JP3261272B2 - 流体変調型分析計の校正装置とその校正方法 - Google Patents
流体変調型分析計の校正装置とその校正方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば、ボイラー燃焼
排ガス中の複数の成分を分析測定するための流体変調型
分析計の校正装置とその校正方法に関する。
排ガス中の複数の成分を分析測定するための流体変調型
分析計の校正装置とその校正方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】測定成分中にＳＯ2 が含まれる場合、そ
のＳＯ2 は水に対して溶解吸着しやすいため、サンプル
ガス中に水分が存在していると、応答遅れが生じる。
のＳＯ2 は水に対して溶解吸着しやすいため、サンプル
ガス中に水分が存在していると、応答遅れが生じる。
【０００３】例えばボイラー燃焼排ガスを測定する場
合、環境温度飽和以上の水分を含む条件下でＳＯ2 成分
を測定しなければならない。従って、サンプルガス中の
水分による影響（例えば赤外線ガス分析計であれば、Ｈ
2 Ｏによる干渉ガス影響等）を少なくするために、例え
ば図４に示すように、電子冷却器４を用いてサンプルガ
ス中の水分濃度を一定値まで低下させる方法が採られる
のが一般的である。なお、同図中、１はサンプルガスラ
イン、２は比較ガスライン、３は吸引ポンプ、５は電磁
三方弁、６はキャピラリ、７は流体変調型分析計の本体
である。
合、環境温度飽和以上の水分を含む条件下でＳＯ2 成分
を測定しなければならない。従って、サンプルガス中の
水分による影響（例えば赤外線ガス分析計であれば、Ｈ
2 Ｏによる干渉ガス影響等）を少なくするために、例え
ば図４に示すように、電子冷却器４を用いてサンプルガ
ス中の水分濃度を一定値まで低下させる方法が採られる
のが一般的である。なお、同図中、１はサンプルガスラ
イン、２は比較ガスライン、３は吸引ポンプ、５は電磁
三方弁、６はキャピラリ、７は流体変調型分析計の本体
である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、校正の際に、
電子冷却器４内のサンプルガスラインにＳＯ2 を校正ガ
スとして導入すると、内部に存在している水分にＳＯ2
が吸着されて応答遅れが生じ、スパン校正に長時間を要
して、校正ガスの消費も甚だしかった。この点について
は、ゼロ校正時においても同様であった。なお、ＳＯ2
に限らずＮＨ3 、ＮＯ2 等の溶解損失の大きなガスの場
合にも同様の難点となっていた。
電子冷却器４内のサンプルガスラインにＳＯ2 を校正ガ
スとして導入すると、内部に存在している水分にＳＯ2
が吸着されて応答遅れが生じ、スパン校正に長時間を要
して、校正ガスの消費も甚だしかった。この点について
は、ゼロ校正時においても同様であった。なお、ＳＯ2
に限らずＮＨ3 、ＮＯ2 等の溶解損失の大きなガスの場
合にも同様の難点となっていた。
【０００５】また、電子冷却器４を経由させずにドライ
な校正ガスを導入する場合には、水分分圧や水分干渉等
の補正を行う必要があり、そのために、装置の構成が複
雑化する難点があった。
な校正ガスを導入する場合には、水分分圧や水分干渉等
の補正を行う必要があり、そのために、装置の構成が複
雑化する難点があった。
【０００６】本発明はこのような実情に鑑みてなされ、
溶解損失の大きな測定成分を含む場合でも、校正時間が
短時間で済み、かつ校正ガスの消費も少ない校正装置と
その校正方法を提供することを目的としている。
溶解損失の大きな測定成分を含む場合でも、校正時間が
短時間で済み、かつ校正ガスの消費も少ない校正装置と
その校正方法を提供することを目的としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述の課題を
解決するための手段を以下のように構成している。すな
わち、請求項１に記載の発明では、サンプルガスライン
と比較ガスラインとが、除湿手段を介して流体変調型分
析計に接続されるとともに、前記比較ガスラインの前記
除湿手段と流体変調型分析計との間に流路切換弁を設
け、この流路切換弁と、前記サンプルガスラインの前記
除湿手段と流体変調型分析計との間の点とを接続するよ
