JPH0890416A - 表面粗さ処理方法および表面粗さ処理装置 - Google Patents
表面粗さ処理方法および表面粗さ処理装置Info
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- JPH0890416A JPH0890416A JP22619194A JP22619194A JPH0890416A JP H0890416 A JPH0890416 A JP H0890416A JP 22619194 A JP22619194 A JP 22619194A JP 22619194 A JP22619194 A JP 22619194A JP H0890416 A JPH0890416 A JP H0890416A
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Abstract
円筒状基体の表面をサンドブラスト処理により平均粗さ
Raが0.5〜3.0μmの粗面に処理する際に、円筒
状基体の変形を少なくする。 【構成】 円筒状基体2は回転式置き台13上に円筒状
基体2の軸線を中心に回転可能(図中矢印方向)に取り
付けられている。円筒状基体2の側面から一定の距離離
れた位置には、円筒状基体2の表面に砥粒15を吹き付
けるための二つのブラストノズル14が配置され、二つ
のブラストノズル14は円筒状基体2を介して相対する
位置にある。
Description
表面粗さ処理方法および表面粗さ処理装置に関し、特
に、電子写真法や静電記録法などにより形成される静電
潜像を現像する現像装置に使用される現像剤坦持体とな
る円筒状基体の表面粗さ処理方法および表面粗さ処理装
置に関する。
性・非磁性現像剤や絶縁性・誘電性現像剤を問わず、現
像剤を坦持して搬送させる円筒状の現像剤坦持体(以下
「スリーブ」という)上の現像剤の塗布状態にムラを発
生させないために、その表面に粗面化処理を施すことが
必須な条件とされてきた。
す方法としては、サンドペーパーでスリーブ面を擦るサ
ンドペーパー法、化学処理による粗し法、球形粒子によ
るビーズブラスト法や、不定型粒子によるサンドブラス
ト法やこれらの混合法などが提案されており、また実施
されている。
した樹脂膜層を、ゴースト像などの防止のために設けて
画質の向上を図っている。
について説明する。
真複写機や電子写真プリンタに多用されている。
面に粗面化処理を施して現像剤搬送性能を向上したもの
が、特開昭55−14O858,同56−11317
2,同57−66455号公報などに記載されている。
では、トナー粒子はスリーブとの間の摩擦により潜像を
現像するための極性に帯電する。上述の粗面化処理され
たスリーブは、トナー粒子を適度に摩擦帯電させるのに
も寄与する。
向した領域では現像剤は消費されないが、この消費され
ない状態が続くとスリーブには、静電的鏡映力に起因す
ると考えられるが、微粉現像剤層が強く付着して、像坦
持体の画像域に対しても容易に消費されなくなるばかり
でなく、微粉現像剤層上の現像剤の帯電量を低下させて
しまう。このため、現像画像上にゴースト像を生じさ
せ、画像の質を劣化させてしまう。
に形成される微粉の層に深く関わっている。つまり、ス
リーブのトナー最下層の粒度分布に、トナー消費部分と
トナー非消費部分との間で明きらかな差が生じ、非消費
部分でのトナー最下層に微粉層が形成されている。微粉
は体積当りの表面積が大きいために粒径の大きなものに
比べると、質量当りに有する摩擦帯電電荷量が大きくな
り、鏡映力によりスリーブに対し、静電的に強く拘束さ
れる。このため、微粉層が形成された部分の上にあるト
ナーは、スリーブと十分な摩擦帯電できないために現像
能力が低下し、画像上にゴーストとして現れてしまう。
のために、トナーの一層の小粒径化が図られている。例
えば電子写真式レーザービームプリンタで言えば、印字
密度を従来の300dpiから倍の600dpi(2
3.6pel)に上げたものの実現にあったては、解像
度、シャープネス等を上げて静電潜像を忠実に再現させ
