に揺動アーム107により円筒状基体101の長さ方向
に対して揺動するものがある。
【0029】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図12
及び図13に示した従来の装置による表面粗さ処理で
は、立方体、直方体、球体などの形状の基体は良いが、
細長い円筒状の基体やパイプ状の基体などをブラスト処
理する場合、砥粒とエアの圧力で、これら細長い円筒状
の基体やパイプ状の基体が変形することもある。
【0030】特に、径が細かく長い円筒状基体や細くて
肉厚の薄いパイプ状の基体等は変形しやすく、ブラスト
処理により、2〜50μm程変形してしまうことがあっ
た。
【0031】そこで本発明は、上記問題点に鑑みてなさ
れたものであって、高画質、高性能の現像剤坦持体とす
るため、円筒状基体の表面をサンドブラスト処理により
平均粗さRaが0.5〜3.0μmの粗面に処理する際
に、円筒状基体の変形を少なくする表面粗さ処理方法お
よび表面粗さ処理装置を提供することを目的としてい
る。
【0032】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、被加工物を回転させ、該被加工物の表面に
砥粒を吐出させて前記被加工物の表面に所定の表面粗さ
を施す表面粗さ処理方法において、前記被加工物の表面
への砥粒の吐出方向を、前記被加工物の周囲に均等に、
かつ、前記被加工物を間において対向させたことを特徴
とする。
【0033】そして、この表面粗さ処理方法において、
前記被加工物が円筒状基体であるものや、前記被加工物
が静電潜像を現像する現像装置に使用される現像剤坦持
体となるものであることを特徴とする。
【0034】さらに上記目的を達成するための本発明
は、被加工物を回転させるための回転式置き台と、該被
加工物から所定の距離が隔てられ、前記被加工物の表面
に砥粒を吐出して表面粗さ処理を施すためのブラストノ
ズルと、を備えた表面粗さ処理装置において、前記ブラ
ストノズルが、前記被加工物の周囲に均等に、かつ、前
記被加工物を間において対向するように配置されている
ことを特徴とする。
【0035】そして、この表面粗さ処理装置において、
前記被加工物が円筒状基体であって、該円筒状基体はそ
の中心軸回りに回転可能に前記回転式置き台に設置され
ているものや、前記被加工物は、静電潜像を現像する現
像装置に使用される現像剤坦持体となるものであること
を特徴とする。
【0036】このように本発明は、サンドブラスト処理
を施す際のノズルの数を複数にして、そのノズルの位置
を被加工物の周囲に均等に配置したことを特徴とするも
のである。また、ブラストノズルが被加工物の周囲全体
に配置されていてもよい。
【0037】すなわち、ブラストノズルを被加工物の周
囲に均等に配置することにより、被加工物の表面に砥粒
が万遍なく当たるものである。すなわち、一方向のみの
砥粒の衝突による変形を、反対側からも砥粒が衝突する
ことにより変形を少なくするものである。かかる効果
は、ある程度以上のブラスト時間を必要とし、短時間で
は砥粒の当たり方が均一になっておらず効果が少ない。
かかるブラスト時間としてはノズル本数によって異なる
が、ノズル本数が2〜3本では10秒以上から180秒
以下であり、10秒以下では当たり方が不均一であり変
形が大きく、180秒以上ではそれ以上の効果が見られ
ない。また、ノズルが4本以上では5秒から90秒以下
であり、5秒以下では当たり方が不均一であり変形が大
きく、90秒以上ではそれ以上の効果が見られない。ノ
ズル本数は2〜10本で変形を少なくする効果がある。
ノズル本数が多い程、ブラスト時間を短縮する効果を有
するものである。ノズル本数を10本以上用いることも
可能であるが、ブラストによる変形を少なくし、ブラス
ト時間を短縮するそれ以上の効果は認められない。
【0038】ノズルの垂直方向の位置関係は、対向する
