JPH0412821B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0412821B2
JPH0412821B2 JP21258484A JP21258484A JPH0412821B2 JP H0412821 B2 JPH0412821 B2 JP H0412821B2 JP 21258484 A JP21258484 A JP 21258484A JP 21258484 A JP21258484 A JP 21258484A JP H0412821 B2 JPH0412821 B2 JP H0412821B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
sample gas
sample
infrared
cell
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP21258484A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6191542A (ja
Inventor
Tooru Kodachi
Kihachiro Nishio
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NGK Insulators Ltd
Original Assignee
NGK Insulators Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NGK Insulators Ltd filed Critical NGK Insulators Ltd
Priority to JP59212584A priority Critical patent/JPS6191542A/ja
Publication of JPS6191542A publication Critical patent/JPS6191542A/ja
Publication of JPH0412821B2 publication Critical patent/JPH0412821B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3504Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/02Devices for withdrawing samples
    • G01N1/22Devices for withdrawing samples in the gaseous state
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/85Investigating moving fluids or granular solids
    • G01N2021/8557Special shaping of flow, e.g. using a by-pass line, jet flow, curtain flow
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/03Cuvette constructions
    • G01N21/031Multipass arrangements

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明はサンプルガスの赤外線の吸収性を利用
した赤外線ガス分析計、特に光源からの赤外線を
分散することなくそのまま導く非分散形赤外線ガ
ス分析計に関するものである。
(従来技術およびその問題点) 燃焼排ガス、雰囲気炉の雰囲気ガスなどに含ま
れるガス、たとえばCO、CO2、SO2などのガス
濃度を知ることは、環境保護や省エネルギー製品
の品質管理上からも重要なことであり、従来から
種々の計測装置が提案されてきた。物理的ガス分
析の1つである赤外線ガス分析法もこの中の1つ
であり、サンプルガスの赤外線の吸収性を利用
し、ガス濃度を測定するものである。赤外線ガス
分析法はプリズムを用いて赤外線を分散させて入
射させる分散形と、光源からの赤外線をそのまま
導く非分散形とがあり、構造が簡単であるとの理
由により工業用には非分散形が主に利用されてい
る。
しかしながら、従来既知の非分散形ガス分析計
は、たとえば第5図に模式的に示すように、吸引
用のポンプ2を用いてサンプルガスを吸引しドレ
ンポツト3,4にてサンプルガス中の水分とガス
とを分離しフイルタ5,6を通過させてサンプル
ガス中のダストを除去した後ポンプ7を経て分析
部8に導いてガス濃度を検出する構成をしてい
る。また分析部8に一定量のガスを導入するため
に流量計9も必要としていた。このようないわゆ
るガスサンプリング装置を別途必要としたため、
従来既知の非分散形ガス分析計では、分析部8に
到るまでのサンプルガスの導管長が必然的に長く
なり、分析部におけるガス置換が遅くなり、ある
時点での実際のガス濃度と分析計の測定結果との
間に遅れが生じ、雰囲気ガスなどのガス濃度のコ
ントロールを行なうのが困難であると言う問題が
