JPH0821968A - 走査ビーム検出方法 - Google Patents
走査ビーム検出方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 レーザダイオードの走査強度変化が変化する
ときに時間的に変化しない光ファイバ検出手段を使用し
た走査開始信号を生成させる手段（装置）及び方法を得
ること。 【構成】 単一の光ファイバ４０が走査線掃引の始めに
配置される。ファイバは走査ビームエネルギーの部分を
ローカル電子ボード上に配置された光検出器４２へ伝達
する。光ダイオードは高速コンパレータへの入力として
送られる出力信号を生成する。コンパレータへの第２入
力は分割され、光検出器出力信号のアナログは遅延され
る。コンパレータは２つの波形を比較し２つの波形が横
切る又は交差する正確な時間で電気信号を生成する。コ
ンパレータ出力はガス又はレーザダイオードＲＯＳのＳ
ＯＳ（走査開始）信号を開始させるために使用される。
ときに時間的に変化しない光ファイバ検出手段を使用し
た走査開始信号を生成させる手段（装置）及び方法を得
ること。 【構成】 単一の光ファイバ４０が走査線掃引の始めに
配置される。ファイバは走査ビームエネルギーの部分を
ローカル電子ボード上に配置された光検出器４２へ伝達
する。光ダイオードは高速コンパレータへの入力として
送られる出力信号を生成する。コンパレータへの第２入
力は分割され、光検出器出力信号のアナログは遅延され
る。コンパレータは２つの波形を比較し２つの波形が横
切る又は交差する正確な時間で電気信号を生成する。コ
ンパレータ出力はガス又はレーザダイオードＲＯＳのＳ
ＯＳ（走査開始）信号を開始させるために使用される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は広くはラスタ出力スキャ
ナ（ＲＯＳ）画像形成システムに関し、さらに詳細には
画面での光ファイバ検出器を横切った走査ビームの検出
に応答したタイミング信号を生成する手段（装置）及び
方法に関する。
ナ（ＲＯＳ）画像形成システムに関し、さらに詳細には
画面での光ファイバ検出器を横切った走査ビームの検出
に応答したタイミング信号を生成する手段（装置）及び
方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のＲＯＳシステムにおいては、ガス
又はダイオードレーザによって生成された光強度モジュ
レート（変調）光線ビームは感光画面の表面を横切って
繰り返し走査され、入力バイナリ（２値）データによっ
て表される文書又はそれに類似するものの潛像を形成す
る。各走査線はレーザのオン及びオフ状態を表す個々の
画素の合成画像を含む。これらの画素は走査毎に垂直又
は高速走査方向に位置決めされなければならず、そうし
ないと "ジッター（jitter）" として知られる現象をも
たらす結果となる。先行技術においては、光検出器を記
録表面から予め決められた距離だけ離間して走査線のス
タートに配置することが知られている。
又はダイオードレーザによって生成された光強度モジュ
レート（変調）光線ビームは感光画面の表面を横切って
繰り返し走査され、入力バイナリ（２値）データによっ
て表される文書又はそれに類似するものの潛像を形成す
る。各走査線はレーザのオン及びオフ状態を表す個々の
画素の合成画像を含む。これらの画素は走査毎に垂直又
は高速走査方向に位置決めされなければならず、そうし
ないと "ジッター（jitter）" として知られる現象をも
たらす結果となる。先行技術においては、光検出器を記
録表面から予め決められた距離だけ離間して走査線のス
タートに配置することが知られている。
【０００３】当該技術分野では公知の一つの検出方法で
は、走査レーザ位置は光ファイババンドル（束）を走査
ビームの経路に配置することによって感知される。光フ
ァイババンドルは入射光をローカル（局所）電子ボード
へ伝送する。伝送された光エネルギーは例えば米国特許
第４、０７１、７５４号に開示されているようにしるし
（indicia ）に入射されるかローカルボードに配置され
る光検出器に入射される。検出器は光エネルギーを電気
信号に変換し、該電気信号はレーザに信号を提供するた
めに処理される。光ファイバ検出器はスプリット及びス
リット検出器と比較して幾つかの利点があり、その利点
はあまり高価でなく、ノイズ免疫（noise immunity) を
有し、機械的取り付けが容易である。別の走査検出器回
路ボードは必要ではなく、電力及び信号を遠隔走査検出
器ボードから又は該ボードへ提供するケーブルが必要で
ないため低コストが実現される。レーザプリンタ環境は
電気的に雑音が多く（noisy)（ＥＭＩ，ＲＦＩ）、遠隔
走査検出器ボードは電力を得て、検出された信号をワイ
ヤを介してこの雑音の多い環境を通過するように送らな
ければならないため、ノイズ免疫が実現される。光ファ
イバシステムは光エネルギーとしての信号を雑音の多い
環境を介して信号が電子信号に変換されるローカル電子
ボードへ伝達する。ローカルボードは雑音がより少ない
制御された（シールドされた）環境にある。更に、走査
検出器ボードは比較的大きいため遠隔システムの機械的
取り付けは困難である。光ファイバは非常に小さいため
配置及び搭載がより簡単である。光ファイバはビームエ
ネルギーを伝達するだけで位置決めできないためスプリ
ット検出器と共に使用する事は不可能であり、従来のス
リット検出器システムと共に使用することによって走査
レーザ光強度が変化するときに時間的に（インタイム
で）変化しない走査スタート（開始）信号を生成するこ
とはできない。
は、走査レーザ位置は光ファイババンドル（束）を走査
ビームの経路に配置することによって感知される。光フ
ァイババンドルは入射光をローカル（局所）電子ボード
へ伝送する。伝送された光エネルギーは例えば米国特許
第４、０７１、７５４号に開示されているようにしるし
（indicia ）に入射されるかローカルボードに配置され
る光検出器に入射される。検出器は光エネルギーを電気
信号に変換し、該電気信号はレーザに信号を提供するた
めに処理される。光ファイバ検出器はスプリット及びス
リット検出器と比較して幾つかの利点があり、その利点
はあまり高価でなく、ノイズ免疫（noise immunity) を
有し、機械的取り付けが容易である。別の走査検出器回
路ボードは必要ではなく、電力及び信号を遠隔走査検出
器ボードから又は該ボードへ提供するケーブルが必要で
ないため低コストが実現される。レーザプリンタ環境は
電気的に雑音が多く（noisy)（ＥＭＩ，ＲＦＩ）、遠隔
走査検出器ボードは電力を得て、検出された信号をワイ
ヤを介してこの雑音の多い環境を通過するように送らな
ければならないため、ノイズ免疫が実現される。光ファ
イバシステムは光エネルギーとしての信号を雑音の多い
環境を介して信号が電子信号に変換されるローカル電子
ボードへ伝達する。ローカルボードは雑音がより少ない
制御された（シールドされた）環境にある。更に、走査
検出器ボードは比較的大きいため遠隔システムの機械的
取り付けは困難である。光ファイバは非常に小さいため
配置及び搭載がより簡単である。光ファイバはビームエ
ネルギーを伝達するだけで位置決めできないためスプリ
ット検出器と共に使用する事は不可能であり、従来のス
リット検出器システムと共に使用することによって走査
レーザ光強度が変化するときに時間的に（インタイム
で）変化しない走査スタート（開始）信号を生成するこ
とはできない。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、レーザダイオードの走査強度変化が変化する時にイ
ンタイムで（時間的に）変化しない光ファイバ検出手段
を使用した走査開始信号を生成させる手段（装置）及び
方法を得ることである。
は、レーザダイオードの走査強度変化が変化する時にイ
ンタイムで（時間的に）変化しない光ファイバ検出手段
を使用した走査開始信号を生成させる手段（装置）及び
方法を得ることである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】従って本発明は、レーザ
ダイオードの走査強度変化が変化する時にインタイムで
（時間的に）変化しない光ファイバ検出手段を使用した
走査開始信号を生成させる手段（装置）及び方法を得る
ことである。本発明は、スプリット検出器の第２フォト
サイトで生成された第２信号に対応した第２の時間遅延
された信号を提供することによってスプリット検出器の
ジャンクションをシミュレートする考察に基づく。更に
詳細には、本発明は光ファイバ走査ビーム検出器に関
し、該検出器は周期的に光ビームを掃引する光路に配置
