JPS61156760A - 膜抵抗体 - Google Patents
膜抵抗体Info
- Publication number
- JPS61156760A JPS61156760A JP59274750A JP27475084A JPS61156760A JP S61156760 A JPS61156760 A JP S61156760A JP 59274750 A JP59274750 A JP 59274750A JP 27475084 A JP27475084 A JP 27475084A JP S61156760 A JPS61156760 A JP S61156760A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resistance value
- film resistor
- resistor
- conductor patterns
- patterns
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
本発明は、抵抗値調整用の切り込みを有する膜抵抗体に
関する。
関する。
［発明の技術的背景１
近時、電子機器等の小形軽量化を図るために、混成集積
回路が多く使用されるようになってぎている。この混成
集積回路では、基板上にパターン形成された膜抵抗体の
抵抗値を膜形成技術のみによって高精度に制御すること
は困難である。したがって混成集積回路内で正確な抵抗
値が要求されるときは、トリミング、すなわち膜形成さ
れた膜抵抗体の一部に切り込みを入れる等により、所望
の抵抗値となるように調整する必要がある。
回路が多く使用されるようになってぎている。この混成
集積回路では、基板上にパターン形成された膜抵抗体の
抵抗値を膜形成技術のみによって高精度に制御すること
は困難である。したがって混成集積回路内で正確な抵抗
値が要求されるときは、トリミング、すなわち膜形成さ
れた膜抵抗体の一部に切り込みを入れる等により、所望
の抵抗値となるように調整する必要がある。
一般に膜抵抗体をトリミングして抵抗値を調整するには
、第４図ないし第６図に示すような方法が行なわれる。
、第４図ないし第６図に示すような方法が行なわれる。
第４図はシングルカットと呼ばれ、間隔しで配置される
導体パターン２に取付けられた幅Ｗの膜抵抗体１に１本
の深さＷ′の直線の切り込み３を入れたものである。第
５図は、同様に膜抵抗体１に２本の直線の切り込み３ａ
、３ｂを入れたダブルカットを示し・でいる。第６図
は膜抵抗体１にＬ字形の切り込み３Ｃを入れたしカット
と呼ばれるものである。
導体パターン２に取付けられた幅Ｗの膜抵抗体１に１本
の深さＷ′の直線の切り込み３を入れたものである。第
５図は、同様に膜抵抗体１に２本の直線の切り込み３ａ
、３ｂを入れたダブルカットを示し・でいる。第６図
は膜抵抗体１にＬ字形の切り込み３Ｃを入れたしカット
と呼ばれるものである。
ここで、膜抵抗体１としては最終的に所望の抵抗値（以
下最終抵抗値という）を得るために適切なシート抵抗値
を有する抵抗ペーストが用いられ、形成後の抵抗値（以
下初期抵抗値という）が、上記最終抵抗値以下になるよ
うに、その幅Ｗおよび長さしがあらかじめ設計されてい
る。
下最終抵抗値という）を得るために適切なシート抵抗値
を有する抵抗ペーストが用いられ、形成後の抵抗値（以
下初期抵抗値という）が、上記最終抵抗値以下になるよ
うに、その幅Ｗおよび長さしがあらかじめ設計されてい
る。
［背景技術の問題点Ｊ
しかしながら、このようなトリミング方法によりトリミ
ングを行なった場合には、抵抗１直の調整可能範囲は、
一般に、初期抵抗値の約２倍程度にしかならないという
問題がある。これは、トリミングによる抵抗値変化は第
７図に示す通りであり、初期抵抗値に対し、抵抗値を２
１ａ以上に上げた場合には、抵抗値変化率が急激に大き
くなるため、所望の膜抵抗体が１ｑられにくいことから
も明らかである。また、初期抵抗値が最終抵抗値以下と
なるように膜抵抗体１の幅Ｗや長さしを設計しても、ス
クリーン製版条件や印刷条件等の違いにより最終抵抗値
に対しての初期抵抗値が低下しすぎることが多々ある。
ングを行なった場合には、抵抗１直の調整可能範囲は、
一般に、初期抵抗値の約２倍程度にしかならないという
問題がある。これは、トリミングによる抵抗値変化は第
７図に示す通りであり、初期抵抗値に対し、抵抗値を２
１ａ以上に上げた場合には、抵抗値変化率が急激に大き
くなるため、所望の膜抵抗体が１ｑられにくいことから
も明らかである。また、初期抵抗値が最終抵抗値以下と
なるように膜抵抗体１の幅Ｗや長さしを設計しても、ス
クリーン製版条件や印刷条件等の違いにより最終抵抗値
に対しての初期抵抗値が低下しすぎることが多々ある。
そして、初期抵抗値が最終抵抗１直よりも低下しすぎる
と、必然的にトリミングによる切り込み量Ｗ′を大きく
する必要が生じるが、この切り込みｆｆ１Ｗ”を大ぎく
しすぎると、膜抵抗体１の電気的特性が劣化し、信号に
ドリフト現象が生じたり、ノイズが混入され易くなると
いう問題が生ずる。
