JPH077403A - 集積回路用の電源遮断に対する保護を与えるパワーオンリセット回路 - Google Patents
集積回路用の電源遮断に対する保護を与えるパワーオンリセット回路Info
- Publication number
- JPH077403A JPH077403A JP34610793A JP34610793A JPH077403A JP H077403 A JPH077403 A JP H077403A JP 34610793 A JP34610793 A JP 34610793A JP 34610793 A JP34610793 A JP 34610793A JP H077403 A JPH077403 A JP H077403A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- threshold
- circuit
- power supply
- supply voltage
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/26—Power supply means, e.g. regulation thereof
- G06F1/30—Means for acting in the event of power-supply failure or interruption, e.g. power-supply fluctuations
- G06F1/305—Means for acting in the event of power-supply failure or interruption, e.g. power-supply fluctuations in the event of power-supply fluctuations
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
- G01R19/16533—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application
- G01R19/16538—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application in AC or DC supplies
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/24—Resetting means
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/26—Power supply means, e.g. regulation thereof
- G06F1/28—Supervision thereof, e.g. detecting power-supply failure by out of limits supervision
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/22—Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/22—Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied
- H03K17/223—Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied in field-effect transistor switches
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
- Power Sources (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
ト回路に関する。 【構成】 本発明が提案する回路は、電力がオンにされ
た時に停止信号INHを生成し(DS1、DS’1、P
1、C1、I1)、この停止信号は、電源電圧が第1の
閾値(VS1)に達すると終了する。更に、この回路
は、電源電圧がある値(Vl)以上降下すると、電源電
圧が閾値(VS1)より高いままの場合でも、停止信号
を再トリガする手段(DCH、P2)を備える。 【効果】 集積回路の信頼性が向上する。本発明が開示
する回路は、特に、EEPROMメモリの書込み回路
(読出回路ではない)の停止に使用できる。
Description
であり、さらに詳しく言えば、電力がオンにされる時集
積回路の或る機能を一時的に停止するために使用できる
始動回路またはパワーオンリセット回路に関するもので
ある。実際、ある論理回路では、電源が不十分なために
誤動作が生じることがある。この誤動作を防止するため
には、電力がオンにされる間、集積回路の或る機能を完
全に停止するのが好ましい。
ために使用される。このパワーオンリセット回路は、電
力がオンされたときに始まり電源電圧が十分な値に達す
るまで続く電圧矩形波信号を生成する。この電圧矩形波
信号は、その動作が一時的に停止されなければならない
各回路の停止入力に供給される。
がオンになったときに始まって、電源電圧が集積回路の
動作に許容できる約3〜3.3 Vの閾値を越えた後数ミリ
秒から数10ミリ秒あとまでの期間の間続く電圧矩形波信
号を生成するための諸段階が実施される。
性の電気的に消去可能且つプログラム可能なメモリ(E
EPROM)回路には、そのようなメモリが、並列に書
込みまたは消去される各ワードが数ビットに組織化され
ている時特に、必要不可欠であると思われる。それは、
この時、回路の給電の開始時に与えられる信頼できない
命令の結果としてメモリの望ましくないプログラミング
の危険性があるからである。これは、例えば、メモリの
内容が完全に信頼できるものでなければならないEEP
ROMチップカードの回路には重要である。
パワーオンリセット回路では、パワーオンリセット回路
の出力電圧、すなわち、その動作を禁止しなければなら
ない回路の停止入力に印加される電圧は、下記の過程を
とる。すなわち、開始時、その出力電圧は、正に電源電
圧に近くに追従し、電源電圧が所定の閾値を越えると、
時間遅延をトリガして、従って、停止信号はある期間の
間続き、その後終了する。そして、電源電圧が変化し、