される光ファイバ手段を有し、前記光ファイバ手段はエ
ネルギーを前記遮断（途中で捕獲）された光から光検出
器へ伝達し、それによって前記光検出器は前記検出され
た光の強度に対応して電気信号Ｖ１を生成し、第２電気
信号Ｖ２を生成するために前記電気信号を分割するため
の回路手段を有し、前記第２電気信号の前記生成は前記
第１電気信号の生成からインタイム（in time:時間的
に）で遅延され、前記第１及び第２電気信号を比較し前
記第１及び第２信号間のクロスオーバーポイントの検出
によって第３電気信号Ｖ３を生成するためのコンパレー
タ手段を有する。
ダイオードの走査強度変化が変化する時にインタイムで
（時間的に）変化しない光ファイバ検出手段を使用した
走査開始信号を生成させる手段（装置）及び方法を得る
ことである。本発明は、スプリット検出器の第２フォト
サイトで生成された第２信号に対応した第２の時間遅延
された信号を提供することによってスプリット検出器の
ジャンクションをシミュレートする考察に基づく。更に
詳細には、本発明は光ファイバ走査ビーム検出器に関
し、該検出器は周期的に光ビームを掃引する光路に配置
される光ファイバ手段を有し、前記光ファイバ手段はエ
ネルギーを前記遮断（途中で捕獲）された光から光検出
器へ伝達し、それによって前記光検出器は前記検出され
た光の強度に対応して電気信号Ｖ１を生成し、第２電気
信号Ｖ２を生成するために前記電気信号を分割するため
の回路手段を有し、前記第２電気信号の前記生成は前記
第１電気信号の生成からインタイム（in time:時間的
に）で遅延され、前記第１及び第２電気信号を比較し前
記第１及び第２信号間のクロスオーバーポイントの検出
によって第３電気信号Ｖ３を生成するためのコンパレー
タ手段を有する。
【０００６】本発明の請求項１の態様においては、記録
媒体に隣接した予め決められた位置で走査ビーム光路に
沿って放射エネルギー源から放射エネルギーの走査ビー
ムを検出する方法であって、前記放射エネルギー源へフ
ィードバック信号を提供し、前記放射エネルギー源は前
記記録媒体上に前記走査ビームの走査開始位置を確立す
るために使用され、前記予め決められた位置に配置され
る光受信エンドを有する少なくとも一つの光ファイバを
有し、前記走査ビームは前記光ファイバ受信エンドに入
り、前記ファイバを介して前記ファイバの放出エンドへ
伝達され、前記ファイバ放出エンドから光を受信するよ
うに配置された光検出器を有し、前記光検出器は、前記
ファイバ放出エンドからの光により照射されたとき出力
電圧Ｖ１を提供し、第２電圧Ｖ２を形成するために前記
電圧Ｖ１を分割及び遅延させる遅延及びコンパレータ回
路手段を有し、前記電圧Ｖ２はＶ１と同じ立ち上がり及
び下降波形を有するが、予め決められた時間間隔遅延さ
れ、前記電圧波形Ｖ１及びＶ２を比較し出力電圧Ｖ３を
生成するコンパレータ手段を有し、前記出力電圧Ｖ３で
は前記波形が時間的に交差する、ことを含む。
媒体に隣接した予め決められた位置で走査ビーム光路に
沿って放射エネルギー源から放射エネルギーの走査ビー
ムを検出する方法であって、前記放射エネルギー源へフ
ィードバック信号を提供し、前記放射エネルギー源は前
記記録媒体上に前記走査ビームの走査開始位置を確立す
るために使用され、前記予め決められた位置に配置され
る光受信エンドを有する少なくとも一つの光ファイバを
有し、前記走査ビームは前記光ファイバ受信エンドに入
り、前記ファイバを介して前記ファイバの放出エンドへ
伝達され、前記ファイバ放出エンドから光を受信するよ
うに配置された光検出器を有し、前記光検出器は、前記
ファイバ放出エンドからの光により照射されたとき出力
電圧Ｖ１を提供し、第２電圧Ｖ２を形成するために前記
電圧Ｖ１を分割及び遅延させる遅延及びコンパレータ回
路手段を有し、前記電圧Ｖ２はＶ１と同じ立ち上がり及
び下降波形を有するが、予め決められた時間間隔遅延さ
れ、前記電圧波形Ｖ１及びＶ２を比較し出力電圧Ｖ３を
生成するコンパレータ手段を有し、前記出力電圧Ｖ３で
は前記波形が時間的に交差する、ことを含む。
【０００７】
【実施例】図１はＳＯＳ（走査開始）信号を生成するた
めの従来のスプリット検出器を使用した従来技術のレー
ザダイオードＲＯＳスキャナの平面図である。図１を参
照すると、スキャナ１０はバイナリ（２値）入力画像デ
ータを受信する自己モジュレート（変調）ダイオードレ
ーザ１２を含む。光学系１４は変調された出力の従来の