ることが、粒径9μm乃至4μm程度のトナーを用いる
ことで比較的簡単に解決される。
体積平均粒径が6.0μmであり、体積平均粒径3.5
μm以下のものが個数分布で約20%以下、体積平均粒
径16μm以上のものが体積分布で約1%以下の割合で
含まれているトナー等である。
来のトナーと比べると体積当りの比表面積が大きいの
で、体積、重量当りの帯電量が増加するとともに、上記
したように、微粉量が大きく増加するために、これら小
粒径トナー内の樹脂成分が豊富になり、その結果、これ
らの小粒径トナーの高摩擦帯電微粉により、スリーブの
表面が汚染され易い。これによって前述したのと同様
に、ゴーストが生じ易くなる。
にカーボンブラック微粒子、グラファイト微粒子等を結
着樹脂中に分散させた表面層を設け、帯電微粉の電荷を
リークさせる技術が特開平1−276174,同1−2
77265,同2−176682号公報に記載されてい
る。
が、長期間に亙って使用している間に、表面層が部分的
に剥離し易いこと、表面層が摩擦してトナーの帯電性や
搬送性が劣化し、トナー層のムラが生じてくること、以
上のような改善を望まれる点が存在する。また所望の表
面粗さを有する表面層を容易に形成できるようにするこ
とも、上記先行技術に望まれる改善点の一つである。
ために、スリーブは、サンドブラスト処理によって形成
された平均表面粗さRaが0.5〜3.0μmの粗面を
有する基体と、この基体の粗面に塗布された、結着樹脂
にグラファイト微粒子が分散された表面層とを有してお
り、前記表面層の表面層の表面の平均表面粗さRaは
0.4〜3.0μmである。
層を塗布しているので、表面層は基体に強く付着して剥
離しくいし、また表面層の表面粗さの使用に伴う変化を
小さく抑えることができ、さらに所要の平均表面粗さを
有する表面層を形成し易い、ということが知られてい
る。
状基体の表面に所望の平均表面粗さをつけるためサンド
ブラスト処理によりアルミナ粉末を所定空気圧で吹き付
けると、その圧力により円筒状基体が変形する。
円筒状基体は、主にアルミを材料とした高精度部品であ
り、その直径は10mm位から100mm位まで、長さ
は150mm位〜400mm位まで各種ある。このとき
の円筒状基体の真直度は5〜30μmであり、振れ値は
5〜40μm以内である。そこへ表面に所望の平均表面
粗さをつけるためにサンドブラスト処理によりアルミナ
粉末を吹き付けると、アルミパイプの円筒状基体は肉厚
が薄いと真直度や振れ値がもとの精度よりも数μm〜数
十μm悪くなる、という問題点が生じる。
は、円筒状基体の直径や肉厚、およびサンドブラスト加
工時のエア圧により異なる。一般的に真直度および振れ
値は、円筒状基体の直径がφ12〜30mmの間では直
径が大きい方がサンドブラスト加工により悪くなり、肉
厚については直径が同じであれば薄い方がサンドブラス
ト加工により悪くなる。また、サンドブラスト時のエア
圧が強いほど悪くなるという傾向がある。
大きさや構造によって異なるが、一般には機械本体の大
きさに比例する。
直径がφ12〜30mmでは肉厚0.7〜1.0mm程
度であるが、同じ直径で肉厚が薄いと強度が弱くなり、
厚いと円筒状基体内部の容積が小さくなり中に入るマグ
ネットの大きさが制限される。
度のスリーブを開発する際に磁力の強さや均一さに悪影
響を及ぼす。
表面に所望の平均表面粗さをつける手段として現在多く
用いられているが、この際、粒径20〜300μmのア
ルミナの粉をエア圧2.0〜5.0Kgf/cm
2(1.96×105〜4.9×10 5Pa)でアルミニ
ウムの円筒状基体表面に10〜20cmの距離から吹き
付けており、円筒状基体の表面平均粗さをRa=0.5
〜3.0にしている。このとき、円筒状基体の受ける圧
力のために真直度や振れ値に悪影響が生じる。特にエア
圧が大きいほど、また円筒状基体とブラストノズルの距
離が近いほど影響が大きい、つまり円筒状基体が変形す
る。しかし、変形を避けるためにエア圧を低くし、ブラ
ストノズルの距離を遠ざけると、円筒状基体の表面に所
望の粗さが得られない。