瞬間的に閾値以下に降下すると、停止信号が再度現れ、
電源電圧の変化に追従するが、時間遅延を再トリガする
ことはない。或る場合には、集積回路の信頼性が不十分
であることが観察されている。
めに、本発明によるならば、電源電圧Vccが給電される
集積回路内のパワーオンリセット回路であって、このパ
ワーオンリセット回路は、電源電圧が第1の閾値にまだ
達していない時停止信号を生成する手段を備え、この停
止信号は、集積回路内の電力がオンにされる時その動作
を停止されなければならない回路の停止入力に供給さ
れ、上記パワーオンリセット回路はさらに、電源電圧が
第1の閾値より高いままであっても、電源電圧Vccが少
なくとも所定の値以上降下した時停止信号を再トリガす
る手段を備えていることを特徴とするパワーオンリセッ
ト回路を提案するものである。
電圧の無視できない変動に対する保護回路としても機能
する。通常、5Vの公称電圧Vccの場合、第1の閾値は
従来技術の閾値と同じであり、すなわち、3〜3.3 Vで
ある。停止信号を再トリガさせる電圧の降下は、好まし
くは、約1Vである。公称電圧Vcc0が5Vであると
き、その時、それは、約4Vの第2の閾値で、停止信号
を再トリガすることになる。
EPROM回路の場合、そのような回路は、従来技術の
パワーオンリセット回路より高い信頼性を有することが
観察された。その時、停止信号はメモリ内の書込み回路
を停止するが、読出回路を停止することは必要ではな
い。好ましくは、時間遅延手段は、電源電圧が第1の閾
値を越えた後、そして、電源電圧の降下の結果としての
再トリガ後、停止信号がある期間の間持続するように構
成される。この期間は短く、約数ミリ秒程度でよい。こ
の期間の後、停止信号は終了する。
好ましくは、どちらも電源電圧が閾値を越えると閾値超
過信号を出力する第1の閾値超過検出回路及び第2閾値
超過検出回路と、これら第1の閾値超過検出回路及び第
2閾値超過検出回路から出力された信号を受け、第1の
閾値超過検出回路及び第2閾値超過検出回路が共に閾値
超過信号を出力する時には、その出力を正にする第1の
論理ゲートと、電源電圧が少なくとも所定の値以上降下
するとパルス信号を生成する電源電圧降下検出回路とを
具備しており、この電源電圧降下検出回路の出力は、上
記第1の論理ゲートをただちに反転させるように、上記
第1の論理ゲートの第1の入力に接続されており、当該
第1の論理ゲートの出力が、上記停止信号を制御する信
号を生成すること特徴とする。
路は第1の論理ゲートの第1の入力に接続されており、
第2の閾値超過検出回路は第1の論理ゲートの第2の入
力に接続されている。第2の閾値超過検出回路は、再ト
リガ信号によって停止されることがあり、第1の論理ゲ
ートの出力を一方の入力に、電源電圧降下検出回路の出
力を他方の入力に受ける第2の論理ゲートを備え、この
第2の論理ゲートは、電源電圧が閾値より高い時にパル
スを受けると再トリガ信号を発生する。
バータに接続されており、コンデンサが好ましくはこの
出力とアースとの間に接続されている。インバータの出
力は停止信号を生成する。コンデンサは、第1の論理ゲ
ートがその出力を正にした時から、インバータがその出
力を反転して停止信号を終了する時までの遅延を設定す
るために使用される。また好ましくは、第2の閾値超過
検出回路は、電源電圧が閾値を越える時に対して、及
び、再トリガ信号の終了に対して、閾値超過信号の転送
を遅延するための手段を備える。
レインと制御ゲートとが電源電圧に接続され、ソースが
記憶コンデンサに接続された、閾値電圧が極めて低い第
1のトランジスタと、検出しなければならない電圧降下
にほぼ等しい閾値電圧を有する第2のPチャネルトラン
ジスタとを備え、この第2のトランジスタのソースは、
第1のトランジスタのソースと記憶コンデンサに接続さ
れ、その制御ゲートは、電源電圧に接続され、そのドレ
インは、電源電圧降下検出回路の出力を構成している。
本発明のその他の特徴及び利点は、添付出面を参照して
行う以下の実施例の説明から明らかになろう。
ット回路CDは、また、始動回路としても知られてい
る。この回路は、集積回路IC、例えば、EEPROM
型メモリMNVを備えるメモリカード回路の一部分を形
成する。メモリは、書込み回路CWによって書き込まれ
る。メモリは、特に電源電圧が低すぎる時、及び、殊に
メモリが各ワードごと数ビットで組織化されている時、
誤った情報の書込みから保護されなければならない。パ
ワーオンリセット回路は、この場合書込み回路CWの動
作を禁止するために書込み回路CWの停止入力に印加さ
れる停止信号INHを出力する。
純な概略図を図2に図示する。このパワーオンリセット
回路は、電圧閾値VS1の超過を検出するための2つの
閾値超過検出回路DS1及びDS’1を備える。VS1
は、公称電源電圧Vcc0が5Vの場合、通常3〜3.3V
の値である。これらの閾値超過検出回路DS1及びD
S’1は、VS1に対する実際の電源電圧Vccの関数と
して論理レベルを生成する。これらの論理レベルは、第
1の論理ゲートP1の2つの入力に入力される。好まし
くはNORゲートである論理ゲートP1は、2つの閾値
超過検出回路がVccがVS1を超過したことを示す低い
論理レベルを出力する時、その出力を正にする。第2の
閾値超過検出回路DS’1は、好ましくは、Vccが実際
にVS1を越えた瞬間より後にその出力の状態の変化を
遅延させる手段を備える。図2に図示していない回路
が、回路が始動する時、論理ゲートP1の両入力の論理
レベルが共に高いレベルであることを確保するようにし
てもよい。
閾値超過検出信号は外部信号によって無効化できる。従
って、閾値超過検出回路DS’1によって出力される低
い論理レベルは、Vccが常にVS1より大きい時でも、
終了させることができる(高い論理レベルまたは高イン
ピーダンス状態によって置換される)。論理ゲートP1
の出力は、生成すべき停止信号INHの制御信号である
論理信号SCである。論理ゲートP1の出力は、インバ
ータI1の入力に入力され、その出力Sが停止信号IN
Hを出力する。論理ゲートP1の出力とアースとの間に
はコンデンサC1が接続されており、論理信号SCの立
ち上がり変化に対して、停止信号INHJの立ち下がり
変化を遅延させる。
は始動時に低い論理レベルを生成し、従って、Vccが閾
値VS1を越えるまで期間の間、停止信号INHは高い
