JPH0755015Y2 - チップキャリヤ搭載用厚膜基板 - Google Patents
チップキャリヤ搭載用厚膜基板Info
- Publication number
- JPH0755015Y2 JPH0755015Y2 JP1989003009U JP300989U JPH0755015Y2 JP H0755015 Y2 JPH0755015 Y2 JP H0755015Y2 JP 1989003009 U JP1989003009 U JP 1989003009U JP 300989 U JP300989 U JP 300989U JP H0755015 Y2 JPH0755015 Y2 JP H0755015Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chip carrier
- thick film
- film substrate
- hole
- substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、厚膜基板、特にチップキャリヤ搭載用基板に
関する。
関する。
厚膜混成集積回路(IC)装置において、半導体装置とし
てチップキャリヤを装着する場合に、チップキャリヤの
構造上、チップキャリヤと基板との相接する面が平面で
すき間が殆どない。そのため、半田工程でチップキャリ
ヤを装着後、電極近傍に付着したフラックスを洗浄しよ
うとしても、洗浄液が接触面内部にゆきわたらず、フラ
ックスの除去が難しい。
てチップキャリヤを装着する場合に、チップキャリヤの
構造上、チップキャリヤと基板との相接する面が平面で
すき間が殆どない。そのため、半田工程でチップキャリ
ヤを装着後、電極近傍に付着したフラックスを洗浄しよ
うとしても、洗浄液が接触面内部にゆきわたらず、フラ
ックスの除去が難しい。
上記のように、半田工程でのフラックスを除去できない
ため、チップキャリヤの電極部の腐蝕などの障害がおこ
り、長期の信頼性が保障されないという欠点があった。
ため、チップキャリヤの電極部の腐蝕などの障害がおこ
り、長期の信頼性が保障されないという欠点があった。
また、厚膜基板にフラックス除去のための貫通穴(実開
昭60-42757号)を形成しても、単に貫通穴を形成したの
みでは、洗浄されるのは貫通穴近傍のみで、結局十分な
洗浄をすることができなかった。この洗浄液の流路を確
保するためには、半田層の厚みを厚くしなければならな
かったが、その結果半田を大量に必要となり、製造コス
トがかかる上、半田がだれて短絡したり、半田剥がれが
生じたり、半田部分の信頼性が低下しやすいという欠点
があった。
昭60-42757号)を形成しても、単に貫通穴を形成したの
みでは、洗浄されるのは貫通穴近傍のみで、結局十分な
洗浄をすることができなかった。この洗浄液の流路を確
保するためには、半田層の厚みを厚くしなければならな
かったが、その結果半田を大量に必要となり、製造コス
トがかかる上、半田がだれて短絡したり、半田剥がれが
生じたり、半田部分の信頼性が低下しやすいという欠点
があった。
本発明の目的は、上記欠点を除去し、高信頼度の厚膜混
成IC装置を得ることにある。
成IC装置を得ることにある。
本考案では、チップキャリヤを搭載する厚膜基板の構造
を、基板のチップキャリヤ搭載予定位置の中央部に貫通
穴を設け、該貫通穴から噴出された洗浄液が周辺にいた
る流路を表面に設けるようにしたものである。
を、基板のチップキャリヤ搭載予定位置の中央部に貫通
穴を設け、該貫通穴から噴出された洗浄液が周辺にいた
る流路を表面に設けるようにしたものである。
厚膜基板の裏面から、洗浄液を接触面の内部に高圧で貫
通穴をとおして押込み、内部に噴出させると、洗浄液は
周縁の電極部へ流れてゆき、フラックスを除去する。
通穴をとおして押込み、内部に噴出させると、洗浄液は
周縁の電極部へ流れてゆき、フラックスを除去する。
以下、図面を参照して、本考案の実施例につき説明す
る。第1図は第1実施例であり、厚膜基板2には図に示
すように、中央部に貫通穴3が設けられるとともに、貫
通穴3から周縁の電極4にいたる部分まで凹部5を形成
する。第2図は第1図のA-A断面図で、凹部5は傾斜を
つけている。電極4の配列のすき間部分4Aには中央部の
凹部5に連結して傾斜をつけるようにしている。
る。第1図は第1実施例であり、厚膜基板2には図に示
すように、中央部に貫通穴3が設けられるとともに、貫
通穴3から周縁の電極4にいたる部分まで凹部5を形成
する。第2図は第1図のA-A断面図で、凹部5は傾斜を
つけている。電極4の配列のすき間部分4Aには中央部の
凹部5に連結して傾斜をつけるようにしている。
なお、第3図に示すように中央部の凹部5に傾斜をつけ
ず、電極4の配列のすき間部分4Aにのみ傾斜をつけるよ
うにしてもよい。
ず、電極4の配列のすき間部分4Aにのみ傾斜をつけるよ
うにしてもよい。
チップキャリヤ1を第1図に示すように厚膜基板2に半
田付けした後、貫通穴3から洗浄液を高圧で噴出させる
と、液は凹部5を流路として周辺に流れ、すき間部分4A
から外部へ流れさる。このとき電極4の周縁のフラック
スを洗いさる。
田付けした後、貫通穴3から洗浄液を高圧で噴出させる
と、液は凹部5を流路として周辺に流れ、すき間部分4A
から外部へ流れさる。このとき電極4の周縁のフラック
スを洗いさる。
次に第2実施例につき、説明する。第4図に示すように
貫通穴3から周縁に向けて放射状に隆起部6Aをつくって
おく。この場合は隆起部6Aで区画された平面部6Bが洗浄
液の流路になる。このときチップキャリヤ1の電極端子
7を、図に示すように、隆起部6Aの高さだけ、突出させ
るようにして、電極4と半田付けする。チップキャリヤ
1と厚膜基板2の平面部6Bとの間に生じるすき間に洗浄
液は流れ、電極4を経て外部に流れさる。この例では、
電極4およびその付近に付着したフラックスを除去でき
るばかりでなく、チップキャリヤ1の裏面に付着したフ
ラックスも除去できる。
貫通穴3から周縁に向けて放射状に隆起部6Aをつくって
おく。この場合は隆起部6Aで区画された平面部6Bが洗浄
液の流路になる。このときチップキャリヤ1の電極端子
7を、図に示すように、隆起部6Aの高さだけ、突出させ
るようにして、電極4と半田付けする。チップキャリヤ
1と厚膜基板2の平面部6Bとの間に生じるすき間に洗浄
液は流れ、電極4を経て外部に流れさる。この例では、
電極4およびその付近に付着したフラックスを除去でき
るばかりでなく、チップキャリヤ1の裏面に付着したフ
ラックスも除去できる。
以上、説明したように、高圧の洗浄液を厚膜基板の貫通
穴から噴出させると、洗浄液は周縁のチップキャリヤを
装着した電極へ流れ、フラックスを除去する。従来例と
異なり、接触面の内側から洗浄液を流れ込ませること
で、有効にフラックス除去をなしうる。これにより、長
時間使用しても、半田接着部の劣化がなく、信頼度の高
