JPH10300640A - 環境大気用二酸化硫黄測定装置の校正方法 - Google Patents
環境大気用二酸化硫黄測定装置の校正方法Info
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- JPH10300640A JPH10300640A JP12480097A JP12480097A JPH10300640A JP H10300640 A JPH10300640 A JP H10300640A JP 12480097 A JP12480097 A JP 12480097A JP 12480097 A JP12480097 A JP 12480097A JP H10300640 A JPH10300640 A JP H10300640A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 環境大気用二酸化硫黄測定装置の校正所要時
間を短縮する。 【構成】 スパンガスを二酸化硫黄測定装置９に校正ガ
ス入口１１より導入し、ゼロ校正を行うために、ガスの
流れをバルブ１６によりゼロガス精製流路１７に導き、
ゼロガス精製器１９により二酸化硫黄を取り除き、ゼロ
ガスとして検出部２１に供給し、検出部２１の指示が安
定したところで、ゼロ校正を行う。次に、スパン校正を
行うために、バルブ１６によりガスの流れを切り替えス
パンガスが直接、検出部２１に流れるようにし、検出部
２１の指示が安定したところで、スパン校正を行う。
間を短縮する。 【構成】 スパンガスを二酸化硫黄測定装置９に校正ガ
ス入口１１より導入し、ゼロ校正を行うために、ガスの
流れをバルブ１６によりゼロガス精製流路１７に導き、
ゼロガス精製器１９により二酸化硫黄を取り除き、ゼロ
ガスとして検出部２１に供給し、検出部２１の指示が安
定したところで、ゼロ校正を行う。次に、スパン校正を
行うために、バルブ１６によりガスの流れを切り替えス
パンガスが直接、検出部２１に流れるようにし、検出部
２１の指示が安定したところで、スパン校正を行う。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、大気中の二酸化硫
黄（ＳＯ2）を測定する環境大気用二酸化硫黄測定装置
の校正方法に関するものである。特に、校正時に大気か
ら精製したゼロガスを使用する環境大気用二酸化硫黄測
定装置の校正方法に関するものである。
黄（ＳＯ2）を測定する環境大気用二酸化硫黄測定装置
の校正方法に関するものである。特に、校正時に大気か
ら精製したゼロガスを使用する環境大気用二酸化硫黄測
定装置の校正方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】環境大気用二酸化硫黄測定装置によって
大気中のＳＯ2濃度を測定する場合、測定中にゼロ点及
びスパン点が変動することがあるので、試料測定の合間
にゼロ校正及びスパン校正を行なう必要がある。従来の
装置では、ゼロ校正の際、大気を導入して測定装置内蔵
のゼロガス精製器により二酸化硫黄を除去したガスをゼ
ロガスに用いて、ゼロ校正を行う。また、校正ガスの流
路には除湿器も設けられている。除湿器の一例として
は、水分を選択的に透過する膜でできた内管と、通常の
配管材料でできた外管の二重管により構成されており、
外管の圧力を内管の圧力よりも低くすることにより水分
を内側（試料側）から外側（パージ側）へと移動させる
ことにより除湿を行なっている。また、ゼロガスとし
て、校正ガス発生装置によって精製される乾燥したゼロ
ガスを用いることもある。
大気中のＳＯ2濃度を測定する場合、測定中にゼロ点及
びスパン点が変動することがあるので、試料測定の合間
にゼロ校正及びスパン校正を行なう必要がある。従来の
装置では、ゼロ校正の際、大気を導入して測定装置内蔵
のゼロガス精製器により二酸化硫黄を除去したガスをゼ
ロガスに用いて、ゼロ校正を行う。また、校正ガスの流
路には除湿器も設けられている。除湿器の一例として
は、水分を選択的に透過する膜でできた内管と、通常の
配管材料でできた外管の二重管により構成されており、
外管の圧力を内管の圧力よりも低くすることにより水分
を内側（試料側）から外側（パージ側）へと移動させる
ことにより除湿を行なっている。また、ゼロガスとし
て、校正ガス発生装置によって精製される乾燥したゼロ
ガスを用いることもある。
【０００３】スパン校正には校正ガス発生装置を用い
る。校正ガス発生装置は、ゼロガス精製部分と希釈部分
から成り、内蔵のドライヤゼロガス精製器により大気か
ら精製した乾燥したゼロガスによって高濃度の二酸化硫
黄ガスを希釈し、低濃度のスパンガスを発生させるもの
である。校正ガス発生装置によって得られる濃度既知の