粉、またはガラスビーズ(以下、「砥粒」と称する)を
エア圧1.0〜5.0kgf/cm2(9.8×104〜
4.9×105Pa)で、φ3〜10mmのノズルから
吐出させ、被加工物基体に5〜30cmの距離から吹き
付けたときも、砥粒の径が大きいほど、またエア圧が高
いほど、またノズルと被加工物の距離が近いほど被加工
物の表面粗さは粗くなる。処理時間については、被加工
物全体に均一に砥粒が当たれば、時間にあまり影響しな
いで、粗さはほぼ一定である。
を図12及び図13に示す。
例を示し、(a)は平面図、(b)は側面図である。図
13は従来の表面粗さ処理装置の他の構成例を示し、
(a)は平面図、(b)は側面図である。
1は回転式置き台102により円筒状基体101の軸線
を中心に回転可能となっている。円筒状基体101の側
面から一定距離離れた位置には、円筒状基体101の表
面に砥粒104を吹き付けるためのブラストノズル10
3が配置されている。ブラストノズル103には、エア
ーを供給するためのブラストエア供給管106と、砥粒
104を供給するための砥粒供給管105が接続されて
いる。このような構成の表面粗さ処理装置では、ブラス
トノズル103が、図12に示すように円筒状基体10
1の軸線と平行に移動可能なものや、図13に示すよう
に揺動アーム107により円筒状基体101の長さ方向
に対して揺動するものがある。
及び図13に示した従来の装置による表面粗さ処理で
は、立方体、直方体、球体などの形状の基体は良いが、
細長い円筒状の基体やパイプ状の基体などをブラスト処
理する場合、砥粒とエアの圧力で、これら細長い円筒状
の基体やパイプ状の基体が変形することもある。
肉厚の薄いパイプ状の基体等は変形しやすく、ブラスト
処理により、2〜50μm程変形してしまうことがあっ
た。
れたものであって、高画質、高性能の現像剤坦持体とす
るため、円筒状基体の表面をサンドブラスト処理により
平均粗さRaが0.5〜3.0μmの粗面に処理する際
に、円筒状基体の変形を少なくする表面粗さ処理方法お
よび表面粗さ処理装置を提供することを目的としてい
る。
に本発明は、被加工物を回転させ、該被加工物の表面に
砥粒を吐出させて前記被加工物の表面に所定の表面粗さ
を施す表面粗さ処理方法において、前記被加工物の表面
への砥粒の吐出方向を、前記被加工物の周囲に均等に、
かつ、前記被加工物を間において対向させたことを特徴
とする。
前記被加工物が円筒状基体であるものや、前記被加工物
が静電潜像を現像する現像装置に使用される現像剤坦持
体となるものであることを特徴とする。
は、被加工物を回転させるための回転式置き台と、該被
加工物から所定の距離が隔てられ、前記被加工物の表面
に砥粒を吐出して表面粗さ処理を施すためのブラストノ
ズルと、を備えた表面粗さ処理装置において、前記ブラ
ストノズルが、前記被加工物の周囲に均等に、かつ、前
記被加工物を間において対向するように配置されている
ことを特徴とする。
前記被加工物が円筒状基体であって、該円筒状基体はそ
の中心軸回りに回転可能に前記回転式置き台に設置され
ているものや、前記被加工物は、静電潜像を現像する現
像装置に使用される現像剤坦持体となるものであること
を特徴とする。
を施す際のノズルの数を複数にして、そのノズルの位置
を被加工物の周囲に均等に配置したことを特徴とするも
のである。また、ブラストノズルが被加工物の周囲全体
に配置されていてもよい。
囲に均等に配置することにより、被加工物の表面に砥粒
が万遍なく当たるものである。すなわち、一方向のみの
砥粒の衝突による変形を、反対側からも砥粒が衝突する
ことにより変形を少なくするものである。かかる効果
は、ある程度以上のブラスト時間を必要とし、短時間で
は砥粒の当たり方が均一になっておらず効果が少ない。
かかるブラスト時間としてはノズル本数によって異なる
が、ノズル本数が2〜3本では10秒以上から180秒
以下であり、10秒以下では当たり方が不均一であり変
形が大きく、180秒以上ではそれ以上の効果が見られ
ない。また、ノズルが4本以上では5秒から90秒以下