論理レベルにある。次に、おそらく閾値超過検出回路D
S’1によって導入された遅延後に、論理信号SCは高
いレベルになるが、コンデンサC1のために、停止信号
INHはすぐに零にはならない。従って、停止信号の終
了は、VccがVS1より低い限り、その期間を越える或
る期間の間(一般的には数ナノ秒)遅れる。
質的な降下を検出するために設けられている。この電圧
降下検出回路DCHは、Vccと論理ゲートP1の入力の
一方、ここでは、閾値超過検出回路DS1の出力に接続
された第1の入力との間に接続されている。Vccが所定
の値Vl以上降下する時、電圧降下検出回路DCHは短
いパルスを生成する。短いパルスは、論理ゲートP1の
出力反転を引き起こす立ち上がり端である。この時、こ
の論理ゲートP1の入力はどちらも低い論理レベルにあ
る。この出力反転の結果として、コンデンサC1に急速
な放電が生じ、従って、停止パルスINHが始まる。論
理ゲート出力の負の遷移の後のコンデンサC1の放電
が、論理ゲート出力の正の遷移後の充電よりはるかに迅
速となるように、論理ゲートP1の出力状態を設定する
方法は、知られている。
は、NANDゲート)は、論理ゲートP1の出力を一方
の入力に受け、同時に閾値超過検出回路DS1の出力で
もある電圧降下検出回路DCHの出力を他方の入力に受
ける。この論理ゲートP2の出力は、集積回路の正常な
始動の間(論理ゲートP1の出力が低レベルにあるか、
または、閾値超過検出回路DS1の出力が低レベルにあ
るために)高い論理レベルにあり、更に、集積回路の正
常な動作中、すなわち、Vccが電圧内の突然の降下を受
けない時は、すなわち、実際に閾値超過検出回路DS1
の出力が低いレベルのままであるので、高い論理レベル
にある。
回路は、正常な動作中、すなわち、論理信号SCが高レ
ベルにある時、高レベルの短いパルスを生成する。その
時、論理ゲートP2が出力反転して、再トリガパルスす
なわち再初期化パルスRDCLを出力する。このパルス
RDCL(下方への矩形波パルス)は第2の閾値超過検
出回路DS’1に入力され、VccがVS1より高くて
も、その出力を無効にする。第2の閾値超過検出回路D
S’1は、この時、論理ゲートP1の第2の入力を低い
レベルに保持するのを停止し、図2には示していない手
段によって、論理ゲートP1の第2の入力を高いレベル
に保持することができる。
の終了後すぐに、論理ゲートP2はその初期状態に戻
り、閾値超過検出回路DS’1は無効化信号RDCLを
受けることを停止し、Vcc閾値超過検出回路のその正常
機能を再開する。その時達した状態は、電力がオンにさ
れた後Vccが閾値VS1に達した時の状態と同じであ
る。すなわち、2つの閾値超過検出回路DS1及びD
S’1は低い論理レベルを生成するが、好ましくは、再
トリガ信号RDCLが終了する時に対して閾値超過検出
回路DS’1が遅延させる。論理ゲートP1は再度出力
反転し、コンデンサC1の値に関する期間が終了する
と、停止信号INHは再度終了される。
を下記に要約する。Vccが少なくとも電圧降下検出回路
DCHによって決定された所定の値Vl(例えば、1
V)以上降下すると、短いパルスを電圧降下検出回路D
CHが出力する。このパルスは、論理ゲートP1及びP
2を出力反転させる。停止信号INHが開始する。同時
に、閾値超過検出回路DS’1が無効化される。次に、
閾値超過検出回路DS’1はその正常機能を回復し、電
力をオンにするための動作と同様のことがすべて起き
る。閾値超過検出回路DS’1が再度低い論理レベルを
出力し、インバータI1が再度出力反転するまで停止信
号INHは存続する。従って、本発明によるパワーオン
リセット回路は、また、電源電圧が大きく降下した時
(例えば、Vccが5Vであるその公称値の代わりに4V
になる時)に安全回路として働き、電源電圧が回路を再
始動させるために正常な閾値VS1より低く降下しない
時でも安全回路として働く。
詳細な実施例を以下に説明する。この回路は、3種類の
異なるMOSトランジスタ、すなわち、エンハンスメン
ト形Nチャネルトランジスタと、エンハンスメント形P
チャネルトランジスタと、エンハンスメント形でもディ
プリーション形でもない自然形Nチャネルトランジスタ
によって形成されている。自然形トランジスタは、零に
極めて近い閾値電圧を有し、エンハンスメント形トラン
ジスタは、絶対値に換算して自然形トランジスタより高
い閾値、例えば1または 1.1Vの閾値を有する。自然形
チャネルトランジスタは、ソースとドレインとの間のチ
ャネル領域として、P形半導体基板を有し、その基板内
に、チャネルへの付加ドーピングなく、集積回路の全て
のNチャネルトランジスタが形成されている。エンハン
スメント形トランジスタはそれらのチャネル内に、Nチ
ャネルトランジスタの場合はP形不純物注入、Pチャネ
ルトランジスタの場合はN形不純物注入により不純物を
付加注入する。
リガ用の閾値を設定するために使用される。第1の閾値
超過検出回路DS1は、Vccとアースとの間に直列の3
つのエンハンスメント形NチャネルトランジスタT1、
T2、T3と、第4のトランジスタT4とを備える。T
1はVccに接続された制御ゲートとドレインとを備え
る。T2はT1のソースに接続された制御ゲートとドレ
インとを備える。T3は、T2の制御ゲートに接続され
た制御ゲートと、T2のソースに接続されたドレインと
を備え、そのソースはアースにされている。T4は、T
3のドレインに接続された制御ゲートとアースにされた
ソースとを備える。T4のドレインは閾値超過検出回路
DS1の出力を構成しており、NORゲートP1の第1
の入力に接続されている。Vccがエンハンスメント形N
チャネルトランジスタT1、T2、T4の閾値電圧の合
計にほぼ等しい閾値VS1を越えると、T4は導通す
る。小型トランジスタT3は、特に、トランジスタT1
及びT2をバイアスするために使用される。
タT1、T2、T3、T4とそれぞれほとんど同様に接
続された4つのトランジスタT’1、T’2、T’3、
T’4を備える。しかしながら、T’3の制御ゲートは
T’2の制御ゲートに接続されておらず、それは、NA
NDゲートP2の出力に接続されたインバータI2によ
って制御されており、これは、閾値超過検出回路DS’
1の出力を無効化するためである。T’2のドレインと
アースとの間に接続されたコンデンサC2は、電力がオ