スパンガスを用いてスパン校正を行なう。
る。校正ガス発生装置は、ゼロガス精製部分と希釈部分
から成り、内蔵のドライヤゼロガス精製器により大気か
ら精製した乾燥したゼロガスによって高濃度の二酸化硫
黄ガスを希釈し、低濃度のスパンガスを発生させるもの
である。校正ガス発生装置によって得られる濃度既知の
スパンガスを用いてスパン校正を行なう。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】大気を導入して測定装
置内蔵のゼロガス精製器によって精製したガスをゼロガ
スとしてゼロ校正に使用する場合、その後にスパン校正
を行うとき、その水分の影響を受けて指示の安定が遅
く、９０％応答は３分程度であっても、その後ゆるやか
に指示が上昇し、スパン校正開始から６０分経過後も指
示が安定しないことがある。この理由は次のように考え
られる。すなわち、試料中の水分量が安定しているとき
には、流路や除湿器自身の内管に付着した水分は試料中
の水分と平衡状態になっていて、二酸化硫黄濃度の指示
値が水分の影響で不安定になることはない。しかし、水
分を含む大気を流した後、乾燥したスパンガスに切り替
えた場合は、流路や除湿器内管の水分量が乾燥したスパ
ンガスとの平衡に達するまで、つまり流路や除湿器内管
が乾燥するまでは、初めは指示値が低く、徐々に指示値
が上昇していくものと考えられる。従来の測定装置で校
正を行った結果のタイムチャートの一例を図１（Ａ）に
示す。
置内蔵のゼロガス精製器によって精製したガスをゼロガ
スとしてゼロ校正に使用する場合、その後にスパン校正
を行うとき、その水分の影響を受けて指示の安定が遅
く、９０％応答は３分程度であっても、その後ゆるやか
に指示が上昇し、スパン校正開始から６０分経過後も指
示が安定しないことがある。この理由は次のように考え
られる。すなわち、試料中の水分量が安定しているとき
には、流路や除湿器自身の内管に付着した水分は試料中
の水分と平衡状態になっていて、二酸化硫黄濃度の指示
値が水分の影響で不安定になることはない。しかし、水
分を含む大気を流した後、乾燥したスパンガスに切り替
えた場合は、流路や除湿器内管の水分量が乾燥したスパ
ンガスとの平衡に達するまで、つまり流路や除湿器内管
が乾燥するまでは、初めは指示値が低く、徐々に指示値
が上昇していくものと考えられる。従来の測定装置で校
正を行った結果のタイムチャートの一例を図１（Ａ）に
示す。
【０００５】環境大気測定は、１時間値（１時間にわた
る測定値の平均値）を基本としているために、スパン校
正に６０分以上の時間がかかると、１回の校正のために
２回分の欠測が出ることとなるので、非常に不都合があ
る。また、校正ガス発生装置で精製されたゼロガスは乾
燥しているので、そのゼロガスをゼロ校正用のゼロガス
として測定装置へ供給してゼロ校正を行なえば、スパン
ガスを流す前に流路を乾燥させることができるので、大
気中の水分の影響による応答の遅れを抑制することがで
きる。
る測定値の平均値）を基本としているために、スパン校
正に６０分以上の時間がかかると、１回の校正のために
２回分の欠測が出ることとなるので、非常に不都合があ
る。また、校正ガス発生装置で精製されたゼロガスは乾
燥しているので、そのゼロガスをゼロ校正用のゼロガス
として測定装置へ供給してゼロ校正を行なえば、スパン
ガスを流す前に流路を乾燥させることができるので、大
気中の水分の影響による応答の遅れを抑制することがで
きる。
【０００６】しかしながら、二酸化硫黄の吸着性の高さ
のために、校正ガス発生装置の発生ガス濃度の安定に、
典型的には３０分程度の時間が必要である。また、校正
ガス発生装置は、ゼロガス精製機能を使用している場合
には、ガス希釈は行うことができないことが多い。その
ため、校正ガス発生装置の発生ガスを、二酸化硫黄測定
装置の要求に合わせてゼロガス、スパンガスと切り替え
て使用すると、測定装置の応答は速くなっても、スパン
ガス濃度の安定待ちのために、校正に要する時間は長く
なる。本発明は、二酸化硫黄測定装置の校正を、より迅
速に、かつ安定に行うことができるようにすることを目
的とするものである。
のために、校正ガス発生装置の発生ガス濃度の安定に、
典型的には３０分程度の時間が必要である。また、校正
ガス発生装置は、ゼロガス精製機能を使用している場合
には、ガス希釈は行うことができないことが多い。その
ため、校正ガス発生装置の発生ガスを、二酸化硫黄測定
装置の要求に合わせてゼロガス、スパンガスと切り替え
て使用すると、測定装置の応答は速くなっても、スパン
ガス濃度の安定待ちのために、校正に要する時間は長く
なる。本発明は、二酸化硫黄測定装置の校正を、より迅
速に、かつ安定に行うことができるようにすることを目
的とするものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明では、ゼロ校正を
行う際、測定装置にスパンガスを導入して装置内蔵のゼ
ロガス精製器によってスパンガスから二酸化硫黄を除
き、それをゼロガスとして校正に使用した後、流路を切
り替えてスパンガスを検出部へ直接流し、スパン校正を
行う。詳しく述べると、校正ガス発生装置により供給さ
れるスパンガスは乾燥している。そのスパンガスを測定
装置に導入し、内部流路をゼロガス精製流路に切り替え
て二酸化硫黄を除去し、ゼロガスとして検出部に供給
し、ゼロ校正を行う。指示が安定したところをゼロ点と
し、内部流路を切り替えてスパンガスを直接検出部に供
給し、スパン校正を行う。指示が安定したところをスパ
ン点とし、校正を終了する。
行う際、測定装置にスパンガスを導入して装置内蔵のゼ
ロガス精製器によってスパンガスから二酸化硫黄を除
き、それをゼロガスとして校正に使用した後、流路を切
り替えてスパンガスを検出部へ直接流し、スパン校正を
行う。詳しく述べると、校正ガス発生装置により供給さ
れるスパンガスは乾燥している。そのスパンガスを測定
装置に導入し、内部流路をゼロガス精製流路に切り替え
て二酸化硫黄を除去し、ゼロガスとして検出部に供給
し、ゼロ校正を行う。指示が安定したところをゼロ点と
し、内部流路を切り替えてスパンガスを直接検出部に供
給し、スパン校正を行う。指示が安定したところをスパ
ン点とし、校正を終了する。
【０００８】スパンガスを測定装置内蔵のゼロガス精製
器によって精製したゼロガスは乾燥しているので、水分
によるスパン点の指示の安定の遅れは生じない。
器によって精製したゼロガスは乾燥しているので、水分
によるスパン点の指示の安定の遅れは生じない。
【０００９】
【実施例】図２に本発明が適用される測定装置の一例を
示す。校正ガス発生装置１には、大気からＳＯ2を除去
するとともに水分も除去して、乾燥した精製空気をゼロ
ガスとして生成するドライヤゼロガス精製器３、ＳＯ2
標準ガスボンベ５、及びドライヤゼロガス精製器３で生
成したゼロガスとＳＯ2標準ガスボンベ５からの標準ガ
スを混合して指定濃度のスパンガスを生成する混合希釈
部７が備えられている。
示す。校正ガス発生装置１には、大気からＳＯ2を除去
するとともに水分も除去して、乾燥した精製空気をゼロ
ガスとして生成するドライヤゼロガス精製器３、ＳＯ2
標準ガスボンベ５、及びドライヤゼロガス精製器３で生
成したゼロガスとＳＯ2標準ガスボンベ５からの標準ガ
スを混合して指定濃度のスパンガスを生成する混合希釈
部７が備えられている。
【００１０】二酸化硫黄測定装置９には、ガスの入口と
して校正ガス入口１１と試料入口１３が設けられてお
り、各ガスの入口につながる流路は、バルブ１２、１４
をそれぞれ介して、ガス主流路としての内部流路１５に
合流している。内部流路１５には、バルブ１６により切
り替えられるゼロガス精製流路１７がバイパス流路とし
て設けられており、そのゼロガス精製流路１７にはＳＯ
2を除去するゼロガス精製器１９が備えられている。内
部流路１５の下流に検出部２１が設けられており、検出
部２１の下流はガスを吸引するポンプ２３を経て排出口
へつながっている。検出部２１は紫外線照射を行って蛍
光検出を行う紫外線蛍光法式のものである。装置の校正
を行う際、校正ガス発生装置１は手動又は自動で、直ち
に又は前もってスパンガスの発生を開始する。バルブ１
２を開きバルブ１４を閉じて、二酸化硫黄測定装置９に
スパンガスを校正ガス入口１１より導入し、内部流路１
５に送る。
して校正ガス入口１１と試料入口１３が設けられてお
り、各ガスの入口につながる流路は、バルブ１２、１４
をそれぞれ介して、ガス主流路としての内部流路１５に
合流している。内部流路１５には、バルブ１６により切
り替えられるゼロガス精製流路１７がバイパス流路とし
て設けられており、そのゼロガス精製流路１７にはＳＯ
2を除去するゼロガス精製器１９が備えられている。内
部流路１５の下流に検出部２１が設けられており、検出
部２１の下流はガスを吸引するポンプ２３を経て排出口
へつながっている。検出部２１は紫外線照射を行って蛍
光検出を行う紫外線蛍光法式のものである。装置の校正
を行う際、校正ガス発生装置１は手動又は自動で、直ち
に又は前もってスパンガスの発生を開始する。バルブ１
２を開きバルブ１４を閉じて、二酸化硫黄測定装置９に
スパンガスを校正ガス入口１１より導入し、内部流路１
５に送る。
【００１１】まず、ゼロ校正を行うために、バルブ１６
によりガスの流れをゼロガス精製流路１７に切り替え
て、スパンガスをゼロガス精製器１９に送り、二酸化硫
黄を取り除く。ゼロガス精製器１９で精製されたガスを