コリメーション（平行）及びビーム拡大を提供する。シ
ステム１４からコリメート（平行化）された出力はミラ
ー１６によって反射され正の円柱レンズ２０によって回
転ポリゴン１８のファセット（小面）に集束される。ま
た、レンズ２０は通常ポリゴン誘引サジタルビーム位置
エラー（ウォッブルエラー）を光学的に修正するように
位置決めされる（一直線に並べられる）。例えばポリゴ
ン１８のファセット１８Ａのようなファセットからの反
射光線はＦθレンズ要素２４、２６によって画面２２に
高速走査方向（接平面）で集束される。
めの従来のスプリット検出器を使用した従来技術のレー
ザダイオードＲＯＳスキャナの平面図である。図１を参
照すると、スキャナ１０はバイナリ（２値）入力画像デ
ータを受信する自己モジュレート（変調）ダイオードレ
ーザ１２を含む。光学系１４は変調された出力の従来の
コリメーション（平行）及びビーム拡大を提供する。シ
ステム１４からコリメート（平行化）された出力はミラ
ー１６によって反射され正の円柱レンズ２０によって回
転ポリゴン１８のファセット（小面）に集束される。ま
た、レンズ２０は通常ポリゴン誘引サジタルビーム位置
エラー（ウォッブルエラー）を光学的に修正するように
位置決めされる（一直線に並べられる）。例えばポリゴ
ン１８のファセット１８Ａのようなファセットからの反
射光線はＦθレンズ要素２４、２６によって画面２２に
高速走査方向（接平面）で集束される。
【０００８】ビームが画面２２を横切って走査すると光
は遠隔走査検出器ボード３１に取り付けられたスプリッ
ト検出器３０に突き当たる。図２はスプリット検出器３
０及び走査ビーム２９が検出器の２つのフォトサイト
（photosite)を交差するときに生成される電圧Ｖ１、Ｖ
２、及びＶ３の波形を示している。
は遠隔走査検出器ボード３１に取り付けられたスプリッ
ト検出器３０に突き当たる。図２はスプリット検出器３
０及び走査ビーム２９が検出器の２つのフォトサイト
（photosite)を交差するときに生成される電圧Ｖ１、Ｖ
２、及びＶ３の波形を示している。
【０００９】スプリット検出器システムにおいては、小
さな空間によって分離された２つのフォトサイト３０
Ａ、３０Ｂがある。走査ビーム２９が２つのを横切って
走査すると、２つの別々の電気信号（Ｖ１、Ｖ２）はフ
ォトサイト同士間の空間による時間遅延（タイムディレ
イ）によって分離されて生成される。２つの信号はワイ
ヤに沿って送られ、走査レーザ光強度に関係無く安定し
ているロー（低）ジッタエッジ信号Ｖ３を生成するよう
にローカル電子ボード３４上の回路によって処理され
る。その回路は、ビームがフォトサイト間を横切ってい
るときにＶ１及びＶ２が交差する時に信号を生成する。
検出器３０が画像形成表面に隣接した遠隔ボード３１上
に取り付けられることが必要とされるため、このスプリ
ット検出器システムは前記の問題を示す。即ち、出力信
号は雑音の多い環境で生成され、ワイヤは出力信号をフ
ィードバックループでローカル電子ボードへ戻すように
伝達する必要がある。
さな空間によって分離された２つのフォトサイト３０
Ａ、３０Ｂがある。走査ビーム２９が２つのを横切って
走査すると、２つの別々の電気信号（Ｖ１、Ｖ２）はフ
ォトサイト同士間の空間による時間遅延（タイムディレ
イ）によって分離されて生成される。２つの信号はワイ
ヤに沿って送られ、走査レーザ光強度に関係無く安定し
ているロー（低）ジッタエッジ信号Ｖ３を生成するよう
にローカル電子ボード３４上の回路によって処理され
る。その回路は、ビームがフォトサイト間を横切ってい
るときにＶ１及びＶ２が交差する時に信号を生成する。
検出器３０が画像形成表面に隣接した遠隔ボード３１上
に取り付けられることが必要とされるため、このスプリ
ット検出器システムは前記の問題を示す。即ち、出力信
号は雑音の多い環境で生成され、ワイヤは出力信号をフ
ィードバックループでローカル電子ボードへ戻すように
伝達する必要がある。
【００１０】本発明に従うと "スプリット(split)"光フ
ァイバ検出器信号システムは、光ファイバをＳＯＳ位置
に配置し入射光エネルギーをローカル電子ボード上に配
置されるシングル光検出器へ伝達することによって実現
される。シングル（単一の）光ファイバが示されている
が集束された複数のファイバも使用されることが理解さ
れる。従来技術のスプリット検出器の２つの信号Ｖ１、