ンにされている時Vccが立ち上がっている間、トランジ
スタT’4及びT’2のバイアスを与える。T’4のド
レインから得られる閾値超過検出回路DS’1の出力
は、論理ゲートP1の第2の入力に接続されている。
続されたT’2のゲートとアースとの間にコンデンサC
3を備える。このコンデンサC3は、さらに、電力がオ
ンにされている時、Vccの立ち上がり中にトランジスタ
T’1及びT’2のバイアスを可能にする。このコンデ
ンサC3は、再トリガ信号RDCLが論理ゲートP2か
ら出力された時にそのコンデンサを短絡させるトランジ
スタT5によって放電される。トランジスタT5はイン
バータI2によって制御されている。好ましくは、コン
デンサC4が、インバータI2の入力とアースとの間に
接続されており、論理ゲートP2の出力での再トリガ信
号の終了に対してトランジスタT’5及びT’3のオフ
を僅かに遅延させることができる。従って、閾値超過検
出回路DS’1のために十分な無効化期間が確実にされ
る。
ランジスタT7と直列の自然形Nチャネルトランジスタ
T6と、コンデンサC5とを備える。T6は、Vccに接
続されたドレインとゲートとを備える。T7は、T6の
ソースに接続されたソースとVccに接続された制御ゲー
トとを備えている。T7のドレインは、検出回路の出力
を構成しており、論理ゲートP1の第1の入力に接続さ
れ、更に、論理ゲートP2の入力にも接続されている。
トランジスタT7の基板は、そのソースに接続されてい
る。コンデンサC5は、トランジスタT6のソース(す
なわち、トランジスタT7のソース)とアースとの間に
接続されている。
チャネルトランジスタT7のソースが、その制御ゲート
の電位より低い電位になり、PチャネルトランジスタT
7だけがオフになる。一方、コンデンサC5が放電して
いる場合には、トランジスタT6はオンである。従っ
て、トランジスタT6は零に極めて近い閾値電圧を有す
るので、コンデンサC5はほとんどVccまでチャージさ
れる。
cc0を保持する限り、コンデンサC5はこの公称値Vcc
0に充電されたままである。オフであるT7を介して放
電させることはできない。しかしながら、VccがVcc0
より低く降下すると、その時、トランジスタT6はオフ
になり、Vccのソースに向かってコンデンサが放電する
のを防ぐ。それ故、コンデンサC5は、電圧Vcc0を維
持する。電圧Vccが少なくともトランジスタPの閾値電
圧に等しい値Vl以上、例えば、1V以上降下すると、
その時、T7は導通を開始する(その制御ゲートはその
ドレインより十分に低いから)。従って、コンデンサC
5は、導通状態にあるトランジスタT4内に突然放電さ
れる。論理ゲートP1及びP2の第1の入力でそれによ
って生じる電圧パルスは、図2を参照して説明した短い
パルスであり、停止信号INHの再初期化を促す。
2の入力との間に接続され、論理ゲートP1の出力によ
って制御されているPチャネルトランジスタT8を図示
している。このトランジスタは、停止信号INHがある
間、論理ゲートP1の第2の入力を高い論理レベル(且
つフローティング状態ではない)に保持することを可能
にする。トランジスタT8はT’4に対して十分に小さ
く、T’4をオンにして、(当然、T4がオンであると
き)論理ゲートP1の出力を正にすることができる。
止信号INHの変化を図示している。システムが起動さ
れると、Vccは大きくなり、停止信号INHもほぼVcc
に追従して大きくなる。VccがVS1に達すると、論理
ゲートP1の出力が正になり、そのとき、コンデンサC
2及びC3の存在による僅かな遅延がある。次に、イン
バータI1が、同様にコンデンサC1による遅延を伴っ
て、出力反転する。停止信号INHは再度零に降下す
る。システムが起動した時、停止信号の持続期間は、V
ccがVS1に達するためにかかる時間と、それぞれのコ
ンデンサによって導入された遅延に対応する期間t1と
の合計である。この持続期間の間、電圧Vccは、原理的
にはその公称値Vcc0に達しているが、場合により、集
積回路は、停止信号INHが零に戻るとすぐに作動する
ことができる。
停止信号がすぐに再トリガされる。トリガの唯一の遅延
は、論理ゲートP1及びI1の応答時間とコンデンサC
1の放電時間によるものであるが、この放電時間は、充
電時間よりはるかに短いように構成されている。従っ
て、大きいNチャネルトランジスタと小さいPチャネル
トランジスタを使用して、P1の最後の段を構成すれば
十分である。この時、停止信号INHは、Vccの電圧変
動を追従する。もちろん、Vccが閾値VS1より低く降
下すると、一般的な再始動動作(始動の場合と同様)の
標準的な動作に戻る。
であると、停止信号は、持続し、それぞれのコンデンサ
によって導入された遅延の結果生じた上記に説明した期
間t1とほぼ同じ期間の間Vccの変動を追従する。再初
期化中にコンデンサC4を放電させ次いで充電する時間
を考慮すると、その期間はより長い場合もある。
図示した図。
ック図。
な回路図。
ングチャート。
Claims (11)
- 【請求項1】 電源電圧が第1の閾値にまだ達していな
い時、集積回路内の電力がオンにされる時その動作を停
止されなければならない回路の停止入力に供給される停
止信号を生成する手段と、電源電圧が第1の閾値より高
いままであっても、電源電圧Vccが少なくとも所定の値
以上降下した時停止信号を再トリガする手段とを備えて
いることを特徴とする、電源電圧Vccが給電される集積
回路内のパワーオンリセット回路。 - 【請求項2】 上記電源電圧が第1の閾値を超過した
後、及び、電源電圧の降下の結果としての再トリガ後の
或る期間の間、上記停止信号が持続させるように構成さ
れた時間遅延手段を具備することを特徴とする請求項1
に記載のパワーオンリセット回路。 - 【請求項3】 上記或る期間は、数ミリ秒であることを
特徴とする請求項2に記載の回路。 - 【請求項4】 電源電圧が閾値を越えると閾値超過信号
をそれぞれ出力する第1の閾値超過検出回路及び第2閾
値超過検出回路と、 上記の第1の閾値超過検出回路及び第2閾値超過検出回
路から出力された信号を受け、第1の閾値超過検出回路
及び第2閾値超過検出回路が共に閾値超過信号を出力す
る時には、その出力を第1の方向に反転する第1の論理
ゲートと、 電源電圧が少なくとも所定の値以上降下するとパルス信
