JPS6041298B2 - ガス分析装置 - Google Patents
ガス分析装置Info
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- JPS6041298B2 JPS6041298B2 JP54071211A JP7121179A JPS6041298B2 JP S6041298 B2 JPS6041298 B2 JP S6041298B2 JP 54071211 A JP54071211 A JP 54071211A JP 7121179 A JP7121179 A JP 7121179A JP S6041298 B2 JPS6041298 B2 JP S6041298B2
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- dehumidifier
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3504—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
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- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、ガス分析装置におけるガスの除湿システム
の改良に関するものである。
の改良に関するものである。
ガス分析装置によっては、ガス中の水分含有量が分析濃
度指示値に誤差となって現われるものがある。
度指示値に誤差となって現われるものがある。
例えば赤外線ガス分析計は、双極子モーメントを有する
分子が各分子特有の波長の赤外線を吸収して、その振動
エネルギーレベル間の遷移を生ずることを利用したもの
で、一定の長さの試料セル内に試料ガス導き、試料セル
を透過する赤外線につき、試料ガス中の濃度測定せんと
している分子に吸収される波長における該赤外線の減衰
率を測定することにより濃度測定を可能とするものであ
る。ところが試料ガス中に水分が含有されていると、水
分は比較的広範囲の波長にわたって赤外線を吸収する特
性をもち、試料ガス中の濃度測定せんとする分子に吸収
される赤外線波長と水分により吸収される赤外線波長と
が重なり易く、その場合には、当該波長の赤外線の減衰
率を測定しても、水分により吸収された分だけ誤差を含
んだ濃度測定値が縛られる。従って試料ガスから出来る
だけ水分を除去することが望まれる。しかし一般的な赤
外線ガス分析計では、動作の安定度を増すために、試料
セルとは別に赤外線を吸収しないガス(窒素など)を基
準ガスとして封入した基準セルを設け、試料・基準の両
セルの透過光の差を測定する方式が探られている。従っ
てこの方式では、試料ガスと基準ガスの両方のガス中の
水分量を等しくすれば、水分含有による誤差は互いに打
ち消し合うので濃度測定値に誤差は生じない。具体例を
説明すると、赤外線アンモニアガス(N馬)分析装置の
場合は、試料ガス中のNH3を熱式コンバータにより一
酸化窒素(NO)に変換し、本来的に試料ガス中に存在
するNOと変換されたNOとの合計を第1の赤外線吸収
セルに通し、他方、NH3を含んだままの試料ガスを第
2の同セルに通し、両セルによる赤外線吸収量の差によ
って試料ガス中のNH3濃度を求めることができる。
分子が各分子特有の波長の赤外線を吸収して、その振動
エネルギーレベル間の遷移を生ずることを利用したもの
で、一定の長さの試料セル内に試料ガス導き、試料セル
を透過する赤外線につき、試料ガス中の濃度測定せんと
している分子に吸収される波長における該赤外線の減衰
率を測定することにより濃度測定を可能とするものであ
る。ところが試料ガス中に水分が含有されていると、水
分は比較的広範囲の波長にわたって赤外線を吸収する特
性をもち、試料ガス中の濃度測定せんとする分子に吸収
される赤外線波長と水分により吸収される赤外線波長と
が重なり易く、その場合には、当該波長の赤外線の減衰
率を測定しても、水分により吸収された分だけ誤差を含
んだ濃度測定値が縛られる。従って試料ガスから出来る
だけ水分を除去することが望まれる。しかし一般的な赤
外線ガス分析計では、動作の安定度を増すために、試料
セルとは別に赤外線を吸収しないガス(窒素など)を基
準ガスとして封入した基準セルを設け、試料・基準の両