と、必然的にトリミングによる切り込み量Ｗ′を大きく
する必要が生じるが、この切り込みｆｆ１Ｗ”を大ぎく
しすぎると、膜抵抗体１の電気的特性が劣化し、信号に
ドリフト現象が生じたり、ノイズが混入され易くなると
いう問題が生ずる。
［発明の目的Ｊ
本発明はかかる従来の事情に対処してなされたちのぐ、
初期抵抗値が最終抵抗（「（より臥すさ゛てし、容易に
最終抵抗値を得ることがＣきるとともに、電気的特性を
劣化させることなく、広範囲に抵抗値を調整することの
できる膜抵抗体を提供しようとするものぐある。
初期抵抗値が最終抵抗（「（より臥すさ゛てし、容易に
最終抵抗値を得ることがＣきるとともに、電気的特性を
劣化させることなく、広範囲に抵抗値を調整することの
できる膜抵抗体を提供しようとするものぐある。
［発明の概要］
寸なわら、本発明は、間隔をおいて対向配置される導体
パターン間に膜形成されるととちに抵抗値調整用の切り
込みを有する膜抵抗体において、前記切り込みを、前記
導体パターンを含んで、かつこの導体パターンに対し直
交り向に形成したことを特徴とする膜抵抗体ひある。
パターン間に膜形成されるととちに抵抗値調整用の切り
込みを有する膜抵抗体において、前記切り込みを、前記
導体パターンを含んで、かつこの導体パターンに対し直
交り向に形成したことを特徴とする膜抵抗体ひある。
「発明の実施例」
以下本発明の訂細を図面に示す実施例について説明する
。
。
第１図は本発明の一実施例を示すもので、図において対
向配置される導体パターン２の各引き出し電極は反対方
向に形成されている。これ等導体パターン２の間にはこ
れ等を接続して膜抵抗体１が膜形成されている。この膜
抵抗体１は、長さしに比べ幅Ｗが大きく形成されている
。膜抵抗体１には、各導体パターン２を含んで、かつ導
体パターン２に対しそれぞれ直交する方向（直角方向）
に切り込み４ａ 、４ｂが形成されている。切り込み４
ａ 、４ｂのトリミングは、レーザー装置あるいはサン
ドプラスター等により行なわれる。
向配置される導体パターン２の各引き出し電極は反対方
向に形成されている。これ等導体パターン２の間にはこ
れ等を接続して膜抵抗体１が膜形成されている。この膜
抵抗体１は、長さしに比べ幅Ｗが大きく形成されている
。膜抵抗体１には、各導体パターン２を含んで、かつ導
体パターン２に対しそれぞれ直交する方向（直角方向）
に切り込み４ａ 、４ｂが形成されている。切り込み４
ａ 、４ｂのトリミングは、レーザー装置あるいはサン
ドプラスター等により行なわれる。
以上のように構成された膜抵抗体１では、抵抗値調整範
囲を初期抵抗値の約１０倍程度まで容易に調整すること
ができる。
囲を初期抵抗値の約１０倍程度まで容易に調整すること
ができる。
なお、抵抗値は切り込む場所によって大きく変わり、た
とえば引き出し電極側に近くなる程抵抗埴変化は大きく
なる。しかしながら、あらかじめ初期抵抗値がわかって
いれば理論的に切り込む場所を求めることができ、実際
にはマイコン制御により、切り込む場所が決定され、ト
リミングが行なわれる。
とえば引き出し電極側に近くなる程抵抗埴変化は大きく
なる。しかしながら、あらかじめ初期抵抗値がわかって
いれば理論的に切り込む場所を求めることができ、実際
にはマイコン制御により、切り込む場所が決定され、ト
リミングが行なわれる。
すなわち、以上のように構成された膜抵抗体１では、少
ないトリミング量で所望の抵抗値を１ｑることができ、
安定した電気特性を持つ膜抵抗体１を容易に得ることが
できる。
ないトリミング量で所望の抵抗値を１ｑることができ、
安定した電気特性を持つ膜抵抗体１を容易に得ることが
できる。
第２図は本発明の他の実施例を示すもので、この実施例
では、導体パターン２に直交方向にそれどれ切り込み４
ａ 、４ｂが形成されており、また１ｇ体パターン２に
平行に一条の切り込み／Ｉ−Ｃが形成されている。
では、導体パターン２に直交方向にそれどれ切り込み４
ａ 、４ｂが形成されており、また１ｇ体パターン２に
平行に一条の切り込み／Ｉ−Ｃが形成されている。
すなわち、最初に導体パターン２に直交方向に切り込み
４ａ 、４ｂを形成し、−１０％程度まｒ抵抗の粗調整
を行なった後、導体パターン２の間を膜抵抗体１の外側
よりトリミングを行ない抵抗の微調整を行なうことによ
り、更に高精度な膜抵抗体１を得ることができる。
４ａ 、４ｂを形成し、−１０％程度まｒ抵抗の粗調整
を行なった後、導体パターン２の間を膜抵抗体１の外側
よりトリミングを行ない抵抗の微調整を行なうことによ
り、更に高精度な膜抵抗体１を得ることができる。
第３図は、本発明のさらに他の実施例を不才ものひ、こ
の実施例では、切り込み４ｄ 、４ｅがし字形に入れら
れている。このような膜抵抗体１においても第２図に示
した膜抵抗体１と同様に高精度な膜抵抗体１を得ること
ができる。
の実施例では、切り込み４ｄ 、４ｅがし字形に入れら
れている。このような膜抵抗体１においても第２図に示
した膜抵抗体１と同様に高精度な膜抵抗体１を得ること
ができる。
［発明の効果］
以上述べたように、本発明の膜抵抗体ｅは、導体パター
