JPH08148458A - 基板の化学処理のための方法及び装置 - Google Patents
基板の化学処理のための方法及び装置Info
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- JPH08148458A JPH08148458A JP7088410A JP8841095A JPH08148458A JP H08148458 A JPH08148458 A JP H08148458A JP 7088410 A JP7088410 A JP 7088410A JP 8841095 A JP8841095 A JP 8841095A JP H08148458 A JPH08148458 A JP H08148458A
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- tank
- fluid
- chemical treatment
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- Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)
- Cleaning And De-Greasing Of Metallic Materials By Chemical Methods (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 時間及び空間を節約し、基板上の異物をでき
るだけ少なく維持しかつカセット不要である、基板の化
学処理のための方法及び装置。 【構成】 基板に化学処理、洗浄工程及び乾燥工程を順
次実施する際、化学処理と洗浄過程を同じ槽内で行な
う。
るだけ少なく維持しかつカセット不要である、基板の化
学処理のための方法及び装置。 【構成】 基板に化学処理、洗浄工程及び乾燥工程を順
次実施する際、化学処理と洗浄過程を同じ槽内で行な
う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、少なくとも１つの基板
に化学処理、洗浄過程及び乾燥過程を順次実施すること
による基板の化学処理のための方法ならびに該化学処理
のための装置に関する。
に化学処理、洗浄過程及び乾燥過程を順次実施すること
による基板の化学処理のための方法ならびに該化学処理
のための装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】これまで自動湿式作業台(automatische
Nassbank)は、一連の化学的な湿式処理のための一連の
槽もしくはタンクを有している。一定の一連の化学的な
処理の終了後に基板、例えばシリコンウェーハは、別個
の洗浄−もしくは水洗槽中に沈められ、かつ引き続き乾
燥される。
Nassbank)は、一連の化学的な湿式処理のための一連の
槽もしくはタンクを有している。一定の一連の化学的な
処理の終了後に基板、例えばシリコンウェーハは、別個
の洗浄−もしくは水洗槽中に沈められ、かつ引き続き乾
燥される。
【０００３】基板の乾燥は、例えば遠心分離機を用いて
行なうことができるが、しかし洗浄槽からの基板の緩徐
な排出の間に行なうこともできる。
行なうことができるが、しかし洗浄槽からの基板の緩徐
な排出の間に行なうこともできる。
【０００４】欧州特許出願公開第３８５５３６号明細書
から、いわゆる「マランゴニ乾燥機("Marangoni-Trockn
er")」が公知である。この欧州特許出願公開明細書に記
載された方法の場合には、浴からの基板の緩徐な排出に
加えて、蒸気が基板に使用され、この場合、蒸気は、基
板上で凝縮しないが、しかし液体中に拡散する。基板表
面上の液体メニスカスでは濃度勾配ひいては表面張力勾
配が生じる。この勾配によって基板から液体中への液体
の移動（マランゴニ効果）が生じ、かつ基板の申し分の
ない乾燥が得られる。
から、いわゆる「マランゴニ乾燥機("Marangoni-Trockn
er")」が公知である。この欧州特許出願公開明細書に記
載された方法の場合には、浴からの基板の緩徐な排出に
加えて、蒸気が基板に使用され、この場合、蒸気は、基
板上で凝縮しないが、しかし液体中に拡散する。基板表
面上の液体メニスカスでは濃度勾配ひいては表面張力勾
配が生じる。この勾配によって基板から液体中への液体
の移動（マランゴニ効果）が生じ、かつ基板の申し分の
ない乾燥が得られる。
【０００５】米国特許第４７２２７５２号明細書から、
ウェーハを洗浄しかつ乾燥するための装置及び方法が公
知であり、この場合、ウェーハは、カセット中に存在す
る。ウェーハは、カセットから分離されて洗浄槽から緩
徐に排出され、かつ引き続き、同様に緩徐に排出されか
つ乾燥されたカセット中に入れられる。
ウェーハを洗浄しかつ乾燥するための装置及び方法が公
知であり、この場合、ウェーハは、カセット中に存在す
る。ウェーハは、カセットから分離されて洗浄槽から緩
徐に排出され、かつ引き続き、同様に緩徐に排出されか
つ乾燥されたカセット中に入れられる。
【０００６】上記の装置ないしは方法は次の欠点を有し
ている：即ち、洗浄槽は、いずれにしても残りの処理槽
とは別個の槽であり、かつ専ら基板の洗浄に使用され
る。しかし固有の洗浄槽は、高められた空間ないしは場
所の需要を意味する。その上、基板は、洗浄段階前に化
学処理のための流体の表面を通過して空気中に出なけれ
ばならず、かつその後に再度洗浄液中に入らなければな
らず、このことによって周知のごとく基板の微粒子異物
についての不利な結果がもたらされる可能性がある。こ
れは、特に疎水性表面（例えばＨＦ処理による）に該当
する。同様に、化学処理ないしは洗浄段階のための異な
る槽中へないしは異なる槽からの基板の投入ないしは排
出は、高められた時間消費を意味する。同様に、公知の
装置ないしは方法の場合には、基板を取り扱うためのカ
セット（キャリヤ）が常に必要とされる。
ている：即ち、洗浄槽は、いずれにしても残りの処理槽
とは別個の槽であり、かつ専ら基板の洗浄に使用され
る。しかし固有の洗浄槽は、高められた空間ないしは場
所の需要を意味する。その上、基板は、洗浄段階前に化
学処理のための流体の表面を通過して空気中に出なけれ
ばならず、かつその後に再度洗浄液中に入らなければな
らず、このことによって周知のごとく基板の微粒子異物