あつた。また種々の構成要素よりなるサンプリン
グ装置を必要としたため、分析計自体の寸法が大
きく分析計の設置場所が限定されるだけでなく、
価格的にも高価なものとなり、その使用分野が限
定されてしまうと言う問題もあつた。さらにフイ
ルタが目詰りしないようにするためには頻繁にフ
イルタを点検、清掃しなければならず、点検作業
を行なう上でも改善すべき問題が数多く存在し
た。
(問題点を解決するための手段) これら上述した種々の問題点を解決するため、
本発明の分析計は、サンプルガスに含まれる固有
のガス分子により吸収される赤外線の変化を検出
して固有のガスのガス濃度を測定する非分散形ガ
ス分析計において、サンプルガス導入口を有する
プローブに接続された主導管と、この主導管に横
設されたサンプルガスの少なくとも一部が流入す
るサンプルガスセルと、このサンプルガスセルよ
り下流に位置しサンプルガスを吸引するガスエゼ
クタとを具え、前記サンプルガスセルは、赤外線
をサンプルガスセル内に入光および出光するため
の少なくとも1個の透過窓と、サンプルガスセル
内に入光した赤外線を多重反射させるための少な
くとも1個の反射鏡とを具えてなる。
(作用) 従つて本発明の赤外線ガス分析計では、圧縮空
気などのエゼクタ駆動ガスをガスエゼクタのノズ
ルより主導管内に噴出させることによつて、たと
えば燃焼排ガスが通過する煙道内に突出させたプ
ローブ先端のサンプルガス導入口よりサンプルガ
スをガスサンプリング装置などの特別な装置を必
要とすることなく主導管に直接導き、エゼクタ駆
動ガスととも主導管の他端部に設けたサンプルガ
ス戻し口より煙道内に放出する。この時、主導管
に導かれたサンプルガスの一部は、フイルタを介
してサンプルガスセル内に侵入し、再び主導管に
戻る。ところでサンプルガスセルには、光源より
放射された赤外線がガス相関フイルタによつて基
準光および試料光に分かれ一定周期で交互に入光
するが、基準光は測定すべきガスの特定の赤外線
波長の光が吸収されたものであるのでサンプルガ
スセル内の測定すべきガスにより吸収されること
なくサンプルガスセルより出光する。これに対し
試料光はサンプルガスセル内の測定ガスにより特
定の赤外線波長の光がガス濃度に応じて吸収され
る。従つて基準光とサンプルガスセル内を通過し
た試料光との光強度の差を比較することによりガ
ス濃度を知ることができる。またサンプルガスセ
ル内には互に離間して対向する凹面鏡を配設し多
重反射することによつてサンプルガスセルの長さ
を増加することなくサンプルガスと赤外線との接
触距離が増加し測定感度が向上する。
(実施例) 以下図面を参照して本発明の実施例を詳述す
る。
第1図は、本発明分析計の第1の実施例を示す
図であり、分析計20をたとえば燃焼排ガスが流
れる煙道10の煙道壁12に直接取り付ける。分
析計20は、煙道内のガスの1部をサンプルガス
セル内に導くガス導入手段と、光源より放射され
サンプルガスセル内を通過した赤外線を赤外線検
出器39に導く光学手段とを具える。
ガス導入手段は、略コの字形状をした主導管3
0と、主導管30に横設したサンプルガスセル室
24と、このサンプルガスセルより下流に位置す
るガスエゼクタとを具える。主導管30の一端
は、煙道10内に突出したサンプルガス導入口を
有するプローブ32に接続し、他端はプロープ3
2の下流の煙道に開口したサンプルガス戻し口3
3に接続されている。それゆえ、たとえば圧縮空
気をエゼクタ駆動ガスとしてガスエゼクタノズル
29より主導管30内に噴出させると、図中矢印
Aで示す流れが生じ、燃焼排ガスの一部がサンプ
ルガスとして主導管30内に導かれる。導入され
たサンプルガスの一部は、フイルタ25を介して
図中矢印Bで示すごとくサンプルガスセル24内
に侵入し、再び主導管に戻るので導入したサンプ
ルガスの処理を別途溝じる必要がない。
光学手段は、赤外線を放射する光源34と、放
射された赤外線を基準光と試料光とに分けるガス
相関フイルタ36と、このガス相関フイルタ36
を一定速度で回転する同期モータ35と、サンプ
ルガスセルより出光した赤外線を集光する集光器
38と、集光した赤外線を検出する赤外線検出器
39とを具える。なお主導管、サンプルガスセル
等の配置、あるいは分析計自体をコンパクトにす
るため、赤外線の光路を変更した場合には反射鏡
を用いればよく、本実施例では反射鏡37を用い
てサンプルガスセル24より出光した光路を90°
変更している。
ここでサンプルガスセル24は、セル内に入光
した赤外線を多重反射、すなわち繰返して反射さ
せセル内のサンプルガスと赤外線との接触する距
離を増加させるため、互いに対向して配置された
凹状の反射鏡22,23と、相関フイルタ36を
通過した赤外線をサンプルガスセル内に入光およ
び出光させるための透過窓21,21とを具え
る。従つて相関フイルタ36を通過した赤外線は
図中矢印Cで示すように一方の透過窓21を通過
してセル内に入り、反射鏡23および22の間で
繰返し反射された後他方の透過窓21を経てセル
24から出光し、反射鏡37、集光器38を経て
赤外線検出器39に達する。そして検出器39は
