JPH0831621A - 厚膜抵抗体及び厚膜抵抗体の抵抗値調整方法 - Google Patents

厚膜抵抗体及び厚膜抵抗体の抵抗値調整方法

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JPH0831621A
JPH0831621A JP6167141A JP16714194A JPH0831621A JP H0831621 A JPH0831621 A JP H0831621A JP 6167141 A JP6167141 A JP 6167141A JP 16714194 A JP16714194 A JP 16714194A JP H0831621 A JPH0831621 A JP H0831621A
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JP
Japan
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resistor
thick film
resistance value
trimming
film resistor
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Withdrawn
Application number
JP6167141A
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English (en)
Inventor
Kazunori Kuki
一徳 九鬼
Kazuhisa Ishida
和久 石田
Shigeru Nakao
滋 中尾
Kenichi Eguchi
健一 江口
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Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は高精度かつ高感度で抵抗値の調整を可
能とし、面積の縮小及び電力容量の向上を図り、かつ製
造コストを低減し得る厚膜抵抗体を提供することを目的
とする。 【構成】厚膜にてなる抵抗体6が互いに平行でない対向
辺を備えた多角形に形成され、前記抵抗体6に接続され
る電極5a,5bは、前記対向辺に重なるように形成さ
れる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、ハイブリッドICに
使用される厚膜抵抗体に関するものである。ハイブリッ
ドICは、セラミック基板上に半導体集積回路が内蔵さ
れるパッケージや抵抗体等が混載されて、一つの集積回
路が構成される。ハイブリッドICで使用される抵抗体
は厚膜抵抗体で形成される。このようなハイブリッドI
Cでは、高集積化及び高機能化が進んでいるため、高精
度かつ小型の厚膜抵抗体を形成することが必要となって
いる。
【0002】
【従来の技術】厚膜抵抗体は、セラミック基板上にあら
かじめ印刷された電極間に、所定のペーストを印刷して
形成される。このような厚膜抵抗体の抵抗値を調整する
には、印刷された抵抗体をトリミングすることにより、
行われる。
【0003】厚膜抵抗体の抵抗値を高精度に調整する場
合には、図11に等価的に示すように、所望の抵抗値に
近い値の抵抗R1に、例えば同抵抗R1の抵抗値の10
倍程度の抵抗値を備えた抵抗R2を並列に接続する。そ
して、抵抗R2をトリミング装置によりトリミングする
と、両抵抗R1,R2の合成抵抗で所望の抵抗値に高精
度で調整することが可能となる。
【0004】厚膜抵抗体の抵抗値をトリミングにより高
感度に調整する場合には、図12に示すように電極1
a,1b間に凸型の抵抗体2を印刷し、凸型部分の下方
からトリミング3を施す。すると、トリミング量に対し
抵抗値が大きく変化するため、抵抗値を高感度で調整す
ることが可能となる。
【0005】また、特開平5−136336号公報には
厚膜抵抗体のトリミング方法が開示されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】図11に示す高精度調
整を可能とした厚膜抵抗体では、基板上に2本の抵抗R
1,R2を印刷する必要があるため、面積が増大して、
集積度が低下する。
【0007】また、抵抗R1と抵抗R2とでは抵抗値が
大きくことなるため、異なるペーストを印刷する必要が
ある。従って、ペーストの印刷工程を2回行う必要があ
って、製造コストが上昇する。
【0008】図12に示す高感度調整を可能とした厚膜
抵抗体では、特殊な形状の凸型の抵抗体2を印刷する必
要があるため、スペース効率が悪く、集積度が低下す
る。また、トリミング3を施すことにより、抵抗体2の
幅が狭くなるため、電力容量が小さくなるという問題点