についての不利な結果がもたらされる可能性がある。こ
れは、特に疎水性表面（例えばＨＦ処理による）に該当
する。同様に、化学処理ないしは洗浄段階のための異な
る槽中へないしは異なる槽からの基板の投入ないしは排
出は、高められた時間消費を意味する。同様に、公知の
装置ないしは方法の場合には、基板を取り扱うためのカ
セット（キャリヤ）が常に必要とされる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】従って本発明の課題
は、自動湿式作業台でのプロセスフローを合理化する、
即ち必要な時間及び空間を節約する、化学湿式処理のた
めの方法ないしは該方法のための装置を記載ないしは提
供することである。本発明のもう１つの課題は、化学湿
式方法のこのような流れの間の基板の異物をできるだけ
少なく維持することである。最後に、本発明のもう１つ
の課題は、基板を保持するためないしは槽内へないしは
槽からの基板の投入ないしは排出に関連するカセットも
しくはこの類似物を不要にすることを可能にすることで
ある。
は、自動湿式作業台でのプロセスフローを合理化する、
即ち必要な時間及び空間を節約する、化学湿式処理のた
めの方法ないしは該方法のための装置を記載ないしは提
供することである。本発明のもう１つの課題は、化学湿
式方法のこのような流れの間の基板の異物をできるだけ
少なく維持することである。最後に、本発明のもう１つ
の課題は、基板を保持するためないしは槽内へないしは
槽からの基板の投入ないしは排出に関連するカセットも
しくはこの類似物を不要にすることを可能にすることで
ある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記課題は、本発明によ
れば、化学処理と洗浄過程が同じ槽内で行なわれること
によって解決される。
れば、化学処理と洗浄過程が同じ槽内で行なわれること
によって解決される。
【０００９】
【作用】有利に、同じ槽内での化学処理及び洗浄過程
は、化学処理のための流体を別のこの種の流体によって
補充ないしは（部分的に）代替するか、及び／又は洗浄
液と代替することによって実施される。有利に、連続の
化学的方法の場合には、化学処理のための流体と別のこ
の種の流体との代替前にまず洗浄液を導入しかつ１つも
しくはそれ以上の基板を槽から排出され、かつこの際同
時に乾燥する。引き続き、洗浄液は、化学処理のための
別の流体と代替され、かつ基板は再度槽内に投入され
る。
は、化学処理のための流体を別のこの種の流体によって
補充ないしは（部分的に）代替するか、及び／又は洗浄
液と代替することによって実施される。有利に、連続の
化学的方法の場合には、化学処理のための流体と別のこ
の種の流体との代替前にまず洗浄液を導入しかつ１つも
しくはそれ以上の基板を槽から排出され、かつこの際同
時に乾燥する。引き続き、洗浄液は、化学処理のための
別の流体と代替され、かつ基板は再度槽内に投入され
る。
【００１０】本発明の有利な実施態様の場合には、乾燥
過程は、基板が洗浄液から離されている間に行なわれ
る。該乾燥過程の場合には、通常、基板は洗浄液から著
しく緩徐に排出される。
過程は、基板が洗浄液から離されている間に行なわれ
る。該乾燥過程の場合には、通常、基板は洗浄液から著
しく緩徐に排出される。
【００１１】上記過程を効果的に実施するために、有利
に蒸気が基板に使用され、この蒸気は、基板上で凝縮せ
ずかつ洗浄液と混合する。有利にこの混合物は、洗浄液
より小さな表面張力を有し、このことは、基板に付着す
る洗浄液を槽内に押し戻す力が存在することを意味す
る。
に蒸気が基板に使用され、この蒸気は、基板上で凝縮せ
ずかつ洗浄液と混合する。有利にこの混合物は、洗浄液
より小さな表面張力を有し、このことは、基板に付着す
る洗浄液を槽内に押し戻す力が存在することを意味す
る。
【００１２】化学処理のための流体と洗浄液との代替
は、有利な実施態様の場合には追い出しによって行なわ
れる。例えば化学処理のための流体の導出及び引き続い
ての洗浄液の供給によって、基板は空気中の増大してい
る微粒子異物に暴露されることになる。流体を別の流
体、例えば洗浄液によって追い出すことによって、基板
が相境界を貫通する必要がなくかつ空気に暴露されない
という利点が生じる。当然のことながら、化学処理のた
めの数種類の流体を追い出しによって洗浄過程前に相互
に代替することもできる。殊に化学処理のための流体と
別のこの種の流体との代替に関して該代替には、部分的
な代替、即ち混合が含まれうる。
は、有利な実施態様の場合には追い出しによって行なわ
れる。例えば化学処理のための流体の導出及び引き続い
ての洗浄液の供給によって、基板は空気中の増大してい
る微粒子異物に暴露されることになる。流体を別の流
体、例えば洗浄液によって追い出すことによって、基板
が相境界を貫通する必要がなくかつ空気に暴露されない
という利点が生じる。当然のことながら、化学処理のた
めの数種類の流体を追い出しによって洗浄過程前に相互
に代替することもできる。殊に化学処理のための流体と
別のこの種の流体との代替に関して該代替には、部分的
な代替、即ち混合が含まれうる。
【００１３】有利に、洗浄液は槽内に導入され、かつ同
時に化学処理のための流体と洗浄液との混合物は導出さ
れる。
時に化学処理のための流体と洗浄液との混合物は導出さ
れる。
【００１４】洗浄液の導入及び化学処理のための流体の
導出は、有利に槽の異なる位置で行なわれる。このこと
によって、例えば、流体と他の流体との代替が時間的に
最適化される。
導出は、有利に槽の異なる位置で行なわれる。このこと
によって、例えば、流体と他の流体との代替が時間的に
最適化される。
【００１５】洗浄液の導入は、上記混合物の導出がオー
バーフローによって行なわれている間に、有利に槽の底
部から行なわれる。従ってこの導出には、付加的なポン
プ装置は必要ない。槽底部からの導入、即ち導出位置か
ら離れていることによって、導入された洗浄液のできる
かぎり少ない量が導出される。このことは同様に、重力
を顧慮すると、場合によっては増加する温度勾配につれ
て有利である。このことは、経済的に有利でありかつ時
間節約となる。
バーフローによって行なわれている間に、有利に槽の底
部から行なわれる。従ってこの導出には、付加的なポン
プ装置は必要ない。槽底部からの導入、即ち導出位置か