ノズルが被加工物に対し同じ高さの位置にあることが望
ましい。但し、対向する互いのノズルからの砥粒および
エアの影響を考慮して、10〜50mm程度垂直方向に
ずらしても効果が確認されており構わない。
【0039】上記の課題解決手段による現像スリーブの
振れおよび真直度の好ましい範囲としては、両端5mm
を支点としてスリーブを1回転させたときの軸に対して
の最大変位量(振れ)で20μm以下、両端5mmを基
準として直線形体の、幾何学的に正しい直線からの狂い
の大きさ(真直度)が15μm以下である。
【0040】
【作用】上記のように構成された本発明では、複数個の
ノズルを被加工物の周囲に均等に、かつ、円筒状基体を
間において対向するように配置してサンドブラスト処理
を行うことで、円筒状基体の表面に砥粒を当てて表面粗
さ処理を行う際の円筒状基体の変形が少なくなる。
【0041】
【実施例】以下、本発明を完成させるにあたり行った実
験例について説明する。
【0042】本実験においては、まず後述する測定装置
を用いて円筒状基体の真直度および振れ値を測定し、次
に、本発明の表面粗さ処理装置により円筒状基体表面に
サンドブラストを施し、再び後述する測定装置を用いて
円筒状基体の真直度および振れ値を測定する。その後、
サンドブラスト処理の前後の測定結果を比較検討した。
【0043】まず、測定装置について図面を参照して説
明する。
【0044】図1は円筒状基体の真直度および振れ値を
測定するための測定装置の構成を示す平面図、図2は図
1に示した測定装置の右側面図である。
【0045】図1および図2に示すように測定装置は、
直角に折り曲げられた板状の透明部材6を有し、透明部
材の角部に当接するようにマスターゲージ1が配設され
る。そして、透明部材6の一側面上には、2つの同径の
スペーサー5がそれぞれマスターゲージ1の各端部付近
に配置されて、これらのスペーサ5をマスターゲージ1
とで挟むように円筒状基体2が配置される。尚、円筒状
基体2は、ばね4が取り付けられた押え板2によってマ
スターゲージ1側へ付勢される。
【0046】次に、このように構成された測定装置によ
る測定方法を説明する。
【0047】測定方法において、所定のレーザー測長機
を用いて図2に示すように振れ値、真直度を測定した。
【0048】(1)振れ値 図2に示すように、基準となるマスターゲージ1と円筒
状基体2との間の両端に2つの同径のスペーサー5を挟
み、その隙間にレーザ照射部7よりレーザ光を通過さ
せ、円筒状基体を逐次回転させながら間隔をレーザー受
光部9により測定する。
【0049】図3は図1に示した測定装置に基づいて振
れ値を測定するときの測定位置を示す図である。
【0050】振れ値は、図3に示すような軸方向5点×
周方向16点=80点から求めた。
【0051】(2)真直度 上記振れ値の測定と同様にマスターゲージ1と円筒状基
体2を配置し、端部側からマスターゲージ1と円筒状基
体2との間隔を測定する。
【0052】補正式:bi=ai−((a18−a1)/1
7)×(i−1) 但し、補正値:a1〜a18 i=1〜18 補正後:b1〜b18 測定点18点 とする。
【0053】図4は図1に示した測定位置に基づいて真
直度を測定するときの測定位置を示す図である。
【0054】真直値は、図4に示すような軸方向18点
×周方向8点=144点から求めた。
【0055】ここで、上記振れ値および真直度の規格値
・定義を以下の通りとした。
【0056】(1)振れ値 規格値:20μm以下 振れ値とは、円筒状基体を、両端部に近い外径に接する
2つの支点を基準軸線として回転させたとき固定点に関
してその表面が基準軸線と交わり基準軸線に対して垂直
若しくは斜めの方向または基準軸線に平行な方向変位す
る大きさをいう。
【0057】(2)真直度 規格値:15μm以下 真直度とは、円筒状基体の軸線を含む任意の平面内で、
互いに平行な二つの直線の中間部をいう(直線部分の幾