Ｖ２と同等の２つの別々の電気信号を生成する回路が追
加される。光ファイバを介して伝達されたビームがシン
グルサイト光検出器に入射されるとき第１の信号が生成
され、第２信号は以下に見られるように予め決められた
時間遅延に引き続いて生成される。図３はボード３１上
のスプリット検出器３０を光ファイバ４０と置換するこ
とによって変更された図１のシステムを示している。図
４は走査ビーム２９がファイバ４０と交差し光が検出器
４２に伝達されるときに生成されるＲＯＳ信号を示して
いる。図３及び４を参照すると、ファイバ４０はローカ
ル電子ボード４４上に取り付けられたシングルフォトサ
イト検出器４２へ光を伝達する。出力信号Ｖ１は、検出
器が出力及びファイバ４０から発生する光ビームを検出
すると検出器４２によって生成される。信号Ｖ１は図５
において詳細が示される遅延及びコンパレータ回路４５
に送られる。図５を参照すると、検出器４２によって生
成された出力信号Ｖ１は高速コンパレータ５への１つの
入力として送られる。また、この信号は第２遅延信号Ｖ
２に処理されるように高速バッファアンプ５２及びアナ
ログ遅延ライン５４を介してコンパレータ５０への入力
へ送られる。従って、Ｖ２はスプリット検出器（図２）
の信号Ｖ２のアナログとして感知される。これら２つの
信号Ｖ１、Ｖ２はあらゆるレーザ強度の変動に関係無く
安定しているロージッタエッジ信号Ｖ３を生成するため
にコンパレータ５０で処理（演算）される。追加の回路
及びタイミングダイアグラムは図６及び７に示されてい
る。
ァイバ検出器信号システムは、光ファイバをＳＯＳ位置
に配置し入射光エネルギーをローカル電子ボード上に配
置されるシングル光検出器へ伝達することによって実現
される。シングル（単一の）光ファイバが示されている
が集束された複数のファイバも使用されることが理解さ
れる。従来技術のスプリット検出器の２つの信号Ｖ１、
Ｖ２と同等の２つの別々の電気信号を生成する回路が追
加される。光ファイバを介して伝達されたビームがシン
グルサイト光検出器に入射されるとき第１の信号が生成
され、第２信号は以下に見られるように予め決められた
時間遅延に引き続いて生成される。図３はボード３１上
のスプリット検出器３０を光ファイバ４０と置換するこ
とによって変更された図１のシステムを示している。図
４は走査ビーム２９がファイバ４０と交差し光が検出器
４２に伝達されるときに生成されるＲＯＳ信号を示して
いる。図３及び４を参照すると、ファイバ４０はローカ
ル電子ボード４４上に取り付けられたシングルフォトサ
イト検出器４２へ光を伝達する。出力信号Ｖ１は、検出
器が出力及びファイバ４０から発生する光ビームを検出
すると検出器４２によって生成される。信号Ｖ１は図５
において詳細が示される遅延及びコンパレータ回路４５
に送られる。図５を参照すると、検出器４２によって生
成された出力信号Ｖ１は高速コンパレータ５への１つの
入力として送られる。また、この信号は第２遅延信号Ｖ
２に処理されるように高速バッファアンプ５２及びアナ
ログ遅延ライン５４を介してコンパレータ５０への入力
へ送られる。従って、Ｖ２はスプリット検出器（図２）
の信号Ｖ２のアナログとして感知される。これら２つの
信号Ｖ１、Ｖ２はあらゆるレーザ強度の変動に関係無く
安定しているロージッタエッジ信号Ｖ３を生成するため
にコンパレータ５０で処理（演算）される。追加の回路
及びタイミングダイアグラムは図６及び７に示されてい
る。
【００１１】図４−６を参照すると、検出器４２は抵抗
Ｒ１を介して最高速度でダイオードバイアス電圧にバッ
クバイアスされている。コンパレータ出力（Ｖｏｕｔ
＋）が最初にロジックロー（低）状態でスタートするよ
うに小さなオフセット電圧が高速コンパレータ５０の負
入力ターミナル（端子）に印加される。抵抗器Ｒ２及び
Ｒ３によって形成された電圧ディバイダによってオフセ
ット電圧のフラクション（一部）のみがコンパレータの
正入力ターミナルへ到達する。バッファアンプ５２によ
る増幅の後でアナログ遅延ライン５４の値によって決定
される時間遅延をもって、ポイントＡでの電圧の１／２
がポイントＢに表れるように電圧ディバイダは設定され
る。走査ビーム２９が検出器４２を横切り始めると電圧
はＡに上昇し始める。電圧の半分だけがＢ（時間遅延を
有する）に表れるため、コンパレータ（Ｖｏｕｔ＋）の