ゼロガスとして検出部２１に供給し、ゼロガスに対する
検出部２１の指示が安定したところで、手動又は自動で
ゼロ校正を行う。次に、スパン校正を行うために、バル
ブ１６によりガスの流れを切り替え、スパンガスが検出
部２１に直接流れるようにする。スパンガスに対する検
出部２１の指示が安定したところで、手動又は自動でス
パン校正を行う。
によりガスの流れをゼロガス精製流路１７に切り替え
て、スパンガスをゼロガス精製器１９に送り、二酸化硫
黄を取り除く。ゼロガス精製器１９で精製されたガスを
ゼロガスとして検出部２１に供給し、ゼロガスに対する
検出部２１の指示が安定したところで、手動又は自動で
ゼロ校正を行う。次に、スパン校正を行うために、バル
ブ１６によりガスの流れを切り替え、スパンガスが検出
部２１に直接流れるようにする。スパンガスに対する検
出部２１の指示が安定したところで、手動又は自動でス
パン校正を行う。
【００１２】図１（Ｂ）に実施例での校正の結果のタイ
ムチャ−トの一例を示す。ゼロガスが乾燥しているの
で、スパン校正開始からスパン点の指示の安定までの時
間は短くなり、ゼロ校正とスパン校正を合わせても１時
間以内に終了させることができる。なお、スパンガス
は、必ずしも実施例のように校正ガス発生装置により供
給されたものに限定する必要はなく、空気バランスの低
濃度二酸化硫黄ガスボンベから供給してもよい。
ムチャ−トの一例を示す。ゼロガスが乾燥しているの
で、スパン校正開始からスパン点の指示の安定までの時
間は短くなり、ゼロ校正とスパン校正を合わせても１時
間以内に終了させることができる。なお、スパンガス
は、必ずしも実施例のように校正ガス発生装置により供
給されたものに限定する必要はなく、空気バランスの低
濃度二酸化硫黄ガスボンベから供給してもよい。
【００１３】
【発明の効果】本発明は、ゼロガス精製器を内蔵する環
境大気用二酸化硫黄測定装置において、乾燥したスパン
ガスの二酸化硫黄をゼロガス精製器によって除去してゼ
ロガスとしてゼロ校正を行い、続いてそのスパンガスを
用いてスパン校正を行うので、大気中の水分による指示
の安定の遅れを防ぐことができ、校正に要する時間を１
時間以内に抑えることができる。校正の所要時間を１時
間以内にすることで、試料測定の、校正による欠測を１
回にすることができ、より迅速で安定な校正を行うこと
が可能になる。
境大気用二酸化硫黄測定装置において、乾燥したスパン
ガスの二酸化硫黄をゼロガス精製器によって除去してゼ
ロガスとしてゼロ校正を行い、続いてそのスパンガスを
用いてスパン校正を行うので、大気中の水分による指示
の安定の遅れを防ぐことができ、校正に要する時間を１
時間以内に抑えることができる。校正の所要時間を１時
間以内にすることで、試料測定の、校正による欠測を１
回にすることができ、より迅速で安定な校正を行うこと
が可能になる。
【図１】従来の装置で方法を行った結果のタイムチャ−
トの一例（Ａ）と、本発明の一実施例の方法で校正を行
った結果のタイムチャ−トの一例（Ｂ）を示す図であ
る。
トの一例（Ａ）と、本発明の一実施例の方法で校正を行
った結果のタイムチャ−トの一例（Ｂ）を示す図であ
る。
【図２】本発明が適用される環境大気二酸化硫黄測定装
置の一例を示す概略構成図である。
置の一例を示す概略構成図である。
１ 校正ガス発生装置 ３ ドライヤゼロガス精製器 ５ ＳＯ2標準ガスボンベ ７ 混合希釈部 ９ 二酸化硫黄測定装置 １１ 校正ガス入口 １２，１４，１６ バルブ １３ 試料入口 １５ 内部流路 １７ ゼロガス精製流路 １９ ゼロガス精製器 ２１ 検出部 ２３ ポンプ
Claims (1)
- 【請求項１】 ゼロガス精製器を内蔵する環境大気用二
酸化硫黄測定装置における校正方法において、 前記ゼロガス精製器によってスパンガスから二酸化硫黄
を除去してゼロガスを精製し、そのゼロガスを用いてゼ
ロ校正を行い、続いてスパンガスを用いてスパン校正を
行うことを特徴とする環境大気用二酸化硫黄測定装置の
校正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12480097A JPH10300640A (ja) | 1997-04-28 | 1997-04-28 | 環境大気用二酸化硫黄測定装置の校正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12480097A JPH10300640A (ja) | 1997-04-28 | 1997-04-28 | 環境大気用二酸化硫黄測定装置の校正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10300640A true JPH10300640A (ja) | 1998-11-13 |