セルの透過光の差を測定する方式が探られている。従っ
てこの方式では、試料ガスと基準ガスの両方のガス中の
水分量を等しくすれば、水分含有による誤差は互いに打
ち消し合うので濃度測定値に誤差は生じない。具体例を
説明すると、赤外線アンモニアガス(N馬)分析装置の
場合は、試料ガス中のNH3を熱式コンバータにより一
酸化窒素(NO)に変換し、本来的に試料ガス中に存在
するNOと変換されたNOとの合計を第1の赤外線吸収
セルに通し、他方、NH3を含んだままの試料ガスを第
2の同セルに通し、両セルによる赤外線吸収量の差によ
って試料ガス中のNH3濃度を求めることができる。
この場合、第1のセルと第2のセルに通される各ガスの
水分含有量を等しくしておけば、測定されたNH3濃度
に水分による誤差が含まれることはない。このような次
第でガス分析装贋と関連してガスの除湿器が使用される
が「かかる除湿器としては、冷却除湿タイプの電子式ガ
ス冷却器によるものと、そうでない半透膜気相除湿器と
がある。
水分含有量を等しくしておけば、測定されたNH3濃度
に水分による誤差が含まれることはない。このような次
第でガス分析装贋と関連してガスの除湿器が使用される
が「かかる除湿器としては、冷却除湿タイプの電子式ガ
ス冷却器によるものと、そうでない半透膜気相除湿器と
がある。
前者では、除湿器の出口におけるガスの露点温度を1〜
3℃にコントロールするもので、これ以し、霧点溢度を
下げることは凍るため出来ない。他方、後者の半透膜気
相除湿器では、霧点温度が−2000相当まで比較的容
易に除湿することができる。除湿の度合が低く、試料ガ
ス中に水分が多く含まれていると、赤外線分析計などの
光学系を有する分析装置の場合、光学系の汚れが増し、
指示計における零点ドリフトを生じ、また化学発光分析
計の場合には同様にしてスパンドリフトを起こし、正確
な分析値指示の妨げとなる。従って除湿能力の高い半透
膜気相除湿器の方が、除湿能力の劣る電子式ガス冷却器
より優れていると云える。第1図は、かかる半透膜気相
除湿器の断面図であり、第IA図は第1図において線×
−X′に沿って切断した断面図である。これらの図を参
照する。半透腰気相除湿器は、外管1と、この外管1の
内部に仕切板2,2を介して支持された多数の内管3,
3,3によって構成され、各内管3は、ィー・アィ・デ
ュポン社の商品名ナフィオン(NAFION)と称する
化合物によって構成されており、その内側から外側へ管
壁を通して水蒸気を選択透過させる機能を有している。
今、水蒸気を含んだウェットサンプルガスを入口4より
それぞれの内管3内に導入し出口5より排出させながら
、他方の入口6より出口7に向かってパージ用乾燥ガス
を内管3の外側に通すと、ウェットサンプルガス中の水
蒸気が内管3の管壁を通過して外へパージされる。半透
膜気相除湿器は、上述のような構成、機能を有するもの
であり、前述した理由によりガス分析装置において使用
される。
3℃にコントロールするもので、これ以し、霧点溢度を
下げることは凍るため出来ない。他方、後者の半透膜気
相除湿器では、霧点温度が−2000相当まで比較的容
易に除湿することができる。除湿の度合が低く、試料ガ
ス中に水分が多く含まれていると、赤外線分析計などの
光学系を有する分析装置の場合、光学系の汚れが増し、
指示計における零点ドリフトを生じ、また化学発光分析
計の場合には同様にしてスパンドリフトを起こし、正確
な分析値指示の妨げとなる。従って除湿能力の高い半透
膜気相除湿器の方が、除湿能力の劣る電子式ガス冷却器
より優れていると云える。第1図は、かかる半透膜気相
除湿器の断面図であり、第IA図は第1図において線×
−X′に沿って切断した断面図である。これらの図を参
照する。半透腰気相除湿器は、外管1と、この外管1の
内部に仕切板2,2を介して支持された多数の内管3,
3,3によって構成され、各内管3は、ィー・アィ・デ
ュポン社の商品名ナフィオン(NAFION)と称する
化合物によって構成されており、その内側から外側へ管
壁を通して水蒸気を選択透過させる機能を有している。
今、水蒸気を含んだウェットサンプルガスを入口4より
それぞれの内管3内に導入し出口5より排出させながら
、他方の入口6より出口7に向かってパージ用乾燥ガス
を内管3の外側に通すと、ウェットサンプルガス中の水
蒸気が内管3の管壁を通過して外へパージされる。半透