号を生成する電源電圧降下検出回路とを具備しており、
上記電源電圧降下検出回路の出力は、上記第1の論理ゲ
ートをただちに反転させるように、上記第1の論理ゲー
トの第1の入力に接続されており、当該第1の論理ゲー
トの出力が、上記停止信号を制御する信号を生成するこ
と特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の回
路。 - 【請求項5】 第1の閾値超過検出回路は第1の論理ゲ
ートの第1の入力に接続されており、第2の閾値超過検
出回路は上記第1の論理ゲートの第2の入力に接続され
ており、第2の閾値超過検出回路は、再トリガ信号によ
って停止することができ、更に、第1の論理ゲートの出
力を一方の入力に受け、上記電源電圧降下検出回路の出
力を他方の入力に受ける第2の論理ゲートを備え、この
第2の論理ゲートは、電源電圧が閾値より高い時にパル
ス信号を受けると再トリガ信号を出力することを特徴と
する請求項4に記載の回路。 - 【請求項6】 上記第1の論理ゲートの出力は、インバ
ータに接続されていることを特徴とする請求項5に記載
の回路。 - 【請求項7】 コンデンサが、上記第1の論理ゲートの
出力とアースとの間に接続されていることを特徴とする
請求項6に記載の回路。 - 【請求項8】 上記第2の閾値超過検出回路は、電源電
圧が上記閾値を超過した時に対して、及び、再トリガ信
号の終了に対して、閾値超過信号の転送を遅延させる手
段を備えていることを特徴とする請求項7に記載の回
路。 - 【請求項9】 上記電圧降下検出回路は、電源電圧に接
続されたドレインと制御ゲート及び電荷蓄積コンデンサ
に接続されたソースを備える、閾値電圧が極めて低い第
1のトランジスタと、検出されなければならない最低電
圧降下にほぼ等しい閾値電圧を有する第2のPチャネル
トランジスタを備え、この第2のトランジスタは、上記
第1のトランジスタのソースと上記電荷蓄積コンデンサ
に接続されたソースと電源電圧に接続された制御ゲート
とを備え、そのドレインが電圧降下検出回路の出力を構
成していることを特徴とする請求項7に記載の回路。 - 【請求項10】 上記電源電圧は、5Vの公称値を有し、
第1の閾値は約3〜3.5 Vの値であり、上記停止信号の
再トリガを起こす上記所定の電圧降下は約1Vの値を有
することを特徴とする請求項1〜9のいずれか1項に記
載の回路。 - 【請求項11】 上記停止信号は、EEPROMメモリ書
込み回路の停止入力に供給されることを特徴とする請求
項1〜10のいずれか1項に記載の回路。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR9215522A FR2699755B1 (fr) | 1992-12-22 | 1992-12-22 | Circuit de démarrage et de sécurité contre les coupures d'alimentation, pour circuit intégré. |
FR9215522 | 1992-12-22 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH077403A true JPH077403A (ja) | 1995-01-10 |
JP3520103B2 JP3520103B2 (ja) | 2004-04-19 |
Family
ID=9436955
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP34610793A Expired - Fee Related JP3520103B2 (ja) | 1992-12-22 | 1993-12-22 | 集積回路用の電源遮断に対する保護を与えるパワーオンリセット回路 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6118315A (ja) |
EP (1) | EP0604270B1 (ja) |
JP (1) | JP3520103B2 (ja) |
DE (1) | DE69302080T2 (ja) |
FR (1) | FR2699755B1 (ja) |
Families Citing this family (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07239795A (ja) * | 1994-02-28 | 1995-09-12 | Sanyo Electric Co Ltd | マイクロプロセッサの暴走防止回路 |
EP0700159A1 (en) * | 1994-08-31 | 1996-03-06 | STMicroelectronics S.r.l. | Threshold detection circuit |
FR2745415B1 (fr) * | 1996-02-22 | 1998-05-22 | Sgs Thomson Microelectronics | Circuit d'inhibition de fonctionnement |
EP1102158B1 (fr) | 1999-11-22 | 2012-08-08 | EM Microelectronic-Marin SA | Dispositif et procédé de contrôle de l'état de fonctionnement d'un système électronique en "zone grise" |
US6535042B1 (en) * | 2000-02-22 | 2003-03-18 | Linear Technology Corporation | High-speed, current-driven latch |
US6329851B1 (en) * | 2000-04-17 | 2001-12-11 | Lsi Logic Corporation | Power-on reset cell |
DE10019479B4 (de) * | 2000-04-19 | 2005-02-17 | Infineon Technologies Ag | Schaltungsanordnung zum Initialisieren einer integrierten Schaltung beim Einschalten der Versorgungsspannung |