Family
ID=14894447
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12480097A Pending JPH10300640A (ja) | 1997-04-28 | 1997-04-28 | 環境大気用二酸化硫黄測定装置の校正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10300640A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009042184A (ja) * | 2007-08-10 | 2009-02-26 | Kimoto Denshi Kogyo Kk | ガス計測器 |
| JP2009047610A (ja) * | 2007-08-21 | 2009-03-05 | Kimoto Denshi Kogyo Kk | オゾン測定装置 |
| JP2010014727A (ja) * | 2009-09-24 | 2010-01-21 | Hitachi High-Technologies Corp | 化学物質モニタ装置及び化学物質モニタ方法 |
| JP2011081017A (ja) * | 2011-01-24 | 2011-04-21 | Hitachi High-Technologies Corp | 化学物質モニタ装置及び化学物質モニタ方法 |
| WO2011077938A1 (ja) * | 2009-12-25 | 2011-06-30 | 株式会社堀場製作所 | ガス分析装置 |
| CN113588883A (zh) * | 2021-08-02 | 2021-11-02 | 中科三清科技有限公司 | 一种进行自动校准的环境空气质量监测装置 |
| WO2022024407A1 (ja) * | 2020-07-28 | 2022-02-03 | 株式会社トラステック愛知 | ガス濃度検知装置 |
| WO2023282282A1 (ja) * | 2021-07-09 | 2023-01-12 | 株式会社島津製作所 | ガス測定装置 |
-
1997
- 1997-04-28 JP JP12480097A patent/JPH10300640A/ja active Pending
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009042184A (ja) * | 2007-08-10 | 2009-02-26 | Kimoto Denshi Kogyo Kk | ガス計測器 |
| JP2009047610A (ja) * | 2007-08-21 | 2009-03-05 | Kimoto Denshi Kogyo Kk | オゾン測定装置 |
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| WO2011077938A1 (ja) * | 2009-12-25 | 2011-06-30 | 株式会社堀場製作所 | ガス分析装置 |
| JPWO2011077938A1 (ja) * | 2009-12-25 | 2013-05-02 | 株式会社堀場製作所 | ガス分析装置 |
| JP5792956B2 (ja) * | 2009-12-25 | 2015-10-14 | 株式会社堀場製作所 | ガス分析装置 |
| US9347875B2 (en) | 2009-12-25 | 2016-05-24 | Horiba, Ltd. | Gas analyzing system |
| JP2011081017A (ja) * | 2011-01-24 | 2011-04-21 | Hitachi High-Technologies Corp | 化学物質モニタ装置及び化学物質モニタ方法 |
| WO2022024407A1 (ja) * | 2020-07-28 | 2022-02-03 | 株式会社トラステック愛知 | ガス濃度検知装置 |
| JP2022024437A (ja) * | 2020-07-28 | 2022-02-09 | 株式会社トラステック愛知 | ガス濃度検知装置 |
| WO2023282282A1 (ja) * | 2021-07-09 | 2023-01-12 | 株式会社島津製作所 | ガス測定装置 |
| CN113588883A (zh) * | 2021-08-02 | 2021-11-02 | 中科三清科技有限公司 | 一种进行自动校准的环境空气质量监测装置 |
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