何学的直線からの狂いの大きさをいう。)。
【0058】次に、本発明の表面粗さ処理装置について
説明する。
【0059】(装置例1)図5は本発明の表面粗さ処理
装置の第1の構成例を示す平面図、図6は図5に示した
処理装置の側面図である。
【0060】図5および図6に示すように、円筒状基体
2は回転式置き台13上に円筒状基体2の軸線を中心に
回転可能(図5中矢印方向)に取り付けられている。円
筒状基体2の側面から一定の距離離れた位置には、円筒
状基体2の表面に砥粒15を吹き付けるための二つのブ
ラストノズル14が円筒状基体2の軸線と略平行に移動
可能(図6中矢印方向)に配置され、二つのブラストノ
ズル14は円筒状基体2を介して相対する位置にある。
各ブラストノズル14には砥粒を供給する砥粒供給管1
6と、エアーを供給するためのブラストエア圧供給管1
7とが接続されている。
【0061】(装置例2)図7は本発明の表面粗さ処理
装置の第2の構成例を示す平面図、図8は図7に示した
処理装置の側面図である。これらの図において、装置例
1と同一構成要素には同し符号を付してある。
【0062】図7および図8に示すように、円筒状基体
2は回転式置き台13上に円筒状基体2の軸線を中心に
回転可能(図7中矢印方向)に取り付けられている。円
筒状基体2の側面から一定の距離離れた位置には、円筒
状基体2の表面に砥粒15を吹き付けるための二つのブ
ラストノズル4が配置され、二つのブラストノズル14
は円筒状基体2を間において相対する位置にある。ま
た、各ブラストノズル14は揺動アーム18に取り付け
られ、円筒状基体2の軸線と平行な面内で揺動自在にな
っている。各ブラストノズル14には砥粒15を供給す
る砥粒供給管16と、エアーを供給するためのブラスト
エア圧供給管17とが接続されている。
【0063】(装置例3)図9は本発明の表面粗さ処理
装置の第3の構成例を示す平面図である。この図におい
ても、装置例1と同一構成要素には同じ符号を付してあ
る。
【0064】図9に示すように、円筒状基体2は回転式
置き台13上に円筒状基体2の軸線を中心に回転可能
(図9中矢印方向)に取り付けられている。円筒状基体
2の側面から一定の距離離れた位置には、円筒状基体2
の表面に砥粒15を吹き付けるための8個のブラストノ
ズル14が配置され、8個のブラストノズル14は円筒
状基体2を間において相対する位置にある。各ブラスト
ノズル14には砥粒15を供給する砥粒供給管16と、
エアーを供給するためのブラストエア圧供給管17とが
接続されている。
【0065】(装置例4)図10は本発明の表面粗さ処
理装置の第3の構成例を示す平面図、図11は図10に
示した処理装置の側面図である。これらの図において、
装置例1と同一構成要素には同し符号を付してある。
【0066】図10および図11に示すように、円筒状
基体2は回転式置き台13上に円筒状基体2の軸線を中
心に回転可能に取り付けられている。回転式置き台13
は、円筒状基体2の軸線方向(図11中矢印方向)に昇
降可能な昇降機21に設置されている。
【0067】円筒状基体1の周囲には、ドーナツ型の多
孔ノズル19が円筒状基体2の軸線に対して同心円状に
設置されている。多孔ノズル19の内周側には、砥粒1
5を吐出するための吐出孔20が形成され、各砥粒吐出
孔20は、円筒状基体2の周囲に均等に、かつ、円筒状
基体2を間において相対する位置にある。多孔ノズル1
9には砥粒15を供給する砥粒供給管16と、エアーを
供給するためのブラストエア圧供給管17とが接続され
ている。
【0068】本実験例では、上述した装置例1〜4によ
り円筒状基体の表面平均粗さRaを1.0〜3.0にす
るため、サンブラストの概ねの処理条件を以下の表1の
ようにした。
【0069】
【表1】 (実験例1)図5および図6に示したような、ブラスト
ノズルを、円筒状基体を間において2本対向させ、円筒
状基体の軸線と略平行に移動可能にした表面粗さ処理装