膜気相除湿器は、上述のような構成、機能を有するもの
であり、前述した理由によりガス分析装置において使用
される。
さて第2図は、ガス分析装置に半透膜気相除湿器を用い
た従来例の構成概要図である。
た従来例の構成概要図である。
同図を参照する。サンプリングプローブ8により採取さ
れた試料ガス(例え‘ま自動車などの排ガスを想定する
)は、二つの流路に分流される。その第1として、先ず
試料ガスはNH3(アンモニアガス)コンバータ9にお
いて、試料ガス中のNH3を全部N○(一酸化窒素)に
変換され、さらにN02(二酸化窒素)コンバータIQ
‘こおいて試料ガス中のN02を全部NOに変換される
。このようにしてNH3とN02を含有しなくなった試
料ガスは、基準ガスとして、半透膜気相除湿器12を通
過することにより除湿され、ポンプ13により吸引され
て赤外線ガス分析計15のセル15Aを通過した後、大
気へ放散される。またプローブ8により採取された試料
ガスの第2の流路として、先づ試料ガスはN02コンバ
ータ1 1において、試料ガス中のN02をNOに変換
される。従ってNH3とNOを含有する試料ガスは、半
透腹気相除湿器12aにて除湿された後、ポンプ13a
に吸引され赤外線ガス分析計15のセル15Bを通過し
た後大気へ放散される。赤外線ガス分析計15において
は、第1のセル1・5Aと第2のセル15Bが空間的に
並列に配置されており、それらの前方に、図示せざるモ
ータにより駆動されるチョッパ158が配置され、それ
によって光源15C,15Dからの赤外線波長光を両セ
ル15A,15Bに交互に照射する構成となっている。
そして両セル15Aと15Bの後方には、両セルにおけ
る赤外線吸収量の差を検出するための検出器15Fが配
置されている。唯今の例では、第1のセル15AにはN
H3を含まぬガスが、また第2のセル15BにはNH3
を含むガスが存在するので、検出器15が検出する赤外
線吸収量の差は、NH3の存在に起因するものであり、
、このようにしてN&の濃度を測定することができる。
半透膜気相除湿器12,12aに用いるパージ用乾燥ガ
スとしては、別途用意される清浄な乾燥空気(計装用空
気と云う)を用い、これをポンプ16により吸収して除
湿器12,12aの内管の外側に適していた。
れた試料ガス(例え‘ま自動車などの排ガスを想定する
)は、二つの流路に分流される。その第1として、先ず
試料ガスはNH3(アンモニアガス)コンバータ9にお
いて、試料ガス中のNH3を全部N○(一酸化窒素)に
変換され、さらにN02(二酸化窒素)コンバータIQ
‘こおいて試料ガス中のN02を全部NOに変換される
。このようにしてNH3とN02を含有しなくなった試
料ガスは、基準ガスとして、半透膜気相除湿器12を通
過することにより除湿され、ポンプ13により吸引され
て赤外線ガス分析計15のセル15Aを通過した後、大
気へ放散される。またプローブ8により採取された試料
ガスの第2の流路として、先づ試料ガスはN02コンバ
ータ1 1において、試料ガス中のN02をNOに変換
される。従ってNH3とNOを含有する試料ガスは、半
透腹気相除湿器12aにて除湿された後、ポンプ13a
に吸引され赤外線ガス分析計15のセル15Bを通過し
た後大気へ放散される。赤外線ガス分析計15において
は、第1のセル1・5Aと第2のセル15Bが空間的に
並列に配置されており、それらの前方に、図示せざるモ
ータにより駆動されるチョッパ158が配置され、それ
によって光源15C,15Dからの赤外線波長光を両セ
ル15A,15Bに交互に照射する構成となっている。
そして両セル15Aと15Bの後方には、両セルにおけ
る赤外線吸収量の差を検出するための検出器15Fが配
置されている。唯今の例では、第1のセル15AにはN
H3を含まぬガスが、また第2のセル15BにはNH3
を含むガスが存在するので、検出器15が検出する赤外
線吸収量の差は、NH3の存在に起因するものであり、
、このようにしてN&の濃度を測定することができる。
半透膜気相除湿器12,12aに用いるパージ用乾燥ガ
スとしては、別途用意される清浄な乾燥空気(計装用空
気と云う)を用い、これをポンプ16により吸収して除
湿器12,12aの内管の外側に適していた。
ところが、これらの半透膜気相除湿器は、その周囲温度
、ガス流量、サンプルガスとパ−ジ用乾燥ガスの圧力差
などにより出口におけるガスの露点温度が変化するとい
