JPH08122408A - 半導体試験装置の波形整形回路 - Google Patents

半導体試験装置の波形整形回路

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JPH08122408A
JPH08122408A JP6284144A JP28414494A JPH08122408A JP H08122408 A JPH08122408 A JP H08122408A JP 6284144 A JP6284144 A JP 6284144A JP 28414494 A JP28414494 A JP 28414494A JP H08122408 A JPH08122408 A JP H08122408A
Authority
JP
Japan
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waveform
clock
data
circuit
signal
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Application number
JP6284144A
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English (en)
Inventor
Takeshi Ohinata
剛 大日向
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Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
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Publication date
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Publication of JPH08122408A publication Critical patent/JPH08122408A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 波形整形回路において任意のサイクルでI/
O切り替え信号の出力モードを切り替える回路を実現す
る。 【構成】 波形データ及び禁止データを発生するパター
ン発生器10。波形データ及び禁止データを入力とし、
SRフリップフロップの制御信号SET及びRESET
の出力を制御するイネーブル信号生成回路13。イネー
ブル信号生成回路13の出力信号をLクロック及びTク
ロックで位相変更する位相変更回路14。各サイクルの
基本クロックであるMクロック及びそれぞれ位相が違う
Lクロック、Tクロックを出力するタイミング発生器1
1。位相変更回路14の出力とLクロックまたはTクロ
ックの論理積をSRフリップフロップのSET及びRE
SET信号とし、I/O切り替え信号を出力する波形生
成回路15。以上で構成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、被試験デバイスに与え
るドライバの出力波形を制御する半導体試験装置の波形
整形回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図3に従来の波形整形回路をブロック図
で示す。この場合、パターン発生器10より出力される
波形データを、タイミング発生器11より出力する動作
クロックで位相変更回路14に取り込む。位相変更回路
14では、動作クロックに同期してタイミング発生器1
1より出力されるタイミングクロックL及びタイミング
クロックTによって位相変更したデータを作り出力す
る。位相変更したデータは、イネーブル信号生成回路1
3に入力する。そして、イネーブル信号生成回路13
は、波形モードレジスタ16に従い、タイミングクロッ
クLを波形生成回路15のSET信号とするかどうかを
制御するLSETを出力し、タイミングクロックTを波
形生成回路15のRESET信号とするかどうかを制御
するTRESETを出力する。波形生成回路15では、
上記LSET及びTRESET制御信号とタイミングク
ロックL及びタイミングクロックTの論理積をとり、波
形生成回路15内のSRフリップフロップのSET端子
及びRESET端子に入力することでI/O切り替え信
号を得ている。
【0003】図4の(a)に波形モードをRZにしたと
きの波形例を、図4の(b)に波形モードをNRZにし
たときの波形例を示す。(a)のRZ波形の場合、波形
データが“1”のときLSET及びTRESETが共に
“1”となり、SRフリップフロップに対し各サイクル
毎にSET信号及びRESET信号が入力し、RZ信号
がI/O切り替え信号として出力される。(b)のNR
Z波形の場合、波形データが“1”のときLSETが
“1”に、波形データが“0”のときTRESETが
“1”となり、SRフリップフロップが各サイクル毎の
SET信号またはRESET信号で制御され、NRZ信
号がI/O切り替え信号として出力される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】以上説明したように、
従来の波形整形回路においては、波形モードレジスタの
内容によりRZ波形またはNRZ波形が固定され、任意
のサイクルで、タイミングクロックを禁止し、RZ波形
とNRZ波形を高速に切り替えることができない。本発
明は、波形整形回路において任意のサイクルでI/O切
り替え信号の出力モードを切り替える回路を実現するこ
とを目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の波形整形回路においては、次の回路ブロッ
クで構成される。波形データ及び禁止データを発生する
パターン発生器10。波形データ及び禁止データを入力
とし、SRフリップフロップの制御信号SET及びRE