ら離れていることによって、導入された洗浄液のできる
かぎり少ない量が導出される。このことは同様に、重力
を顧慮すると、場合によっては増加する温度勾配につれ
て有利である。このことは、経済的に有利でありかつ時
間節約となる。
【００１６】本発明の有利な実施態様の場合には、化学
処理のための流体は、弗化水素酸である。希釈された弗
化水素酸（ＨＦ）中での処理は、基板表面の酸化物層を
除去すること及び連続工程のいくつかに必要である水素
不動態化疎水性表面を得ることに有効である。
処理のための流体は、弗化水素酸である。希釈された弗
化水素酸（ＨＦ）中での処理は、基板表面の酸化物層を
除去すること及び連続工程のいくつかに必要である水素
不動態化疎水性表面を得ることに有効である。
【００１７】本発明の別の有利な実施態様の場合には、
化学処理のための流体は、オゾンである。オゾンを用い
た処理は、例えば清浄化の理由からＨＦで処理された
（疎水性）基板表面に再度化学酸化物を成長させるこ
と、かつ従って親水性表面を得ることが意図される場合
には実施される。
化学処理のための流体は、オゾンである。オゾンを用い
た処理は、例えば清浄化の理由からＨＦで処理された
（疎水性）基板表面に再度化学酸化物を成長させるこ
と、かつ従って親水性表面を得ることが意図される場合
には実施される。
【００１８】さらに前記課題は、本発明によれば、槽内
へないしは槽からの少なくとも１つの基板の投入及び／
又は排出の方法の場合に、基板が槽内で収容装置によっ
て保持されかつ投入及び／又は排出されることによって
解決される。
へないしは槽からの少なくとも１つの基板の投入及び／
又は排出の方法の場合に、基板が槽内で収容装置によっ
て保持されかつ投入及び／又は排出されることによって
解決される。
【００１９】本発明の課題は、基板のための支持装置と
してのカセット及び／又は基板の投入ないしは排出のた
めのカセットを不要にすることができることにある。従
って本発明による方法は、キャリヤなしで済ませること
ができる。このことによって、乾燥段階に関するキャリ
ヤの公知の欠点（キャリヤ−基板間の接触箇所が乾燥し
ない）は、回避される。本発明による収容装置は、キャ
リヤではなく単に、１つもしくはそれ以上の基板のため
の投入及び排出が可能である支持装置にすぎない。キャ
リヤ無しの乾燥は、キャリヤの乾燥段階を省略するばか
りではなく、洗浄過程に関して洗浄時間及びそれどころ
か洗浄液の使用量も減少させる。同様に乾燥装置中の化
学薬品による汚れが、キャリヤ無しの処理方法によって
減少される。
してのカセット及び／又は基板の投入ないしは排出のた
めのカセットを不要にすることができることにある。従
って本発明による方法は、キャリヤなしで済ませること
ができる。このことによって、乾燥段階に関するキャリ
ヤの公知の欠点（キャリヤ−基板間の接触箇所が乾燥し
ない）は、回避される。本発明による収容装置は、キャ
リヤではなく単に、１つもしくはそれ以上の基板のため
の投入及び排出が可能である支持装置にすぎない。キャ
リヤ無しの乾燥は、キャリヤの乾燥段階を省略するばか
りではなく、洗浄過程に関して洗浄時間及びそれどころ
か洗浄液の使用量も減少させる。同様に乾燥装置中の化
学薬品による汚れが、キャリヤ無しの処理方法によって
減少される。
【００２０】有利に収容装置は、２つの部分に分かれて
いる支持装置及び別個に垂直に可動であるナイフからな
る。
いる支持装置及び別個に垂直に可動であるナイフからな
る。
【００２１】有利に収容装置は、基板が、フード内側の
対向する面に施与されているガイドによって案内ないし
は保持されるまで、基板を槽から排出する。
対向する面に施与されているガイドによって案内ないし
は保持されるまで、基板を槽から排出する。
【００２２】有利な実施態様の場合には、槽からの基板
の排出後に、基板を槽の上で乾燥状態で保持する可動式
ホルダが備えられている。フード下ないしはフード内の
可動式ホルダは、基板が可動式ホルダによって保持され
る場合にはフードが、基板の位置を変えることなく簡単
に開くこともできるし、閉じることもできるように設計
されている。可動式ホルダは、常に乾燥しておりかつ既
に乾燥された基板とのみ接触する。
の排出後に、基板を槽の上で乾燥状態で保持する可動式
ホルダが備えられている。フード下ないしはフード内の
可動式ホルダは、基板が可動式ホルダによって保持され
る場合にはフードが、基板の位置を変えることなく簡単
に開くこともできるし、閉じることもできるように設計
されている。可動式ホルダは、常に乾燥しておりかつ既
に乾燥された基板とのみ接触する。
【００２３】有利に本発明による方法には、超音波ない
しはメガソニックによる洗浄−ないしは清浄化装置の補
助手段が備えられている。有利にこのために槽には、基
板清浄化のための音波を発生させるために圧電素子が備
えられている。このことに関しては、このような「メガ
ソニック」システムは有利であり、それというのも基板
の微粒子異物が本発明による方法の場合には最少に減少
されるからである。従って基板の極めて徹底的な清浄化
は、達成される。
しはメガソニックによる洗浄−ないしは清浄化装置の補
助手段が備えられている。有利にこのために槽には、基
板清浄化のための音波を発生させるために圧電素子が備
えられている。このことに関しては、このような「メガ
ソニック」システムは有利であり、それというのも基板
の微粒子異物が本発明による方法の場合には最少に減少
されるからである。従って基板の極めて徹底的な清浄化
は、達成される。
【００２４】前記の課題は同様に、本発明によれば、化
学処理のための装置が次の装置を有していることによっ
て解決される： − 槽内への流体のための導入装置； − 槽からの流体のための導出装置； − 基板のための収容装置。
学処理のための装置が次の装置を有していることによっ
て解決される： − 槽内への流体のための導入装置； − 槽からの流体のための導出装置； − 基板のための収容装置。
【００２５】有利に、付加的に（内側）槽の外側に外側
層が備えられており、この外側層は、安全タンクとして
使用される。
層が備えられており、この外側層は、安全タンクとして
使用される。
【００２６】代替すべき流体の均一なオーバーフローに
関する内側槽の調整のために有利に、整準ねじが備えら
れている。
関する内側槽の調整のために有利に、整準ねじが備えら
れている。