であり、5秒以下では当たり方が不均一であり変形が大
きく、90秒以上ではそれ以上の効果が見られない。ノ
ズル本数は2〜10本で変形を少なくする効果がある。
ノズル本数が多い程、ブラスト時間を短縮する効果を有
するものである。ノズル本数を10本以上用いることも
可能であるが、ブラストによる変形を少なくし、ブラス
ト時間を短縮するそれ以上の効果は認められない。
ノズルが被加工物に対し同じ高さの位置にあることが望
ましい。但し、対向する互いのノズルからの砥粒および
エアの影響を考慮して、10〜50mm程度垂直方向に
ずらしても効果が確認されており構わない。
振れおよび真直度の好ましい範囲としては、両端5mm
を支点としてスリーブを1回転させたときの軸に対して
の最大変位量(振れ)で20μm以下、両端5mmを基
準として直線形体の、幾何学的に正しい直線からの狂い
の大きさ(真直度)が15μm以下である。
ノズルを被加工物の周囲に均等に、かつ、円筒状基体を
間において対向するように配置してサンドブラスト処理
を行うことで、円筒状基体の表面に砥粒を当てて表面粗
さ処理を行う際の円筒状基体の変形が少なくなる。
験例について説明する。
を用いて円筒状基体の真直度および振れ値を測定し、次
に、本発明の表面粗さ処理装置により円筒状基体表面に
サンドブラストを施し、再び後述する測定装置を用いて
円筒状基体の真直度および振れ値を測定する。その後、
サンドブラスト処理の前後の測定結果を比較検討した。
明する。
測定するための測定装置の構成を示す平面図、図2は図
1に示した測定装置の右側面図である。
直角に折り曲げられた板状の透明部材6を有し、透明部
材の角部に当接するようにマスターゲージ1が配設され
る。そして、透明部材6の一側面上には、2つの同径の
スペーサー5がそれぞれマスターゲージ1の各端部付近
に配置されて、これらのスペーサ5をマスターゲージ1
とで挟むように円筒状基体2が配置される。尚、円筒状
基体2は、ばね4が取り付けられた押え板2によってマ
スターゲージ1側へ付勢される。
る測定方法を説明する。
を用いて図2に示すように振れ値、真直度を測定した。
状基体2との間の両端に2つの同径のスペーサー5を挟
み、その隙間にレーザ照射部7よりレーザ光を通過さ
せ、円筒状基体を逐次回転させながら間隔をレーザー受
光部9により測定する。
れ値を測定するときの測定位置を示す図である。
周方向16点=80点から求めた。
体2を配置し、端部側からマスターゲージ1と円筒状基
体2との間隔を測定する。
7)×(i−1) 但し、補正値:a1〜a18 i=1〜18 補正後:b1〜b18 測定点18点 とする。
直度を測定するときの測定位置を示す図である。
×周方向8点=144点から求めた。
・定義を以下の通りとした。
2つの支点を基準軸線として回転させたとき固定点に関
してその表面が基準軸線と交わり基準軸線に対して垂直
若しくは斜めの方向または基準軸線に平行な方向変位す
る大きさをいう。
互いに平行な二つの直線の中間部をいう(直線部分の幾
何学的直線からの狂いの大きさをいう。)。
説明する。
装置の第1の構成例を示す平面図、図6は図5に示した
処理装置の側面図である。
2は回転式置き台13上に円筒状基体2の軸線を中心に
回転可能(図5中矢印方向)に取り付けられている。円
筒状基体2の側面から一定の距離離れた位置には、円筒
状基体2の表面に砥粒15を吹き付けるための二つのブ
ラストノズル14が円筒状基体2の軸線と略平行に移動
可能(図6中矢印方向)に配置され、二つのブラストノ
ズル14は円筒状基体2を介して相対する位置にある。
各ブラストノズル14には砥粒を供給する砥粒供給管1
6と、エアーを供給するためのブラストエア圧供給管1
7とが接続されている。
装置の第2の構成例を示す平面図、図8は図7に示した
処理装置の側面図である。これらの図において、装置例
1と同一構成要素には同し符号を付してある。
2は回転式置き台13上に円筒状基体2の軸線を中心に
回転可能(図7中矢印方向)に取り付けられている。円
筒状基体2の側面から一定の距離離れた位置には、円筒