US6472912B1 (en) * | 2001-01-04 | 2002-10-29 | National Semiconductor Corporation | Device for power supply detection and power on reset |
JP4292720B2 (ja) * | 2001-01-24 | 2009-07-08 | 株式会社日立製作所 | 電源ノイズ検出回路を有する半導体集積回路およびプロセッサ |
US6515523B1 (en) * | 2001-05-23 | 2003-02-04 | National Semiconductor Corporation | Method and apparatus for generating a power-on reset with an adjustable falling edge for power management |
ITRM20010522A1 (it) * | 2001-08-30 | 2003-02-28 | Micron Technology Inc | Sequenziale di "power-on-reset" condizionato e robusto a potenza ultrabassa per circuiti integrati. |
DE10201958A1 (de) * | 2002-01-19 | 2003-07-31 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zur Überwachung der Betriebsbereitschaft mindestens eines einer elektronischen Einheit zugeordneten Speicherelements |
JP3595799B2 (ja) * | 2002-02-28 | 2004-12-02 | 松下電器産業株式会社 | 半導体集積回路及びそのリセット方法 |
KR100476927B1 (ko) * | 2002-07-18 | 2005-03-16 | 삼성전자주식회사 | 파워-온 리셋 회로 및 파워-온 리셋 방법 |
ITMI20021901A1 (it) * | 2002-09-06 | 2004-03-07 | Atmel Corp | Sistema di controllo di inserzione di potenza per un convertitore in riduzione di tensione |
KR100583097B1 (ko) * | 2002-12-31 | 2006-05-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | 파워 업 검출 장치 |
US7411433B2 (en) * | 2003-12-18 | 2008-08-12 | Stmicroelectronics, Inc. | Reset ramp control |
EP1553676A1 (en) * | 2004-01-09 | 2005-07-13 | STMicroelectronics S.A. | An electronic protection device |
KR100650816B1 (ko) * | 2004-02-19 | 2006-11-27 | 주식회사 하이닉스반도체 | 내부 회로 보호 장치 |
KR100597635B1 (ko) * | 2004-05-20 | 2006-07-05 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리에서의 내부 초기화 신호 발생기 |
JP4504108B2 (ja) * | 2004-06-15 | 2010-07-14 | 富士通セミコンダクター株式会社 | リセット回路 |
US20070024332A1 (en) * | 2005-07-28 | 2007-02-01 | Standard Microsystems Corporation | All MOS power-on-reset circuit |
JP4786369B2 (ja) * | 2006-02-23 | 2011-10-05 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 電源検出回路 |
DE102007007585B4 (de) * | 2007-02-15 | 2010-04-15 | Infineon Technologies Ag | Schaltungsanordnung und Verfahren zum Betreiben einer Schaltungsanordnung |
KR100937948B1 (ko) * | 2008-06-04 | 2010-01-21 | 주식회사 하이닉스반도체 | 파워 업 신호 생성회로와 생성 방법 |
US8775854B2 (en) * | 2009-11-13 | 2014-07-08 | Marvell World Trade Ltd. | Clock turn-on strategy for power management |
CN103529725A (zh) * | 2013-07-29 | 2014-01-22 | 南京熊猫电子股份有限公司 | 一种可实现关机零功耗的开关机电路 |
CN103457586B (zh) * | 2013-08-08 | 2016-05-25 | 南京熊猫电子股份有限公司 | 一种电子设备关机零功耗实现方法 |
FR3041466B1 (fr) * | 2015-09-21 | 2017-09-08 | Stmicroelectronics Rousset | Procede de controle du fonctionnement d'un dispositif de memoire de type eeprom, et dispositif correspondant |