【００２７】有利に導入装置としてディフューザが、有
利に槽底部に備えられている。このディフューザは、例
えば前記のオゾン（Ｏ3）にとって重要である。
利に槽底部に備えられている。このディフューザは、例
えば前記のオゾン（Ｏ3）にとって重要である。
【００２８】液体、例えば希釈された弗化水素酸の場合
には、同様に有利に槽底部の導入メカニズムと組み合わ
されたポンプが、有利である。
には、同様に有利に槽底部の導入メカニズムと組み合わ
されたポンプが、有利である。
【００２９】有利な実施態様の場合には、槽ないしは乾
燥した基板を微粒子異物から保護するために、かつ、槽
上の領域内の濃厚な蒸気雰囲気に配慮するために、槽上
にフードが存在する。蒸気の導入のためにフードは、組
み込まれたディフューザ、即ち、フード内に組み込まれ
た孔あき拡散板を、ＩＰＡ（イソプロピルアルコール）
／Ｎ2−混合の供給ないしは分散のために有している。
このようにして、均質かつ全ての基板に均等な蒸気雰囲
気が処理室内に生じ、従って各ウェーハに対する処理条
件は同じである。ＩＰＡと窒素の混合は、ガス洗浄瓶
（バブラ）中で行なわれる。
燥した基板を微粒子異物から保護するために、かつ、槽
上の領域内の濃厚な蒸気雰囲気に配慮するために、槽上
にフードが存在する。蒸気の導入のためにフードは、組
み込まれたディフューザ、即ち、フード内に組み込まれ
た孔あき拡散板を、ＩＰＡ（イソプロピルアルコール）
／Ｎ2−混合の供給ないしは分散のために有している。
このようにして、均質かつ全ての基板に均等な蒸気雰囲
気が処理室内に生じ、従って各ウェーハに対する処理条
件は同じである。ＩＰＡと窒素の混合は、ガス洗浄瓶
（バブラ）中で行なわれる。
【００３０】有利に基板は、槽内で収容装置によって保
持され、この収容装置は、ナイフ形部材、いわゆるナイ
フ及び、例えば２つの支持装置からなる。ナイフ及び支
持装置は、それぞれ相互に相対的に可動であり、かつ該
ナイフは、有利に２つの支持装置の間に配置されてい
る。該支持装置は槽内に備えられており、一方では、該
ナイフは、液体から浮上することもできる。
持され、この収容装置は、ナイフ形部材、いわゆるナイ
フ及び、例えば２つの支持装置からなる。ナイフ及び支
持装置は、それぞれ相互に相対的に可動であり、かつ該
ナイフは、有利に２つの支持装置の間に配置されてい
る。該支持装置は槽内に備えられており、一方では、該
ナイフは、液体から浮上することもできる。
【００３１】本発明の有利な実施態様の場合には、槽上
のフードは、基板のためのガイドを有している。このガ
イドは、有利にフード内側の２つの対向する面に固定さ
れている。このガイドの場合には基板、例えばシリコン
ウェーハは、案内ないしは保持することができる。
のフードは、基板のためのガイドを有している。このガ
イドは、有利にフード内側の２つの対向する面に固定さ
れている。このガイドの場合には基板、例えばシリコン
ウェーハは、案内ないしは保持することができる。
【００３２】ガイドは、フードの対向する面に固定され
ている。該ガイドは、複数の基板を受けるための溝状の
形を有している。このことによって、基板を保持するた
めのカセットを不要とすることができる。
ている。該ガイドは、複数の基板を受けるための溝状の
形を有している。このことによって、基板を保持するた
めのカセットを不要とすることができる。
【００３３】有利にフード内のガイドは、２つの部分に
分けられて実施され、この場合、基板の受け取りを容易
にするために、これら収容装置の少なくとも一方の縁部
は傾斜している。
分けられて実施され、この場合、基板の受け取りを容易
にするために、これら収容装置の少なくとも一方の縁部
は傾斜している。
【００３４】有利にガイドの少なくとも一方は、基板の
受け取りを容易にするために、傾斜した縁部を有してい
る。またこのことによってフードの開閉が容易になる。
受け取りを容易にするために、傾斜した縁部を有してい
る。またこのことによってフードの開閉が容易になる。
【００３５】本発明の有利な実施態様の場合には、可動
式ホルダが備えられており、この可動式ホルダは、フー
ド下及び槽上で、外側から槽の上を入ってくることがで
き、かつ弓形の凹所を有している。この可動式ホルダ
は、フード内の収容装置及びまた槽内のナイフと２つの
支持装置からなる組合せと同様に、基板を単独で保持す
ることができる。基板は、可動式ホルダの弓形の凹所の
上で静止し、かつ該基板は、収容装置によってフード内
で固定され、この結果、フードは、基板の連行なしに開
くことができる。さらに基板は、別の処理のためにシス
テムハンドラが該基板を可動式ホルダから取り出すま
で、可動式ホルダのみによって保持される。
式ホルダが備えられており、この可動式ホルダは、フー
ド下及び槽上で、外側から槽の上を入ってくることがで
き、かつ弓形の凹所を有している。この可動式ホルダ
は、フード内の収容装置及びまた槽内のナイフと２つの
支持装置からなる組合せと同様に、基板を単独で保持す
ることができる。基板は、可動式ホルダの弓形の凹所の
上で静止し、かつ該基板は、収容装置によってフード内
で固定され、この結果、フードは、基板の連行なしに開
くことができる。さらに基板は、別の処理のためにシス
テムハンドラが該基板を可動式ホルダから取り出すま
で、可動式ホルダのみによって保持される。
【００３６】次に、本発明ならびに本発明のさらなる発
展及び利点を図に関連する実施例につき詳説する。
展及び利点を図に関連する実施例につき詳説する。
【００３７】
【実施例】図１には、基板、特にウェーハ（２）の化学
湿式処理のための装置（１）が示されている。装置
（１）は、外側槽（５）及び内側槽（１０）を有する。
外側槽（５）は、外側環状室（６）及び内側環状室
（７）を有する。内側槽（１０）上には、内側槽（１
０）の覆いを外すための開口メカニズム（１３）を備え
たフード（１２）が配置されている。フード（１２）
は、拡散板（１４）によって仕切られた空間を有してお
り、この空間には例えばＩＰＡ／Ｎ2−混合物を導入す
ることができる。内側槽（１０）は、狭い円筒（１８）
を該内側槽（１０）の下端部に有している。円錐台形中
間部分（２０）によって内側槽（１０）の直径は、広い
円筒（１９）へと拡大されている。内側槽（１０）の上
縁部において該縁部は、傾斜した外縁部（２３）として
形成されている。このことによって、液体のオーバーフ