出力はロー状態に留まっている。走査ビームが直接光検
出器上にあるときはＡ及びＢでの電圧は最大である。走
査ビームがフォトダイオードサイトをフォールオフし
（離れ）始めると、Ａでの電圧は降下し始めるがＢでの
電圧は時間遅延のためにすぐには変化しない。結果的に
Ａでの電圧はＢの電圧より降下しコンパレータ（Ｖｏｕ
ｔ＋）の出力はハイ状態になる。コンパレータ出力（Ｖ
ｏｕｔ＋）がハイのときコンパレータへの正入力ターミ
ナルは状態変化をロックするためにより大きな電圧を得
るように抵抗器Ｒ４、Ｒ５による振動（発振）を防ぐた
めにヒステリシスがある。時間遅延が終わると、Ｂでの
電圧は降下し始め、結果的にＡでの電圧より降下するた
めコンパレータの出力（Ｖｏｕｔ＋）はロー状態にスイ
ッチバックする。従って、コンパレータ出力はロージッ
タエッジ信号Ｖ３である。
Ｒ１を介して最高速度でダイオードバイアス電圧にバッ
クバイアスされている。コンパレータ出力（Ｖｏｕｔ
＋）が最初にロジックロー（低）状態でスタートするよ
うに小さなオフセット電圧が高速コンパレータ５０の負
入力ターミナル（端子）に印加される。抵抗器Ｒ２及び
Ｒ３によって形成された電圧ディバイダによってオフセ
ット電圧のフラクション（一部）のみがコンパレータの
正入力ターミナルへ到達する。バッファアンプ５２によ
る増幅の後でアナログ遅延ライン５４の値によって決定
される時間遅延をもって、ポイントＡでの電圧の１／２
がポイントＢに表れるように電圧ディバイダは設定され
る。走査ビーム２９が検出器４２を横切り始めると電圧
はＡに上昇し始める。電圧の半分だけがＢ（時間遅延を
有する）に表れるため、コンパレータ（Ｖｏｕｔ＋）の
出力はロー状態に留まっている。走査ビームが直接光検
出器上にあるときはＡ及びＢでの電圧は最大である。走
査ビームがフォトダイオードサイトをフォールオフし
（離れ）始めると、Ａでの電圧は降下し始めるがＢでの
電圧は時間遅延のためにすぐには変化しない。結果的に
Ａでの電圧はＢの電圧より降下しコンパレータ（Ｖｏｕ
ｔ＋）の出力はハイ状態になる。コンパレータ出力（Ｖ
ｏｕｔ＋）がハイのときコンパレータへの正入力ターミ
ナルは状態変化をロックするためにより大きな電圧を得
るように抵抗器Ｒ４、Ｒ５による振動（発振）を防ぐた
めにヒステリシスがある。時間遅延が終わると、Ｂでの
電圧は降下し始め、結果的にＡでの電圧より降下するた
めコンパレータの出力（Ｖｏｕｔ＋）はロー状態にスイ
ッチバックする。従って、コンパレータ出力はロージッ
タエッジ信号Ｖ３である。
【００１２】図５に示される回路はダイオード強度が変
化するとき走査検出パルスの立ち上がりエッジの反復性
をインタイムで（時間的に）変化させない。これは図７
に示され、ここでは２つの異なる光強度の比較が行われ
る。抵抗器電圧分割器（Ｒ２、Ｒ３）は１／２にセット
されるため、交差トリガポイントは常に最大点の１／２
である。Ａ’、Ｂ’で表される波形はレーザパワーが
Ａ、Ｂで示される波形の２倍であることを示している。
Ａ又はＡ’の降下時間は最大電圧（レーザパワー）に無
関係のため、Ａ及びＡ’は常にインタイムで（時間的
に）同じ点の最大点の１／２でＢ及びＢ’と交差する。
化するとき走査検出パルスの立ち上がりエッジの反復性
をインタイムで（時間的に）変化させない。これは図７
に示され、ここでは２つの異なる光強度の比較が行われ
る。抵抗器電圧分割器（Ｒ２、Ｒ３）は１／２にセット
されるため、交差トリガポイントは常に最大点の１／２
である。Ａ’、Ｂ’で表される波形はレーザパワーが
Ａ、Ｂで示される波形の２倍であることを示している。
Ａ又はＡ’の降下時間は最大電圧（レーザパワー）に無
関係のため、Ａ及びＡ’は常にインタイムで（時間的
に）同じ点の最大点の１／２でＢ及びＢ’と交差する。
【図１】ＳＯＳ検出のためにダイオードレーザ及びスプ
リット検出器を使用した従来技術のＲＯＳスキャナの接
平面における平面図である。
リット検出器を使用した従来技術のＲＯＳスキャナの接
平面における平面図である。
【図２】図１のスプリット検出器によって生成される電
気出力信号を示した図表である。
気出力信号を示した図表である。
【図３】本発明の光ファイバＳＯＳ検出方法を示した図
１のスキャナの変更バージョンの平面図である。
１のスキャナの変更バージョンの平面図である。
【図４】図３で示されたＳＯＳ検出システムによって生
成された略電気信号を示した図表である。