状基体2の表面に砥粒15を吹き付けるための二つのブ
ラストノズル4が配置され、二つのブラストノズル14
は円筒状基体2を間において相対する位置にある。ま
た、各ブラストノズル14は揺動アーム18に取り付け
られ、円筒状基体2の軸線と平行な面内で揺動自在にな
っている。各ブラストノズル14には砥粒15を供給す
る砥粒供給管16と、エアーを供給するためのブラスト
エア圧供給管17とが接続されている。
装置の第3の構成例を示す平面図である。この図におい
ても、装置例1と同一構成要素には同じ符号を付してあ
る。
置き台13上に円筒状基体2の軸線を中心に回転可能
(図9中矢印方向)に取り付けられている。円筒状基体
2の側面から一定の距離離れた位置には、円筒状基体2
の表面に砥粒15を吹き付けるための8個のブラストノ
ズル14が配置され、8個のブラストノズル14は円筒
状基体2を間において相対する位置にある。各ブラスト
ノズル14には砥粒15を供給する砥粒供給管16と、
エアーを供給するためのブラストエア圧供給管17とが
接続されている。
理装置の第3の構成例を示す平面図、図11は図10に
示した処理装置の側面図である。これらの図において、
装置例1と同一構成要素には同し符号を付してある。
基体2は回転式置き台13上に円筒状基体2の軸線を中
心に回転可能に取り付けられている。回転式置き台13
は、円筒状基体2の軸線方向(図11中矢印方向)に昇
降可能な昇降機21に設置されている。
孔ノズル19が円筒状基体2の軸線に対して同心円状に
設置されている。多孔ノズル19の内周側には、砥粒1
5を吐出するための吐出孔20が形成され、各砥粒吐出
孔20は、円筒状基体2の周囲に均等に、かつ、円筒状
基体2を間において相対する位置にある。多孔ノズル1
9には砥粒15を供給する砥粒供給管16と、エアーを
供給するためのブラストエア圧供給管17とが接続され
ている。
り円筒状基体の表面平均粗さRaを1.0〜3.0にす
るため、サンブラストの概ねの処理条件を以下の表1の
ようにした。
ノズルを、円筒状基体を間において2本対向させ、円筒
状基体の軸線と略平行に移動可能にした表面粗さ処理装
置を使用し、φ16mm、肉厚0.8mm、長さ330
mmのアルミ合金(A6063)のパイプにサンドブラ
スト処理を行なった。
る。
mのアルミパイプを作り、この表面にイソプロピルアル
コールの20%固形分のフェノール樹脂を結着剤として
100重量部、カーボンブラック2重量部およびグラフ
ァイト粉8重量部を、1mm径のガラスビーズを用いて
2時間サンドミル分散し、できた塗料をエアスプレーに
よりコートしたのち、150℃で20分加熱硬化し、冷
却後電子写真式レーザービームプリンターに装着して画
像評価を行なった。
な、ブラストノズルを、円筒状基体を間において2本対
向させ、円筒状基体の長さ方向に対して揺動可能にした
表面粗さ処理装置を使用して、φ16mm、肉厚0.8
mm、長さ330mmのアルミ合金(A6063)のパ
イプにサンドブラスト処理を行なった。
アスプレーによりカーボンコートを施し、電子写真式レ
ーザービームプリンターに装着して画像評価を行なっ
た。
トノズルを、8本ワークの周囲に均等に、かつ、円筒状
基体を間において対向するように配置した表面粗さ処理
装置を使用し、φ16mm、肉厚0.8mm、長さ33
0mmのアルミ合金(A6063)のパイプにサンドブ
ラスト処理を行なった。
アスプレーによりカーボンコートを施し、電子写真式レ
ーザービームプリンターに装着して画像評価を行なっ
た。
パイプの径が12mm、肉厚0.8mm、長さ250m
mのものを使用して実験を行なった。
パイプの径が12mm、肉厚0.8mm、長さ250m
mのものを使用して実験を行なった。
パイプの径が12mm、肉厚0.8mm、長さ250m
mのものを使用して実験を行なった。
スト時間を60秒にして実験を行なった。
スト時間を120秒にして実験を行なった。
スト時間を180秒にして実験を行なった。
たような、円筒状基体の周囲に均等に、かつ、円筒状基
体を間において対向するように配置された吐出孔を有す
る多孔ノズルからなる表面粗さ処理装置を使用して、そ
れらの吐出孔から砥粒を噴出させてブラスト処理を行な
った。
のブラストノズルを、円筒状基体の一側面へ向けて配置
するとともに、円筒状基体の軸線と略平行に移動可能に
した従来の表面粗さ処理装置を使用して、φ16mm、
肉厚0.8mm、長さ330mmのアルミ合金(A60
63)のパイプにサンドブラスト処理を行なった。
mのアルミパイプを作り、この表面に実験例1と同様に
エアスプレーによりカーボンコートを施し、電子写真式
レーザービームプリンターに装着して画像評価を行なっ
た。
のブラストノズルを、円筒状基体の一側面へ向けて配置
するとともに、円筒状基体の長さ方向に対して揺動可能
にした表面粗さ処理装置を使用し、φ16mm、肉厚
0.8mm、長さ300mmのアルミ合金(A606
3)のパイプにサンドブラスト処理を行なった。
アスプレーによりカーボンコートを施し、電子写真式レ
ーザービームプリンターに装着して画像評価を行なっ
た。
パイプの径が12mm、肉厚0.8mm、長さ250m
mのものを使用して実験を行なった。
パイプの径が12mm、肉厚0.8mm、長さ250m
mのものを使用して実験を行なった。
〜4による画像評価結果、および測定装置によるブラス
ト処理前後の円筒状基体の真直度・振れ値の測定結果を
表2に示す。
筒状基体の周囲に均等に、かつ、円筒状基体を間におい
て対向するように配置した表面粗さ処理装置を用いるこ
とにより、従来技術の装置と比較して円筒状基体の変形
は少なくなり、この円筒状基体からなる現像坦持体を電
子写真式レーザービームプリンターに使用した場合、優
れた画質が得られることが判った。
プとしたが、この他にアルミ棒、ステンレスパイプ、鉄
パイプなどで検討を行なったところ同様の結果を得た。
mmのものを使用して同様の実験を行なったところ前述
のものと同様の結果を得た。
物、特に現像剤坦持体となる円筒状基体の表面をサンド
ブラスト処理する際において、ノズルの位置を円筒状基
体の周囲に均等に、かつ、円筒状基体を間において対向
するように配置することにより、被加工物の変形を少な
くし、精密部品の精度を向上させることができる。
めの測定装置の構成を示す平面図である。
するときの測定位置を示す図である。
するときの測定位置を示す図である。
す平面図である。
す平面図である。
す平面図である。
示す平面図である。
(a)は平面図、(b)は側面図である。
し、(a)は平面図、(b)は側面図である。
Claims (6)
- 【請求項1】 被加工物を回転させ、該被加工物の表面
に砥粒を吐出させて前記被加工物の表面に所定の表面粗
さを施す表面粗さ処理方法において、 前記被加工物の表面への砥粒の吐出方向を、前記被加工
物の周囲に均等に、かつ、前記被加工物を間において対
向させたことを特徴とする表面粗さ処理方法。 - 【請求項2】 前記被加工物が円筒状基体であることを
特徴とする請求項1に記載の表面粗さ処理方法。 - 【請求項3】 前記被加工物が静電潜像を現像する現像
装置に使用される現像剤坦持体となるものであることを
特徴とする請求項1に記載の表面粗さ処理方法。 - 【請求項4】 被加工物を回転させるための回転式置き
台と、該被加工物から所定の距離が隔てられ、前記被加
工物の表面に砥粒を吐出して表面粗さ処理を施すための
ブラストノズルと、を備えた表面粗さ処理装置におい
て、 前記ブラストノズルが、前記被加工物の周囲に均等に、
かつ、前記被加工物を間において対向するように配置さ
れていることを特徴とする表面粗さ処理装置。 - 【請求項5】 前記被加工物が円筒状基体であって、該
円筒状基体はその中心軸回りに回転可能に前記回転式置
き台に設置されていることを特徴とする請求項4に記載
の表面粗さ処理装置。 - 【請求項6】 前記被加工物は、静電潜像を現像する現
像装置に使用される現像剤坦持体となるものであること