置を使用し、φ16mm、肉厚0.8mm、長さ330
mmのアルミ合金(A6063)のパイプにサンドブラ
スト処理を行なった。
【0070】サンドブラストの条件は次のとおりであ
る。
【0071】 砥粒:アランダム#100 ノズル本数:2本 ノズル上昇速度:660mm/min ノズル径:φ7mm 吐出エア圧:3.0kgf/cm2(2.94×105Pa) ワーク回転数:60rpm ノズル距離:200mm ブラスト処理時間:30秒 上記のブラスト処理を行ない、表面粗さRa=2.0μ
mのアルミパイプを作り、この表面にイソプロピルアル
コールの20%固形分のフェノール樹脂を結着剤として
100重量部、カーボンブラック2重量部およびグラフ
ァイト粉8重量部を、1mm径のガラスビーズを用いて
2時間サンドミル分散し、できた塗料をエアスプレーに
よりコートしたのち、150℃で20分加熱硬化し、冷
却後電子写真式レーザービームプリンターに装着して画
像評価を行なった。
【0072】(実験例2)図7および図8に示したよう
な、ブラストノズルを、円筒状基体を間において2本対
向させ、円筒状基体の長さ方向に対して揺動可能にした
表面粗さ処理装置を使用して、φ16mm、肉厚0.8
mm、長さ330mmのアルミ合金(A6063)のパ
イプにサンドブラスト処理を行なった。
【0073】サンドブラスト条件は次のとおりである。
【0074】 砥粒:アランダム#100 ノズル本数:2本 ノズル振幅回数:50回/min ノズル径:φ7mm 吐出エア圧:3.0kgf/cm2(2.94×105Pa) ワーク回転数:60rpm ノズル距離:200mm ブラスト処理時間:30秒 上記のブラスト処理を行なった後、実験例1と同様にエ
アスプレーによりカーボンコートを施し、電子写真式レ
ーザービームプリンターに装着して画像評価を行なっ
た。
【0075】(実験例3)図9に示したような、ブラス
トノズルを、8本ワークの周囲に均等に、かつ、円筒状
基体を間において対向するように配置した表面粗さ処理
装置を使用し、φ16mm、肉厚0.8mm、長さ33
0mmのアルミ合金(A6063)のパイプにサンドブ
ラスト処理を行なった。
【0076】サンドブラスト処理は次のとおりである。
【0077】 砥粒:アランダム#100 ノズル本数:8本 吐出エア圧:3.0kgf/cm2(2.94×105Pa) ワーク回転数:60rpm ノズル距離:200mm ノズル径:φ7mm ブラスト処理時間:7.5秒 上記のブラスト処理を行なった後、実験例1と同様にエ
アスプレーによりカーボンコートを施し、電子写真式レ
ーザービームプリンターに装着して画像評価を行なっ
た。
【0078】(実験例4)実験例1と同じ条件でアルミ
パイプの径が12mm、肉厚0.8mm、長さ250m
mのものを使用して実験を行なった。
【0079】(実験例5)実験例2と同じ条件でアルミ
パイプの径が12mm、肉厚0.8mm、長さ250m
mのものを使用して実験を行なった。
【0080】(実験例6)実験例3と同じ条件でアルミ
パイプの径が12mm、肉厚0.8mm、長さ250m
mのものを使用して実験を行なった。
【0081】(実験例7)実験例1と同じ条件で、ブラ
スト時間を60秒にして実験を行なった。
【0082】(実験例8)実験例1と同じ条件で、ブラ
スト時間を120秒にして実験を行なった。
【0083】(実験例9)実験例1と同じ条件で、ブラ
スト時間を180秒にして実験を行なった。
【0084】(実験例10)図10および図11に示し
たような、円筒状基体の周囲に均等に、かつ、円筒状基
体を間において対向するように配置された吐出孔を有す
る多孔ノズルからなる表面粗さ処理装置を使用して、そ
れらの吐出孔から砥粒を噴出させてブラスト処理を行な
った。
【0085】(比較例1)図12に示したような、2本
のブラストノズルを、円筒状基体の一側面へ向けて配置
するとともに、円筒状基体の軸線と略平行に移動可能に