ローに関する、内側槽（１０）の上縁部の性質が改善さ
れている。内側槽（１０）を外側槽（５）に固定しかつ
外側槽の室（６）中に配置されている整準ねじ（４）に
よって内側槽（１０）は、例えば、槽の長さ全体を越え
る洗浄液の均一なオーバーフローを保証するために調節
することができる。内側槽（１０）は、その底部（１
１）に重ね合わされて配置された２つの導入装置、即ち
ディフューザ（２５）及び導入メカニズム（２６）を有
している。ディフューザ（２５）は、導入メカニズム
（２６）の上に配置されている。ディフューザ（２５）
は、導管（３０）を介して流体タンク（３５）に接続し
ており、この流体タンクには有利にオゾン（Ｏ3）が入
れられている。この図１の場合には、オゾンの流れの方
向が矢印で示されている。導入メカニズム（２６）は、
導管（３１）を介してポンプ（３６）に接続されてい
る。ポンプ（３６）は、任意に流体タンク（３７）ない
しは（３８）から導管（３９）ないしは（４０）を介し
てウェーハ（２）のための化学処理のための流体、例え
ば希釈された弗化水素酸をポンプ輸送する。図１の場合
には、矢印によって導管（３１）中のポンプ輸送される
流体の流れの方向が示されている。同様に内側槽（１
０）中に右及び左の支持装置（４３）ないしは（４４）
が存在し、これら支持装置は、内側槽（１０）の高さで
平行して調節することができる２つのホルダ（４６）な
いしは（４７）に固定されている。右及び左の支持装置
（４３、４４）は、ウェーハ（２）を受けるための弧状
カッティング（６０）ないしは（６１）を有している。
２つの支持装置（４３、４４）の間にいわゆるナイフ
（４２）、即ち鋭角の端部を有する細長いエレメントが
存在する。ナイフ（４２）は、例えば石英ガラスから製
造されており、かつ、右及び左の支持装置（４３）ない
しは（４４）に関係なく高さにおいて可動である。図１
の場合には、ナイフ（４２）がウェーハ（２）を内側槽
（１０）から持ち上げておりかつウェーハ（２）はホル
ダ（５１）によって内側槽（１０）の上で、フード（１
２）内で保持されているのが示されている。ガイド即ち
ウェーハ収容装置（５１）は、支持装置（４３、４４）
と同様に、同時に多数のウェーハをカセットなしで取り
扱うための溝状の形を有している。ウェーハ（２）がガ
イド（５１）中に入るのを容易にするためにガイド（５
１）の内側縁部は傾斜している。ウェーハ（２）は、ガ
イド（５１）によって保持ないしは案内される。外側槽
（５）は上部を、開口部（９）を有するカバー（８）に
よって閉鎖されている。安全タンクとして使用される外
側槽（５）は、中央に円形開口部を有する円板として形
成されている中間部分（５０）を介して広い円筒（４
９）に結合している狭い円筒（４８）で構成されてい
る。広い円筒（４９）は、内側環状室（７）の外面ない
しは、オーバーフローした流体を開口部（９）を介して
導出ないしはポンプ排出することができる外側環状室
（６）の内面を形成している。
湿式処理のための装置（１）が示されている。装置
（１）は、外側槽（５）及び内側槽（１０）を有する。
外側槽（５）は、外側環状室（６）及び内側環状室
（７）を有する。内側槽（１０）上には、内側槽（１
０）の覆いを外すための開口メカニズム（１３）を備え
たフード（１２）が配置されている。フード（１２）
は、拡散板（１４）によって仕切られた空間を有してお
り、この空間には例えばＩＰＡ／Ｎ2−混合物を導入す
ることができる。内側槽（１０）は、狭い円筒（１８）
を該内側槽（１０）の下端部に有している。円錐台形中
間部分（２０）によって内側槽（１０）の直径は、広い
円筒（１９）へと拡大されている。内側槽（１０）の上
縁部において該縁部は、傾斜した外縁部（２３）として
形成されている。このことによって、液体のオーバーフ
ローに関する、内側槽（１０）の上縁部の性質が改善さ
れている。内側槽（１０）を外側槽（５）に固定しかつ
外側槽の室（６）中に配置されている整準ねじ（４）に
よって内側槽（１０）は、例えば、槽の長さ全体を越え
る洗浄液の均一なオーバーフローを保証するために調節
することができる。内側槽（１０）は、その底部（１
１）に重ね合わされて配置された２つの導入装置、即ち
ディフューザ（２５）及び導入メカニズム（２６）を有
している。ディフューザ（２５）は、導入メカニズム
（２６）の上に配置されている。ディフューザ（２５）
は、導管（３０）を介して流体タンク（３５）に接続し
ており、この流体タンクには有利にオゾン（Ｏ3）が入
れられている。この図１の場合には、オゾンの流れの方
向が矢印で示されている。導入メカニズム（２６）は、
導管（３１）を介してポンプ（３６）に接続されてい
る。ポンプ（３６）は、任意に流体タンク（３７）ない
しは（３８）から導管（３９）ないしは（４０）を介し
てウェーハ（２）のための化学処理のための流体、例え
ば希釈された弗化水素酸をポンプ輸送する。図１の場合
には、矢印によって導管（３１）中のポンプ輸送される
流体の流れの方向が示されている。同様に内側槽（１
０）中に右及び左の支持装置（４３）ないしは（４４）
が存在し、これら支持装置は、内側槽（１０）の高さで
平行して調節することができる２つのホルダ（４６）な
いしは（４７）に固定されている。右及び左の支持装置
（４３、４４）は、ウェーハ（２）を受けるための弧状
カッティング（６０）ないしは（６１）を有している。
２つの支持装置（４３、４４）の間にいわゆるナイフ
（４２）、即ち鋭角の端部を有する細長いエレメントが
存在する。ナイフ（４２）は、例えば石英ガラスから製
造されており、かつ、右及び左の支持装置（４３）ない
しは（４４）に関係なく高さにおいて可動である。図１
の場合には、ナイフ（４２）がウェーハ（２）を内側槽
（１０）から持ち上げておりかつウェーハ（２）はホル
ダ（５１）によって内側槽（１０）の上で、フード（１
２）内で保持されているのが示されている。ガイド即ち
ウェーハ収容装置（５１）は、支持装置（４３、４４）
と同様に、同時に多数のウェーハをカセットなしで取り
扱うための溝状の形を有している。ウェーハ（２）がガ
イド（５１）中に入るのを容易にするためにガイド（５
１）の内側縁部は傾斜している。ウェーハ（２）は、ガ
イド（５１）によって保持ないしは案内される。外側槽
（５）は上部を、開口部（９）を有するカバー（８）に
よって閉鎖されている。安全タンクとして使用される外