US10056897B1 (en) * | 2017-10-23 | 2018-08-21 | Vanguard International Semiconductor Corporation | Power-on control circuit with state-recovery mechanism and operating circuit utilizing the same |
US10305470B1 (en) * | 2018-07-09 | 2019-05-28 | Winbond Electronics Corp. | Circuit for recovering from power loss and electronic device using the same circuit and method thereof |
CN109061362B (zh) * | 2018-07-24 | 2020-09-25 | 许继电源有限公司 | 一种电网掉电检测电路 |
CN115913202B (zh) * | 2022-12-14 | 2023-09-15 | 江苏润石科技有限公司 | 一种用于高压电路的快速上电保护电路 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4096560A (en) * | 1977-10-28 | 1978-06-20 | Rockwell International Corporation | Protection circuit to minimize the effects of power line interruptions on the contents of a volatile electronic memory |
US4260907A (en) * | 1979-06-12 | 1981-04-07 | Telex Computer Products, Inc. | Power-on-reset circuit with power fail detection |
WO1982004345A1 (en) * | 1981-05-27 | 1982-12-09 | Aswell Cecil James | Power supply control for integrated circuit |
US4446381A (en) * | 1982-04-22 | 1984-05-01 | Zilog, Inc. | Circuit and technique for initializing the state of bistable elements in an integrated electronic circuit |
US4591745A (en) * | 1984-01-16 | 1986-05-27 | Itt Corporation | Power-on reset pulse generator |
DE3582620D1 (de) * | 1984-07-27 | 1991-05-29 | Omron Tateisi Electronics Co | Einschalt-ruecksetzschaltung fuer einen beruehrungslosen schalter. |
US4746818A (en) * | 1985-03-12 | 1988-05-24 | Pitney Bowes Inc. | Circuit for maintaining the state of an output despite changes in the state of input |
JP2508697B2 (ja) * | 1987-03-27 | 1996-06-19 | 日本電気株式会社 | 半導体集積回路 |
US4902910A (en) * | 1987-11-17 | 1990-02-20 | Xilinx, Inc. | Power supply voltage level sensing circuit |
JPH0474015A (ja) * | 1990-07-13 | 1992-03-09 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置 |
US5115146A (en) * | 1990-08-17 | 1992-05-19 | Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. | Power-on reset circuit for controlling test mode entry |
US5164613A (en) * | 1990-09-28 | 1992-11-17 | Dallas Semiconductor Corporation | Reset monitor |
IT1253679B (it) * | 1991-08-30 | 1995-08-22 | Sgs Thomson Microelectronics | Circuito di rispristino all'accensione di un circuito integrato aventeun consumo statico nullo. |
JP2697412B2 (ja) * | 1991-10-25 | 1998-01-14 | 日本電気株式会社 | ダイナミックram |
US5180926A (en) * | 1991-11-26 | 1993-01-19 | Sequoia Semiconductor, Inc. | Power-on reset architecture |
US5369310A (en) * | 1992-06-01 | 1994-11-29 | Hewlett-Packard Corporation | CMOS power-on reset circuit |
-
1992
- 1992-12-22 FR FR9215522A patent/FR2699755B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
1993