うにバイパス流路を設け、ゼロ校正時、前記比較ガスラ
インから導入したゼロガスを、前記除湿手段内のサンプ
ルガスラインを通さず、比較ガスラインを経由させた
後、前記流路切換弁およびバイパス流路を介して前記サ
ンプルガスライン側のラインから前記流体変調型分析計
に導入するようにしたことを特徴としている。
解決するための手段を以下のように構成している。すな
わち、請求項１に記載の発明では、サンプルガスライン
と比較ガスラインとが、除湿手段を介して流体変調型分
析計に接続されるとともに、前記比較ガスラインの前記
除湿手段と流体変調型分析計との間に流路切換弁を設
け、この流路切換弁と、前記サンプルガスラインの前記
除湿手段と流体変調型分析計との間の点とを接続するよ
うにバイパス流路を設け、ゼロ校正時、前記比較ガスラ
インから導入したゼロガスを、前記除湿手段内のサンプ
ルガスラインを通さず、比較ガスラインを経由させた
後、前記流路切換弁およびバイパス流路を介して前記サ
ンプルガスライン側のラインから前記流体変調型分析計
に導入するようにしたことを特徴としている。
【０００８】請求項２に記載の発明では、サンプルガス
ラインが除湿手段を介して流体変調型分析計に接続され
る一方、比較ガスラインが流路切換弁を介して前記流体
変調型分析計に接続され、かつ前記流路切換弁と、前記
サンプルガスラインの前記除湿手段と流体変調型分析計
の間との間の点とを接続するようにバイパス流路を設
け、ゼロ校正時、前記比較ガスラインから導入したゼロ
ガスを、前記除湿手段を通すことなく、前記流路切換弁
およびバイパス流路を介して前記サンプルガスライン側
のラインから前記流体変調型分析計に導入するようにし
たことを特徴としている。
ラインが除湿手段を介して流体変調型分析計に接続され
る一方、比較ガスラインが流路切換弁を介して前記流体
変調型分析計に接続され、かつ前記流路切換弁と、前記
サンプルガスラインの前記除湿手段と流体変調型分析計
の間との間の点とを接続するようにバイパス流路を設
け、ゼロ校正時、前記比較ガスラインから導入したゼロ
ガスを、前記除湿手段を通すことなく、前記流路切換弁
およびバイパス流路を介して前記サンプルガスライン側
のラインから前記流体変調型分析計に導入するようにし
たことを特徴としている。
【０００９】請求項３に記載の発明では、サンプルガス
ラインと比較ガスラインとが、除湿手段を介して流体変
調型分析計に接続されるとともに、前記比較ガスライン
の前記除湿手段と流体変調型分析計との間に流路切換弁
を設け、この流路切換弁と、前記サンプルガスラインの
前記除湿手段と流体変調型分析計との間の点とを接続す
るようにバイパス流路を設け、溶解損失の大きいガスが
測定成分として含まれる複数の測定成分を行う際、前記
溶解損失の大きいガスのスパン校正を最後に行うように
したことを特徴としている。
ラインと比較ガスラインとが、除湿手段を介して流体変
調型分析計に接続されるとともに、前記比較ガスライン
の前記除湿手段と流体変調型分析計との間に流路切換弁
を設け、この流路切換弁と、前記サンプルガスラインの
前記除湿手段と流体変調型分析計との間の点とを接続す
るようにバイパス流路を設け、溶解損失の大きいガスが
測定成分として含まれる複数の測定成分を行う際、前記
溶解損失の大きいガスのスパン校正を最後に行うように
したことを特徴としている。
【００１０】
【作用】請求項１に記載の発明では、ゼロ校正時には、
ゼロガスを比較ガスラインの入口から導入して除湿手段
中の比較ガスラインを流過させた後、流路切換弁、バイ
パス流路を介してサンプルガスライン側から流体変調型
分析計に導入する。
ゼロガスを比較ガスラインの入口から導入して除湿手段
中の比較ガスラインを流過させた後、流路切換弁、バイ
パス流路を介してサンプルガスライン側から流体変調型
分析計に導入する。
【００１１】また、スパン校正時には、バイパス流路を
閉塞して、ゼロガスを、もっぱら比較ガスラインを介し
て流体変調型分析計に導入する一方、サンプルガスライ
ンを介してスパン校正ガスを導入する。その際に、ＳＯ
2 スパンガスは他のスパンガスの校正終了後に導入す
る。
閉塞して、ゼロガスを、もっぱら比較ガスラインを介し
て流体変調型分析計に導入する一方、サンプルガスライ
