JPH0778207A - 情報処理装置の生産方法 - Google Patents
情報処理装置の生産方法Info
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- JPH0778207A JPH0778207A JP22310893A JP22310893A JPH0778207A JP H0778207 A JPH0778207 A JP H0778207A JP 22310893 A JP22310893 A JP 22310893A JP 22310893 A JP22310893 A JP 22310893A JP H0778207 A JPH0778207 A JP H0778207A
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- Japan
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- test
- production line
- information processing
- optical module
- processing device
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Links
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 52
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract description 35
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 19
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims abstract description 4
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- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 abstract 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 7
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/02—Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/30—Computing systems specially adapted for manufacturing
Landscapes
- Multi-Process Working Machines And Systems (AREA)
- General Factory Administration (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【構成】テスト対象情報処理装置１と生産ライン制御用
中央制御コンピュータ５は、光モジュール４にて接続さ
れている。生産ライン制御用中央制御コンピュータ５に
より、テストプログラム格納ディスク６からテストプロ
グラムを光モジュール４経由で、テスト対象情報処理装
置１にロードし、テスト実行させる。テスト結果はテス
ト結果格納ディスク７に格納されるとともに、生産ライ
ン制御用中央制御コンピュータ５にてテスト過程を逐次
監視できる。又、バーコードリーダ３にてハードウェア
情報（装置型式／製造番号）を認識し、テスト結果をプ
リンター８から出力する。ハードウェア情報（装置型式
／製造番号、時間）の設定に関しても、光モジュール４
経由で、情報処理装置に自動設定できる生産方法。 【効果】情報処理装置の自動検査化及び、ハードウェア
情報（装置型式／製造番号、時間）の自動設定化によ
り、生産性向上が図られる。
中央制御コンピュータ５は、光モジュール４にて接続さ
れている。生産ライン制御用中央制御コンピュータ５に
より、テストプログラム格納ディスク６からテストプロ
グラムを光モジュール４経由で、テスト対象情報処理装
置１にロードし、テスト実行させる。テスト結果はテス
ト結果格納ディスク７に格納されるとともに、生産ライ
ン制御用中央制御コンピュータ５にてテスト過程を逐次
監視できる。又、バーコードリーダ３にてハードウェア
情報（装置型式／製造番号）を認識し、テスト結果をプ
リンター８から出力する。ハードウェア情報（装置型式
／製造番号、時間）の設定に関しても、光モジュール４
経由で、情報処理装置に自動設定できる生産方法。 【効果】情報処理装置の自動検査化及び、ハードウェア
情報（装置型式／製造番号、時間）の自動設定化によ