成された略電気信号を示した図表である。
【図５】第１検出信号の生成に引き続き第２遅延信号を
生成させるために使用される回路を示した図である。
生成させるために使用される回路を示した図である。
【図６】図５の回路のタイミングダイヤグラムである。
【図７】２つの異なるレーザ出力強度の２つの回路タイ
ミングダイヤグラムの比較を示した図表である。
ミングダイヤグラムの比較を示した図表である。
２２ 画像平面 ４０ 光ファイバ ４２ シングルフォトサイト検出器 ４４ ローカル電子ボード ４５ 遅延及びコンパレータ回路
フロントページの続き (72)発明者 ジェームズ ジェイ．アッペル アメリカ合衆国 ニューヨーク州 14618 ロチェスター ブラッドフォード ロー ド 87 (72)発明者 アンドリュー エム．ストラッチ 日本国 231 神奈川県 横浜市 中区 本牧 ２−307 ベイサイド ヴィラ 本 牧 401号
Claims (1)
- 【請求項１】 記録媒体に隣接した予め決められた位置
で走査ビーム光路に沿って放射エネルギー源から放射エ
ネルギーの走査ビームを検出する方法であって、前記放
射エネルギー源へフィードバック信号を提供し、前記放
射エネルギー源は前記記録媒体上に前記走査ビームの走
査開始位置を確立するために使用され、 前記予め決められた位置に配置される光受信エンドを有
する少なくとも一つの光ファイバを有し、前記走査ビー
ムは前記光ファイバ受信エンドに入り、前記ファイバを
介して前記ファイバの放出エンドへ伝達され、 前記ファイバ放出エンドから光を受信するように配置さ
れた光検出器を有し、前記光検出器は、前記ファイバ放
出エンドからの光により照射されたとき出力電圧Ｖ１を
提供し、 第２電圧Ｖ２を形成するために前記電圧Ｖ１を分割及び
遅延させる遅延及びコンパレータ回路手段を有し、前記
電圧Ｖ２はＶ１と同じ立ち上がり及び下降波形を有する
が、予め決められた時間間隔遅延され、 前記電圧波形Ｖ１及びＶ２を比較し出力電圧Ｖ３を生成
するコンパレータ手段を有し、前記出力電圧Ｖ３では前
記波形が時間的に交差する、 ことを含む走査ビーム検出方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US08/217,822 US5444239A (en) | 1994-03-25 | 1994-03-25 | Fiber optic scanning beam detector |
| US217822 | 1994-03-25 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0821968A true JPH0821968A (ja) | 1996-01-23 |
| JP3516280B2 JP3516280B2 (ja) | 2004-04-05 |
Family
ID=22812673
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP05909295A Expired - Fee Related JP3516280B2 (ja) | 1994-03-25 | 1995-03-17 | 走査ビーム検出方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5444239A (ja) |
| JP (1) | JP3516280B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
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| JPH0996771A (ja) * | 1995-09-29 | 1997-04-08 | Asahi Optical Co Ltd | 光走査装置の同期信号生成回路 |
| JPH11170603A (ja) | 1997-12-10 | 1999-06-29 | Canon Inc | 画像形成装置 |
| US6814933B2 (en) * | 2000-09-19 | 2004-11-09 | Aurora Biosciences Corporation | Multiwell scanner and scanning method |