ンを介してスパン校正ガスを導入する。その際に、ＳＯ
2 スパンガスは他のスパンガスの校正終了後に導入す
る。
【００１２】請求項２に記載の発明では、特に計測対象
が単一成分である場合に適用され、ゼロガスおよびスパ
ン校正ガスを除湿手段を通すことなく、バイパス流路を
介して流体変調型分析計に導入する。
が単一成分である場合に適用され、ゼロガスおよびスパ
ン校正ガスを除湿手段を通すことなく、バイパス流路を
介して流体変調型分析計に導入する。
【００１３】
【実施例】以下に本発明の流体変調型分析計の校正装置
とその校正方法の実施例について詳細に説明する。図１
は校正装置の構成を示し、符号１はサンプルガスライン
で、このサンプルガスライン１には、煙道内に配置され
るプローブ１１、フィルタ１２、ドレンセパレータ１
３、電子冷却器（除湿手段）４Ａ、ミストキャッチャー
１５、スクラバー１６、ＮＯX コンバータ１７、フィル
タ１２、ニードルバルブ１８、ポンプ３、絞り１９が下
流側に向けて順次配設され、電子冷却器（除湿手段）４
Ｂを経由した後、一点鎖線で囲まれる流体変調型分析計
Ｃに導入接続される。
とその校正方法の実施例について詳細に説明する。図１
は校正装置の構成を示し、符号１はサンプルガスライン
で、このサンプルガスライン１には、煙道内に配置され
るプローブ１１、フィルタ１２、ドレンセパレータ１
３、電子冷却器（除湿手段）４Ａ、ミストキャッチャー
１５、スクラバー１６、ＮＯX コンバータ１７、フィル
タ１２、ニードルバルブ１８、ポンプ３、絞り１９が下
流側に向けて順次配設され、電子冷却器（除湿手段）４
Ｂを経由した後、一点鎖線で囲まれる流体変調型分析計
Ｃに導入接続される。
【００１４】２は大気をゼロガスとして導入するための
比較ガスラインで、スクラバー１６、フィルタ１２、ノ
ーマルオープンの電磁三方弁９、ニードルバルブ１８、
ポンプ３が下流側に向けて順次配設され、電子冷却器４
Ｂを経由した後、電磁三方弁１０を介してノーマルオー
プンで流体変調型分析計Ｃに導入接続される。前記電磁
三方弁１０はノーマルクローズでバイパス流路２１を介
してサンプルガスライン１の合流点１Ｂと接続されてい
る。このバイパス流路２１により、ゼロ校正時にゼロガ
スを電子冷却器４Ｂ中の比較ガスライン２に通すことが
でき、水分干渉の影響を受けないようにすることがで
き、校正時間の短縮が可能となる。ちなみに、その校正
時間については、従来１５分であったのが、３分程度と
なった。
比較ガスラインで、スクラバー１６、フィルタ１２、ノ
ーマルオープンの電磁三方弁９、ニードルバルブ１８、
ポンプ３が下流側に向けて順次配設され、電子冷却器４
Ｂを経由した後、電磁三方弁１０を介してノーマルオー
プンで流体変調型分析計Ｃに導入接続される。前記電磁
三方弁１０はノーマルクローズでバイパス流路２１を介
してサンプルガスライン１の合流点１Ｂと接続されてい
る。このバイパス流路２１により、ゼロ校正時にゼロガ
スを電子冷却器４Ｂ中の比較ガスライン２に通すことが
でき、水分干渉の影響を受けないようにすることがで
き、校正時間の短縮が可能となる。ちなみに、その校正
時間については、従来１５分であったのが、３分程度と
なった。
【００１５】流体変調型分析計Ｃについては、サンプル
ガスライン１と比較ガスライン２とに接続される両ライ
ン１Ｃ，２Ｃには、それぞれフィルタ１２、電磁三方弁
５、キャピラリ６が配設され、かつ、その両電磁三方弁
５，５がそれぞれノーマルクローズで他方のライン側に
接続され、サンプルガスとゼロガスとを交互に分析計７
に導入できるようになっている。なお、８は流量計であ
る。
ガスライン１と比較ガスライン２とに接続される両ライ
ン１Ｃ，２Ｃには、それぞれフィルタ１２、電磁三方弁
５、キャピラリ６が配設され、かつ、その両電磁三方弁
５，５がそれぞれノーマルクローズで他方のライン側に
接続され、サンプルガスとゼロガスとを交互に分析計７
に導入できるようになっている。なお、８は流量計であ
る。
【００１６】前述の比較ガスライン２の上流側に設けら
れる電磁三方弁９には、ノーマルクローズでゼロガスラ
イン２２と接続され、ゼロ校正時およびスパン校正時
に、Ｎ2 ガスボンベ２３から調圧弁２４を介してＮ2 ガ