入光する赤外線エネルギーを電気エネルギーに変
換する。これを演算処理し指示計に表示する。そ
れゆえ、本発明の分析計によればサンプルガスと
赤外線との接触する距離を増加させ、サンプルガ
スセル24の全長を短かくすると言う相反する条
件が同時に解決されることになる。
さらに本実施例ではサンプルガスが流れる通路
が結露するのを防止するため、主導管30および
サンプルガスセル24の周囲に加熱ヒータ31を
設けたが、結露の恐れがない場合には、この加熱
ヒータ31を配設しなくともよい。
符号40で示したのは、分析計を校正する際に
必要な標準ガスをサンプルガスセル24内に導く
ための校正ガス管であり、校正時にはこのガス管
を介してサンプルガスセル内に標準ガスを導き、
セル24内を標準ガスで充満して指示を校正す
る。
第2図および第4図に本発明の好適な他の実施
例を示す。なお、簡略のため第1図と同一又は同
等な働きをするものには同一符号を付す。
第2図に示した実施例では、主導管30よりサ
ンプルガスセル24内に侵入するサンプルガスの
置換を容易にするため、サンプルガス分岐管26
aの一端を、主導管30に離間してサンプルガス
セル24に接続し、サンプルガス分岐管26の他
端をサンプルガスセル24の下流の主導管30に
接続する構成とした。なお、簡略のためサンプル
ガス分岐管の一部のみ図示するサンプルガス分岐
管26の他端は、本実施例の如くサンプルガスセ
ル24の下流でガスエゼクタ29の上流の主導管
30に連通させることに限定されるものではない
が、サンプルガスセル内でのサンプルガスの流れ
が一定であること、分岐管26の長さが増加する
ことによるサンプルガスセル24内へのサンプル
ガスの流入効率が低下することなどを考慮したな
らば、本実施例の如く連通させるのがよい。
さらに本実施例では、サンプルガスセル24近
くのサンプルガス分岐管26内にサンプルガスの
流量調整を行なうガス量調整器27を配設する。
本実施例では、このガス量調整器27は分岐管2
6に合致することのできる弁体よりなり、機械的
あるいは電気的に弁開度を調整することができ
る。
従つて本実施例ではサンプルガスセル内に侵入
するガスの置換が迅速に行なわれるので応答性の
速い非分散赤外線ガス分析計を得ることができ
る。この様子を第3図に示す。ここでサンプルガ
ス流量とはプローブ32から主導管30に流入す
るガス流量をいい、応答時間とはプローブ32の
サンプルガス導入口41でガスを切替た場合、分
析計20の出力が安定した状態に達するまでの90
%応答時間をいう。第3図から明らかなように従
来装置の如く別個にサンプリング装置を必要とす
るものに比べ、本発明装置の分析計は、応答時間
が1/2以下であることがわかる。特に、分岐管を
設けた装置であつてガス量調整器27を全開した
場合には従来の分析計の約1/5となり応答性が格
段に向上することがわかる。
なお、第2図に示した実施例では、ガスエゼク
タノズル29より上流の主導管、サンプルガスセ
ル、フイルタ等に付着した付着ダストを除去する
ためのパージ口28を、ガスエゼクタノズル29
より上流の主導管30に設ける。このパージ口2
8を介して圧縮空気などの加圧流体を主導管30
内に噴出することにより付着ダストわ分析計内よ
り除去する。更に、分析計異常時にはパージ口よ
り加圧流体を噴出して分析計内へのサンプルガス
の侵入を阻止すると共に、サンプルガス中の水分
が分析計内で結露するのを阻止することもでき
る。なお、好適にはパージ口28とサンプルガス
導入口41とを直線上に配置することにより付着
ダストの除去効率を一段と向上させることができ
る。
従つてこのようなパージ口を有する分析計で
は、通常の保守作業に際しては上述したように、
パージ口28から加圧流体を噴出して付着ダスト
を除去し、年に1回程度機械的な清掃を行なえば
よいので、保守点検作業を従来の分析計に比べ大
幅に簡素化することができる。
第4図に示す本発明の他の好適な実施例は、サ
ンプルガスセル24を主導管30に横設するに際
し、互いに離間する分岐管26b,26bを介し
て主導管30とサンプルガスセル24とを接続連
通したものである。従つてプローブ32を通り主
導管30に流入したサンプルガスの一部は図中矢
印Bで示すごとく、フイルタ25を介して上流側
の分岐管26bを通りサンプルガスセル内に流入
し下流側の分岐管26bを通り主導管30に致
る。なお、上流側の分岐管26bのフイルタ25
近くにガス量調整器27を配設し、サンプルガス
セル24内に流入するサンプルガスの流量を調整
できるようにするのがよい。
さらに第2図に示した実施例と同様にパージ口
28をサンプルガス導入口41に整列させて設け
付着ダストの除去効率を向上させることは勿論で
ある。
(効果) 以上詳述したように本発明の直結非分散赤外線
ガス分析計によれば、サンプルガス吸引装置とし
てのガスエゼクタ、サンプルガスセル、サンプル
ガス流路を煙道に直結する一体構造としたので、
従来の非分散形赤外線ガス分析計に欠くことので
きない、サンプルガス吸引用のポンプ、水分除去
用のドレンポンプ等の前処理装置を省くことがで
きる。しかも煙道に直結する構造であるのでサン
プルガス流路が短かくなり、サンプルガスセルで
