JPS6035878Y2 - ガス分析装置 - Google Patents

ガス分析装置

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JPS6035878Y2
JPS6035878Y2 JP1979107680U JP10768079U JPS6035878Y2 JP S6035878 Y2 JPS6035878 Y2 JP S6035878Y2 JP 1979107680 U JP1979107680 U JP 1979107680U JP 10768079 U JP10768079 U JP 10768079U JP S6035878 Y2 JPS6035878 Y2 JP S6035878Y2
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JP
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gas
dehumidifier
cell
sample
analyzer
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JP1979107680U
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JPS5625249U (ja
Inventor
輝男 金子
Original Assignee
富士電機株式会社
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Description

【考案の詳細な説明】 この考案は、ガス分析装置におけるガスの除湿システム
の改良に関するものである。
ガス分析装置によっては、ガス中の水分含有量が分析濃
度指示値に誤差となって現われるものがある。
例えば赤外線吸収式分析計は、双極子モーメントを有す
る分子が各分子特有の波長の赤外線を吸収して、その振
動エネルギーレベル間の遷移を生ずることを利用したも
ので、一定の長さの試料セル内に試料ガスを導き、試料
セルを透過する赤外線につき、試料ガス中の濃度測定せ
んとしている分子に吸収される波長における該赤外線の
減衰率を測定することにより濃度測定を可能とするもの
である。
ところが試料ガス中に水分が含有されていると、水分は
比較的広範囲の波長にわたって赤外線を吸収する特性を
もつから、試料ガス中の濃度測定せんとする分子に吸収
される赤外線波長と水分により吸収される赤外線波長と
が重なり易く、その場合には、当該波長の赤外線の減衰
率を測定しても、水分により吸収された分だけ誤差を含
んだ濃度測定値が得られる。
従って試料ガスから出来るだけ水分を除去することが望
まれる。
一般的な赤外線ガス分析計では、動作の安定度を増すた
めに、試料セルとは別に赤外線を吸収しないガス(窒素
など)を基準ガスとして封入した基準セルを設け、試料
・基準の両セルの透過光の差を測定する方式が採られて
いる。
従ってこの方式では、試料ガスと基準ガスの両方のガス
中の水分量を等しくすれば、水分含有による誤差は互い
に打ち消し合うので濃度測定値に誤差は生じない。
具体例を説明すると、赤外線式アンモニアガス(NH3
)分析装置の場合は、試料ガス中のNH3を熱式コンバ
ータにより一酸化窒素(NO)に変換し、本来的に試料
ガス中に存在するNOと変換されたNOとの合計を第1
の赤外線吸収セルに通し、他方、NH3を含んだままの
試料ガスを第2の同セルに通し、両セルによる赤外線吸
収量の差によって試料ガス中のNH3濃度を求めること
ができる。
この場合、第1のセルと第2のセルに通される各ガスの
水分含有量を等しくしておけば、測定されたNH3濃度
に水分による誤差が含まれることはない。
このような次第でガス分析装置と関連してガスの除湿器
が使用されるが、かかる除湿器としては、冷却除湿タイ
プの電子式ガス冷却器によるものと、そうでない半透膜
気相除湿器とがある。
前者では、除湿器の出口におけるガスの露点温度を1〜
3°Cにコントロールするもので、これ以上、露点温度
を下げることは凍るため出来ない。
他力、後者の半透膜気相除湿器では、露点温度が一20
°C相当まで比較的容易に除湿することができる。
除湿の度合が低く、試料ガス中に水分が多く含まれてい
ると、赤外線ガス分析計などの光学系を有する分析装置
の場合、光学系の汚れが増し、指示計にもける零点ドリ
フトを生じ、また化学発光式分析計の場合には同様にし
てスパンドリフトを起こし、正確な分析値指示の妨げと
なる。
従って除湿能力の高い半透膜気相除湿器の方が、除湿能
力の劣る電子式ガス冷却器より優れていると云える。
第1図は、かかる半透膜気相除湿器の断面図であり、第
1A図は第1図において線X−X’に沿って切断した断
面図である。
これらの図を参照する。
半透膜気相除湿器は、外管1と、この外管1の内部に仕
切板2,2を介して支持された多数の内管3. 3.3
によって構成され、各内管3は、イー・アイ・デュポン
社の商品名ナフィオン(NAFION)と称する化合物
によって構成されており、その内側から外側へ管壁を通
して水蒸気を選択透過させる機能を有している。
今、水蒸気を含んだウェットガスを入口4よりそれぞれ
の内管3内に導入し出口5より排出させながら、他方の
入口6より出ロアに向かってパージ用乾燥ガスを内管3
の外側に通すと、ウェットガス中の水蒸気が内管3の管
壁を通過して外ヘパージされる。