スをゼロガスとして比較ガスライン２に導入できるよう
になっている。
れる電磁三方弁９には、ノーマルクローズでゼロガスラ
イン２２と接続され、ゼロ校正時およびスパン校正時
に、Ｎ2 ガスボンベ２３から調圧弁２４を介してＮ2 ガ
スをゼロガスとして比較ガスライン２に導入できるよう
になっている。
【００１７】一方、サンプルガスライン１における電子
冷却器４Ｂの前段には、スパン校正ライン２７が合流接
続されている。このスパン校正ライン２７は、スパン校
正用のＮＯガスボンベ３１、ＳＯ2 ガスボンベ３２、Ｃ
Ｏガスボンベ３３、ＣＯ2 ガスボンベ３４、Ｏ2 ガスボ
ンベ（オプション）３５が、それぞれ調圧弁２４、電磁
開閉弁２５１〜２５５とともに、並列に接続されて成
る。
冷却器４Ｂの前段には、スパン校正ライン２７が合流接
続されている。このスパン校正ライン２７は、スパン校
正用のＮＯガスボンベ３１、ＳＯ2 ガスボンベ３２、Ｃ
Ｏガスボンベ３３、ＣＯ2 ガスボンベ３４、Ｏ2 ガスボ
ンベ（オプション）３５が、それぞれ調圧弁２４、電磁
開閉弁２５１〜２５５とともに、並列に接続されて成
る。
【００１８】また、その合流点よりも下流側で分岐した
ライン２８と、比較ガスライン２から分岐したライン２
９には、それぞれバッファタンク３６を介してドレンポ
ット４１，４２が接続されている。なお、このサンプル
ガスライン１における電子冷却器４Ａの前段と、流体変
調型分析計Ｃの後段とにかけて、サンプルガスの取り込
み量を調整するためのバイパスライン２６が設けられて
いる。
ライン２８と、比較ガスライン２から分岐したライン２
９には、それぞれバッファタンク３６を介してドレンポ
ット４１，４２が接続されている。なお、このサンプル
ガスライン１における電子冷却器４Ａの前段と、流体変
調型分析計Ｃの後段とにかけて、サンプルガスの取り込
み量を調整するためのバイパスライン２６が設けられて
いる。
【００１９】以上のように構成される流体変調型分析計
の校正装置では、電磁三方弁９，１０のノーマルオープ
ンの状態で、サンプルガスライン１からサンプルガスを
導入するとともに、比較ガスライン２から大気をゼロガ
スとして導入し、かつ両電磁三方弁５，５を交互にオン
・オフすることによって、分析計７にサンプルガスとゼ
ロガスとを交互に導入して成分ガスの濃度を測定するこ
とができる。
の校正装置では、電磁三方弁９，１０のノーマルオープ
ンの状態で、サンプルガスライン１からサンプルガスを
導入するとともに、比較ガスライン２から大気をゼロガ
スとして導入し、かつ両電磁三方弁５，５を交互にオン
・オフすることによって、分析計７にサンプルガスとゼ
ロガスとを交互に導入して成分ガスの濃度を測定するこ
とができる。
【００２０】一方、ゼロ校正時には、電磁三方弁１０を
オンとして、比較ガスライン２から導入した大気を電子
冷却器４Ｂを経由させた後、バイパス流路２１を介して
サンプルガスライン側のライン１Ｃから分析計７に導入
させる。これにより、電子冷却器４Ｂ内のドレンに溶解
したＳＯ2 等による指示の応答遅れがなく、校正時の指
示の安定が早く得られ、校正時間が短縮される。また、
ゼロガスとしてＮ2 ガスを使用する場合には、Ｎ2 ガス
の使用量を１／２以下に抑えることができる。なお、電
子冷却器４Ｂ内では、特に、サンプルガスライン１内に
ドレンの析出があるため、電子冷却器４Ｂ内のサンプル
ガスライン１にＮ2 ガスを通さないようにしたのであ
る。
オンとして、比較ガスライン２から導入した大気を電子
冷却器４Ｂを経由させた後、バイパス流路２１を介して
サンプルガスライン側のライン１Ｃから分析計７に導入
させる。これにより、電子冷却器４Ｂ内のドレンに溶解
したＳＯ2 等による指示の応答遅れがなく、校正時の指
示の安定が早く得られ、校正時間が短縮される。また、
ゼロガスとしてＮ2 ガスを使用する場合には、Ｎ2 ガス
の使用量を１／２以下に抑えることができる。なお、電
子冷却器４Ｂ内では、特に、サンプルガスライン１内に
ドレンの析出があるため、電子冷却器４Ｂ内のサンプル
ガスライン１にＮ2 ガスを通さないようにしたのであ
る。
【００２１】他方、スパン校正時には、バイパス流路２
１を閉として、サンプルガスライン１にスパン校正用の
ガスを導入するとともに、比較ガスライン２に大気また