| US6448089B1 (en) * | 1999-10-12 | 2002-09-10 | Aurora Biosciences Corporation | Multiwell scanner and scanning method |
| DE10024079A1 (de) | 2000-05-17 | 2001-11-22 | Asclepion Meditec Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Kontrolle der Energie und/oder Position eines gepulsten und gescannten Laserstrahles |
| DE10211343A1 (de) * | 2002-03-14 | 2003-09-25 | Sick Ag | Signalverarbeitungsverfahren und Auswerteschaltung |
| JP6681046B2 (ja) * | 2016-05-20 | 2020-04-15 | 株式会社リコー | 光走査装置、装置、物体装置、光走査方法及び同期信号取得方法 |
Family Cites Families (8)
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|---|---|---|---|---|
| JPS50154013A (ja) * | 1974-06-01 | 1975-12-11 | ||
| US4071754A (en) * | 1976-04-22 | 1978-01-31 | Xerox Corporation | Beam alignment detector |
| US4179664A (en) * | 1977-07-26 | 1979-12-18 | Ortec Incorporated | Constant fraction signal shaping apparatus |
| US4386272C1 (en) * | 1978-07-07 | 2001-02-06 | Pitney Bowes Inc | Apparatus and method for generating images by producing light spots of different sizes |
| US4800270A (en) * | 1987-06-23 | 1989-01-24 | Canadian Patents & Development Ltd. | Galvanometric optical scanning system having a pair of closely located synchronization |
| US5210634A (en) * | 1989-05-16 | 1993-05-11 | Asahi Kogaku Kogyo K.K. | Light beam scanner |
| US5018808A (en) * | 1989-12-26 | 1991-05-28 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for beam displacement in a light beam scanner |
| US5373154A (en) * | 1993-08-10 | 1994-12-13 | Industrial Technology Research Institute | Multisynchronizing signal optical scanning system for dispensing position error |
-
1994
- 1994-03-25 US US08/217,822 patent/US5444239A/en not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-03-17 JP JP05909295A patent/JP3516280B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5444239A (en) | 1995-08-22 |
| JP3516280B2 (ja) | 2004-04-05 |
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