JPH07502135A - 負荷に応じてプログラム可能な出力バッファ構造 - Google Patents

負荷に応じてプログラム可能な出力バッファ構造

Info

Publication number
JPH07502135A
JPH07502135A JP6511124A JP51112494A JPH07502135A JP H07502135 A JPH07502135 A JP H07502135A JP 6511124 A JP6511124 A JP 6511124A JP 51112494 A JP51112494 A JP 51112494A JP H07502135 A JPH07502135 A JP H07502135A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
terminal
buffer structure
voltage
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6511124A
Other languages
English (en)
Inventor
ピアース、ケリー・エム
カーペンター、ロジャー・ディー
Original Assignee
ザイリンクス・インコーポレイテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ザイリンクス・インコーポレイテッド filed Critical ザイリンクス・インコーポレイテッド
Publication of JPH07502135A publication Critical patent/JPH07502135A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F1/00Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
    • G05F1/10Regulating voltage or current
    • G05F1/46Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
    • G05F1/56Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices
    • G05F1/565Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/16Modifications for eliminating interference voltages or currents
    • H03K17/161Modifications for eliminating interference voltages or currents in field-effect transistor switches
    • H03K17/165Modifications for eliminating interference voltages or currents in field-effect transistor switches by feedback from the output circuit to the control circuit
    • H03K17/166Soft switching
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/16Modifications for eliminating interference voltages or currents
    • H03K17/161Modifications for eliminating interference voltages or currents in field-effect transistor switches
    • H03K17/165Modifications for eliminating interference voltages or currents in field-effect transistor switches by feedback from the output circuit to the control circuit
    • H03K17/166Soft switching
    • H03K17/167Soft switching using parallel switching arrangements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 負荷に応じてプログラム可能な出力バッファ構造顔う鴬」二の利1川ヌLび 本発明は、集積回路装置の出力バッファに関し、特に異なる形式の負荷装置を駆 動するためにプログラム可能な出力バッファに関する。
λ匪免背1 電流処理技術によって、出方駆動回路が出力電圧を迅速に変化させることが可能 となった。迅速な変化は好ましいものであるが、しかし望まれないノイズが内部 の電源バス及びグランドバスに生ずるという問題がある。電源バス及びグランド バスは、内部の論理信号ラインに接続されているので、電源バス及びグランドバ スの/イズによって、内部の論理信号が誤った状態となる。迅速な遷移はまた、 出力ピンの信号にリンギング(ringing)を発生させ、このリンギングに よって出方ピンの信号によって駆動されるデバイスに誤ったデータが送られるこ とになる。
負荷を駆動する電圧レベルの遷移が、電源バス及びグランドバスにノイズの発生 する主な原因となっている。第1図は、パッド105を通して駆動される出力負 荷装置106と、集積回路の内部に形成された誘導性素子102及び107と、 正の電源及び負の電源に接続されたポンディングパッド及びボンディングワイヤ ーを備えた誘導性素子103及び108と、集積回路装置の外部のプリント回路 基板に形成されたトレース104及び109と組み合わされた出力駆動回路10 1を示している。パッドの信号が論理1のとき、トランジスタ101aがターン オンし、電流iTRが正の電圧から、トレース104、ボンディングワイヤー1 03、集積回路の電源ライン102、トランジスタ101a2 ポンディングパ ッド105を通って負荷106へ流れ込む。トランジスタ101aが突然遮断さ れたとき、誘導性素子104.103及び102には誘導起電力が形成され、内 部電源電圧V CCINTが、外部電源電圧VCCEXTよりも大きくなる。こ の時点では、負荷106は例えば5ボルトの正の電圧レベルとなっている。トラ ンジスタ101bが突然ターンオンし、電流iTFが流れると、誘導性素子10 7.108及び109が電流を制限し、素子1゜7.108及び109に形成さ れた誘導起電力によって、電圧V S S INTが電圧V S S EXTよ りも大きくなる。 トランジスタ101aと101bの相異なる変化によって、 電圧■CCと電圧VSSが相異なる変化を起こす。トランジスタ101aと10 1bに等価な複数のトランジスタが同時にスイッチした場合、電源バス及びグラ ンドバスの電圧の変化が許容下可能な程に大きくなり、誤ったデータが内部に発 生ずる。誤ったデータはまた、迅速な遷移に応答して負荷デバイス内でも発生す る。
電源及びグランド電圧の跳ね上がり(bounce)cvcc及び■SS電圧の 変化)を制御する従来の試みが、段階的なターンオン技術、ランプ型のプレドラ イブ技術及びフィードバック回路を用いて行われてきた。これらの技術について 以下に説明する。
第2A図は、バッファされていない出方信号に応答して異なる遅れ時間を備えた 並列な駆動信号を発生することによって、VCc及び■ssレベルの変化を減少 させるための従来技術の回路を示している。第2A図に示されているように、段 階的なターンオン技術では、出力駆動回路は、VCCとVSSとの間に並列に接 続された複数のより小型な駆動回路203.205及び207として形成されて いる。遅れ装W2O4及び206によって、ライン202の駆動信号に遅れが形 成され、駆動回路203.205及び207が、僅かに異なる時刻でスイッチし 、パッド208の電圧がより段階的に変化する。
第2B図には、ランプ型のプレ駆動を提供する回路が示されている。弱いプレ駆 動インバータ212は、比較的小さいチャネル幅を有し、スイッチング入力信号 に対して比較的緩やかに応答する。従って駆動回路214は、より緩やかにスイ ッチし、VCc及びVssの跳ね上がりが小さいものとなる。
第2C図は、VCc及びvssへのフィードバックループを備えた出力駆動回路 が示されている。抵抗223及び225は、パッド226への電流またはパッド 226がらの電流を制限する。例えば、トランジスタ224bのゲート−ソース 間の電位差が大きい場合、トランジスタ224bが容易にターンオンしないため に、フィードバックが形成される。しかし、パッド226から抵抗225を通っ てVSSに流れる大きい電流iによって、トランジスタ224bのソースの電位 が上昇し、トランジスタ224bが部分的にターンオフする。パッド226の電 位がVSSにほぼ等しくなったとき、抵抗225を流れる電流が減少し、トラン ジスタ224bのソース電位が減少し、トランジスタ224bがよりターンオン して、電流が継続して流れる。
同様な効果が、抵抗223及び抵抗224aに関しても生ずる。
これら従来技術の何れもが、スイッチング遷移の最後で発生するグランド電圧の 跳ね上がりを防止するものではない。
光」Wの11要 本発明は、出力駆動回路によって駆動される負荷の形式を考慮して、駆動特性を 決定するものである。ある出力負荷は、概ね容量性であり、負荷装置は(スイッ チングの発生した直後の遷移期間を除き)出力端子に取り付けられた静電容量の 電極として働き、電流には直流成分が存在しない。他の出力負荷は、概ね抵抗− 容量性であり、出力端子に取り付けられた抵抗及び静電容量として働く。これら のデバイスは、スイッチングの発生した直後の遷移期間だけでなく、定常状態に 於ても直流の構成要素を備えている。
抵抗−容量性負荷の場合、出力は抵抗駆動ネットワークによって終息している。
抵抗駆動ネットワークは、初期に電流量を制限することによってVCC及びVs sの電圧の変化を減少させ、遷移期間の最後に於て電流を保持することによって VCC及びVSSの電圧の変化を減少させる。
この形式の負荷に対して、出力駆動回路は、負荷を迅速にスイッチングさせ、か つトランジスタネットワークの電位を適切なレベルにプルダウンするべく大きな 電流を吸い込むために充分な容量を備えていなければならない。従来技術の回路 の何れもが、抵抗−容量性負荷に対して充分に動作するものである。
容量性負荷の場合、電流は蓄えられた電荷のみから供給される。スイッチング遷 移期間の終わりで、上述された従来技術の回路では、インダクタンスは電流を保 持する傾向があり、静電容量によって、電圧が正規の電源電圧及び正規のグラン ド電位をオーバーシュートすることになる。これらの従来技術の回路の何れによ っても、負荷の電圧の変化を適切に防止することは出来ない。
本発明に基づけば、出力デバイスの駆動能力が、電圧がその意図されたレベルに 近づいたとき減少され、従って誘導性素子を流れる電流が段階的に減少させられ ることになる。ある実施例では、出力デバイスはNチャネルトランジスタと直列 接続されたPチャネルトランジスタからなり、少なくとも一つのトランジスタは 、2人力論理ゲート(Nチャネルトランジスタに対するANDゲートまたはPチ ャネルトランジスタに対するORゲート)によって制御される。ゲートはその一 方の人力としてバッファされていない出力信号を受け取り、そのもう一方の入力 としてバッファされかつ反転された出力信号を受け取る。Nチャネルトランジス タが、ANDゲートの出力によって制御されている場合、バッファされた出力を ANDゲートにフィードバックすることによって、ANDゲートの出力は、出力 デバイスがその低レベル付近に到達したときに、論理低となる。
これによって、Nチャネルトランジスタが段階的にターンオフし、負荷とVSS ラインとの間の電流が段階的に変化し、かつVSSレベルに対する誘導性の効果 がより少ないものとなる。
他の実施例では、マルチプレクサによって、トランジスタが段階的にターンオフ するか、バッファされていない出力信号を通してトランジスタが直接ターンオフ するかが選択される。この実施例では、迅速なスイッチングを達成するための抵 抗−容量性負荷とともに動作する従来の回路と、電源電圧またはグランド電圧の 変化を減少させるための、容量性負荷とともに動作する段階的なターンオフを達 成するための回路が用いられている。
阻」しと原理」L叉朋 第1図は、内部に誘導性素子を備えた出力駆動回路及び負荷を表している。
第2A図〜第2C図は、スルーレートを制御するための従来技術の回路を示して いる。
第3A図は、抵抗−誘導性負荷を表す回路を示している。
第3B図は、誘導性負荷を表す回路を示している。
第4A図〜第4G図は、スイッチング時のグランド電位の変化を減少させるため の本発明に基づく回路を示している。
第4 H図は、スイッチング時の電源電圧及びグランド電圧の変化を減少させる ための本発明に基づく回路を示している。
第4I図は、内部のVCC電源及び■ss電源の両方の跳ね上がりを減少させる ための他の回路を示している。
第5A図は、第4A図〜第4I図の回路の一つと組み合わせて用いることが好ま しい、回路のスイッチングが開始されたときの跳ね上がりを減少させるための従 来技術の回路を表している。
第5B図は、第5A図の回路の好適なレイアウトを示している。
第6A図〜第6C図は、各々、時間の関数としての、出力(パッド)電圧、パッ ドの電流及び内部のグランド電位V S S INTのグラフである。
日の の− な5日 第3A図及び第3B図は、集積回路デバイスの出力回路によって駆動される2つ の形式の負荷を表している。第3A図に示されているように、出力信号は、CM OSインバータ214を通してバッファされ、パッド215を通り、静電容量C 301及び、抵抗R301とR302を倫えた抵抗駆動ネットワークとを有する 負荷に伝達されている。
−力筒3B図では、静電界ff1c302を有する負荷が用いられている。これ らの2つの形式の負荷は、負荷を駆動する集積回路の電圧レベルに対して異なる 効果を有し、かつ集積回路の電源電圧及びグランド電位の変化を最少にするべく 、これらの2つの形式の負荷を駆動するための異なる出力バッファが必要となる 。図3Aでは、抵抗R301及びR302から形成された抵抗分圧ネットワーク は、抵抗R301及びR302の一方を通る電流パスを流れる初期の電流を制限 しかつ遷位期間の終わりの電流を保持することによって、電源電圧及びグランド 電位の変化を減少させる。初期の電流は、公知の式I=V/Rに基づいて直列接 続された抵抗によって制限される。遷位期間の最後では、抵抗R301またはR 302の一方を流れる直流電流は、グランド電位の跳ね上がりを伴う電流の鋭い 不連続性を防止する。
図3八に示された形式の負荷に対して、出力駆動バ回路214は、負荷の電圧を 迅速にスイッチし、かつ抵抗ネットワークの電位を許容可能なレベルにプルダウ ンするべく十分に大きな電流を吸い込む能力を備えていなければならない。上述 された従来の技術の何れもが、図3八に示されているような抵抗容量性の負荷に 対して有効に働く。
図3Bに示されている静電容量C302のような容量性負荷の場合、負荷によっ て蓄えられた電荷からの電流が供給される。スイッチング遷位期間の終わりに、 第1図に示されたインダクタンスは電流を保持し、負荷を通る電流パスが存在し ないために、静電容量C302の電圧は、平行電圧を超えて振動し、 “グラン ド跳ね上がり”と呼ばれる状態か発生する。本発明は、第3B図に示された負荷 に特に用いられる。グランド跳ね上がりを最少にするために、スイッチング動作 が完了した後に、出力デバイスの駆動能力が減少させられる。
第4Δ図〜第4H図は、純容量性負荷を取り扱うことのできる本発明のいくつか の実施例を示している。最も簡「11−な実施例が第4A図に示されている。第 4Δ図に示されているように、ライン401のバッファされていない出力信号が 、ゲートデバイス501に供給されている。ゲートデバイス501は更に、パッ ドに印加されているバッファされた出力信号からのフィードバックライン408 を受け取っている。ゲートデバイス501は、信号OUTがライン401」ニで 高状態となったときに、減少するライン408上の出力電圧に応答して、トラン ジスタ407Bのゲートの電圧を段階的に減少させる形式のデバイスである。こ れによって、パッドの電圧が減少したときに、トランジスタ407Bは段階的に ターンオフする。一方これによって、グランドラインに関連するインダクタンス と組み合わされたパッドに関連する負荷の静電容量が、VSSのグランド電位を 乱すことが防止される。
第4B図は、抵抗R1が、通常のCMO3出力駆動回路のPチャネルトランジス タ407Aに置き換えられた、本発明の他の実施例を表している。他の実施例( 図示されていない)では、抵抗R1は、インバータを通して制御されているNチ ャネルプルアップ用トランジスタに置き換えられることも可能である。デバイス 501及びトランジスタ407bの機能は、第4A図に関して説明されたものと 等しい。
第4C図では、デバイス501は、メモリセルMによって制御されており、ある 状態では、トランジスタ407bは、ライン408の信号に応答して段階的にタ ーンオフされ、また他の状態では、トランジスタ407bはライン401の信号 のみに応答して制御されている。このメモリセルは、SRAMセル、即ちチップ に電源が投入されたときに情報をロードされている不揮発性セルからなる。代わ りに、メモリセルMは、マルチプレクサの制御ラインを電源またはグランドの何 れか一方にプログラム可能に接続する1個または2個のアンチヒユーズからなる 。同様に、メモリセルMは、EPROMセル(不揮発性セル)であるか、または マルチプレクサを適切な電源に接続するためのその一方がデバイスの製造中に形 成された2個の選択可能なピアス(v i a s)からなる。
第4B図は、第2の出力駆動回路417が、ライン4゜1の出力信号によって従 来通りに制御された実施例を表している。この実施例ではトランジスタ407b は、比較的大型のトランジスタであり、ライン401の増加する電圧に応答して パッドを迅速にプルダウンさせる。出力駆動回路407は、小型のトランジスタ 407a及び407bを含む。制御デバイス501を通るフィードバックによっ てトランジスタ407bがターンオフされたとき、ライン408の電圧は、ライ ン401の高い電圧に応答してオン状態に留まっているトランジスタ407bに よって低状態に保持される。
第4E図は、ANDゲート502と組み合わされたマルチプレクサ503を有す る制御デバイス501の実施例を示している。ANDゲート502は、ライン4 08及びライン401からの入力信号を受け取る。これらの入力の何れもが低状 態のとき、ANDゲート5o2の出力は低状態となる。メモリセルMの論理1に よって、マルチプレクサ503は、ANDゲート502がらの人力信号を、トラ ンジスタ407bのゲートに伝達する。ライン408の信号が減少するに従って 、マルチプレクサ503の出力信号が減少し、トランジスタ407bが段階的に ターンオフされ、グランドの跳ね上がりが防止される。
メモリセルMが論理Oを記憶している場合、ライン4゜1の信号はトランジスタ 407bのゲートに直接印加され、従って、ライン408の電圧とは無関係にト ランジスタ407bを制御する。第4E図の実施例は、第3Δ図及び第3B図に 示された負荷デバイスの何れか一方を駆動するときに有効である。第3Δ図の負 荷デバイスを駆動するために、メモリセルMには論理Oが記憶されており、トラ ンジスタ407bはライン401の信号によって直接制御される。負荷デバイス が、第3B図に示されているような容量性負荷からなるとき、メモリセルMには 論理1がロードされており、ライン408の電圧が増加するに従って、マルチプ レクサ503がトランジスタ407bのゲート電圧を段階的に減少させる。
第4F図は、伝達ゲート504とプルダウン用トランジスタ506を有するAN Dゲート502の特定の実施例が示されている。プルダウン用トランジスタ50 6は、伝達ゲート504かオフしたときターンオンし、ライン401の信号か論 理Oの場合、ライン507のフローティング入力を防止する。ライン401の信 号が論理1に遷移したとき、及びライン408の電位がVSSに向かって変化す るとき、ライン507の低下する電圧がマルチプレクサ503を通過し、トラン ジスタ407bのゲートに印加されるので、電圧レベルVSSの変化が最小とな るように、このトランジスタ407bが段階的にターンオフする。トランジスタ 407bが十分にターンオフし、かつトランジスタ506がターンオフしている 場合、マルチプレクサ503とトランジスタ407 bのゲートを制御するライ ン507は、フロート状態に保たれることが注意される。しかし、トランジスタ 407bのゲートがトランジスタ407bを部分的にターンオフさせるために十 分に高い電圧である場合には、対応するライン408の電圧が減少することによ って、ライン507の電圧が再び減少する。即ち、中間の電圧即ちフロート状態 は許容されない。
第4G図は、第4F図の実施例が、第4D図に示された第2の出力駆動デバイス と組み合わされた実施例を表している。小型のトランジスタ417a及び417 bは、出力電圧を電源電圧またはグランド電位に保ち、第4F図の単一のステー ジで発生する出力電圧のドリフトを防止する。
第4H図は、グランド電位及び電源電圧の両方が、グランド電位のみに関して上 述されたような段階的なターンオフデバイスによって制御された他の実施例を表 している。
素子511〜516は、各々素子501〜506に対応している。
第4■図は、内部の電源vCC及びVSSの両方の跳ね上がりを減少させるため の他の回路を表している。第1の出力駆動回路447は、グランドに接続された Pチャネルトランジスタ447bと正の電圧源に接続されたNチャネルトランジ スタ447aを備えている点が、標準的なCMOSインバータとは異なる点であ る。この回路は、非反転バッファであり、出力電圧を電源電圧またはグランド電 位にプルアップまたはプルダウンするものではない。出力電圧を電源電圧または グランド電位にプルアップまたはプルダウンするために、2個の標準的なCMO Sインバータからなる小型の第2の駆動回路427が提供されている。回路42 7は、パッドの電位をVCCまたはVSSの何れかにプルアップまたはプルダウ ンするが、回路427のトランジスタは回路447のトランジスタよりも小型で あるために、回路427を流れる電流は小さく、この回路のグランドの跳ね上が りは小さい。回路447を流れる駆動電流は、出力電圧がその最終値に到達する 前に減少するので、第41図の回路のグランドの跳ね上がりを減少することがで きる。
実際に、グランド(及び電源)の跳ね上がりを最小にするために、始めの電流及 び終わりの電流の変化は共に緩やかでなければならない。本発明は、電流の立ち 下がりを緩やかにすることに関する。第5A図に示された従来の回路は、電流の 立ち上がりを緩やかにするので、電流の遷位期間の始めと終わりの両方でグラン ド電位の跳ね上がりが発生しない。この回路は、第4A図〜第4I図の回路の1 つと組み合わせて使用されることが好ましい。
第5B図は、第5A図の回路の好適なレイアウトを示している。407b等の出 力トランジスタは、並列接続されたトランジスタ407bl〜407b5の集合 として実施され、かつこれらのトランジスタのゲートは、単一のポリシリコンラ イン551として形成さ枳 このポリシリコンライン551は抵抗性であり、抵 抗R61〜R65として表されている。ゲート551と、トランジスタのソース 及びトレインが形成されたN拡散領域との間に、静電容量が形成されている。こ の静電容量は、静電容fltc61〜C65として表されている。抵抗及び静電 容量のこの組合せによって、トランジスタ407blのターンオンとトランジス タ407b5のターンオンとの間の遅れが形成される。
従って、トランジスタ407bをターンオンするときのグランド電位の跳ね上が りは、第5B図に示すようにトランジスタ407bをレイアウトすることによっ て最小にされる。
第5B図の従来技術の実施例と本発明との組合せた実施例の電圧、電流の特性が 、第6A図、第6B図及び第6C図に示されている。これらの曲線は各々、時間 の関数としての出力パッドの電圧、出力パッドの電流及び内部のグランド電位V  S S TNTを表している。第6C図の破線は、本発明が用いられない場合 に発生するグランド電位の跳ね上がりを表している。
これまで説明されたいくつかの実施例から、当業者には他の実施例も明かであり 、これら他の実施例も本発明の技術的視点を逸脱するものではない。
FIG、5A FIG、5B 補正書の翻訳文提出日 (特許法第184条の7第1項) 平成6年6月27甲

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.集積回路デバイスの電源電圧の変化を減少させる出力バッファ構造であって 、 出力端子(408)と、第1電源電圧を備えた第1電源端子(gnd)との間に 接続された電流端子を備えた少なくとも一個の出力駆動トランジスタ(407b )と、前記出力端子に第2電源電圧を供給するための手段(R1または407a )とを備えた出力駆動回路と、バッファされていない出力信号(401)と前記 出力端子(408)の電圧とに応答して、前記出力駆動トランジスタを制御する 手段(501または502)とを有することを特徴とする出力バッファ構造。
  2. 2.前記第2電源電圧を前記第2出力端子に供給する前記手段(R1または40 7a)が、第2出力駆動トランジスタ(407a)を有することを特徴とする請 求項1に記載の出力バッファ構造。
  3. 3.前記第2出力駆動トランジスタ(407a)を制御する手段(第4H図)を さらに有することを特徴とする請求項2に記載の出力バッファ構造。
  4. 4.前記出力駆動トランジスタを制御する手段を、前記バッファされていない出 力信号のみに応答させる手段(503及びM)をさらに有することを特徴とする 請求項1に記載の出力バッファ構造。
  5. 5.前記出力駆動トランジスタを制御する手段を、前記バッファされていない出 力信号のみに応答させる前記手段が、マルチプレクサ(503)と、 一方の曙子に前記出力端子からの出力信号を受信し、かつもう一方の端子に前記 バッファされていない出力信号を受信し、かつ前記マルチプレクサに信号を供給 する論理ゲート(502)とを有し、 前記マルチプレクサが、第1の状態で、前記論理ゲートからの前記出力信号を前 記出力駆動トランジスタの制御端子に伝達し、第2の状態で、前記バッファされ ていない出力信号を前記出力駆動トランジスタの前記制御端子に伝達することを 特徴とする請求項4に記載の出力バッファ構造。
  6. 6.前記マルチプレクサがメモリセルによって制御されていることを特徴とする 請求項5に記載の出力バッファ構造。
  7. 7.前記メモリセルがSRAMセルからなることを特徴とする請求項6に記載の 出力バッファ構造。
  8. 8.前記メモリセルが、電源に接続された少なくとも一つのアンチヒューズから なることを特徴とする請求項6に記載の出力バッファ構造。
  9. 9.前記メモリセルが、不揮発性EPROMセルからなることを特徴とする請求 項6に記載の出力バッファ構造。
  10. 10.前記メモリセルが、電源に接続された少なくとも一個の所望に応じて設け られるピアスからなることを特徴とする請求項6に記載の出力バッファ構造。
  11. 11.前記論理ゲートが、ANDゲートを有し、前記ANDゲートが、 前記バッファされていない出力信号に接続された制御端子と、前記出力駆動回路 の前記出力端子に接続された入力端子と、出力端子とを備えたCMOS伝達ゲー トと、前記CMOS伝達ゲートの前記出力端子に接続された電流端子と、グラン ドに接続された他の電流端子と、インバータを通して前記バッファされていない 出力信号に接続された制御端子とを備えたプルダウン用トランジスタとを有する ことを特徴とする請求項5に記載の出力バッファ構造。
  12. 12.前記出力端子(408)と、前記第1電源端子との間に接続された電流端 子と、前記バッファされていない出力信号によって制御された制御端子とを備え た少なくとも一個の第2出力駆動トランジスタ(417b)を有する第2出力駆 動回路をさらに有することを特徴とする請求項1に記載の出力バッファ構造。
JP6511124A 1992-11-05 1993-10-19 負荷に応じてプログラム可能な出力バッファ構造 Pending JPH07502135A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US973,365 1992-11-05
US07/973,365 US5319252A (en) 1992-11-05 1992-11-05 Load programmable output buffer
PCT/US1993/009951 WO1994010622A1 (en) 1992-11-05 1993-10-19 Load programmable output buffer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07502135A true JPH07502135A (ja) 1995-03-02

Family

ID=25520820

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6511124A Pending JPH07502135A (ja) 1992-11-05 1993-10-19 負荷に応じてプログラム可能な出力バッファ構造

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5319252A (ja)
EP (1) EP0625273A4 (ja)
JP (1) JPH07502135A (ja)
WO (1) WO1994010622A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009177296A (ja) * 2008-01-22 2009-08-06 Seiko Epson Corp 出力回路、出力方法、出力回路の製造方法、および電子機器
JP2011244149A (ja) * 2010-05-17 2011-12-01 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 信号出力回路

Families Citing this family (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4233850C1 (de) * 1992-10-08 1994-06-23 Itt Ind Gmbh Deutsche Schaltungsanordnung zur Stromeinstellung eines monolithisch integrierten Padtreibers
US5657456A (en) * 1993-06-18 1997-08-12 Digital Equipment Corporation Semiconductor process power supply voltage and temperature compensated integrated system bus driver rise and fall time
US5751167A (en) * 1993-08-16 1998-05-12 Nec Corporation CMOS output buffer circuit which converts CMOS logic signals to ECL logic signals and which discharges parasitic load capacitances
US5581199A (en) * 1995-01-04 1996-12-03 Xilinx, Inc. Interconnect architecture for field programmable gate array using variable length conductors
US5625301A (en) * 1995-05-18 1997-04-29 Actel Corporation Flexible FPGA input/output architecture
US5656960A (en) * 1995-05-30 1997-08-12 National Semiconductor Corporation Controlled slope output buffer
KR100368120B1 (ko) * 1995-08-24 2003-03-31 삼성전자 주식회사 반도체메모리장치의데이타출력드라이버
JPH11512572A (ja) * 1995-09-01 1999-10-26 アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッド 共有された中間ノードを組込む出力バッファ
US5717343A (en) * 1996-07-23 1998-02-10 Pericom Semiconductor Corp. High-drive CMOS output buffer with noise supression using pulsed drivers and neighbor-sensing
US5963047A (en) * 1996-07-23 1999-10-05 Pericom Semiconductor Corp. Noise supression using neighbor-sensing for a CMOS output buffer with a large DC current sink
US5732027A (en) * 1996-12-30 1998-03-24 Cypress Semiconductor Corporation Memory having selectable output strength
JP2894328B2 (ja) * 1997-06-20 1999-05-24 日本電気株式会社 Esd保護回路
US6118324A (en) * 1997-06-30 2000-09-12 Xilinx, Inc. Output driver with reduced ground bounce
SE509375C2 (sv) * 1997-09-10 1999-01-18 Artektron Ab Förfarande och anordning för att med avrundat strömförlopp styra ett halvledarorgan samt användning av anordningen för spänningspulstidrelaterad effektstyrning
US6363505B1 (en) 1997-11-14 2002-03-26 Altera Corporation Programmable control circuit for grounding unused outputs
US6175598B1 (en) * 1998-03-02 2001-01-16 Eon Silicon Devices, Inc. Output noise control scheme for multiple I/O's
US6172525B1 (en) 1998-05-07 2001-01-09 Philips Electronics North America Corporation Interface circuit with slew rate control
US6380770B1 (en) 1998-10-08 2002-04-30 National Semiconductor Corporation Low ground bounce and low power supply bounce output driver with dual, interlocked, asymmetric delay lines
US6184729B1 (en) * 1998-10-08 2001-02-06 National Semiconductor Corporation Low ground bounce and low power supply bounce output driver
JP2000124789A (ja) * 1998-10-16 2000-04-28 Mitsubishi Electric Corp バッファ回路
US6356102B1 (en) 1998-11-13 2002-03-12 Integrated Device Technology, Inc. Integrated circuit output buffers having control circuits therein that utilize output signal feedback to control pull-up and pull-down time intervals
US6242942B1 (en) 1998-11-13 2001-06-05 Integrated Device Technology, Inc. Integrated circuit output buffers having feedback switches therein for reducing simultaneous switching noise and improving impedance matching characteristics
US6091260A (en) * 1998-11-13 2000-07-18 Integrated Device Technology, Inc. Integrated circuit output buffers having low propagation delay and improved noise characteristics
US6184730B1 (en) 1999-11-03 2001-02-06 Pericom Semiconductor Corp. CMOS output buffer with negative feedback dynamic-drive control and dual P,N active-termination transmission gates
US6362665B1 (en) * 1999-11-19 2002-03-26 Intersil Americas Inc. Backwards drivable MOS output driver
US6487648B1 (en) 1999-12-15 2002-11-26 Xilinx, Inc. SDRAM controller implemented in a PLD
US6351159B1 (en) * 2000-08-08 2002-02-26 Micron Technology, Inc. Gate coupled voltage support for an output driver circuit
JP3980431B2 (ja) * 2002-07-19 2007-09-26 Necエレクトロニクス株式会社 バッファ回路とバッファツリー及び半導体装置
US7075356B2 (en) * 2003-02-14 2006-07-11 Autonetworks Technologies, Ltd. Charge pump circuit
US7888962B1 (en) 2004-07-07 2011-02-15 Cypress Semiconductor Corporation Impedance matching circuit
US7271626B1 (en) * 2004-10-27 2007-09-18 National Semiconductor Corporation Suppression of parasitic ringing at the output of a switched capacitor DC/DC converter
US8036846B1 (en) 2005-10-20 2011-10-11 Cypress Semiconductor Corporation Variable impedance sense architecture and method
TWI328157B (en) * 2006-08-31 2010-08-01 Asustek Comp Inc Transient voltage compensation apparatus and switching power using the same
US7876133B1 (en) 2006-09-27 2011-01-25 Cypress Semiconductor Corporation Output buffer circuit
TWI511442B (zh) * 2012-12-24 2015-12-01 Novatek Microelectronics Corp 資料控制電路

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0628335B2 (ja) * 1984-12-27 1994-04-13 沖電気工業株式会社 駆動回路
JPH01138813A (ja) * 1987-11-26 1989-05-31 Toshiba Corp Ecl―cmosレベル変換回路
KR900008436B1 (ko) * 1987-12-08 1990-11-20 삼성반도체통신 주식회사 듀얼 슬로프 파형 발생회로
JP2697024B2 (ja) * 1988-11-15 1998-01-14 日本電気株式会社 出力回路
JP2745619B2 (ja) * 1989-01-13 1998-04-28 日本電気株式会社 出力回路
IT1243676B (it) * 1990-07-19 1994-06-21 Sgs Thomson Microelectronics Stadio d'ingresso pluricompatibile particolarmente per porte logiche in circuiti integrati
JP2796644B2 (ja) * 1990-09-20 1998-09-10 三菱電機株式会社 半導体論理回路装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009177296A (ja) * 2008-01-22 2009-08-06 Seiko Epson Corp 出力回路、出力方法、出力回路の製造方法、および電子機器
JP2011244149A (ja) * 2010-05-17 2011-12-01 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 信号出力回路

Also Published As

Publication number Publication date
EP0625273A1 (en) 1994-11-23
US5319252A (en) 1994-06-07
EP0625273A4 (en) 1997-04-16
WO1994010622A1 (en) 1994-05-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH07502135A (ja) 負荷に応じてプログラム可能な出力バッファ構造
US5013940A (en) Multi stage slew control for an IC output circuit
KR900005460B1 (ko) 저잡음 고출력 버퍼회로
EP0329285B1 (en) Output buffer
US5894238A (en) Output buffer with static and transient pull-up and pull-down drivers
EP0493873B1 (en) CMOS output buffer circuit with ground bounce reduction
EP0533340A2 (en) Output driver circuits
US6624672B2 (en) Output buffer with constant switching current
JPH08501909A (ja) 集積回路出力バッファのグランド・バウンスを減らすためのシステム並びに方法
US4782252A (en) Output current control circuit for reducing ground bounce noise
US6121789A (en) Output buffer with control circuitry
US6064230A (en) Process compensated output driver with slew rate control
JP5184326B2 (ja) 低電圧での能力を備えた高速出力回路
JPH05243940A (ja) 出力バッファ装置
US5334885A (en) Automatic control of buffer speed
US5059823A (en) Supply bounce controlled output buffer circuit
US5777496A (en) Circuit for preventing more than one transistor from conducting
JP2724331B2 (ja) Ttl出力ドライバゲート構成
KR100971990B1 (ko) 논리회로 및 반도체장치
US5254890A (en) Ground bouncing reducing circuit and method
EP0296508A2 (en) FET capacitance driver logic circuit
EP1389833B1 (en) Method and circuit for reducing hot-carrier injection stress
KR100502677B1 (ko) 반도체 메모리 소자의 출력 버퍼
JP4680423B2 (ja) 出力回路
JPH03123219A (ja) 半導体集積回路