側槽（５）は、中央に円形開口部を有する円板として形
成されている中間部分（５０）を介して広い円筒（４
９）に結合している狭い円筒（４８）で構成されてい
る。広い円筒（４９）は、内側環状室（７）の外面ない
しは、オーバーフローした流体を開口部（９）を介して
導出ないしはポンプ排出することができる外側環状室
（６）の内面を形成している。
【００３８】図２には、図２〜図９に示されているプロ
セスフローの第１段階が示されている。図２には、ウェ
ーハ（２）によって示されているウェーハパケットがシ
ステムハンドラ（９０）によって上記装置に供給される
のが示されている。ウェーハ収容装置（５１）が結合し
ているフード（１２）は、オートマチック・シリンダ
（１５）によって開けられている。ナイフ（４２）なら
びに右及び左の支持装置（４３）ないしは（４４）は、
ウェーハ（２）を受け取る用意をしている。その上、ナ
イフ（４２）は、支持装置（４３、４４）より沈んでお
り、この結果、ナイフ（４２）の先端が弧状カッティン
グ（６０）ないしは（６１）の円周上に位置し、この円
周上に後からウェーハ（２）が載る。
セスフローの第１段階が示されている。図２には、ウェ
ーハ（２）によって示されているウェーハパケットがシ
ステムハンドラ（９０）によって上記装置に供給される
のが示されている。ウェーハ収容装置（５１）が結合し
ているフード（１２）は、オートマチック・シリンダ
（１５）によって開けられている。ナイフ（４２）なら
びに右及び左の支持装置（４３）ないしは（４４）は、
ウェーハ（２）を受け取る用意をしている。その上、ナ
イフ（４２）は、支持装置（４３、４４）より沈んでお
り、この結果、ナイフ（４２）の先端が弧状カッティン
グ（６０）ないしは（６１）の円周上に位置し、この円
周上に後からウェーハ（２）が載る。
【００３９】次に図３には、内側槽（１０）中へのウェ
ーハ（２）の降下が示されており、この内側槽は、例え
ばＨＦで充填されている。
ーハ（２）の降下が示されており、この内側槽は、例え
ばＨＦで充填されている。
【００４０】図４には、フード（１２）が内側槽（１
０）の上に閉じられており、かつ、ウェーハ（２）が内
側槽（１０）中の中間部分（２０）にほぼ達する下方の
位置に沈められているのが示されており、この場合、ナ
イフ（４２）ならびに右及び左の支持装置（４３）ない
しは（４４）は、同じ速度で下に移動する。
０）の上に閉じられており、かつ、ウェーハ（２）が内
側槽（１０）中の中間部分（２０）にほぼ達する下方の
位置に沈められているのが示されており、この場合、ナ
イフ（４２）ならびに右及び左の支持装置（４３）ない
しは（４４）は、同じ速度で下に移動する。
【００４１】図５には、ウェーハ（２）の乾燥段階、即
ち、内側槽（１０）からのウェーハ（２）の持ち上げが
示されている。本発明によれば、図４及び５に示された
処理段階の間に化学流体ＨＦは、他の流体と代替され、
この場合、最後に有利に洗浄液が導入される。有利に内
側槽（１０）の上で、蒸気がウェーハ（２）に使用さ
れ、この蒸気は、ウェーハ（２）上では凝縮せず、かつ
この場合、洗浄液と蒸気との混合物は、洗浄液単独より
小さな表面張力を有する。この目的のために、フード
（１２）は、依然として閉められている。有利にナイフ
（４２）は、一定速度で上に移動するが、しかし２つの
支持装置（４３）及び（４４）は、半分の速度のみで上
に移動し、これによりこれら支持装置は後に残される。
ち、内側槽（１０）からのウェーハ（２）の持ち上げが
示されている。本発明によれば、図４及び５に示された
処理段階の間に化学流体ＨＦは、他の流体と代替され、
この場合、最後に有利に洗浄液が導入される。有利に内
側槽（１０）の上で、蒸気がウェーハ（２）に使用さ
れ、この蒸気は、ウェーハ（２）上では凝縮せず、かつ
この場合、洗浄液と蒸気との混合物は、洗浄液単独より
小さな表面張力を有する。この目的のために、フード
（１２）は、依然として閉められている。有利にナイフ
（４２）は、一定速度で上に移動するが、しかし２つの
支持装置（４３）及び（４４）は、半分の速度のみで上
に移動し、これによりこれら支持装置は後に残される。
【００４２】図６には、支持装置（４３）及び（４４）
が止まっているのが示されており；ウェーハ（２）のさ
らなる持ち上げは、ナイフ（４２）のみによって行なわ
れる。ウェーハ（２）が、ナイフ（４２）による単独の
持ち上げ前に、内側槽（１０）中の洗浄液となお接触し
ていることが示されている。
が止まっているのが示されており；ウェーハ（２）のさ
らなる持ち上げは、ナイフ（４２）のみによって行なわ
れる。ウェーハ（２）が、ナイフ（４２）による単独の
持ち上げ前に、内側槽（１０）中の洗浄液となお接触し
ていることが示されている。
【００４３】図７には、乾燥段階の最後が示されてお
り、即ちウェーハ（２）は、完全に内側槽（１０）から
外に持ち上げられており、かつナイフ（４２）及びホル
ダ（５１）によって保持されている。
り、即ちウェーハ（２）は、完全に内側槽（１０）から
外に持ち上げられており、かつナイフ（４２）及びホル
ダ（５１）によって保持されている。
【００４４】図８には、フード（１２）が開く前に可動
式ホルダ（７０）及び（７１）が、ウェーハ（２）を該
ウェーハの位置で、フード（１２）が開く間ないしは開
いた後に、即ち、ホルダ（５１）が外される間ないしは
外された後に下から保持するために、内側槽（１０）の
上の空間内に入ってくるのが示されている。ウェーハ
（２）の保持は、可動式ホルダ（７０）及び（７１）に
よってのみ行なうことができ、即ち、ナイフ（４２）、
支持装置（４３、４４）及びウェーハ収容装置（５１）
は、ウェーハ（２）のさらなる保持には必要ない。可動
式ホルダ（７０、７１）は、ウェーハ（２）をその姿勢
で保持するために、弓形の切り込みを有している。同様
に図８には、ナイフ（４２）が内側槽（１０）中、即
ち、右及び左の支持装置（４３）及び（４４）より下の
該ナイフの初期位置（図２参照）に沈んでいるのが示さ
れている。
式ホルダ（７０）及び（７１）が、ウェーハ（２）を該
ウェーハの位置で、フード（１２）が開く間ないしは開
いた後に、即ち、ホルダ（５１）が外される間ないしは
外された後に下から保持するために、内側槽（１０）の
上の空間内に入ってくるのが示されている。ウェーハ
（２）の保持は、可動式ホルダ（７０）及び（７１）に