のガス置換が容易となるから分析計の応答性が向
上する。さらにサンプルガスセルにガス量調整器
を具えた分岐管を接続することにより応答性を一
段と向上させることができ、しかもガス量調整器
を調整することにより分析計の応答時間を変更す
ることができる。従つてダスト付着によるフイル
タの圧力損失が大きくなつた場合にも応答時間を
補正することができ、常にほぼ一定の応答性を得
ることができるフレキシビリテイに富んだ分析計
である。
また、サンプルガスセル内に凹面状の反射鏡を
互いに対向し離間して配置し、これら反射鏡の間
で光源から放射された赤外線を多重反射させた後
に赤外線検出器に入光させる構成としたので、サ
ンプルガスセルの長さを短かくすることができ、
分析計を小型軽量なものとすることができる。し
かもサンプルガスと赤外線との接触距離は充分確
保できるので測定感度が損なわれることはない。
さらにパージ口より圧縮空気などの加圧気体を
噴出させることによりサンプルガスセル、フイル
タ、主導管に付着した付着ダストを容易に除去す
ることができるので保守点検作業を簡略化でき
る。サンプルガス流路の周囲に加熱ヒータを設け
ればサンプルガス中の水分が結露するのを確実に
防止することができる。分析計異常時には圧縮空
気等をパージ口より噴出することにより分析計内
へのサンプルガスの侵入を阻止しサンプルガスに
含まれる水分が分析計内で結露するのを防止する
ことができる。
なお、本発明は上述した実施例に限定されるも
のではなく、種々の変更が可能であり、たとえば
パージ口より噴出する加圧気体を供給する管路に
電磁弁を介装し、この電磁弁をサンプルガスセル
の温度信号、分析計の異常信号、あるいは分析計
点検信号などに応じて開閉する構成とすることも
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明直結形非分散赤外線ガス分析
計の実施例を示す略断面図、第2図は、本発明の
分析計の好適な他の実施例を示す略断面図、第3
図は、本発明の分析計と従来の分析計との応答時
間を比較して示す図、第4図は、本発明の分析計
の好適な別の実施例を示す略断面図、第5図は、
従来既知の分析計の構成を模式的に示した図であ
る。 2,7……吸引ポンプ、3,4……ドレインポ
ツト、5,6……フイルタ、8……分析部、20
……分析計、21……透過窓、22,23,27
……反射鏡、24……サンプルガスセル、25…
…フイルタ、26a,26b……分岐管、27…
…ガス量調整器、28……パージ口、29……ガ
スエゼクタノズル、30……主導管、31……加
熱ヒータ、32……プローブ、33……サンプル
ガス戻し口、34……赤外線光源、35……同期
モータ、36……ガス相関フイルタ、38……集
光器、39……赤外線検出器、40……校正ガス
管、41……サンプルガス導入口。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 サンプルガスに含まれる固有のガス分子によ
    り吸収される赤外線の変化を検出して固有のガス
    のガス濃度を測定する非分散形ガス分析計におい
    て、 サンプルガス導入口を有するプローブに接続さ
    れた主導管と、この主導管に横設されサンプルガ
    スの少なくとも一部が流入するサンプルガスセル
    と、このサンプルガスセルより下流に位置し加圧
    流体を噴出することによりサンプルガスを吸引す
    るガスエゼクタとを具え、前記サンプルガスセル
    は、赤外線をサンプルセル内に入光および出光す
    るための少なくとも1個の透過窓と、サンプルガ
    スセル内に入光した赤外線を多重反射させるため
    の少なくとも1個の反射鏡とを具えてなることを
    特徴とする直結形非分散赤外線ガス分析計。 2 特許請求の範囲第1項に記載の赤外線ガス分
    析計において、前記サンプルガスセルと前記サン
    プルガスセルより下流の前記主導管とをサンプル
    ガス分岐管を介して連通させた直結形非分散赤外
    線ガス分析計。 3 特許請求の範囲第1項に記載の赤外線ガス分
    析計において、前記サンプルガスセルを、互いに
    離間する分岐管を介して前記主導管に連通させた
    直結形非分散赤外線ガス分析計。 4 特許請求の範囲第2項又は第3項に記載の赤
    外線ガス分析計において、前記分岐管およびサン
    プルガス分岐管はガス流量を調整するガス量調整
    器を具える直結形非分散赤外線ガス分析計。 5 特許請求の範囲第1〜第4項のいずれか1項
    に記載の赤外線ガス分析計において、前記エゼク
    タより上流側の前記主導管にパージ口を設け、こ
    のパージ口よりパージガスを噴出して前記主導管
    およびサンプルガスセル等に付着したダストを除
    去する直結形非分散赤外線ガス分析計。 6 特許請求の範囲第1〜第5項のいずれか1項
    に記載の赤外線ガス分析計において、前記ガス分
    析計内のサンプルガスの流路をサンプルガスの露
    点温度以上に保持するための加熱手段を前記流路