した従来の表面粗さ処理装置を使用して、φ16mm、
肉厚0.8mm、長さ330mmのアルミ合金(A60
63)のパイプにサンドブラスト処理を行なった。
【0086】 砥粒:アランダム#100 ノズル本数:2本 ノズル上昇速度:600mm/min ノズル径:φ7mm 吐出エア圧:3.0kgf/cm2(2.94×105Pa) ワーク回転数:60rpm ノズル距離:200mm ブラスト処理時間:30秒 上記のブラスト処理を行ない、表面粗さRa=2.0μ
mのアルミパイプを作り、この表面に実験例1と同様に
エアスプレーによりカーボンコートを施し、電子写真式
レーザービームプリンターに装着して画像評価を行なっ
た。
【0087】(比較例2)図13に示したように、2本
のブラストノズルを、円筒状基体の一側面へ向けて配置
するとともに、円筒状基体の長さ方向に対して揺動可能
にした表面粗さ処理装置を使用し、φ16mm、肉厚
0.8mm、長さ300mmのアルミ合金(A606
3)のパイプにサンドブラスト処理を行なった。
【0088】サンドブラスト条件は次のとおりである。
【0089】 砥粒:アランダム#100 ノズル本数:2本 ノズル振幅回数:50回/min ノズル径:φ7mm 吐出エア圧:3.0kgf/cm2(2.94×105Pa) ワーク回転数:60rpm ノズル距離:200mm ブラスト処理時間:30秒 上記のブラスト処理を行なった後、実験例1と同様にエ
アスプレーによりカーボンコートを施し、電子写真式レ
ーザービームプリンターに装着して画像評価を行なっ
た。
【0090】(比較例3)比較例1と同じ条件でアルミ
パイプの径が12mm、肉厚0.8mm、長さ250m
mのものを使用して実験を行なった。
【0091】(比較例4)比較例2と同じ条件でアルミ
パイプの径が12mm、肉厚0.8mm、長さ250m
mのものを使用して実験を行なった。
【0092】次に、上述した実験例1〜10、比較例1
〜4による画像評価結果、および測定装置によるブラス
ト処理前後の円筒状基体の真直度・振れ値の測定結果を
表2に示す。
【0093】
【表2】 表2に示した実験結果によれば、ブラストノズルを、円
筒状基体の周囲に均等に、かつ、円筒状基体を間におい
て対向するように配置した表面粗さ処理装置を用いるこ
とにより、従来技術の装置と比較して円筒状基体の変形
は少なくなり、この円筒状基体からなる現像坦持体を電
子写真式レーザービームプリンターに使用した場合、優
れた画質が得られることが判った。
【0094】また、本発明では、被加工物をアルミパイ
プとしたが、この他にアルミ棒、ステンレスパイプ、鉄
パイプなどで検討を行なったところ同様の結果を得た。
【0095】さらに、パイプの径を20mmおよび30
mmのものを使用して同様の実験を行なったところ前述
のものと同様の結果を得た。
【0096】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、被加工
物、特に現像剤坦持体となる円筒状基体の表面をサンド
ブラスト処理する際において、ノズルの位置を円筒状基
体の周囲に均等に、かつ、円筒状基体を間において対向
するように配置することにより、被加工物の変形を少な
くし、精密部品の精度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】円筒状基体の真直度および振れ値を測定するた
めの測定装置の構成を示す平面図である。
【図2】図1に示した測定装置の右側面図である。
【図3】図1に示した測定装置に基づいて振れ値を測定
するときの測定位置を示す図である。
【図4】図1に示した測定位置に基づいて真直度を測定
するときの測定位置を示す図である。
【図5】本発明の表面粗さ処理装置の第1の構成例を示
す平面図である。
【図6】図5に示した処理装置の側面図である。
【図7】本発明の表面粗さ処理装置の第2の構成例を示
す平面図である。
【図8】図7に示した処理装置の側面図である。