ンに対し直交方向に導体パターンを含んで、切り込みを
形成したので、幅広い抵抗値調整を容易に行なうことが
できる。すなわち、切り込み位置を変えることにより幅
広い抵抗値調整を容易に行なうことができ、安定した電
気特性を持つ膜抵抗体を得ることができる。
ンに対し直交方向に導体パターンを含んで、切り込みを
形成したので、幅広い抵抗値調整を容易に行なうことが
できる。すなわち、切り込み位置を変えることにより幅
広い抵抗値調整を容易に行なうことができ、安定した電
気特性を持つ膜抵抗体を得ることができる。
また本発明においては、初期抵抗値の約１０倍稈度まで
抵抗１ｌＩＩ調整が可能であるため、たとえば抵抗体ペ
ーストに関して従来２種類のシート抵抗値のものを使っ
ていたとするならば、本発明により１種類のシート抵抗
値のみの抵抗体ペーストにより抵抗体を形成することも
可能となる。
抵抗１ｌＩＩ調整が可能であるため、たとえば抵抗体ペ
ーストに関して従来２種類のシート抵抗値のものを使っ
ていたとするならば、本発明により１種類のシート抵抗
値のみの抵抗体ペーストにより抵抗体を形成することも
可能となる。
第１図ないし第３図は、それぞれ本発明の実施例を示す
上面図、第４図ないし第６図は、それぞれ従来の膜抵抗
体を示す上面図、第７図は、トリミング吊と抵抗値変化
率との関係を示すグラフである。 １・・・・・・・・・・・・膜抵抗体 ２・・・・・・・・・・・・４体パターン４ａ 、４
ｂ 、 ４ｃ 、 ４ｄ 、 ４ｅ・・・
・・・・・・・・・切り込み 代理人弁理士 則 近 憲 佑 （ばか１名） 第１図 第２図 ：ｉ： ３図 第４図 第 ５１・１ 第 ６１・１ 第７Ｌ！
上面図、第４図ないし第６図は、それぞれ従来の膜抵抗
体を示す上面図、第７図は、トリミング吊と抵抗値変化
率との関係を示すグラフである。 １・・・・・・・・・・・・膜抵抗体 ２・・・・・・・・・・・・４体パターン４ａ 、４
ｂ 、 ４ｃ 、 ４ｄ 、 ４ｅ・・・
・・・・・・・・・切り込み 代理人弁理士 則 近 憲 佑 （ばか１名） 第１図 第２図 ：ｉ： ３図 第４図 第 ５１・１ 第 ６１・１ 第７Ｌ！
Claims (1)
- （１）間隔をおいて対向配置される導体パターン間に膜
形成されるとともに抵抗値調整用の切り込みを有する膜
抵抗体において、前記切り込みを、前記導体パターンを
含んで、かつこの導体パターンに対し直交する方向に形
成したことを特徴とする膜抵抗体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59274750A JPS61156760A (ja) | 1984-12-28 | 1984-12-28 | 膜抵抗体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59274750A JPS61156760A (ja) | 1984-12-28 | 1984-12-28 | 膜抵抗体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61156760A true JPS61156760A (ja) | 1986-07-16 |
Family
ID=17546062
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59274750A Pending JPS61156760A (ja) | 1984-12-28 | 1984-12-28 | 膜抵抗体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61156760A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03274701A (ja) * | 1990-03-26 | 1991-12-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | チップ型のトリミング用抵抗器およびその使用方法 |
| JP2013162108A (ja) * | 2012-02-09 | 2013-08-19 | Hitachi Automotive Systems Ltd | 厚膜抵抗体 |
-
1984
- 1984-12-28 JP JP59274750A patent/JPS61156760A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03274701A (ja) * | 1990-03-26 | 1991-12-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | チップ型のトリミング用抵抗器およびその使用方法 |
| JP2013162108A (ja) * | 2012-02-09 | 2013-08-19 | Hitachi Automotive Systems Ltd | 厚膜抵抗体 |
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