り、生産性向上が図られる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、情報処理装置の生産方
法に関するものである。
法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】情報処理装置の検査方法はＦＤ／ＨＤ内
にテストプログラムをあらかじめ格納しておき各テスト
工程毎に電源 ＯＮ／ＯＦＦ を実施し、テスト実行結果
を ＨＤ／ＦＤ内に格納し、最終工程にてＤＳＰ接続後
人手操作により、テストロギング参照し、テスト合否判
定を実施していた。
にテストプログラムをあらかじめ格納しておき各テスト
工程毎に電源 ＯＮ／ＯＦＦ を実施し、テスト実行結果
を ＨＤ／ＦＤ内に格納し、最終工程にてＤＳＰ接続後
人手操作により、テストロギング参照し、テスト合否判
定を実施していた。
【０００３】また、テスト結果チェックリスト／不合格
検査票人手により、記載していた。
検査票人手により、記載していた。
【０００４】一方、情報処理装置の調整方法について
も、ＤＳＰ接続後、人手操作によりハードウェア情報
（装置型式／製造番号、時間）を設定していた。
も、ＤＳＰ接続後、人手操作によりハードウェア情報
（装置型式／製造番号、時間）を設定していた。
【０００５】例えば、特開平４−１６２６００号公報な
どが、類似例である。
どが、類似例である。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】従来の方法において
は、次のような課題がある。
は、次のような課題がある。
【０００７】１．検査工程におけるテスト過程がわから
ない ２．人手によるテスト合否判定及びテスト結果チェック
リスト／不合格検票発行が必要である。
ない ２．人手によるテスト合否判定及びテスト結果チェック
リスト／不合格検票発行が必要である。
【０００８】３．人手によるハードウェア情報（装置型
式／製造番号、時間）の設定が必要である。
式／製造番号、時間）の設定が必要である。
【０００９】本発明の１つの目的は人手によるテスト結
果判定を不要とする自動検査システムを提供及び、テス
ト結果チェックリスト／不合格検票発行の自動発行を提
供することにある。
果判定を不要とする自動検査システムを提供及び、テス
ト結果チェックリスト／不合格検票発行の自動発行を提
供することにある。
【００１０】本発明の他の目的は、ハードウェア情報
（装置型式／製造番号、時間）を自動設定するシステム
を提供することにある。
（装置型式／製造番号、時間）を自動設定するシステム
を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明は生産ラインの工
程に光モジュールを使用する事により、テスト対象の情
報処理装置と生産ライン制御用装置とのデータ転送を可
能とすることにより、テスト過程の監視、テスト結果の
自動判定及びテスト結果チェックリスト／不合格検票発
行とすることを可能とした。
程に光モジュールを使用する事により、テスト対象の情
報処理装置と生産ライン制御用装置とのデータ転送を可
能とすることにより、テスト過程の監視、テスト結果の
自動判定及びテスト結果チェックリスト／不合格検票発
行とすることを可能とした。
【００１２】
【作用】テスト結果判定、テスト結果チェックリスト／
不合格検票発行及び、ハードウェア情報（装置型式／製
造番号、時間）を自動設定することにより、ミス防止／
作業時間の低減を図ることが出来るため、生産性向上が
図れる。
不合格検票発行及び、ハードウェア情報（装置型式／製
造番号、時間）を自動設定することにより、ミス防止／
作業時間の低減を図ることが出来るため、生産性向上が
図れる。
【００１３】
【実施例】以下、本発明の１実施例を詳細に説明する。
図１は、本発明を情報処理装置生産ラインの検査工程に
適用した場合の１実施例を示す。図１において、１は、
テスト対象情報処理装置、２は、生産ラインの情報処理
装置搬送用パレットである。テスト対象情報処理装置１
の側面には、ハードウェア情報（装置型式／製造番号）
用のバーコードラベルが、貼られている。搬送用パレッ
ト２には、情報処理装置の型式及び、製造番号を認識す
るためのバーコードリーダ３とテスト対象情報処理装置
１と生産ライン制御用中央制御コンピュータ５とのデー
タ転送を実施する為に、光モジュール４が搭載されてい
る。生産ライン制御用中央制御コンピュータ５には、テ
ストプログラム格納ディスク６、テスト結果格納ディス
ク７及び、テスト結果チェックリスト／不合格検票発行
用プリンター８が接続されている。
図１は、本発明を情報処理装置生産ラインの検査工程に
適用した場合の１実施例を示す。図１において、１は、
テスト対象情報処理装置、２は、生産ラインの情報処理
装置搬送用パレットである。テスト対象情報処理装置１
の側面には、ハードウェア情報（装置型式／製造番号）
用のバーコードラベルが、貼られている。搬送用パレッ