半透膜気相除湿器は、上述のような構成、機能を有する
ものであり、前述した理由によりガス分析装置において
使用される。
さて第2図は、ガス分析装置にかかる半透膜気相除湿器
を用いた従来例の構成概要図である。
同図を参照する。
サンプリングプローブ8により採取された採取ガス(例
えば自動車などの排ガスを想定する)は、二つの流路に
分流される。
その第1として、先ず採取ガスはNH3(アンモニアガ
ス)コンバータ9において、採取ガス中のNH3を全$
0 (一酸化窒素)に変換され、さらにN02(二酸化
窒素)コンバータ10において採取ガス中のNO2を全
部Noに変換される。
このようにしてNH3とNO2を含有しなくなった採取
ガスは、基準ガスとして、ポンプ13により加圧されて
半透膜気相除湿器12へ送り込まれることにより除湿さ
れ、赤外線ガス分析計15のセル15Aを通過した後、
大気へ放散される。
またプローブ8により採取された採取ガスの第2の流路
として、先づ採取ガスはNO2コンバータ11において
、採取ガス中のNO2をNoに変換される。
従ってNH3とNOを含有する採取ガスは、試料ガスと
して、ポンプ13aにより加圧されて半透膜気相除湿器
12aに送り込まれることにより除湿され、さらに分析
計15の第2のセル15Bを通過した後、大気へ放散さ
れる。
赤外線ガス分析計15においては、第1のセル15Aと
第2のセル15Bが空間的に並列に配置されており、そ
れらの前方に、図示せざるモータに駆動されるチョッパ
15Eが配置され、それによって光源15C,15Dか
らの赤外線波長光を両セル15A、15Bに交互に照射
する構成となっている。
そして両セル15Aと15Bの後方には、両セルにおけ
る赤外線吸収量の差を検出するための検出器15Fが配
置されている。
唯今の例では、第1のセル15AにはNH3を含まぬ基
準ガスが、また第2のセル15BにはNH3を含む試料
ガスが存在するので、検出器15が検出する赤外線吸収
量の差は、NH3の存在に起因するものであり、このよ
うにしてNH3の濃度を測定することができる。
半透膜気相除湿器12.12aに用いるパージ用乾燥ガ
スとしては別途用意される清浄な乾燥空気(計装用空気
と云う)を用い、これを図示せざるポンプにより加圧し
て除湿器12.12aの内管の外側に通した後大気へ放
散していた。
そころが、これらの半透膜気相除湿器は、その周囲温度
、ガス流量、採取ガスとパージ用乾燥ガスの圧力差など
により出口における採取ガスの露点温度が変化するとい
う欠点を有するものであり、これを解決するため、除湿
器そのものを恒温槽に入れガス圧力を一定に保持してや
るなどの配慮が従来は必要であったから、そのためコス
ト高を招くという難点があった。
この考案は、上述の如き従来技術の難点を除去するため
になされたものであり、従ってこの考案の目的は、高価
な恒温槽を用いたりすることなく、両除湿器出口におけ
る各ガスの露点温度を同一ならしめ、それにより各ガス
中の水分含有量を等しくし、水分含有量の相違に起因す
る測定誤差の発生することのないようにしたガス分析装
置を提供することにある。
この考案の構成の要点は、従来のガス分析装置において
、2個の半透膜気相除湿器について一方の除湿器の出口
から排出された採取ガスを分析計内のセルへ導く際、そ
の一部を分流させて、他力の除湿器のパージ用乾燥ガス
として相互に用い、両除湿器の出口における各ガスの露
点温度を均等ならしめる点にある。
次に図を参照してこの考案の一実施例を詳しく説明する
第3図はこの考案の一実施例要部の構成概要図である。
同図を、従来の構成を示す第2図と対比すると、相違点
は次の通りである。
すなわち、除湿器12において除湿された採取ガスは、
基準ガスとして、ニードル弁材流量計14を介して分析
計15内のセル15Aへ導かれると共に、該採取ガスの
一部は別のニードル弁材流量計15を介して他方の除湿
器12aへ、パージ用乾燥ガスとして供給され、また除
湿器12aにおいて除湿された採取ガスは、試料ガスと
して、ニードル弁材流量計14aを介して分析計15内
のセル15Bへ導かれると共に、該採取ガスの一部は別
のニードル弁材流量計15aを介して他方の除湿器12
へ、パージ用乾燥ガスとして供給される点が相違するだ
けで、他の構成は変わるところがない。
さて除湿器12(または12a)の内管へ導入された採
取ガスの圧力は、ポンプ13(または13a)により加
圧されているので、該ガスにおける水蒸気の分圧が高い
が、除湿器12a(または12)の内管外側を通って大
気へ放散されるガスは、すでに大気圧近くまで減圧され
ているので水蒸気分圧が低く、そのためパージ用乾燥ガ
スの役割を果たすことができる。
半透膜気相除湿器では、その出口における採取ガスの露
点温度は、パージ用乾燥ガスの露点温度によって変わる
また製品によるバラツキも若干ある。
この考案の実施例の如くすれは、一方の側の第1の除湿
器の除湿能力が高い(出口ガスの露点が低い)場合には
、それにより除湿されたガスを他方の側の第2の除湿器
へパージ用乾燥ガスとして供給するため、第2の除湿器
における除湿能力が高まる(露点が下がる)。
他方、第2の除湿器よりの露点の高いガスは、除湿能力
の高い第1の除湿器のパージ用乾燥ガスとして用いられ
るため、第1の除湿器の除湿能力は下がる。
このようにして結局、第1と第2の各除湿器の除湿能力
は均等化され、両除湿器により除湿された各ガスの露点
温度が同じ値に近ずくわけである。