はＮ2 ガスをゼロガスとして導入し、スパン校正ガスと
ゼロガスとを交互に分析計７に導入する。その際、ＳＯ
2 のスパン校正を最後に行うことにより、電子冷却器４
Ｂ内でＳＯ2 を吸着した状態でサンプルガスに切り換わ
るから、ＳＯ2 の溶解による応答遅れがなくなる。従っ
て、スパンガスからサンプルガスに切り換えられたとき
の置換時間が短くなり、トータルの校正時間の短縮を実
現することができる。スパン校正の順序としては、例え
ば最初にＮＯ、次いでＣＯ、ＣＯ2 、Ｏ2 そしてＳＯ2
の順にスパン校正を行えばよい。
１を閉として、サンプルガスライン１にスパン校正用の
ガスを導入するとともに、比較ガスライン２に大気また
はＮ2 ガスをゼロガスとして導入し、スパン校正ガスと
ゼロガスとを交互に分析計７に導入する。その際、ＳＯ
2 のスパン校正を最後に行うことにより、電子冷却器４
Ｂ内でＳＯ2 を吸着した状態でサンプルガスに切り換わ
るから、ＳＯ2 の溶解による応答遅れがなくなる。従っ
て、スパンガスからサンプルガスに切り換えられたとき
の置換時間が短くなり、トータルの校正時間の短縮を実
現することができる。スパン校正の順序としては、例え
ば最初にＮＯ、次いでＣＯ、ＣＯ2 、Ｏ2 そしてＳＯ2
の順にスパン校正を行えばよい。
【００２２】このような校正方法により、校正時間を１
／２以下に短縮することができ、欠測時間、メンテナン
ス時間、校正ガス消費量のいずれをも１／２以下とする
ことができる。なお、このような校正方法は、ＳＯ2 に
限らず、ＮＨ3 やＮＯ2 等の溶解損失の大きなガスに対
しても有効であることはいうまでもない。
／２以下に短縮することができ、欠測時間、メンテナン
ス時間、校正ガス消費量のいずれをも１／２以下とする
ことができる。なお、このような校正方法は、ＳＯ2 に
限らず、ＮＨ3 やＮＯ2 等の溶解損失の大きなガスに対
しても有効であることはいうまでもない。
【００２３】図２は異なる実施例を示し、計測対象が単
一成分の場合には、比較ガスライン２を、電子冷却器４
Ｂを通さずに電磁三方弁１０に接続させた構成としても
よい。また、除湿手段として、電子冷却器４Ｂに代えて
半透膜除湿器４Ｃを採用することもできる（図３参
照）。
一成分の場合には、比較ガスライン２を、電子冷却器４
Ｂを通さずに電磁三方弁１０に接続させた構成としても
よい。また、除湿手段として、電子冷却器４Ｂに代えて
半透膜除湿器４Ｃを採用することもできる（図３参
照）。
【００２４】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１に記載の
発明では、サンプルガスラインと比較ガスラインとが、
除湿手段を介して流体変調型分析計に接続されるととも
に、前記比較ガスラインの前記除湿手段と流体変調型分
析計との間に流路切換弁を設け、この流路切換弁と、前
記サンプルガスラインの前記除湿手段と流体変調型分析
計との間の点とを接続するようにバイパス流路を設け、
ゼロ校正時、前記比較ガスラインから導入したゼロガス
を、前記除湿手段内のサンプルガスラインを通さず、比
較ガスラインを経由させた後、前記流路切換弁およびバ
イパス流路を介して前記サンプルガスライン側のライン
から前記流体変調型分析計に導入するようにしているの
で、ゼロ校正に要する時間の短縮とゼロガスの消費量の
削減が可能となる。 そして、請求項２に記載の発明で
は、サンプルガスラインが除湿手段を介して流体変調型
分析計に接続される一方、比較ガスラインが流路切換弁
を介して前記流体変調型分析計に接続され、かつ前記流
路切換弁と、前記サンプルガスラインの前記除湿手段と
流体変調型分析計の間との間の点とを接続するようにバ
イパス流路を設け、ゼロ校正時、前記比較ガスラインか
ら導入したゼロガスを、前記除湿手段を通すことなく、
前記流路切換弁およびバイパス流路を介して前記サンプ
ルガスライン側のラインから前記流体変調型分析計に導
入するようにしているので、前記請求項１に記載の発明
と同様の効果が得られる。なお、この構成は、測定対象
成分が単一の場合、特に有効である。また、請求項３に
記載の発明では、サンプルガスラインと比較ガスライン
とが 、除湿手段を介して流体変調型分析計に接続される
とともに、前記比較ガスラインの前記除湿手段と流体変