もある。
【0009】また、特開平5−136336号公報に記
載されたトリミング方法では、電力容量を確保しながら
抵抗値を調整するために、抵抗体をL型にトリミングす
る必要がある。従って、抵抗体をX−Y座標上でトリミ
ングすることは、トリミング装置の構成が煩雑かつ高価
となり、トリミング作業に時間も要するという問題点が
ある。
【0010】この発明の目的は、高精度かつ高感度で抵
抗値の調整を可能とし、面積の縮小及び電力容量の向上
を図り、かつ製造コストを低減し得る厚膜抵抗体を提供
することにある。また、前記抵抗体を容易に形成し得る
トリミング方法を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理説明
図である。すなわち、厚膜にてなる抵抗体6が互いに平
行でない対向辺を備えた多角形に形成され、前記抵抗体
6に接続される電極5a,5bは、前記対向辺に重なる
ように形成される。
【0012】また、図2に示すように前記抵抗体6は台
形に形成され、前記台形の斜辺に前記電極5a,5bが
接続される。また、厚膜にてなる抵抗体6は互いに平行
でない対向辺を備えた多角形に形成され、前記抵抗体6
に接続される電極5a,5bは、前記一組の対向辺に重
なるように形成され、前記電極5a,5bが接続されな
い辺の一方から他方に向かって直線状にトリミングされ
て前記抵抗体6の抵抗値が調整される。
【0013】また、厚膜にてなる抵抗体6は互いに平行
でない対向辺を備えた四角形に形成され、前記抵抗体6
に接続される電極5a,5bは、前記一組の対向辺に重
なるように形成され、前記電極5a,5bが接続されな
い対向辺の一方から他方に向かって直線状にトリミング
されて前記抵抗体6の抵抗値が調整される。
【0014】また、厚膜にてなる抵抗体6は台形に形成
され、前記抵抗体6に接続される電極5a,5bは、前
記台形をなす抵抗体6の斜辺に接続され、前記電極5
a,5bが接続されない対向辺の短辺側から長辺側に向
かって直線状にトリミングして前記抵抗体6の抵抗値が
高感度で調整される。
【0015】また、厚膜にてなる抵抗体6は台形に形成
され、前記抵抗体6に接続される電極5a,5bは、前
記台形をなす抵抗体6の斜辺に接続され、前記電極5
a,5bが接続されない対向辺の長辺側から短辺側に向
かって直線状にトリミングして前記抵抗体6の抵抗値が
高精度で調整される。
【0016】また、基板上に搭載される半導体素子と、
基板上に印刷される厚膜抵抗体とで構成されるハイブリ
ッドICにおいて、厚膜にてなる抵抗体6が互いに平行
でない対向辺を備えた四角形に形成され、前記抵抗体6
に接続する電極5a,5bは、前記対向辺に重なるよう
に形成されて、前記厚膜抵抗体が形成される。
【0017】
【作用】電極5a,5bは抵抗体6の対向辺に沿ってハ
字状に形成され、各電極5a,5b間における抵抗体6
の単位幅当たりの抵抗値は、両電極5a,5bの一端側
から他端側に向かって徐々に変化する。
【0018】また、図2に示すように電極5a,5bは
台形の抵抗体6の斜辺に沿ってハ字状に形成される。ま
た、前記電極5a,5bが接続されない対向辺の一方か
ら他方に向かって直線状にトリミングすると、前記抵抗
体6の抵抗値が高感度若しくは高精度で調整される。
【0019】また、台形をなす抵抗体6の電極5a,5
bが接続されない対向辺の短辺側から長辺側に向かって
直線状にトリミングすると、前記抵抗体6の抵抗値が高
感度で調整される。
【0020】また、台形をなす抵抗体6の電極5a,5
bが接続されない対向辺の長辺側から短辺側に向かって
直線状にトリミングすると、前記抵抗体6の抵抗値が高
精度で調整される。
【0021】
【実施例】図8はハイブリッドICの一例を示す。すな
わち、セラミック基板11上には樹脂モールドされた複
数の半導体装置12及び容量13等が搭載される。ま
た、セラミック基板11上には、厚膜抵抗体6が印刷さ
れている。そして、これらが基板11上に印刷された配
線14で接続される。
【0022】前記基板11の端縁には外部リード15が
設けられ、同外部リード15を外部に露出させた状態
で、前記基板11が合成樹脂による外装材16でモール
ドされている。
【0023】図2は、前記厚膜抵抗体6の一例を示す。
抵抗体に接続される電極5a,5bは、ハ字状に印刷さ
れる。抵抗体6はその両側斜辺が前記電極5a,5bに
接するように一種類のペーストで幅Wの台形状に印刷さ
れている。
【0024】このような厚膜抵抗体では、前記抵抗体6
の平行な2辺の短辺側の単位幅当たりの抵抗値は、長辺
側の単位幅当たりの抵抗値より小さくなる。この抵抗体
6を短辺側から矢印A方向にトリミングした場合、長辺
側から矢印B方向にトリミングした場合及びこの抵抗体