う欠点を有するものであり、これを解決するため、除湿
器そのものを極溢槽に入れガス圧力を一定に保持してや
るなどの配慮が従来は必要であったから、そのためコス
ト高を招くという難点があった。この発明は、上述の如
き従来技術の難点を除去するためになされたものであり
、従ってこの発明の目的は、高価な櫨溢槽を用いたりす
ることなく、両除湿器出口における各ガスの髭点温度を
同一ならしめ、それにより各ガス中の水分含有量を等し
くし、水分含有量に起因する測定誤差の発生することの
ないようにした上述の如きタイプのガス分析装置を提供
することにある。この発明の構成の要点は、上述の如き
従来のガス分析装置において、2個の半透膜気相除湿器
について一方の除湿器の出口から排出されたサンプルガ
スが赤外線ガス分析計を通過した後、大気開放管を介し
て他方の除湿器へパージ用乾燥ガスとして導かれるよう
に構成し、両除湿器の出口における各ガスの霧点温度を
均等ならしめると共に、赤外線ガス分析計内におけるガ
ス圧をほぼ大気圧という一定圧に維持して分析計の濃度
測定誤差が発生しないようにした点にある。
、ガス流量、サンプルガスとパ−ジ用乾燥ガスの圧力差
などにより出口におけるガスの露点温度が変化するとい
う欠点を有するものであり、これを解決するため、除湿
器そのものを極溢槽に入れガス圧力を一定に保持してや
るなどの配慮が従来は必要であったから、そのためコス
ト高を招くという難点があった。この発明は、上述の如
き従来技術の難点を除去するためになされたものであり
、従ってこの発明の目的は、高価な櫨溢槽を用いたりす
ることなく、両除湿器出口における各ガスの髭点温度を
同一ならしめ、それにより各ガス中の水分含有量を等し
くし、水分含有量に起因する測定誤差の発生することの
ないようにした上述の如きタイプのガス分析装置を提供
することにある。この発明の構成の要点は、上述の如き
従来のガス分析装置において、2個の半透膜気相除湿器
について一方の除湿器の出口から排出されたサンプルガ
スが赤外線ガス分析計を通過した後、大気開放管を介し
て他方の除湿器へパージ用乾燥ガスとして導かれるよう
に構成し、両除湿器の出口における各ガスの霧点温度を
均等ならしめると共に、赤外線ガス分析計内におけるガ
ス圧をほぼ大気圧という一定圧に維持して分析計の濃度
測定誤差が発生しないようにした点にある。
次に図を参照してこの発明の実施例を詳しく説明する。
第3図はこの発明の一実施例を示す構成概要図である。
同図を、従来の構成を示す第2図と対比すると、相違点
は次の通りである。すなわち、半透膜気相除湿器12に
より除湿され、ポンプ13により吸引され、赤外線ガス
分析計15におけるセル15Aに入り、該セルを出たガ
スはそのまま大気へ放散されることなく、大気放散管1
7を介し、反対側の半透膜気相除湿器12aへパージ用
乾燥ガスとして供給されている点である。同様に、半透
膜気相除湿器12aにより除湿され、ポンプ13aによ
り吸引され、赤外線ガス分析計15におけるセル15b
に入り、該セルを出たガスは、そのまま大気へ放散され
ることなく、大気放散管17aを介し、反対側の半透膜
気相除湿器12へパージ用乾燥ガスとして供給される。
以上に述べた点以外は第3図も第2図も構成は同じであ
る。さて除湿器12(または12a)の内管へ導入され
るウエットサンプルガスの圧力は、ポンプ13(または
13a)により吸引されるため負圧ではあるが、除湿器
の内管の外側を通るパージ用乾燥ガスが、ウェットサン
プルガスより更に負圧となるようにポンプ16により吸
引されているため、結局ウェットサンプルガス中の水蒸
気分圧がパージ用乾燥ガスのそれより高い。
同図を、従来の構成を示す第2図と対比すると、相違点
は次の通りである。すなわち、半透膜気相除湿器12に
より除湿され、ポンプ13により吸引され、赤外線ガス
分析計15におけるセル15Aに入り、該セルを出たガ
スはそのまま大気へ放散されることなく、大気放散管1
7を介し、反対側の半透膜気相除湿器12aへパージ用
乾燥ガスとして供給されている点である。同様に、半透
膜気相除湿器12aにより除湿され、ポンプ13aによ
り吸引され、赤外線ガス分析計15におけるセル15b
に入り、該セルを出たガスは、そのまま大気へ放散され
ることなく、大気放散管17aを介し、反対側の半透膜
気相除湿器12へパージ用乾燥ガスとして供給される。
以上に述べた点以外は第3図も第2図も構成は同じであ