調型分析計との間に流路切換弁を設け、この流路切換弁
と、前記サンプルガスラインの前記除湿手段と流体変調
型分析計との間の点とを接続するようにバイパス流路を
設け、溶解損失の大きいガスが測定成分として含まれる
複数の測定成分を行う際、前記溶解損失の大きいガスの
スパン校正を最後に行うようにしているので、複数成分
を測定対象とする場合に、溶解損失の大きいＳＯ2 やＮ
Ｈ3 、ＮＯ2 等のスパン校正を最後に行うことによって
除湿手段内での吸着による損失を最小限に止めることが
でき、校正時の信頼性を向上させることができる。
発明では、サンプルガスラインと比較ガスラインとが、
除湿手段を介して流体変調型分析計に接続されるととも
に、前記比較ガスラインの前記除湿手段と流体変調型分
析計との間に流路切換弁を設け、この流路切換弁と、前
記サンプルガスラインの前記除湿手段と流体変調型分析
計との間の点とを接続するようにバイパス流路を設け、
ゼロ校正時、前記比較ガスラインから導入したゼロガス
を、前記除湿手段内のサンプルガスラインを通さず、比
較ガスラインを経由させた後、前記流路切換弁およびバ
イパス流路を介して前記サンプルガスライン側のライン
から前記流体変調型分析計に導入するようにしているの
で、ゼロ校正に要する時間の短縮とゼロガスの消費量の
削減が可能となる。 そして、請求項２に記載の発明で
は、サンプルガスラインが除湿手段を介して流体変調型
分析計に接続される一方、比較ガスラインが流路切換弁
を介して前記流体変調型分析計に接続され、かつ前記流
路切換弁と、前記サンプルガスラインの前記除湿手段と
流体変調型分析計の間との間の点とを接続するようにバ
イパス流路を設け、ゼロ校正時、前記比較ガスラインか
ら導入したゼロガスを、前記除湿手段を通すことなく、
前記流路切換弁およびバイパス流路を介して前記サンプ
ルガスライン側のラインから前記流体変調型分析計に導
入するようにしているので、前記請求項１に記載の発明
と同様の効果が得られる。なお、この構成は、測定対象
成分が単一の場合、特に有効である。また、請求項３に
記載の発明では、サンプルガスラインと比較ガスライン
とが 、除湿手段を介して流体変調型分析計に接続される
とともに、前記比較ガスラインの前記除湿手段と流体変
調型分析計との間に流路切換弁を設け、この流路切換弁
と、前記サンプルガスラインの前記除湿手段と流体変調
型分析計との間の点とを接続するようにバイパス流路を
設け、溶解損失の大きいガスが測定成分として含まれる
複数の測定成分を行う際、前記溶解損失の大きいガスの
スパン校正を最後に行うようにしているので、複数成分
を測定対象とする場合に、溶解損失の大きいＳＯ2 やＮ
Ｈ3 、ＮＯ2 等のスパン校正を最後に行うことによって
除湿手段内での吸着による損失を最小限に止めることが
でき、校正時の信頼性を向上させることができる。
【図１】本発明の流体変調型分析計の校正装置の一実施
例を示す構成図である。
例を示す構成図である。
【図２】単一成分を測定対象とする場合の前記校正装置
の要部の構成の一例を示す図である。
の要部の構成の一例を示す図である。
【図３】単一成分を測定対象とする場合の前記校正装置
の要部の構成の他の例を示す図である。
の要部の構成の他の例を示す図である。
【図４】従来の流体変調型分析計の校正装置の一例を示
す構成図である。
す構成図である。
１…サンプルガスライン、１Ｂ…サンプルガスラインの
除湿手段と流体変調型分析計との間の点、１Ｃ…サンプ
ルガスライン側のライン、２…比較ガスライン、４Ｂ…
除湿手段、１０…流路切換弁、２１…バイパス流路、Ｃ
…流体変調型分析計。
除湿手段と流体変調型分析計との間の点、１Ｃ…サンプ
ルガスライン側のライン、２…比較ガスライン、４Ｂ…
除湿手段、１０…流路切換弁、２１…バイパス流路、Ｃ
…流体変調型分析計。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/00 - 21/61 G01N 1/00 実用ファイル（ＰＡＴＯＬＩＳ) 特許ファイル（ＰＡＴＯＬＩＳ)
Claims (3)
- 【請求項１】 サンプルガスラインと比較ガスラインと
が、除湿手段を介して流体変調型分析計に接続されると
ともに、前記比較ガスラインの前記除湿手段と流体変調