【図9】本発明の表面粗さ処理装置の第3の構成例を示
す平面図である。
【図10】本発明の表面粗さ処理装置の第3の構成例を
示す平面図である。
【図11】図10に示した処理装置の側面図である。
【図12】従来の表面粗さ処理装置の一構成例を示し、
(a)は平面図、(b)は側面図である。
【図13】従来の表面粗さ処理装置の他の構成例を示
し、(a)は平面図、(b)は側面図である。
【符号の説明】
1 マスターゲージ 2 円筒状基体 3 押え板 4 ばね 5 スペーサー 6 透明部材 7 レーザ照射部 8 レーザ光 9 レーザ受光部 13 回転式置き台 14 ブラストノズル 15 吐出された砥粒 16 砥粒供給管 17 ブラストエア供給管 18 揺動アーム 19 多孔ノズル 20 砥粒吐出孔 21 昇降機
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 金子 利衛 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被加工物を回転させ、該被加工物の表面
    に砥粒を吐出させて前記被加工物の表面に所定の表面粗
    さを施す表面粗さ処理方法において、 前記被加工物の表面への砥粒の吐出方向を、前記被加工
    物の周囲に均等に、かつ、前記被加工物を間において対
    向させたことを特徴とする表面粗さ処理方法。
  2. 【請求項2】 前記被加工物が円筒状基体であることを
    特徴とする請求項1に記載の表面粗さ処理方法。
  3. 【請求項3】 前記被加工物が静電潜像を現像する現像
    装置に使用される現像剤坦持体となるものであることを
    特徴とする請求項1に記載の表面粗さ処理方法。
  4. 【請求項4】 被加工物を回転させるための回転式置き
    台と、該被加工物から所定の距離が隔てられ、前記被加
    工物の表面に砥粒を吐出して表面粗さ処理を施すための
    ブラストノズルと、を備えた表面粗さ処理装置におい
    て、 前記ブラストノズルが、前記被加工物の周囲に均等に、
    かつ、前記被加工物を間において対向するように配置さ
    れていることを特徴とする表面粗さ処理装置。
  5. 【請求項5】 前記被加工物が円筒状基体であって、該
    円筒状基体はその中心軸回りに回転可能に前記回転式置
    き台に設置されていることを特徴とする請求項4に記載
    の表面粗さ処理装置。
  6. 【請求項6】 前記被加工物は、静電潜像を現像する現
    像装置に使用される現像剤坦持体となるものであること
    を特徴とする請求項4に記載の表面粗さ処理装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100325638B1 (ko) * 1999-04-01 2002-12-06 한국신발피혁연구소 신발창의 표면 가공방법.
JP2009078403A (ja) * 2007-09-26 2009-04-16 Panasonic Corp 印刷用凹版の製造方法
JP2009122215A (ja) * 2007-11-13 2009-06-04 Ricoh Co Ltd 現像剤担持体、現像装置、プロセスカートリッジ及び画像形成装置
JP2010228020A (ja) * 2009-03-26 2010-10-14 Chuo Spring Co Ltd 車両用スタビライザの表面加工方法
JP2017504736A (ja) * 2013-11-20 2017-02-09 エレメント、シックス、ゲゼルシャフト、ミット、ベシュレンクテル、ハフツングElement Six Gmbh ストライク構造体、該ストライク構造体を備えるピック、及び、ストライク構造体を形成するための方法

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