SETの出力を制御するイネーブル信号生成回路13。
イネーブル信号生成回路13の出力信号をLクロック及
びTクロックで位相変更する位相変更回路14。各サイ
クルの基本クロックであるMクロック及びそれぞれ位相
が違うLクロック、Tクロックを出力するタイミング発
生器11。位相変更回路14の出力とLクロックまたは
Tクロックの論理積をSRフリップフロップのSET及
びRESET信号とし、I/O切り替え信号を出力する
波形生成回路15。
【0006】
【作用】上記のように構成された波形整形回路において
は、波形データ及び禁止データの出力により、RZ波形
とNRZ波形をリアルタイムで切り替えることができ
る。
【0007】
【実施例】図1に本発明の実施例を示す。この波形整形
回路は、波形データ及び禁止データを発生するパターン
発生器10、波形データ及び禁止データを入力とし、S
Rフリップフロップの制御信号SET及びRESETの
出力を制御するイネーブル信号生成回路13、イネーブ
ル信号生成回路13の出力信号をLクロック及びTクロ
ックで位相変更する位相変更回路14、各サイクルの基
本クロックであるMクロック及びそれぞれ位相が違うL
クロック、Tクロックを出力するタイミング発生器1
1、位相変更回路14の出力とLクロックまたはTクロ
ックの論理積をSRフリップフロップのSET及びRE
SET信号とし、I/O切り替え信号を出力する波形生
成回路15で構成される。
【0008】図2にRZ波形からNRZ波形に波形を変
更する一例を示す。この時、波形モードDRENRZを
論理“0”に、禁止信号*INHTを論理“1”にす
る。パターン発生器10から禁止データと波形データを
図2のa及びbのように発生しイネーブル信号生成回路
13に入力する。その結果、イネーブル信号生成回路1
3の出力LSET及びTRESETは、それぞれ図2の
c及びdのようになる。出力LSET及びTRESET
は、Mクロックで位相変換回路14に取り込まれ、その
後、Lクロック及びTクロックの位相で出力され、図2
のhおよびiのようになる。波形生成回路15では、上
記hで示すイネーブルデータとタイミング発生器11か
ら発生するLクロックが論理積されSRフリップフロッ
プのSET信号を図2のjのように発生する。また、上
記iで示すイネーブルデータとタイミング発生器11か
ら発生するTクロックが論理積されSRフリップフロッ
プのRESET信号を図2のkのように発生する。この
結果、I/O切り替え信号が図2のmのように発生し、
RZ波形とNRZ波形をリアルタイムで切り替えること
ができる。また、LSET及びTRESETを位相変更
回路14で位相変更することで、Lクロック及びTクロ
ックの設定範囲が、Mクロックによる設定周期より広く
取ることができ、データの高速処理が可能になる。
【0009】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、波形データ及び禁止データの内容により、
RZ波形とNRZ波形を任意のサイクルで高速に切り替
えることができ、半導体の試験時間の短縮に効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の波形整形回路のブロック図である。
【図2】本発明の波形整形回路における一例を示すタイ
ミング図である。
【図3】従来の波形整形回路のブロック図である。
【図4】従来の波形整形回路におけるタイミング図であ
る。
【符号の説明】
10 パターン発生器 11 タイミング発生器 12 波形整形器 13 イネーブル信号生成回路 14 位相変更回路 15 波形生成回路 16 波形モードレジスタ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 波形データ及び禁止データを発生するパ
    ターン発生器(10)と、 波形データ及び禁止データを入力とし、SRフリップフ
    ロップの制御信号SET及びRESETの出力を制御す
    るイネーブル信号生成回路(13)と、 上記イネーブル信号生成回路(13)の出力信号をLク
    ロック及びTクロックで位相変更する位相変更回路(1
    4)と、 各サイクルの基本クロックであるMクロック及びそれぞ
    れ位相が違うLクロック、Tクロックを出力するタイミ
    ング発生器(11)と、 上記位相変更回路(14)の出力とLクロックまたはT
    クロックの論理積をSRフリップフロップのSET及び
    RESET信号とし、I/O切り替え信号を出力する波
    形生成回路(15)と、 を具備することを特徴とする半導体試験装置の波形整形
    回路。
JP6284144A 1994-10-25 1994-10-25 半導体試験装置の波形整形回路 Pending JPH08122408A (ja)

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JP (1) JPH08122408A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61161704U (ja) * 1985-03-29 1986-10-07
US6161117A (en) * 1998-02-13 2000-12-12 Fujitsu Limited Waveform generation device and method

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61161704U (ja) * 1985-03-29 1986-10-07
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Date Code Title Description
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20031111