型分析計との間に流路切換弁を設け、この流路切換弁
と、前記サンプルガスラインの前記除湿手段と流体変調
型分析計との間の点とを接続するようにバイパス流路を
設け、ゼロ校正時、前記比較ガスラインから導入したゼ
ロガスを、前記除湿手段内のサンプルガスラインを通さ
ず、比較ガスラインを経由させた後、前記流路切換弁お
よびバイパス流路を介して前記サンプルガスライン側の
ラインから前記流体変調型分析計に導入するようにした
ことを特徴とする流体変調型分析計の校正装置。 - 【請求項２】 サンプルガスラインが除湿手段を介して
流体変調型分析計に接続される一方、比較ガスラインが
流路切換弁を介して前記流体変調型分析計に接続され、
かつ前記流路切換弁と、前記サンプルガスラインの前記
除湿手段と流体変調型分析計の間との間の点とを接続す
るようにバイパス流路を設け、ゼロ校正時、前記比較ガ
スラインから導入したゼロガスを、前記除湿手段を通す
ことなく、前記流路切換弁およびバイパス流路を介して
前記サンプルガスライン側のラインから前記流体変調型
分析計に導入するようにしたことを特徴とする流体変調
型分析計の校正装置。 - 【請求項３】 サンプルガスラインと比較ガスラインと
が、除湿手段を介して流体変調型分析計に接続されると
ともに、前記比較ガスラインの前記除湿手段と流体変調
型分析計との間に流路切換弁を設け、この流路切換弁
と、前記サンプルガスラインの前記除湿手段と流体変調
型分析計との間の点とを接続するようにバイパス流路を
設け、溶解損失の大きいガスが測定成分として含まれる
複数の測定成分を行う際、前記溶解損失の大きいガスの
スパン校正を最後に行うようにしたことを特徴とする流
体変調型分析計の校正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30972894A JP3261272B2 (ja) | 1994-11-17 | 1994-11-17 | 流体変調型分析計の校正装置とその校正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30972894A JP3261272B2 (ja) | 1994-11-17 | 1994-11-17 | 流体変調型分析計の校正装置とその校正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08145886A JPH08145886A (ja) | 1996-06-07 |
| JP3261272B2 true JP3261272B2 (ja) | 2002-02-25 |
Family
ID=17996587
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30972894A Expired - Fee Related JP3261272B2 (ja) | 1994-11-17 | 1994-11-17 | 流体変調型分析計の校正装置とその校正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3261272B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6879936B2 (en) * | 2002-01-09 | 2005-04-12 | Fisher Controls International Llc | Diagnostic apparatus and methods for a chemical detection system |
| JP2005127927A (ja) * | 2003-10-24 | 2005-05-19 | Dkk Toa Corp | 定電位電解式ガスセンサを備えた排ガス連続分析装置 |
-
1994
- 1994-11-17 JP JP30972894A patent/JP3261272B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08145886A (ja) | 1996-06-07 |
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