ト２には、情報処理装置の型式及び、製造番号を認識す
るためのバーコードリーダ３とテスト対象情報処理装置
１と生産ライン制御用中央制御コンピュータ５とのデー
タ転送を実施する為に、光モジュール４が搭載されてい
る。生産ライン制御用中央制御コンピュータ５には、テ
ストプログラム格納ディスク６、テスト結果格納ディス
ク７及び、テスト結果チェックリスト／不合格検票発行
用プリンター８が接続されている。
【００１４】図２は、光モジュール４とテスト対象情報
処理装置１の接続を示す。
処理装置１の接続を示す。
【００１５】光モジュール４は、テスト対象情報処理装
置１のＲＳ−２３２Ｃ／ＵＰＳコネクタ及び、バーコー
ドリーダ３と接続されている。
置１のＲＳ−２３２Ｃ／ＵＰＳコネクタ及び、バーコー
ドリーダ３と接続されている。
【００１６】情報処理装置を生産ラインにて検査する場
合、搬送用パレット２の上にテスト対象情報処理装置１
を搭載する。生産ラインのテスト工程において、光セン
サ１１が搬送用パレット２を検知すると、生産ライン制
御用中央制御コンピュータ５から電源立ち上げ信号を送
信する。送信した電源立ち上げ信号は、光モジュール４
を経由して、テスト対象情報処理装置１のＵＰＳコネク
タ１０で受信され、電源が立ち上がる。生産ライン制御
用中央制御コンピュータ５は、テスト対象情報処理装置
１の電源が投入されたことを検知すると、テストプログ
ラム格納ディスク６からテストプログラムを光モジュー
ル４を経由して、テスト対象情報処理装置１の主記憶メ
モリにロードしてテストを実行する。テスト結果は、テ
スト結果格納ディスク７に格納されるとともに、生産ラ
イン制御用中央制御コンピュータ５にて、テスト過程を
逐次監視できる。テスト結果格納方法は、装置型式／製
造番号単位に格納するため、テスト対象情報処理装置１
の装置情報（装置型式、製造番号）をバーコードリーダ
３にて認識し、テスト結果格納ディスク７の所定のエリ
アにテスト結果を格納する。テストが終了すると、生産
ライン制御用中央制御コンピュータ５から電源立ち下げ
信号を、光モジュール４経由にて送信し、テスト対象情
報処理装置１の電源を切る。
合、搬送用パレット２の上にテスト対象情報処理装置１
を搭載する。生産ラインのテスト工程において、光セン
サ１１が搬送用パレット２を検知すると、生産ライン制
御用中央制御コンピュータ５から電源立ち上げ信号を送
信する。送信した電源立ち上げ信号は、光モジュール４
を経由して、テスト対象情報処理装置１のＵＰＳコネク
タ１０で受信され、電源が立ち上がる。生産ライン制御
用中央制御コンピュータ５は、テスト対象情報処理装置
１の電源が投入されたことを検知すると、テストプログ
ラム格納ディスク６からテストプログラムを光モジュー
ル４を経由して、テスト対象情報処理装置１の主記憶メ
モリにロードしてテストを実行する。テスト結果は、テ
スト結果格納ディスク７に格納されるとともに、生産ラ
イン制御用中央制御コンピュータ５にて、テスト過程を
逐次監視できる。テスト結果格納方法は、装置型式／製
造番号単位に格納するため、テスト対象情報処理装置１
の装置情報（装置型式、製造番号）をバーコードリーダ
３にて認識し、テスト結果格納ディスク７の所定のエリ
アにテスト結果を格納する。テストが終了すると、生産
ライン制御用中央制御コンピュータ５から電源立ち下げ
信号を、光モジュール４経由にて送信し、テスト対象情
報処理装置１の電源を切る。
【００１７】生産ラインの最終テスト工程にて、搬送用
パレット２を光センサ１１が検知すると生産ライン制御
用中央制御コンピュータ５は、バーコードリーダ３にて
装置情報（装置型式、製造番号）を認識し、テスト結果
格納ディスク７からテスト対象情報処理装置１のテスト
結果をプリンター８から出力する。テスト結果ＮＧの場
合は、同時に不合格検票を発行する。
パレット２を光センサ１１が検知すると生産ライン制御
用中央制御コンピュータ５は、バーコードリーダ３にて
装置情報（装置型式、製造番号）を認識し、テスト結果
格納ディスク７からテスト対象情報処理装置１のテスト
結果をプリンター８から出力する。テスト結果ＮＧの場
合は、同時に不合格検票を発行する。
【００１８】情報処理装置を生産ラインにて調整する場
合、搬送用パレット２の上に情報処理装置１を搭載す
る。生産ラインの調整工程において、光センサ１１が搬
送用パレット２を検知すると、生産ライン制御用中央制
御コンピュータ５は、バーコードリーダ３にて認識した
装置情報（装置型式、製造番号）を、情報処理装置１内
のＨＤＤに格納する。又、生産ライン制御用中央制御コ
ンピュータ５内の時間機構に設定されている時間を光モ
ジュール４を経由して、情報処理装置１に設定する。
合、搬送用パレット２の上に情報処理装置１を搭載す
る。生産ラインの調整工程において、光センサ１１が搬
送用パレット２を検知すると、生産ライン制御用中央制