る。さて除湿器12(または12a)の内管へ導入され
るウエットサンプルガスの圧力は、ポンプ13(または
13a)により吸引されるため負圧ではあるが、除湿器
の内管の外側を通るパージ用乾燥ガスが、ウェットサン
プルガスより更に負圧となるようにポンプ16により吸
引されているため、結局ウェットサンプルガス中の水蒸
気分圧がパージ用乾燥ガスのそれより高い。
そのため除湿器12または12aではウエットサンプル
ガスの除湿が行なわれる。半透膜気相除湿器では、その
出口におけるガスの蕗点溢度は、パ−ジ用乾燥ガスの霧
点温度によって変わる。また製品によるバラッキも若干
ある。この発明の実施例の如くすれば、一方の側の第1
の除湿器の除湿能力が高い(出口ガスの露点が低い)場
合には、それにより除湿されたガスを他方の側の第2の
除湿器へパージ用乾燥ガスとして供給するため、第2の
除湿器における除湿能力が高まる(露点が下がる)。他
方、第2の除湿器よりの露点の高いガスは、除湿能力の
高い第1の除湿器のパージ用乾燥ガスとして用いられる
ため、第1の除湿器の除湿能力は下がる。このようにし
て結局、第1と第2の各除湿器の除湿能力は均等化され
、両除湿器により除湿された各ガスの霧点温度が同じ値
に近ず〈わけである。次に第3図において、赤外線ガス
分析計15を出たガスを大気開放管17に通す理由を説
明しておく。
ガスの除湿が行なわれる。半透膜気相除湿器では、その
出口におけるガスの蕗点溢度は、パ−ジ用乾燥ガスの霧
点温度によって変わる。また製品によるバラッキも若干
ある。この発明の実施例の如くすれば、一方の側の第1
の除湿器の除湿能力が高い(出口ガスの露点が低い)場
合には、それにより除湿されたガスを他方の側の第2の
除湿器へパージ用乾燥ガスとして供給するため、第2の
除湿器における除湿能力が高まる(露点が下がる)。他
方、第2の除湿器よりの露点の高いガスは、除湿能力の
高い第1の除湿器のパージ用乾燥ガスとして用いられる
ため、第1の除湿器の除湿能力は下がる。このようにし
て結局、第1と第2の各除湿器の除湿能力は均等化され
、両除湿器により除湿された各ガスの霧点温度が同じ値
に近ず〈わけである。次に第3図において、赤外線ガス
分析計15を出たガスを大気開放管17に通す理由を説
明しておく。
第4図は大気開放管の断面図である。
同図を参照する。大気開放管17は、文字どおりその一
端17Aを大気へ開放している。かかる関口端17Aか
ら最も遠い入口17Bへ、セル15Aからガスが排気さ
れる。そして出口17Cから他方の除湿器12aへ、パ
ージ用乾燥ガスとして送られる。かかる大気開放管17
を使用することにより、ガス分析計15におけるセル1
5A内の圧力をほぼ大気圧に維持することができる。セ
ル15A内のガス圧が仮に2倍になると、中の分子密度
も2倍になり、濃度測定値も2倍になる。従って正確な
濃度測定を行なうためには、セル内のガス圧を一定に維
持することが必要である。この発明の実施例では、セル
15Aを出たガスを従来のようにそのまま大気へ放散す
ることなく、さらに半透膜気相除湿器へパージ用乾燥ガ
スとして送るため、大気開放管17を用いなければセル
15A内のガス圧が変動することがあり、正確な温度測
定が期待できない。そこで大気開放管を用いることによ
り、セル内のガス圧をほぼ大気圧という一定圧に維持し
、それによって分析計15における濃度測定の正確さを
期しているわけである。第5図は、この発明の他の実施
例の要部を示す概要図である。
端17Aを大気へ開放している。かかる関口端17Aか
ら最も遠い入口17Bへ、セル15Aからガスが排気さ
れる。そして出口17Cから他方の除湿器12aへ、パ
ージ用乾燥ガスとして送られる。かかる大気開放管17
を使用することにより、ガス分析計15におけるセル1
5A内の圧力をほぼ大気圧に維持することができる。セ
ル15A内のガス圧が仮に2倍になると、中の分子密度
も2倍になり、濃度測定値も2倍になる。従って正確な
濃度測定を行なうためには、セル内のガス圧を一定に維
持することが必要である。この発明の実施例では、セル
15Aを出たガスを従来のようにそのまま大気へ放散す
ることなく、さらに半透膜気相除湿器へパージ用乾燥ガ
スとして送るため、大気開放管17を用いなければセル
15A内のガス圧が変動することがあり、正確な温度測
定が期待できない。そこで大気開放管を用いることによ
り、セル内のガス圧をほぼ大気圧という一定圧に維持し