よってのみ行なうことができ、即ち、ナイフ（４２）、
支持装置（４３、４４）及びウェーハ収容装置（５１）
は、ウェーハ（２）のさらなる保持には必要ない。可動
式ホルダ（７０、７１）は、ウェーハ（２）をその姿勢
で保持するために、弓形の切り込みを有している。同様
に図８には、ナイフ（４２）が内側槽（１０）中、即
ち、右及び左の支持装置（４３）及び（４４）より下の
該ナイフの初期位置（図２参照）に沈んでいるのが示さ
れている。
【００４５】次に図９の場合には、フード（１２）は開
けられ、かつ、さらなる処理のためにシステムハンドラ
（９０）はウェーハ（２）を装置（１）から取り出す。
従って図２〜９は、１作業周期過程を示している。
けられ、かつ、さらなる処理のためにシステムハンドラ
（９０）はウェーハ（２）を装置（１）から取り出す。
従って図２〜９は、１作業周期過程を示している。
【００４６】本発明を有利な実施例により詳説した。し
かしながら当業者は、本発明の概念を逸脱せずに多くの
変更ないしは発展を行なうことができる。
かしながら当業者は、本発明の概念を逸脱せずに多くの
変更ないしは発展を行なうことができる。
【図１】本発明による装置の断面図である。
【図２】本発明によるプロセスフローの第１段階を示す
図である。
図である。
【図３】本発明によるプロセスフローの第２段階を示す
図である。
図である。
【図４】本発明によるプロセスフローの第３段階を示す
図である。
図である。
【図５】本発明によるプロセスフローの第４段階を示す
図である。
図である。
【図６】本発明によるプロセスフローの第５段階を示す
図である。
図である。
【図７】本発明によるプロセスフローの第６段階を示す
図である。
図である。
【図８】本発明によるプロセスフローの第７段階を示す
図である。
図である。
【図９】本発明によるプロセスフローの第８段階を示す
図である。
図である。
１ 基板の化学処理のための装置 ２ 基板 ７，２３ 槽からの流体のための導出装置 １０ 槽 １２ フード ２３ オーバーフロー装置 ２５，３０，３１，３５，３６，３７，３８，４９，４
０ 導入装置 ２５ ディフューザ ２６ 導入メカニズム ３６ ポンプ ４２ ナイフ ４３，４４ 支持装置 ５１ ガイド ５２ 傾斜した縁部 ７０，７１ 可動式ホルダ
０ 導入装置 ２５ ディフューザ ２６ 導入メカニズム ３６ ポンプ ４２ ナイフ ４３，４４ 支持装置 ５１ ガイド ５２ 傾斜した縁部 ７０，７１ 可動式ホルダ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｂ０８Ｂ 3/08 Ａ 2119−3Ｂ Ｃ２３Ｇ 1/00 5/02 (72)発明者 ミラン コザク ドイツ連邦共和国 ヒューフィンゲン ホ ーエンシュトラーセ 36 (72)発明者 ヨハン ドゥルスト ドイツ連邦共和国 ドナウエッシンゲン シュヴァルベンヴェーク 15
Claims (31)
- 【請求項１】 少なくとも１つの基板（２）に化学処
理、洗浄過程及び乾燥過程を順次実施することによって
基板（２）を化学処理する方法において、化学処理と洗
浄過程を同じ槽（１０）内で行なうことを特徴とする、
基板の化学処理のための方法。 - 【請求項２】 槽（１０）内の化学処理のための流体を
別のこの種の流体及び／又は洗浄液と交換ないしは部分
的に交換する、請求項１記載の方法。 - 【請求項３】 乾燥過程を、基板（２）が洗浄液から離
されている間に行なう、請求項１又は２記載の方法。 - 【請求項４】 乾燥過程を、槽（１０）からの基板の緩
徐な排出及び蒸気の使用によって行ない、この場合、蒸
気は、基板（２）上で凝縮せずかつ洗浄液中に拡散す
る、請求項１から３までのいずれか１項に記載の方法。 - 【請求項５】 蒸気と洗浄液の混合物が洗浄液より小さ
な表面張力を有している、請求項４記載の方法。 - 【請求項６】 化学処理のための流体を別のこの種の流
体及び／又は洗浄液によって追い出すことによって代替
する、請求項１から５までのいずれか１項に記載の方
法。 - 【請求項７】 洗浄液を槽（１０）内に導入し、かつ同
時に化学処理のための流体からなる混合物ないしは化学
処理のための流体と洗浄液からなる混合物を導出する、
請求項１から６までのいずれか１項に記載の方法。 - 【請求項８】 別の流体ないしは洗浄液の導入及び化学
処理のための流体の導出を槽（１０）の異なる位置で行
なう、請求項７記載の方法。 - 【請求項９】 別の流体ないしは洗浄液の導入を槽（１
０）の底部から行なう、請求項７又は８記載の方法。 - 【請求項１０】 混合物の導出をオーバーフローによっ
て行なう、請求項７から９までのいずれか１項に記載の
方法。 - 【請求項１１】 化学処理のための流体が希釈された弗
化水素酸である、請求項１から１０までのいずれか１項
に記載の方法。 - 【請求項１２】 化学処理のための流体がオゾンであ
る、請求項１から１１までのいずれか１項に記載の方
法。 - 【請求項１３】 少なくとも１つの基板（２）を槽（１
０）内へないしは槽から投入及び／又は排出する方法に
おいて、基板（２）を槽（１０）内で収容装置（４２、
４３、４４）によって保持、投入及び／又は排出するこ
とを特徴とする、槽内へないしは槽からの少なくとも１
つの基板の投入及び／又は排出の方法。 - 【請求項１４】 収容装置がナイフ（４２）及び支持装
置（４３、４４）を有している、請求項１から１３まで
のいずれか１項に記載の方法。 - 【請求項１５】 ナイフ（４２）及び支持装置（４３、
４４）が基板を、該基板がフード（１２）内のガイド
（５１）によって保持されるまで、槽から排出する、請
求項１から１４までのいずれか１項に記載の方法。 - 【請求項１６】 可動式ホルダ（７０、７１）が基板
（２）の排出後に該基板の下で可動でありかつ該基板を
該基板の位置で保持する、請求項１から１５までのいず
れか１項に記載の方法。 - 【請求項１７】 洗浄過程をメガソニックを用いた処理
によって補助する、請求項１から１６までのいずれか１
項に記載の方法。 - 【請求項１８】 請求項１から１７までのいずれか１項
に記載の方法を実施するための装置（１）において、 − 槽（１０）内への流体のための導入装置（２５、３
０、３１、３５、３６、３７、３８、４９、４０）； − 槽（１０）からの流体のための導出装置（７、２
３）； − 基板（２）のための収容装置（４２、４３、４４）