    の少なくとも一部に設けた直結形非分散ガス赤外
    線分析計。
JP59212584A 1984-10-12 1984-10-12 直結形非分散赤外線ガス分析計 Granted JPS6191542A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59212584A JPS6191542A (ja) 1984-10-12 1984-10-12 直結形非分散赤外線ガス分析計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59212584A JPS6191542A (ja) 1984-10-12 1984-10-12 直結形非分散赤外線ガス分析計

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6191542A JPS6191542A (ja) 1986-05-09
JPH0412821B2 true JPH0412821B2 (ja) 1992-03-05

Family

ID=16625118

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59212584A Granted JPS6191542A (ja) 1984-10-12 1984-10-12 直結形非分散赤外線ガス分析計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6191542A (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06308020A (ja) * 1993-04-20 1994-11-04 Japan Radio Co Ltd 試料セル
JP2005147962A (ja) * 2003-11-18 2005-06-09 Takao Tsuda 光学式ガス濃度検出装置
JP4469699B2 (ja) * 2004-11-01 2010-05-26 理研計器株式会社 赤外線式炭酸ガス検知器
JP2015105892A (ja) * 2013-11-29 2015-06-08 株式会社四国総合研究所 ガス濃度測定設備及び測定方法
JP7286271B2 (ja) * 2018-05-22 2023-06-05 株式会社堀場製作所 光学セル及びガス分析装置
CN110208283A (zh) * 2019-05-22 2019-09-06 惠州高视科技有限公司 一种检测电芯表面缺陷的方法及装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6191542A (ja) 1986-05-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3628028A (en) Window cleaning apparatus for photometric instruments
CN101147054B (zh) 排气分析装置
US5781306A (en) Measuring apparatus for gas analysis
JP3512556B2 (ja) ダスト濃度測定装置
EP1944598A1 (en) Elongated exhaust gas probe
FI95322C (fi) Spektroskooppinen mittausanturi väliaineiden analysointiin
CN109459396B (zh) 大气颗粒物碳同位素在线激光探测分析仪及其使用方法
JP2023011020A (ja) 気相媒質の品質を監視するための方法及び装置
CN108801964A (zh) 一种直接测量式气态污染物排放监测装置
JPH0412821B2 (ja)
EP0414446A2 (en) Gas analysis
JP4158314B2 (ja) 同位体ガス測定装置
CN201344933Y (zh) 烟气在线监测全程校准装置
CN208736796U (zh) 一种直接测量式气态污染物排放监测装置
CN116256030A (zh) 一种利用光谱特征吸收检测烟气流量的方法及光谱流量计
JPS60231137A (ja) 光学的ガス濃度計
US11442005B2 (en) Gas analyser system
JP2001289783A (ja) 排ガス中のso3濃度測定方法及び装置
CN213022850U (zh) 一种烟气分析仪
CN209979488U (zh) 用紫外荧光检测so2含量的装置
US3572946A (en) Fluid analyzer apparatus
CN112051231A (zh) 一种防止光腔衰荡闭路通量分析仪进水的方法及其装置
JPH01165939A (ja) 流動する液体中の異物質含分を測定する装置
EP0064980B1 (en) System and process for measuring the concentration of a gas in a flowing stream of gases
JPS60231140A (ja) 光学的ガス濃度計