- 1993-12-14 DE DE69302080T patent/DE69302080T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1993-12-14 EP EP93403029A patent/EP0604270B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1993-12-22 JP JP34610793A patent/JP3520103B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-08-08 US US08/908,583 patent/US6118315A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6118315A (en) | 2000-09-12 |
FR2699755A1 (fr) | 1994-06-24 |
DE69302080T2 (de) | 1996-09-05 |
JP3520103B2 (ja) | 2004-04-19 |
FR2699755B1 (fr) | 1995-03-10 |
DE69302080D1 (de) | 1996-05-09 |
EP0604270B1 (fr) | 1996-04-03 |
EP0604270A1 (fr) | 1994-06-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3520103B2 (ja) | 集積回路用の電源遮断に対する保護を与えるパワーオンリセット回路 | |
US5936443A (en) | Power-on reset signal generator for semiconductor device | |
US5420798A (en) | Supply voltage detection circuit | |
US5297104A (en) | Word line drive circuit of semiconductor memory device | |
US4718041A (en) | EEPROM memory having extended life | |
US7679412B2 (en) | Power supply circuit | |
US6201731B1 (en) | Electronic memory with disturb prevention function | |
US5333122A (en) | Electrically erasable and programmable non-volatile semiconductor memory device having word line voltage control circuit using internal voltage booster circuit | |
US7034587B2 (en) | Conditioned and robust ultra-low power power-on reset sequencer for integrated circuits | |
EP0905605B1 (en) | Power-on detection circuit with very fast detection of power-off | |
US6211710B1 (en) | Circuit for generating a power-up configuration pulse | |
KR960010113B1 (ko) | 전원투입 검출회로 | |
KR900009106B1 (ko) | 오기입 동작 방지기능을 갖는 반도체 메모리 장치 | |
KR20020090373A (ko) | 시스템의 부트-업 메모리로서 사용 가능한 불휘발성플래시 메모리 장치 및 그의 동작 방법 | |
US6937498B2 (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
KR100521360B1 (ko) | 전원 전압에 가변되지 않는 지연 회로 및 이를 포함하는반도체 메모리 장치 | |
US6329852B1 (en) | Power on reset circuit | |
US6288594B1 (en) | Monolithically integrated selector for electrically programmable memory cell devices | |
US4571709A (en) | Timing apparatus for non-volatile MOS RAM | |
EP0748535B1 (en) | Improved supply voltage detection circuit | |
EP0915476B1 (en) | Method and circuit for regulating the length of an ATD pulse signal | |
JP3537989B2 (ja) | 不揮発性半導体記憶装置 | |
WO1995009483A1 (en) | Improved supply voltage detection circuit | |
JP4147174B2 (ja) | パワーオンリセット回路 | |
JP2916364B2 (ja) | 半導体装置の内部電源回路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040120 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040202 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090206 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100206 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100206 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100206 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100206 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100206 Year of fee payment: 6 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |