JPH0743636Y2 - So▲下2▼ガス分析装置 - Google Patents
So▲下2▼ガス分析装置Info
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- JPH0743636Y2 JPH0743636Y2 JP1987041164U JP4116487U JPH0743636Y2 JP H0743636 Y2 JPH0743636 Y2 JP H0743636Y2 JP 1987041164 U JP1987041164 U JP 1987041164U JP 4116487 U JP4116487 U JP 4116487U JP H0743636 Y2 JPH0743636 Y2 JP H0743636Y2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0004—Gaseous mixtures, e.g. polluted air
- G01N33/0009—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
- G01N33/0011—Sample conditioning
- G01N33/0014—Sample conditioning by eliminating a gas
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- G01N33/0027—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the detector
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- G01N33/0042—SO2 or SO3
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02A—TECHNOLOGIES FOR ADAPTATION TO CLIMATE CHANGE
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Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、例えば大気あるいは工場排気などの試料ガス
中に含まれるSO2ガスの濃度を測定するためのSO2ガス分
析装置、詳しくは、サンプルラインにおけるSO2ガス分
析部よりも前段側に、SO2ガスに対する干渉ガスを選択
的に透過させ得る高分子膜を用いて形成した試料ガス流
路管を設けると共に、その試料ガス流路管の外周囲にパ
ージ用ガスを流動させるためのパージラインを設け、か
つ、前記サンプルラインとパージラインとに共通の吸引
ポンプを設けて構成されているSO2ガス分析装置の改良
に関する。
中に含まれるSO2ガスの濃度を測定するためのSO2ガス分
析装置、詳しくは、サンプルラインにおけるSO2ガス分
析部よりも前段側に、SO2ガスに対する干渉ガスを選択
的に透過させ得る高分子膜を用いて形成した試料ガス流
路管を設けると共に、その試料ガス流路管の外周囲にパ
ージ用ガスを流動させるためのパージラインを設け、か
つ、前記サンプルラインとパージラインとに共通の吸引
ポンプを設けて構成されているSO2ガス分析装置の改良
に関する。
この種のSO2ガス分析装置においては、一般に、UVF法
(紫外螢光法)、つまり、試料ガスに紫外線を照射して
それに含まれるSO2ガスに螢光を発せしめ、その螢光強
度を測定するという手段が採用されている。ところが、
前記したような試料ガス中には、測定対象であるSO2ガ
スと同様に紫外線を受けて螢光を発する性質を有するガ
ス(例えば、エチルベンゼン,キシレン,ナフタレン等
の芳香族炭化水素類など)が含まれていることが多く、
従って、SO2ガスの測定に際してはこれらのガスがSO2ガ
スに対する干渉ガスとして作用するために、測定精度が
大きく低下してしまうことになる。従って、試料ガスを
SO2ガス分析部へ供給するに先立って、その試料ガスか
ら前記のような干渉ガスを予め除去しておく必要があ
る。
(紫外螢光法)、つまり、試料ガスに紫外線を照射して
それに含まれるSO2ガスに螢光を発せしめ、その螢光強
度を測定するという手段が採用されている。ところが、
前記したような試料ガス中には、測定対象であるSO2ガ
スと同様に紫外線を受けて螢光を発する性質を有するガ
ス(例えば、エチルベンゼン,キシレン,ナフタレン等
の芳香族炭化水素類など)が含まれていることが多く、
従って、SO2ガスの測定に際してはこれらのガスがSO2ガ
スに対する干渉ガスとして作用するために、測定精度が
大きく低下してしまうことになる。従って、試料ガスを
SO2ガス分析部へ供給するに先立って、その試料ガスか
ら前記のような干渉ガスを予め除去しておく必要があ
る。
そこで、従来のSO2ガス分析装置は、第3図に示すよう
に、試料ガス導入口1,フィルター2,SO2ガス分析部3,流
量計4,試料ガス流量流量制御用のニードル弁5,吸引ポン
プ6,試料ガス導出口7等をこの順に配列してサンプルラ
インSを形成する一方、前記サンプルラインSにおける
SO2ガス分析部3よりも前段側に、SO2ガスに対する干渉
ガスとなる芳香族炭化水素類を選択性に透過させ得る高
分子膜を用いて形成した前処理手段としての試料ガス流
路管8を設けると共に、その試料ガス流路管8の外周囲
にパージ用ガスを流動させるためのパージガスチャンバ
ー9を形成し、そして、このチャンバー9内に清浄化空
気を流動させるように、パージ用ガスとしての外部空気
の取入れ口10,フィルター11,流量計12,キャピラリー13,
炭化水素類等の不純物を酸化除去するための加熱触媒装
置14等をこの順に配列して成るパージガス導入流路15を
介して清浄化空気を導入し、かつ、そのパージガスチャ
ンバー9から前記サンプルラインSにおける試料ガス流
量制御用ニードル弁5よりも後段側に至るパージガス導
出流路16を設けてパージラインPを形成する、という基
本構成が採用されていた。
に、試料ガス導入口1,フィルター2,SO2ガス分析部3,流
量計4,試料ガス流量流量制御用のニードル弁5,吸引ポン
プ6,試料ガス導出口7等をこの順に配列してサンプルラ
インSを形成する一方、前記サンプルラインSにおける
SO2ガス分析部3よりも前段側に、SO2ガスに対する干渉
ガスとなる芳香族炭化水素類を選択性に透過させ得る高
分子膜を用いて形成した前処理手段としての試料ガス流
路管8を設けると共に、その試料ガス流路管8の外周囲
にパージ用ガスを流動させるためのパージガスチャンバ
ー9を形成し、そして、このチャンバー9内に清浄化空
気を流動させるように、パージ用ガスとしての外部空気
の取入れ口10,フィルター11,流量計12,キャピラリー13,
炭化水素類等の不純物を酸化除去するための加熱触媒装
置14等をこの順に配列して成るパージガス導入流路15を
介して清浄化空気を導入し、かつ、そのパージガスチャ
ンバー9から前記サンプルラインSにおける試料ガス流
量制御用ニードル弁5よりも後段側に至るパージガス導
出流路16を設けてパージラインPを形成する、という基
本構成が採用されていた。
しかしながら、上記従来構成のSO2ガス分析装置におい
ては、次のような問題があった。
ては、次のような問題があった。
即ち、前記SO2ガス分析部3へ供給される試料ガスに対
する前処理手段としての高分子膜製試料ガス流路管8に
よる干渉ガスの除去能力は、試料ガスおよびパージ用ガ
スの流量によって大きく変化する、という問題がある。
する前処理手段としての高分子膜製試料ガス流路管8に
よる干渉ガスの除去能力は、試料ガスおよびパージ用ガ
スの流量によって大きく変化する、という問題がある。
それは、第4図および第5図に模式的に例示している試
料ガス流量およびパージ用ガス流量による前記試料ガス
流路管8の各流量影響特性図から明らかなように、パー
ジ用ガスの流量が一定の場合には、試料ガスの流量が大
きいほど干渉ガスの透過率が小さくなり、逆に、試料ガ
スの流量が一定の場合には、パージ用ガスの流量が大き
いほど干渉ガスの透過率が大きくなる、という顕著な傾
向があるためである。
料ガス流量およびパージ用ガス流量による前記試料ガス
流路管8の各流量影響特性図から明らかなように、パー
ジ用ガスの流量が一定の場合には、試料ガスの流量が大
きいほど干渉ガスの透過率が小さくなり、逆に、試料ガ
スの流量が一定の場合には、パージ用ガスの流量が大き
いほど干渉ガスの透過率が大きくなる、という顕著な傾
向があるためである。
また、測定対象成分であるSO2ガス自体も、極く僅かで
はあるものの、前記試料ガス流路管8を透過するため、
その損失が発生するが、その試料ガス流路管8によるSO
2ガス損失率も、前記干渉ガスと同様に、試料ガスおよ
びパージ用ガスの流量によって変化する。
はあるものの、前記試料ガス流路管8を透過するため、
その損失が発生するが、その試料ガス流路管8によるSO
2ガス損失率も、前記干渉ガスと同様に、試料ガスおよ
びパージ用ガスの流量によって変化する。
それは、SO2ガスの試料ガス流路管8に対する透過率
が、前記干渉ガスの透過率に比べれば量的には極端に小
さいが、前記第4図および第5図に示した流量影響特性
と略同じ傾向を有するためである。
が、前記干渉ガスの透過率に比べれば量的には極端に小
さいが、前記第4図および第5図に示した流量影響特性
と略同じ傾向を有するためである。
一方、前記サンプルラインSおよびパージラインPに対
して共通に設けられている吸引ポンプ6は、第6図に示
すように、温度変化により大きくその能力が変化する性
質を有しているのみならず、それ自体の劣化による経時
的な能力低下が生じることは避けられない。
して共通に設けられている吸引ポンプ6は、第6図に示
すように、温度変化により大きくその能力が変化する性
質を有しているのみならず、それ自体の劣化による経時
的な能力低下が生じることは避けられない。
而して、前記したような基本構成を有するSO2ガス分析
装置においては、温度影響や経時的な劣化に伴う吸引ポ
ンプ6の能力変化が生じると、原理的に、サンプルライ
ンSおよびパージラインPにおける流量が各別に(つま
り、互いに異なる割合で)変化することとなって、その
結果、前記試料ガス流路管8による干渉ガスの除去能力
および測定対象成分(SO2ガス)の損失率が大きく変化
するために、測定精度が大幅に低下してしまう。
装置においては、温度影響や経時的な劣化に伴う吸引ポ
ンプ6の能力変化が生じると、原理的に、サンプルライ
ンSおよびパージラインPにおける流量が各別に(つま
り、互いに異なる割合で)変化することとなって、その
結果、前記試料ガス流路管8による干渉ガスの除去能力
および測定対象成分(SO2ガス)の損失率が大きく変化
するために、測定精度が大幅に低下してしまう。
そこで、かかる流量影響による測定精度の低下という欠
点を補償するために、従来は、前記吸引ポンプ6として
非常に大容量のものを用い、かつ、前記第3図において
点線で示しているらうに、ダミーガスとしての外部空気
の取入れ口17,フィルター18,ダミーガス流量制御用チェ
ックバルブ19等をこの順に配列して成るダミーガスライ
ンDを、前記吸引ポンプ6の直前に接続すると共に、そ
の吸引ポンプ6の直前における圧力を一定に維持するよ
うに、前記チェックバルブ19により圧力(圧力スイッチ
20)の制御を行うことによって、吸引ポンプ6の能力が
多少変化したとしても、その変化分をダミーガスの流量
調整によって補償するとか、あるいは、吸引ポンプ6の
能力が多少変化したとしても、前記サンプルラインSお
よびパージラインPにおける流量を共に常時一定に維持
できるように、音速ノズルまたは調圧装置などの格別な
機構(図示せず)を付加する、といった対策を講じてい
たが、何れの場合にも、大容量の吸引ポンプ6を必要と
したり、あるいは、複雑な調圧装置などを設けなければ
ならないために、装置全体が大型化すると共に、コスト
面でも非常に不利であった。
点を補償するために、従来は、前記吸引ポンプ6として
非常に大容量のものを用い、かつ、前記第3図において
点線で示しているらうに、ダミーガスとしての外部空気
の取入れ口17,フィルター18,ダミーガス流量制御用チェ
ックバルブ19等をこの順に配列して成るダミーガスライ
ンDを、前記吸引ポンプ6の直前に接続すると共に、そ
の吸引ポンプ6の直前における圧力を一定に維持するよ
うに、前記チェックバルブ19により圧力(圧力スイッチ
20)の制御を行うことによって、吸引ポンプ6の能力が
多少変化したとしても、その変化分をダミーガスの流量
調整によって補償するとか、あるいは、吸引ポンプ6の
能力が多少変化したとしても、前記サンプルラインSお
よびパージラインPにおける流量を共に常時一定に維持
できるように、音速ノズルまたは調圧装置などの格別な
機構(図示せず)を付加する、といった対策を講じてい
たが、何れの場合にも、大容量の吸引ポンプ6を必要と
したり、あるいは、複雑な調圧装置などを設けなければ
ならないために、装置全体が大型化すると共に、コスト
面でも非常に不利であった。
本考案は、かかる従来実情に鑑みてなされたものであっ
て、その目的は、十分に小容量の吸引ポンプを使用で
き、しかも、ダミーガスラインあるいは音速ノズルまた
は調圧装置などの格別な機構を設けることが不要で、非
常にシンプルかつコンパクトで安価に構成できるもので
ありながら、温度影響や経時的な劣化に伴う吸引ポンプ
の能力変化等に起因する流量影響を受けること無く、常
に精度の良い測定を行えるSO2ガス分析装置を開発・提
供せんとすることにある。
て、その目的は、十分に小容量の吸引ポンプを使用で
き、しかも、ダミーガスラインあるいは音速ノズルまた
は調圧装置などの格別な機構を設けることが不要で、非
常にシンプルかつコンパクトで安価に構成できるもので
ありながら、温度影響や経時的な劣化に伴う吸引ポンプ
の能力変化等に起因する流量影響を受けること無く、常
に精度の良い測定を行えるSO2ガス分析装置を開発・提
供せんとすることにある。
本考案は、上記目的を達成するための手段を以下のよう
に構成している。
に構成している。
すなわち、SO2ガス分析部に接続されるサンプルライン
におけるそのSO2ガス分析部の前段に、SO2ガスに対する
干渉ガスを選択的に透過させ得る高分子膜を用いて形成
した試料ガス流路管を設けると共に、その試料ガス流路
管の外周囲にパージ用ガスを流動させるためのパージラ
インを設け、かつ前記サンプルラインとパージラインと
を前記SO2ガス分析部の下流側で合流させて排出ライン
に接続し、その排出ラインに吸引ポンプを設けると共
に、その排出ラインにおける前記サンプルラインおよび
パージラインの合流接続点と前記吸引ポンプとの間に流
量制御手段を設けてあることを特徴としている。
におけるそのSO2ガス分析部の前段に、SO2ガスに対する
干渉ガスを選択的に透過させ得る高分子膜を用いて形成
した試料ガス流路管を設けると共に、その試料ガス流路
管の外周囲にパージ用ガスを流動させるためのパージラ
インを設け、かつ前記サンプルラインとパージラインと
を前記SO2ガス分析部の下流側で合流させて排出ライン
に接続し、その排出ラインに吸引ポンプを設けると共
に、その排出ラインにおける前記サンプルラインおよび
パージラインの合流接続点と前記吸引ポンプとの間に流
量制御手段を設けてあることを特徴としている。
かかる特徴構成故に発揮される作用は次の通りである。
即ち、上記本考案は、先に説明した第4図および第5図
に示す各流量影響特性を詳細に検討した結果、前記前処
理手段としての高分子膜製試料ガス流路管による干渉ガ
スの除去能力および測定対象成分であるSO2ガスの損失
率(つまり、透過率)は、試料ガス流量とパージガス流
量とで単に逆傾向の特性を示すのみならず、試料ガス流
量に関する透過率の変化率とパージガス流量に関する透
過率の変化率とが、互いに相殺し合う関係にある(+−
が異なるが数字的には略等しい)、という事実を発見
し、その発見的事実に基いてなされたものである。
に示す各流量影響特性を詳細に検討した結果、前記前処
理手段としての高分子膜製試料ガス流路管による干渉ガ
スの除去能力および測定対象成分であるSO2ガスの損失
率(つまり、透過率)は、試料ガス流量とパージガス流
量とで単に逆傾向の特性を示すのみならず、試料ガス流
量に関する透過率の変化率とパージガス流量に関する透
過率の変化率とが、互いに相殺し合う関係にある(+−
が異なるが数字的には略等しい)、という事実を発見
し、その発見的事実に基いてなされたものである。
而して、本考案によるSO2ガス分析装置においては、前
記第3図に示した従来装置の如くサンプルラインのみに
流量制御手段(ニードル弁)を設けるのでは無く、後述
する実施例の記載からも一層明らかなとなるように、サ
ンプルラインおよびパージラインに対して同時に作用す
る共通の流量制御手段を設ける、という極く簡素な構造
改良を施すのみでありながら、たとえ温度影響や経時的
な劣化に伴う吸引ポンプの能力変化等による流量変化が
生じたとしても、サンプルラインおよびパージラインに
おける流量は比較的に(同じ割合で)変化することとな
って、サンプルラインにおける試料ガス流量変化に起因
して生じる透過率変化と、パージラインにおけるパージ
ガス流量変化に起因する透過率変化とが、互いに相殺し
合うようになり、その結果、従来のように大容量の吸引
ポンプを用いたりダミーガスラインあるいは音速ノズル
または調圧装置などの格別な機構を設けるといった大規
模かつ不経済な対策を講じなくても、流量影響による透
過率(つまり、干渉ガス除去能力および測定対象成分で
あるSO2ガス損失率)変化が殆ど表れないようにでき
る。
記第3図に示した従来装置の如くサンプルラインのみに
流量制御手段(ニードル弁)を設けるのでは無く、後述
する実施例の記載からも一層明らかなとなるように、サ
ンプルラインおよびパージラインに対して同時に作用す
る共通の流量制御手段を設ける、という極く簡素な構造
改良を施すのみでありながら、たとえ温度影響や経時的
な劣化に伴う吸引ポンプの能力変化等による流量変化が
生じたとしても、サンプルラインおよびパージラインに
おける流量は比較的に(同じ割合で)変化することとな
って、サンプルラインにおける試料ガス流量変化に起因
して生じる透過率変化と、パージラインにおけるパージ
ガス流量変化に起因する透過率変化とが、互いに相殺し
合うようになり、その結果、従来のように大容量の吸引
ポンプを用いたりダミーガスラインあるいは音速ノズル
または調圧装置などの格別な機構を設けるといった大規
模かつ不経済な対策を講じなくても、流量影響による透
過率(つまり、干渉ガス除去能力および測定対象成分で
あるSO2ガス損失率)変化が殆ど表れないようにでき
る。
従って、上記本考案によるSO2ガス分析装置は、十分に
小容量の吸引ポンプを使用して非常にシンプルかつコン
パクトで安価に構成できるものでありながら、温度影響
や経時的な劣化に伴う吸引ポンプの能力変化等に起因す
る流量影響を殆ど受けること無く、常に優れた測定精度
を確保できるものとなった。
小容量の吸引ポンプを使用して非常にシンプルかつコン
パクトで安価に構成できるものでありながら、温度影響
や経時的な劣化に伴う吸引ポンプの能力変化等に起因す
る流量影響を殆ど受けること無く、常に優れた測定精度
を確保できるものとなった。
以下、本考案に係るSO2ガス分析装置の一具体的実施例
を図面(第1図および第2図)に基いて説明する。
を図面(第1図および第2図)に基いて説明する。
即ち、第1図に示すように、試料ガス導入口1,フィルタ
ー2,UVF法(紫外螢光法)に基づくSO2ガス分析部3,流量
計4,キャピラリーC,後で詳述するところの流量制御手段
V(例えばニードル弁),吸引ポンプ6,試料ガス導出口
7等をこの順に配列してサンプルラインSを形成する一
方、前記サンプルラインSにおけるSO2ガス分析部3よ
りも前段側に、SO2ガスに対する干渉ガスとなる芳香族
炭化水素類を選択性に透過させ得る高分子膜(例えばポ
リシロキサン、特にポリメチルビニルシロキサンを主成
分とする高分子膜)製の円管体を用いて形成した前処理
手段としての試料ガス流路管8を設けると共に、その試
料ガス流路管8の外周囲にパージ用ガスを流動させるた
めのパージガスチャンバー9を形成し、そして、このチ
ャンバー9内に前記流路管8内における試料ガスの圧力
(通常は略大気圧)よりも低圧となるように、例えば0.
1〜0.2Kg/cm2程度減圧されたパージ用ガス(この例では
清浄化空気)を流動させるべく、外部空気取入れ口10,
フィルター11,流量計12,キャピラリー13,炭化水素類等
の不純物を酸化除去するための加熱触媒装置14等をこの
順に配列して成るパージガス導入流路15を介して清浄化
空気を導入し、かつ、そのパージガスチャンバー9から
前記サンプルラインSに設けられた流量制御手段Vより
も前段側に至るパージガス導出流路16を設けてパージラ
インPを形成してある。
ー2,UVF法(紫外螢光法)に基づくSO2ガス分析部3,流量
計4,キャピラリーC,後で詳述するところの流量制御手段
V(例えばニードル弁),吸引ポンプ6,試料ガス導出口
7等をこの順に配列してサンプルラインSを形成する一
方、前記サンプルラインSにおけるSO2ガス分析部3よ
りも前段側に、SO2ガスに対する干渉ガスとなる芳香族
炭化水素類を選択性に透過させ得る高分子膜(例えばポ
リシロキサン、特にポリメチルビニルシロキサンを主成
分とする高分子膜)製の円管体を用いて形成した前処理
手段としての試料ガス流路管8を設けると共に、その試
料ガス流路管8の外周囲にパージ用ガスを流動させるた
めのパージガスチャンバー9を形成し、そして、このチ
ャンバー9内に前記流路管8内における試料ガスの圧力
(通常は略大気圧)よりも低圧となるように、例えば0.
1〜0.2Kg/cm2程度減圧されたパージ用ガス(この例では
清浄化空気)を流動させるべく、外部空気取入れ口10,
フィルター11,流量計12,キャピラリー13,炭化水素類等
の不純物を酸化除去するための加熱触媒装置14等をこの
順に配列して成るパージガス導入流路15を介して清浄化
空気を導入し、かつ、そのパージガスチャンバー9から
前記サンプルラインSに設けられた流量制御手段Vより
も前段側に至るパージガス導出流路16を設けてパージラ
インPを形成してある。
つまり、サンプルラインSとパージラインPとをSO2ガ
ス分析部3の下流側で合流させて排出ラインEに接続
し、その排出ラインEに吸引ポンプ6を設けると共に、
その排出ラインEにおけるサンプルラインSおよびパー
ジラインPの合流接続点Jと前記吸引ポンプ6との間に
流量制御手段Vを設け、その流量制御手段Vがサンプル
ラインSおよびパージラインPに対して同時に作用する
ように構成してある。
ス分析部3の下流側で合流させて排出ラインEに接続
し、その排出ラインEに吸引ポンプ6を設けると共に、
その排出ラインEにおけるサンプルラインSおよびパー
ジラインPの合流接続点Jと前記吸引ポンプ6との間に
流量制御手段Vを設け、その流量制御手段Vがサンプル
ラインSおよびパージラインPに対して同時に作用する
ように構成してある。
かかる構成によれば、たとえ温度影響や経時的な劣化に
伴う吸引ポンプ6の能力変化等による流量変化が生じた
としても、サンプルラインSおよびパージラインPにお
ける流量は比例的に(同じ割合で)変化し、常に試料ガ
スとパージ用ガスの流量比が一定に保持されることとな
る。従って、サンプルラインSにおける試料ガス流量変
化に起因して生じる透過率変化(先に説明した第4図の
流量特性に基く変化)と、パージラインPにおけるパー
ジガス流量変化に起因する透過率変化(先に説明した第
5図の流量特性に基く変化)とが、互いに相殺し合い、
その結果、このSO2ガス分析装置全体としての流量特性
は第2図に示すようなフラットなものとなる(これは、
前記第4図と第5図を合成したものにほかならない)。
従って、吸引ポンプ6の能力変化等による多少の流量変
化が生じたとしても、それによる測定誤差は殆ど生じる
ことは無く、また、サンプルラインSおよびパージライ
ンPにおける流量を初期設定値に復帰させるに際して
も、前記ひとつの(共通の)流量制御手段Vを操作する
だけで、非常に容易に行うことができる。
伴う吸引ポンプ6の能力変化等による流量変化が生じた
としても、サンプルラインSおよびパージラインPにお
ける流量は比例的に(同じ割合で)変化し、常に試料ガ
スとパージ用ガスの流量比が一定に保持されることとな
る。従って、サンプルラインSにおける試料ガス流量変
化に起因して生じる透過率変化(先に説明した第4図の
流量特性に基く変化)と、パージラインPにおけるパー
ジガス流量変化に起因する透過率変化(先に説明した第
5図の流量特性に基く変化)とが、互いに相殺し合い、
その結果、このSO2ガス分析装置全体としての流量特性
は第2図に示すようなフラットなものとなる(これは、
前記第4図と第5図を合成したものにほかならない)。
従って、吸引ポンプ6の能力変化等による多少の流量変
化が生じたとしても、それによる測定誤差は殆ど生じる
ことは無く、また、サンプルラインSおよびパージライ
ンPにおける流量を初期設定値に復帰させるに際して
も、前記ひとつの(共通の)流量制御手段Vを操作する
だけで、非常に容易に行うことができる。
尚、図中21,22は、前記吸引ポンプ6の直前に接続され
たキャピラリーおよび圧力スイッチであって、その圧力
スイッチ22による検出結果に基いて、吸引ポンプ6の直
前における圧力を一定に維持するように、前記流量制御
手段V(ニードル弁)を自動制御可能に構成されてい
る。
たキャピラリーおよび圧力スイッチであって、その圧力
スイッチ22による検出結果に基いて、吸引ポンプ6の直
前における圧力を一定に維持するように、前記流量制御
手段V(ニードル弁)を自動制御可能に構成されてい
る。
以上詳述したところから明らかなように、本考案に係る
SO2ガス分析装置によれば、サンプルラインおよびパー
ジラインに対して同時に作用する共通の流量制御手段を
設ける、という極く簡素な構造改良を施すのみでありな
がら、たとえ温度影響や経時的な劣化に伴う吸引ポンプ
の能力変化等による流量変化が生じたとしても、サンプ
ルラインおよびパージラインにおける流量は比例的に
(同じ割合で)変化することとなって、サンプルライン
における試料ガス流量変化に起因して生じる透過率変化
と、パージラインにおけるパージガス流量変化に起因す
る透過率変化とが、互いに相殺し合うようになり、その
結果、従来のように大容量の吸引ポンプを用いたりダミ
ーガスラインあるいは音速ノズルまたは調圧装置などの
格別な機構を設けるといった大規模かつ不経済な対策を
講じなくても、流量影響による透過率(つまり、干渉ガ
ス除去能力および測定対象成分であるSO2ガス損失率)
変化が殆ど表れないようにでき、以って、十分に小容量
の吸引ポンプを使用して非常にシンプルかつコンパクト
で安価に構成できながら大幅な測定精度の向上を達成で
きる、という実用上極めて優れた効果が発揮される。
SO2ガス分析装置によれば、サンプルラインおよびパー
ジラインに対して同時に作用する共通の流量制御手段を
設ける、という極く簡素な構造改良を施すのみでありな
がら、たとえ温度影響や経時的な劣化に伴う吸引ポンプ
の能力変化等による流量変化が生じたとしても、サンプ
ルラインおよびパージラインにおける流量は比例的に
(同じ割合で)変化することとなって、サンプルライン
における試料ガス流量変化に起因して生じる透過率変化
と、パージラインにおけるパージガス流量変化に起因す
る透過率変化とが、互いに相殺し合うようになり、その
結果、従来のように大容量の吸引ポンプを用いたりダミ
ーガスラインあるいは音速ノズルまたは調圧装置などの
格別な機構を設けるといった大規模かつ不経済な対策を
講じなくても、流量影響による透過率(つまり、干渉ガ
ス除去能力および測定対象成分であるSO2ガス損失率)
変化が殆ど表れないようにでき、以って、十分に小容量
の吸引ポンプを使用して非常にシンプルかつコンパクト
で安価に構成できながら大幅な測定精度の向上を達成で
きる、という実用上極めて優れた効果が発揮される。
第1図および第2図は、本考案に係るSO2ガス分析装置
の一具体的実施例を示し、第1図は全体概略構成図であ
り、そして、第2図は作用を説明するための模式的流量
特性図である。 また、第3図ないし第6図は、本考案の技術的背景なら
びに従来技術の問題点を説明するためのものであって、
第3図は従来構成のSO2ガス分析装置の全体概略構成
図、第4図は試料ガス流量に関するその模式的流量特性
図、第5図はパージガス流量に関するその模式的流量特
性図、第6図は吸引ポンプの模式的温度特性図を夫々示
している。 3……SO2ガス分析部、6……吸引ポンプ、8……試料
ガス流路管、P……パージラン、S……サンプルライ
ン、V……共通の流量制御手段。
の一具体的実施例を示し、第1図は全体概略構成図であ
り、そして、第2図は作用を説明するための模式的流量
特性図である。 また、第3図ないし第6図は、本考案の技術的背景なら
びに従来技術の問題点を説明するためのものであって、
第3図は従来構成のSO2ガス分析装置の全体概略構成
図、第4図は試料ガス流量に関するその模式的流量特性
図、第5図はパージガス流量に関するその模式的流量特
性図、第6図は吸引ポンプの模式的温度特性図を夫々示
している。 3……SO2ガス分析部、6……吸引ポンプ、8……試料
ガス流路管、P……パージラン、S……サンプルライ
ン、V……共通の流量制御手段。
Claims (1)
- 【請求項1】SO2ガス分析部に接続されるサンプルライ
ンにおけるそのSO2ガス分析部の前段に、SO2ガスに対す
る干渉ガスを選択的に透過させ得る高分子膜を用いて形
成した試料ガス流路管を設けると共に、その試料ガス流
路管の外周囲にパージ用ガスを流動させるためのパージ
ラインを設け、かつ前記サンプルラインとパージライン
とを前記SO2ガス分析部の下流側で合流させて排出ライ
ンに接続し、その排出ラインに吸引ポンプを設けると共
に、その排出ラインにおける前記サンプルラインおよび
パージラインの合流接続点と前記吸引ポンプとの間に流
量制御手段を設けてあることを特徴とするSO2ガス分析
装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1987041164U JPH0743636Y2 (ja) | 1987-03-19 | 1987-03-19 | So▲下2▼ガス分析装置 |
DE88103894T DE3882060T2 (de) | 1987-03-19 | 1988-03-11 | Gasanalysegerät für S02. |
EP88103894A EP0282925B1 (en) | 1987-03-19 | 1988-03-11 | So2 gas analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1987041164U JPH0743636Y2 (ja) | 1987-03-19 | 1987-03-19 | So▲下2▼ガス分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63148851U JPS63148851U (ja) | 1988-09-30 |
JPH0743636Y2 true JPH0743636Y2 (ja) | 1995-10-09 |
Family
ID=12600781
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1987041164U Expired - Lifetime JPH0743636Y2 (ja) | 1987-03-19 | 1987-03-19 | So▲下2▼ガス分析装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0282925B1 (ja) |
JP (1) | JPH0743636Y2 (ja) |
DE (1) | DE3882060T2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5583282A (en) * | 1990-12-14 | 1996-12-10 | Millipore Investment Holdings Limited | Differential gas sensing in-line monitoring system |
DE4131088A1 (de) * | 1991-09-18 | 1993-03-25 | Siemens Ag | Verfahren und einrichtung zum messen der konzentration eines gases im rauchgas |
CA2235021C (en) * | 1998-04-14 | 2007-06-26 | Jean-Pierre Gibeault | A method and apparatus for monitoring gas(es) in a dielectric fluid |
ES2199689B1 (es) * | 2002-08-06 | 2005-04-01 | Cespa Gestion De Residuos, S.A. | Dispositivo para controlar la produccion de gases en un reactor. |
JP5369422B2 (ja) * | 2007-10-26 | 2013-12-18 | 横河電機株式会社 | 分析計 |
JP6399580B2 (ja) * | 2014-06-16 | 2018-10-03 | 大陽日酸株式会社 | 硫化カルボニル濃度測定装置、及び硫化カルボニル濃度測定方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3845309A (en) * | 1973-09-10 | 1974-10-29 | Thermo Electron Corp | Fluorescent gas analyzer |
US4077774A (en) * | 1977-02-14 | 1978-03-07 | Beckman Instruments, Inc. | Interferent-free fluorescence detection of sulfur dioxide |
US4254339A (en) * | 1977-06-29 | 1981-03-03 | Yanagimoto Seisakusho Co. Ltd. | Method for the fluorimetric quantitative determination of SO2 in gases and apparatus therefor |
JPS5827059A (ja) * | 1981-08-11 | 1983-02-17 | Kimoto Denshi Kogyo Kk | 大気中の二酸化イオウガスの濃度測定装置 |
JPS5827756U (ja) * | 1981-08-18 | 1983-02-22 | 紀本電子工業株式会社 | ガス分析装置 |
JPH079421B2 (ja) * | 1984-05-29 | 1995-02-01 | 電気化学計器株式会社 | 二酸化硫黄ガス測定装置 |
-
1987
- 1987-03-19 JP JP1987041164U patent/JPH0743636Y2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1988
- 1988-03-11 EP EP88103894A patent/EP0282925B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-03-11 DE DE88103894T patent/DE3882060T2/de not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3882060T2 (de) | 1993-12-23 |
EP0282925A3 (en) | 1990-03-14 |
DE3882060D1 (de) | 1993-08-05 |
EP0282925B1 (en) | 1993-06-30 |
JPS63148851U (ja) | 1988-09-30 |
EP0282925A2 (en) | 1988-09-21 |
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