6と同一幅で同一抵抗値に形成した長方形状の抵抗体を
同方向にトリミングした場合の特性を図3に示す。な
お、横軸は、幅Wに対するトリミング量の割合であり、
縦軸は抵抗値である。
【0025】図3に示す特性が得られる理由を模式的に
説明する。前記抵抗体6は図4(a)に示すように単位
幅wsの4本の抵抗r1〜r4が並列に接続されている
とする。そして、各抵抗r1〜r4の抵抗値は、抵抗体
6の短辺側から長辺側に向かって徐々に大きくなり、図
4(b)に示すように例えば短辺側から5kΩ、10k
Ω、15kΩ、20kΩとする。その合成抵抗R1は次
式で表される。
【0026】
【数1】
【0027】従って、合成抵抗R1は2.4kΩとな
る。この抵抗体6を、図5(a)に示すように短辺側か
ら単位幅ws分トリミングすると、同図(b)に示すよ
うに抵抗r1を除去した状態となる。このとき、抵抗体
6の合成抵抗R2は次式で表される。
【0028】
【数2】
【0029】従って、合成抵抗R2は4.615kΩと
なる。この抵抗体6を、図6(a)に示すように長辺側
から単位幅ws分トリミングすると、同図(b)に示す
ように抵抗r4を除去した状態となる。このとき、抵抗
体6の合成抵抗R3は次式で表される。
【0030】
【数3】
【0031】従って、合成抵抗R3は2.727kΩと
なる。一方、単位幅wsの抵抗を4本並列に接続して、
前記抵抗体6と等しい合成抵抗値を有する長方形状の抵
抗体7を図7に示す。すなわち、図7(a)に示すよう
に単位幅wsの4本の抵抗r5〜r8が並列に接続さ
れ、図7(b)に示すように各抵抗r5〜r8の抵抗値
を9.6kΩとすれば、合成抵抗R4は次式で表され
る。
【0032】
【数4】
【0033】この抵抗体7は、上辺側及び下辺側のいず
れの側から単位幅ws分トリミングしても、合成抵抗値
の変化は同一である。そして、単位幅ws分トリミング
した時の合成抵抗値R5は次式で表される。
【0034】
【数5】
【0035】従って、合成抵抗値R5は3.2kΩとな
る。以上のように、抵抗体6は短辺側ほど単位幅当たり
の抵抗値が小さい。図3に示すように、抵抗体6を矢印
A方向にトリミングした場合のトリミング量と抵抗値と
の関係を示すトリミング曲線C1は、長方形の抵抗体を
同方向にトリミングした場合の特性曲線C2より傾きが
大きくなる。従って、抵抗体6を矢印A方向にトリミン
グした場合、抵抗値の調整を高感度で行うことができ、
その感度は、長方形の抵抗体に比べて、例えば20%の
トリミング量で、1.736倍となる。
【0036】一方、抵抗体6は長辺側ほど単位幅当たり
の抵抗値が大きいことから、図3に示すように、抵抗体
6を矢印B方向にトリミングした場合のトリミング量と
抵抗値との関係を示すトリミング曲線C3は、長方形の
抵抗体を同方向にトリミングした場合の特性曲線C2よ
り傾きが小さくなる。従って、抵抗体6を矢印B方向に
トリミングした場合、抵抗値の調整を高精度で行うこと
ができ、その精度は、長方形の抵抗体に比べて、例えば
20%のトリミング量で、1.646倍となる。
【0037】前記抵抗体6を高感度抵抗あるいは高精度
抵抗として抵抗値を調整するためにトリミングする場合
には、いずれも抵抗体6の幅方向にトリミングすればよ
い。従って、トリミング装置は例えばX座標方向にのみ
トリミングできる機能を備えればよく、トリミング装置
を簡素かつ安価な構成とすることができる。また、トリ
ミング方向が一方向であるので、トリミング作業を容易
にかつ迅速に行うことができる。
【0038】また、一種類のペーストで1回の印刷によ
り抵抗体6を形成することができるので、製造コストを
低減することができるとともに、一つの台形の抵抗体6
で高感度抵抗あるいは高精度抵抗を形成することができ
るので、面積効率を向上させて、集積度を向上させるこ
とができる。
【0039】また、前記抵抗体6を高感度抵抗として使
用した場合には、少ないトリミング量で抵抗値を大きく
変化させて調整することができるので、前記従来例に比
べてトリミング量を減少させることができる。この結
果、トリミングされた抵抗体6の電力容量を向上させる
ことができる。
【0040】また、前記実施例では、抵抗体6を対向す
る斜辺の長さが等しい台形としたが、図9に示すように
長方形の一辺を斜辺とした台形、あるいは対向する斜辺
の長さが異なる台形としてもよい。また、図10に示す
ように抵抗体6を対向する辺が平行とならない四角形と
してもよい。
【0041】
【発明の効果】以上詳述したように、この発明は、高精
度かつ高感度で抵抗値の調整を可能とし、面積の縮小及
び電力容量の向上を図り、かつ製造コストを低減し得る
厚膜抵抗体を提供することにある。また、前記抵抗体を
容易に形成し得るトリミング方法を提供することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理説明図である。
【図2】一実施例を示すレイアウト図である。
【図3】トリミングによる抵抗値の変化を示すグラフ図
である。
【図4】厚膜抵抗体のトリミング前の状態を示す説明図
である。
【図5】厚膜抵抗体の短辺側からトリミングした状態を
示す説明図である。
【図6】厚膜抵抗体の長辺側からトリミングした状態を
示す説明図である。
【図7】従来の厚膜抵抗体のトリミング前の状態を示す
説明図である。
【図8】ハイブリッドICを示す斜視図である。
【図9】別例を示すレイアウト図である。
【図10】別例を示すレイアウト図である。
【図11】従来例の厚膜抵抗体の等価回路図である。
【図12】従来例の厚膜抵抗体のレイアウト図である。
【符号の説明】 5a,5b 電極 6 抵抗体
フロントページの続き (72)発明者 中尾 滋 愛知県春日井市高蔵寺町二丁目1844番2 富士通ヴィエルエスアイ株式会社内 (72)発明者 江口 健一 愛知県春日井市高蔵寺町二丁目1844番2 富士通ヴィエルエスアイ株式会社内

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 厚膜にてなる抵抗体を互いに平行でない
    対向辺を備えた多角形に形成し、前記抵抗体に接続する
    電極は、前記対向辺に重なるように形成したことを特徴
    とする厚膜抵抗体。
  2. 【請求項2】 前記抵抗体を台形に形成し、前記台形の
    斜辺に前記電極を接続したことを特徴とする請求項1記
    載の厚膜抵抗体。
  3. 【請求項3】 厚膜にてなる抵抗体を互いに平行でない
    対向辺を備えた多角形に形成し、前記抵抗体に接続する
    電極は、前記一組の対向辺に重なるように形成し、前記
    電極が接続されない辺の一方から他方に向かって直線状
    にトリミングして前記抵抗体の抵抗値を調整することを
    特徴とする厚膜抵抗体の抵抗値調整方法。
  4. 【請求項4】 厚膜にてなる抵抗体を互いに平行でない
    対向辺を備えた四角形に形成し、前記抵抗体に接続する
    電極は、前記一組の対向辺に重なるように形成し、前記
    電極が接続されない対向辺の一方から他方に向かって直
    線状にトリミングして前記抵抗体の抵抗値を調整するこ
    とを特徴とする厚膜抵抗体の抵抗値調整方法。
  5. 【請求項5】 厚膜にてなる抵抗体を台形に形成し、前
    記抵抗体に接続する電極は、前記台形をなす抵抗体の斜
    辺に接続し、前記電極が接続されない対向辺の短辺側か
    ら長辺側に向かって直線状にトリミングして前記抵抗体
    の抵抗値を高感度で調整することを特徴とする厚膜抵抗
    体の抵抗値調整方法。
  6. 【請求項6】 厚膜にてなる抵抗体を台形に形成し、前
    記抵抗体に接続する電極は、前記台形をなす抵抗体の斜
    辺に接続し、前記電極が接続されない対向辺の長辺側か
    ら短辺側に向かって直線状にトリミングして前記抵抗体
    の抵抗値を高精度で調整することを特徴とする厚膜抵抗
    体の抵抗値調整方法。
  7. 【請求項7】 基板上に搭載される半導体装置と、基板
    上に印刷される厚膜抵抗体とを配線で接続して構成され
    るハイブリッドICであって、 前記厚膜抵抗体は、厚膜にてなる抵抗体を互いに平行で
    ない対向辺を備えた四角形に形成し、前記抵抗体に接続
    する電極は、前記対向辺に重なるように形成したことを
    特徴とするハイブリッドIC。
JP6167141A 1994-07-19 1994-07-19 厚膜抵抗体及び厚膜抵抗体の抵抗値調整方法 Withdrawn JPH0831621A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010038342A1 (ja) * 2008-10-03 2010-04-08 三菱マテリアル株式会社 サーミスタ素子の製造方法及びサーミスタ素子

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010038342A1 (ja) * 2008-10-03 2010-04-08 三菱マテリアル株式会社 サーミスタ素子の製造方法及びサーミスタ素子
US8607440B2 (en) 2008-10-03 2013-12-17 Mitsubishi Materials Corporation Method of manufacturing a thermistor element

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