を特徴とする請求項4に記載の表面粗さ処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22619194A JP3501512B2 (ja) | 1994-09-21 | 1994-09-21 | 表面粗さ処理方法および表面粗さ処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22619194A JP3501512B2 (ja) | 1994-09-21 | 1994-09-21 | 表面粗さ処理方法および表面粗さ処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0890416A true JPH0890416A (ja) | 1996-04-09 |
JP3501512B2 JP3501512B2 (ja) | 2004-03-02 |
Family
ID=16841321
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP22619194A Expired - Fee Related JP3501512B2 (ja) | 1994-09-21 | 1994-09-21 | 表面粗さ処理方法および表面粗さ処理装置 |
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JP (1) | JP3501512B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100325638B1 (ko) * | 1999-04-01 | 2002-12-06 | 한국신발피혁연구소 | 신발창의 표면 가공방법. |
JP2009078403A (ja) * | 2007-09-26 | 2009-04-16 | Panasonic Corp | 印刷用凹版の製造方法 |
JP2009122215A (ja) * | 2007-11-13 | 2009-06-04 | Ricoh Co Ltd | 現像剤担持体、現像装置、プロセスカートリッジ及び画像形成装置 |
JP2010228020A (ja) * | 2009-03-26 | 2010-10-14 | Chuo Spring Co Ltd | 車両用スタビライザの表面加工方法 |
JP2017504736A (ja) * | 2013-11-20 | 2017-02-09 | エレメント、シックス、ゲゼルシャフト、ミット、ベシュレンクテル、ハフツングElement Six Gmbh | ストライク構造体、該ストライク構造体を備えるピック、及び、ストライク構造体を形成するための方法 |
-
1994
- 1994-09-21 JP JP22619194A patent/JP3501512B2/ja not_active Expired - Fee Related
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KR100325638B1 (ko) * | 1999-04-01 | 2002-12-06 | 한국신발피혁연구소 | 신발창의 표면 가공방법. |
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JP2010228020A (ja) * | 2009-03-26 | 2010-10-14 | Chuo Spring Co Ltd | 車両用スタビライザの表面加工方法 |
JP2017504736A (ja) * | 2013-11-20 | 2017-02-09 | エレメント、シックス、ゲゼルシャフト、ミット、ベシュレンクテル、ハフツングElement Six Gmbh | ストライク構造体、該ストライク構造体を備えるピック、及び、ストライク構造体を形成するための方法 |
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JP3501512B2 (ja) | 2004-03-02 |
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