なお除湿器12を出た採取ガス(基準ガス)の一部をニ
ードル弁材流量計15を介して直接他方の除湿器12a
へパージ用乾燥ガスとして供給する代りに、除湿器12
を出て分析計15におけるセル15Aに導かれ、該セル
15Aを出たガスを他方の除湿器12aへパージ用乾燥
ガスとして供給することも可能であるが、セル15Aを
出たガスが腐蝕性を帯びるような場合は、かかる腐蝕性
ガスを通された除湿器がやはり腐蝕を起こし損傷するの
で前述の方法は適当でない。
例えば分析計が化学発光式分析計のような場合である。
化学発光式分析計は、化学的に励起された活性化分子の
放出する光を光電子増倍管で測定するものであり、試料
ガスの一定量と反応ガス(例えばオゾン)とを反応セル
内で反応させ発光を検出することにより試料ガスの濃度
測定を行なうが、その反応により腐蝕性ガス(例えば硝
酸、硫酸ミスト)が生皮されることがある。
かかる腐蝕性ガスは捨てるはかなく、パージ用乾燥ガス
には使用できない。
第4図は、この考案の第2の実施例の要部を示す概要図
である。
同図を第3図と対比すると、第3図では1台の差動計分
析計15を使用しているに対し、第4図では、差動形で
ない普通の分析計を2台15’、15″使用している点
が相違するだけで、動作の態様は全く同じであるから、
第4図についてこれ以上説明することは不要であろう。
以上説明した通りであるから、この考案によれば、ガス
分析装置において、高価な恒温槽等を要することなく、
一方の半透膜気相除湿器を出た採取ガスを他方の除湿器
へパージ用乾燥ガスとして相互に流すようにするだけで
、誤差の少ない正確な濃度測定が可能になるという利点
があり、特に化学発光式分析計のように、測定径分析計
から排出されるガスが腐蝕性を帯びるような場合に用い
て好適である。
【図面の簡単な説明】
第1図は、半透膜気相除湿器の断面図、第1A図は第1
図において線X−X’に沿った断面図、第2図は従来の
ガス分析装置の構成概要図、第3図はこの考案の一実施
例要部の構成概要図、第4図はこの考案の別の実施例の
要部を示す概要図である。 図において、1は外管、2は仕切板、3は内管、4は入
口、5は出口、6は入口、7は出口、8はガスサンプリ
ングプローブ、9はNH3コンバータ、10はNO2コ
ンバータ、11もNO□コンバータ、12は半透膜気相
除湿器、13はポンプ、14と15はそれぞれニードル
弁材流量計、を示す。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 半透膜の内側にウェットガスを流し、外側にパージ用乾
    燥ガスを流すことにより、ウェットガス中の水蒸気を該
    膜を透過して外側ヘパージすることのできる第1および
    第2の半透膜気相除湿器と、前記第1の除湿器により除
    湿されたガス(試料ガス)が流通する試料セルと、前記
    第2の除湿器により除湿されたガス(基準ガス)が流通
    する基準セルと、前記両セルにおける各ガスの特性の差
    を測定する手段と、前記試料ガスを試料セルへ導く際、
    その一部を第2の除湿器へ、また前記基準ガスを基準セ
    ルへ導く際、その一部を第1の除湿器へ、それぞれパー
    ジ用乾燥ガスとして供給する手段とを有して成ることを
    特徴とするガス分析装置。
JP1979107680U 1979-08-06 1979-08-06 ガス分析装置 Expired JPS6035878Y2 (ja)

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JP1979107680U JPS6035878Y2 (ja) 1979-08-06 1979-08-06 ガス分析装置

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JP1979107680U JPS6035878Y2 (ja) 1979-08-06 1979-08-06 ガス分析装置

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Publication Number Publication Date
JPS5625249U JPS5625249U (ja) 1981-03-07
JPS6035878Y2 true JPS6035878Y2 (ja) 1985-10-24

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ID=29340296

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JP1979107680U Expired JPS6035878Y2 (ja) 1979-08-06 1979-08-06 ガス分析装置

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JPH0452669Y2 (ja) * 1985-05-17 1992-12-10
JPH0539481Y2 (ja) * 1985-05-17 1993-10-06

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JPS5625249U (ja) 1981-03-07

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