、それによって分析計15における濃度測定の正確さを
期しているわけである。第5図は、この発明の他の実施
例の要部を示す概要図である。
第3図に示した構成と相違する点は、ポンプ13または
13aにより吸引されてセル15Aまたは15Bへ導か
れるガスの一部を、該セルをバィパスして大気開放管1
7または17aへ直接排気している点である。分析計1
5における測定に必要なガス流量以上のガス流がポンプ
により吸引されているときは、余分なガスを無益に捨て
ることなく、分析計をバイパスさせて大気開放管に導き
、そこから他方の除湿器へパージ用乾燥ガスとして充分
な量を送るようにするのがよい。なお第3図、第5図の
何れに示す構成においても、除湿器を通るウェットサン
プルガスの吸引ポンプ13または13aは、除湿器の後
部に配直され、ウェットサンプルガスを吸引する形をと
っている。
13aにより吸引されてセル15Aまたは15Bへ導か
れるガスの一部を、該セルをバィパスして大気開放管1
7または17aへ直接排気している点である。分析計1
5における測定に必要なガス流量以上のガス流がポンプ
により吸引されているときは、余分なガスを無益に捨て
ることなく、分析計をバイパスさせて大気開放管に導き
、そこから他方の除湿器へパージ用乾燥ガスとして充分
な量を送るようにするのがよい。なお第3図、第5図の
何れに示す構成においても、除湿器を通るウェットサン
プルガスの吸引ポンプ13または13aは、除湿器の後
部に配直され、ウェットサンプルガスを吸引する形をと
っている。
これは逆に、ポンプを除湿器の前部に配置し、ウェット
サンプルガスを加圧する形で除湿器に通しても良いわけ
であるが、ウェットサンプルガスが加圧されると、凝縮
水(ドレーン)が発生することがあり、このドレーン中
にウェットサンプルガス中の被測定成分が溶け込んだり
すると測定値に誤差が生じるし、また水がポンプ内に入
ると弁の劣化を早めるなどの問題が起きるので、吸引ポ
ンプ13または13aは除湿器の後部に配置して除湿器
内を流れるウェットサンプルガスを負圧に置くのがよい
。なおこのときは、ポンプ16により吸引されるパージ
用乾燥ガスを、ウェットサンプルガスより一層負圧によ
るように、ポンプ16により吸引しないと半透膜気相除
湿器においてウェットサンプルガスの除湿が行なわれな
いことは勿論である。また第3図、第5図においては、
ガス分析計としては叢勤形のもの1台を使用するものと
して説明したが、これは差動形でない分析計を2台使用
する場合でも、この発明を全く同じに実施できることは
云うまでもない。以上説明した通りであるから、この発
明によれば、前述の如きガス分析装置において、高価な
極温槽などを要することなく、大気開放管を設けるほか
、一方の除湿器を母たドライサンプルガスを他方の除湿
器へパージ用乾燥ガスとして流すようにするだけで、誤
差の少ない正確な濃度測定が可能になるという利点があ
る。
サンプルガスを加圧する形で除湿器に通しても良いわけ
であるが、ウェットサンプルガスが加圧されると、凝縮
水(ドレーン)が発生することがあり、このドレーン中
にウェットサンプルガス中の被測定成分が溶け込んだり
すると測定値に誤差が生じるし、また水がポンプ内に入
ると弁の劣化を早めるなどの問題が起きるので、吸引ポ
ンプ13または13aは除湿器の後部に配置して除湿器
内を流れるウェットサンプルガスを負圧に置くのがよい
。なおこのときは、ポンプ16により吸引されるパージ
用乾燥ガスを、ウェットサンプルガスより一層負圧によ
るように、ポンプ16により吸引しないと半透膜気相除
湿器においてウェットサンプルガスの除湿が行なわれな
いことは勿論である。また第3図、第5図においては、
ガス分析計としては叢勤形のもの1台を使用するものと
して説明したが、これは差動形でない分析計を2台使用
する場合でも、この発明を全く同じに実施できることは
云うまでもない。以上説明した通りであるから、この発
明によれば、前述の如きガス分析装置において、高価な
極温槽などを要することなく、大気開放管を設けるほか
、一方の除湿器を母たドライサンプルガスを他方の除湿
器へパージ用乾燥ガスとして流すようにするだけで、誤
差の少ない正確な濃度測定が可能になるという利点があ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は、半透膜気相除湿器の断面図、第IA図は第1
図において線×−X′に沿った断面図、第2図は従来の
ガス分析装置の構成概要図、第3図はこの発明の一実施
例を示す構成概要図、第4図は大気開放管の断面図、第
5図は、この発明の他の実施例の要部を示す概要図であ
る。 図において、1は外管、2は仕切板、3は内管、4は入
口、5は出口、6は入口、7は出口、8はガスサンプリ
ングローブ、9はNH3コンバータ、10はN〇2コン
バータ、11もN〇2コンパ−夕、12は半透膜気相除
湿器、13はポンプ、15は赤外線ガス分析計、16は
ポンプ、17は大気開放管、を示す。 71凶 ★IA図 を2四 ケ3図 オ4図 才5図
図において線×−X′に沿った断面図、第2図は従来の
ガス分析装置の構成概要図、第3図はこの発明の一実施
例を示す構成概要図、第4図は大気開放管の断面図、第
5図は、この発明の他の実施例の要部を示す概要図であ
る。 図において、1は外管、2は仕切板、3は内管、4は入
口、5は出口、6は入口、7は出口、8はガスサンプリ
ングローブ、9はNH3コンバータ、10はN〇2コン
バータ、11もN〇2コンパ−夕、12は半透膜気相除
湿器、13はポンプ、15は赤外線ガス分析計、16は
ポンプ、17は大気開放管、を示す。 71凶 ★IA図 を2四 ケ3図 オ4図 才5図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 半透膜の内側にウエツトガスを流し、外側にパージ
用乾燥ガスを流すことにより、ウエツトガス中の水蒸気
を該膜を透過して外側へパージすることのできる第1お
よび第2の半透膜気相除湿器と、前記第1の除湿器によ
り除湿された試料ガスが流通し光照射を受ける試料セル
と、前記第2の除湿器により除湿された基準ガスが流通
し光照射を受ける基準セルと、前記両セルの透過光の差
を測定する手段と、一端が大気に開口し前記試料セルを
通過した試料ガスが排気される第1の大気開放管と、一
端が大気に開口し前記基準セルを通過した基準ガスが排
気される第2の大気開放管とを備え、前記第1の大気開
放管内に排気された試料ガスを前記第2の半透膜気相除
湿器のパージ用乾燥ガスとしてその第2の除湿器に供給
し、かつ前記第2の大気開放管内に排気された基準ガス
を前記第1の半透膜気相除湿器のパージ用乾燥ガスとし
てその第1の除湿器に供給することを特徴とするガス分
析装置。 2 特許請求の範囲第1項に記載のガス分析装置におい
て、試料セルへ導かれる試料ガスの一部および基準セル
へ導かれる基準ガスの一部を、当該セルをバイパスして
、第1および第2の大気開放管へそれぞれ導いたことを
特徴とするガス分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP54071211A JPS6041298B2 (ja) | 1979-06-08 | 1979-06-08 | ガス分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP54071211A JPS6041298B2 (ja) | 1979-06-08 | 1979-06-08 | ガス分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55163438A JPS55163438A (en) | 1980-12-19 |
| JPS6041298B2 true JPS6041298B2 (ja) | 1985-09-14 |
Family
ID=13454111
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP54071211A Expired JPS6041298B2 (ja) | 1979-06-08 | 1979-06-08 | ガス分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6041298B2 (ja) |
-
1979
- 1979-06-08 JP JP54071211A patent/JPS6041298B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55163438A (en) | 1980-12-19 |
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