御コンピュータ５は、バーコードリーダ３にて認識した
装置情報（装置型式、製造番号）を、情報処理装置１内
のＨＤＤに格納する。又、生産ライン制御用中央制御コ
ンピュータ５内の時間機構に設定されている時間を光モ
ジュール４を経由して、情報処理装置１に設定する。
【００１９】
【発明の効果】本発明の１実施例によれば、情報処理装
置の自動検査、テスト結果チェックリスト／不合格検票
の自動発行及び、情報処理装置のハードウェア情報（装
置型式／製造番号、時間）を自動設定できる。
置の自動検査、テスト結果チェックリスト／不合格検票
の自動発行及び、情報処理装置のハードウェア情報（装
置型式／製造番号、時間）を自動設定できる。
【図１】情報処理装置生産ライン検査工程概要図であ
る。
る。
【図２】情報処理装置と光モジュール接続図である。
１…テスト対象情報処理装置、 ２…生産ラインの搬送用パレット、 ３…バーコードリーダ、 ４…光モジュール、 ５…生産ライン制御用中央制御コンピュータ、 ６…テストプログラム格納ディスク、 ７…テスト結果格納ディスク、 ８…プリンター、 ９…ＲＳ−２３２Ｃコネクタ、 １０…ＵＰＳコネクタ、 １１…光センサ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 芝田 亮 愛知県尾張旭市晴丘町池上１番地 株式会 社日立旭エレクトロニクス内
Claims (3)
- 【請求項１】情報処理装置の生産において光モジュール
を使用することによりテスト対象の情報処理装置と生産
ライン制御用装置とのデータ転送を可能とし、テスト過
程及びテスト結果を逐次監視できると共に、テスト判定
を自動的に実行できる生産方法。 - 【請求項２】情報処理装置の生産において、情報処理装
置の型式／製造番号を自動的に認識し、対象製造番号の
テスト結果を自動出力できる生産方法。 - 【請求項３】生産ライン組立時にハードウエア情報（装
置型式／製造番号、時間)を、情報処理装置に自動的に設
定できる生産方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22310893A JPH0778207A (ja) | 1993-09-08 | 1993-09-08 | 情報処理装置の生産方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22310893A JPH0778207A (ja) | 1993-09-08 | 1993-09-08 | 情報処理装置の生産方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0778207A true JPH0778207A (ja) | 1995-03-20 |
Family
ID=16792956
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22310893A Pending JPH0778207A (ja) | 1993-09-08 | 1993-09-08 | 情報処理装置の生産方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0778207A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100532375B1 (ko) * | 1997-12-31 | 2006-02-13 | 삼성전자주식회사 | 하드 디스크 드라이브 검사 시스템 |
| KR100542698B1 (ko) * | 1997-12-31 | 2006-04-06 | 삼성전자주식회사 | 보조기억장치 테스트장비 보호 방법 및 장치 |
| JP2007286818A (ja) * | 2006-04-14 | 2007-11-01 | Fuji Xerox Co Ltd | 検査システムおよびその検査方法 |
-
1993
- 1993-09-08 JP JP22310893A patent/JPH0778207A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100532375B1 (ko) * | 1997-12-31 | 2006-02-13 | 삼성전자주식회사 | 하드 디스크 드라이브 검사 시스템 |
| KR100542698B1 (ko) * | 1997-12-31 | 2006-04-06 | 삼성전자주식회사 | 보조기억장치 테스트장비 보호 방법 및 장치 |
| JP2007286818A (ja) * | 2006-04-14 | 2007-11-01 | Fuji Xerox Co Ltd | 検査システムおよびその検査方法 |
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