を特徴とする、基板の化学処理のための装置。 - 【請求項１９】 導出装置（７、２３）がオーバーフロ
ー装置（２３）を有している、請求項１８記載の装置
（１）。 - 【請求項２０】 外側層が備えられている、請求項１８
又は１９記載の装置（１）。 - 【請求項２１】 装置が、槽の調整のために整準ねじを
有している、請求項１８から２０までのいずれか１項に
記載の装置（１）。 - 【請求項２２】 導入装置（２５、３０、３１、３５、
３６、３７、３８、４９、４０）がディフューザ（２
５）を有している、請求項１８から２１までのいずれか
１項に記載の装置（１）。 - 【請求項２３】 導入装置（２５、３０、３１、３５、
３６、３７、３８、４９、４０）が、導入メカニズム
（２６）を有するポンプ（３６）を有している、請求項
１８から２２までのいずれか１項に記載の装置（１）。 - 【請求項２４】 槽（１０）の上に蒸気処理装置が備え
られている、請求項１８から２３までのいずれか１項に
記載の装置（１）。 - 【請求項２５】 フード（１２）が槽（１０）及び蒸気
処理装置の上に備えられている、請求項１８から２４ま
でのいずれか１項に記載の装置（１）。 - 【請求項２６】 収容装置（４２、４３、４４）がナイ
フ（４２）及び支持装置（４３、４４）を有している、
請求項１８から２５までのいずれか１項に記載の装置
（１）。 - 【請求項２７】 フード（１２）が基板（２）のための
ガイド（５１）を有している、請求項１８から２６まで
のいずれか１項に記載の装置（１）。 - 【請求項２８】 ガイド（５１）が２つ部分に分けられ
ておりかつ基板（２）を該基板の位置で側面で保持す
る、請求項１８から２７までのいずれか１項に記載の装
置（１）。 - 【請求項２９】 ガイド（５１）の少なくとも一方が傾
斜した縁部（５２）を有している、請求項１８から２８
までのいずれか１項に記載の装置（１）。 - 【請求項３０】 槽（１０）の上に基板（２）のための
可動式ホルダ（７０、７１）が備えられており、この可
動式ホルダが基板(２)の排出後に該基板の下で可動であ
る、請求項１８から２９までのいずれか１項に記載の装
置（１）。 - 【請求項３１】 メガソニックを用いた処理のための装
置が備えられている、請求項１８から３０までのいずれ
か１項に記載の装置（１）。
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4413077A DE4413077C2 (de) | 1994-04-15 | 1994-04-15 | Verfahren und Vorrichtung zur chemischen Behandlung von Substraten |
| PCT/EP1994/001585 WO1995028736A1 (de) | 1994-04-15 | 1994-05-17 | Verfahren und vorrichtung zur chemischen behandlung von substraten |
| DE4413077.5 | 1994-05-17 | ||
| DE94/01585 | 1994-05-17 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08148458A true JPH08148458A (ja) | 1996-06-07 |
| JP2908277B2 JP2908277B2 (ja) | 1999-06-21 |
Family
ID=25935654
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7088410A Expired - Fee Related JP2908277B2 (ja) | 1994-04-15 | 1995-04-13 | 基板の化学処理のための方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2908277B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6068002A (en) * | 1997-04-02 | 2000-05-30 | Tokyo Electron Limited | Cleaning and drying apparatus, wafer processing system and wafer processing method |
| KR100440892B1 (ko) * | 2001-02-21 | 2004-07-19 | 에이펫(주) | 기판 처리 방법 |
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| JPS6432645A (en) * | 1987-07-29 | 1989-02-02 | Tomuko Kk | Shifter for semiconductor wafer |
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| JPH0523648A (ja) * | 1991-07-17 | 1993-02-02 | Japan Field Kk | 被洗浄物の洗浄方法 |
-
1995
- 1995-04-13 JP JP7088410A patent/JP2908277B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JPS4831886U (ja) * | 1971-08-21 | 1973-04-18 | ||
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| JPH0415232U (ja) * | 1990-05-29 | 1992-02-06 | ||
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| Publication number | Publication date |
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| JP2908277B2 (ja) | 1999-06-21 |
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