い厚膜混成集積回路をうることができる。
穴から噴出させると、洗浄液は周縁のチップキャリヤを
装着した電極へ流れ、フラックスを除去する。従来例と
異なり、接触面の内側から洗浄液を流れ込ませること
で、有効にフラックス除去をなしうる。これにより、長
時間使用しても、半田接着部の劣化がなく、信頼度の高
い厚膜混成集積回路をうることができる。
第1図は本考案の第1実施例の外観図、第2図は第1図
のA-A断面図、第3図は第1実施例の変形で、A-A断面
図、第4図は第2実施例の外観図である。 1……チップキャリヤ、2……厚膜基板、3……貫通
穴、4……電極、4A……すき間部分、5……凹部、6A…
…隆起部、6B……平面部、7……電極端子。
のA-A断面図、第3図は第1実施例の変形で、A-A断面
図、第4図は第2実施例の外観図である。 1……チップキャリヤ、2……厚膜基板、3……貫通
穴、4……電極、4A……すき間部分、5……凹部、6A…
…隆起部、6B……平面部、7……電極端子。
Claims (1)
- 【請求項1】基板のチップキャリア搭載予定位置の一部
に貫通穴と基板表面の凹凸を有し、該貫通穴から噴出さ
れた洗浄液が前記基板表面の凹凸によって周辺にいたる
流路を有することを特徴とするチップキャリア搭載用厚
膜基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1989003009U JPH0755015Y2 (ja) | 1989-01-12 | 1989-01-12 | チップキャリヤ搭載用厚膜基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1989003009U JPH0755015Y2 (ja) | 1989-01-12 | 1989-01-12 | チップキャリヤ搭載用厚膜基板 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0292938U JPH0292938U (ja) | 1990-07-24 |
JPH0755015Y2 true JPH0755015Y2 (ja) | 1995-12-18 |
Family
ID=31204271
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1989003009U Expired - Lifetime JPH0755015Y2 (ja) | 1989-01-12 | 1989-01-12 | チップキャリヤ搭載用厚膜基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0755015Y2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11929103B2 (en) | 2021-08-26 | 2024-03-12 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Disk device |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6042757B2 (ja) * | 1979-01-10 | 1985-09-25 | レイセオン・カンパニ− | 洗たく槽受け装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6042757U (ja) * | 1983-09-01 | 1985-03-26 | 日本電気株式会社 | ハイブリッド回路モジュ−ル |
-
1989
- 1989-01-12 JP JP1989003009U patent/JPH0755015Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6042757B2 (ja) * | 1979-01-10 | 1985-09-25 | レイセオン・カンパニ− | 洗たく槽受け装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11929103B2 (en) | 2021-08-26 | 2024-03-12 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Disk device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0292938U (ja) | 1990-07-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3409759B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2000091488A (ja) | 樹脂封止型半導体装置とそれに用いられる回路部材 | |
JPH0755015Y2 (ja) | チップキャリヤ搭載用厚膜基板 | |
JPH09129779A (ja) | 超微細電導極を有する半導体パッケージ | |
JPH11191574A (ja) | 半導体装置 | |
JP2914409B2 (ja) | 半導体素子 | |
JPS5857742A (ja) | チツプキヤリア | |
JP2003188204A (ja) | 半導体装置 | |
JPH0451056B2 (ja) | ||
JP3707639B2 (ja) | エリアアレイパッケージ型半導体装置の構造 | |
JPS62137860A (ja) | 半導体集積回路用セラミツクスケ−ス | |
JP2551243B2 (ja) | 半導体装置 | |
JPH0224376B2 (ja) | ||
JPH0621247Y2 (ja) | リ−ドレスチツプキヤリア | |
KR20020028020A (ko) | 칩 사이즈 패키지 | |
JPH04127660U (ja) | チツプコンデンサ搭載型半導体装置 | |
JPH088138Y2 (ja) | 半導体の実装構造 | |
JPH0917918A (ja) | 混成集積回路 | |
JPH08213504A (ja) | 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法 | |
JPH05267540A (ja) | 半導体素子の実装構造 | |
JPH0714941A (ja) | 半導体装置 | |
JPS60194340U (ja) | マイクロ波パツケ−ジ | |
JPH08306744A (ja) | 電子部品 | |
JP2003121403A (ja) | センサデバイス及びその製造方法 | |
JPS58132942A (ja) | フリツプチツプの組立方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |