JPH0743350A - 細長い対象物を検査するための装置 - Google Patents

細長い対象物を検査するための装置

Info

Publication number
JPH0743350A
JPH0743350A JP6098804A JP9880494A JPH0743350A JP H0743350 A JPH0743350 A JP H0743350A JP 6098804 A JP6098804 A JP 6098804A JP 9880494 A JP9880494 A JP 9880494A JP H0743350 A JPH0743350 A JP H0743350A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
switching
probe
adjusting means
disc
rotation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP6098804A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2716659B2 (ja
Inventor
Helmut Reitz
ライツ ヘルムート
Helmut Schwarz
シュヴァルツ ヘルムート
Heinrich Braun
ブラウン ハインリッヒ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Institut Dr Friedrich Foerster Pruefgeraetebau GmbH and Co KG
Original Assignee
Institut Dr Friedrich Foerster Pruefgeraetebau GmbH and Co KG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Institut Dr Friedrich Foerster Pruefgeraetebau GmbH and Co KG filed Critical Institut Dr Friedrich Foerster Pruefgeraetebau GmbH and Co KG
Publication of JPH0743350A publication Critical patent/JPH0743350A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2716659B2 publication Critical patent/JP2716659B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
    • G01N27/9013Arrangements for scanning

Abstract

(57)【要約】 【目的】 対象物36とプローブ23との間の半径方向
間隔を変える切換え装置53と、検査ヘッドとを有し、
該検査ヘッドは、可動なプローブ保持レバー21に設け
られ、かつ、対象物36の周囲をめぐる円形のプローブ
循環軌道に沿ってガイドされた少なくとも1つのプロー
ブ23を備えている形式の、細長い対象物、特にワイヤ
を検査するための装置を改良して、従来技術における欠
点を取り除き、高速回転する検査ヘッドのための、摩耗
がなく保守を必要とせず、しかも昇降時間が一定で短い
昇降装置を提供する。 【構成】 切換え装置53が、安定した2つの(双安定
性の)切換え状態を有しており、これら2つの切換え状
態のうちの一方が、対象物に近い検査位置に相当し、他
方が、対象物から遠いプローブの上昇位置に相当するよ
うになっている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、場合によっては非均一
な横断面を有する細長い対象物、特にワイヤを検査する
ための装置であって、通過する対象物を検査する検査ヘ
ッドと、この検査ヘッドが回転する際にこの検査ヘッド
の外側で操作されて対象物とプローブとの間の半径方向
間隔を変える切換え装置とを有しており、前記検査ヘッ
ドは、可動なプローブ保持手段に設けられ、かつ、対象
物の周囲を巡る円形のプローブ循環軌道に沿ってガイド
された少なくとも1つのプローブ、特に渦電流プローブ
を備えている形式のものに関する。特に本発明は、検査
ヘッドを通過する対象物の表面の近くを高速でガイドさ
れる繊細なプローブが、対象物の横断面非均一性が存在
する時に対象物と接触して、場合によっては破壊される
のを防ぐために、プローブを対象物の近くの検査箇所か
ら適宜迅速に、対象物からさらに離れる上昇位置に戻さ
なければならないという問題に関するものである。特に
例えば、連続的に駆動されるワイヤ引き伸ばし装置で、
溶接されたワイヤにおける溶接ビードの形状又は鋭い縁
部を有する突起部の形状で生じるような、横断面が非均
一であるために引き伸ばしが軸方向で制限されている場
合に、プローブを、対象物の問題のある範囲が検査ヘッ
ドを通過してから、再び高い反復精度で対象物に近い検
査位置に戻すようにしなければならない。
【0002】
【従来の技術】表面の欠陥検査は、パイプ、バー又はワ
イヤのような金属製の半製品を製造する際の品質管理の
重要な一部である。この場合の目的は、表面をすき間な
しに検査することである。つまり、小さい欠陥、例えば
数十分の1ミリメートルの深さの割れ目をも、周期的に
及び製造過程速度で検査することである。このような検
査は、今日ではしばしば、回転式プローブ・渦電流技術
を使用して行なわれる。この渦電流技術においては、渦
電流プローブが高速の回転速度で、検査装置の回転する
検査ヘッドを通過する対象物の表面から約1mm〜2mmの
間隔を保ってガイドされ、この場合に対象物の表面が、
通過する対象物の周囲を巡る螺旋状の走査軌道に沿って
検査される。
【0003】プローブが破壊される危険性は、検査対象
物において中心性の非均一性及び又は横断面の非均一性
が存在する箇所で生じる。何故ならば、プローブと検査
対象物とが接触すると、検査装置が破壊されることがあ
るからである。
【0004】1800r.p.m.までの検査ヘッドの回転数
においてプローブをその検査位置に戻すことができるよ
うになっている公知の回転プローブ・検査装置について
は、" Materials Evaluation "6(1991),第68
1頁〜684頁に記載されている。スチール製のバーの
ための圧延装置に接続して設けられた検査機械において
は、非均一に変形されてもはや検査ヘッドの中心を通過
することのできない、圧延されたスチール製のバーの端
部が、検査ヘッドを通過する前に、昇降装置が検査ヘッ
ドを持ち上げるようになっている。この昇降装置は、対
象物を巡って同心的に回転する種々異なる直径を有する
2つのディスクを有しており、これら2つのディスク
が、共通の中心軸線を中心にして互いに回転可能であ
る。それぞれ1つのプローブを有するレバー状の2つの
プローブ保持手段が、それぞれ内側のディスクの外周付
近に互いに回転対称的に回転可能に支承されている。外
側のディスクに取り付けられたレバーピンは、レバーの
回転軸線から離れて配置された、レバー内の長孔内に係
合する。レバーピン、回転軸線及びプローブが、検査対
象物に対して接線方向に延びる線上に配置されているレ
バーの位置、及びひいては対象物に対するプローブの位
置も、2つのディスクが同じ速度で回転している限りは
変化せずに保たれる。
【0005】対象物横断面がセンサによって非均一であ
ると確認された場合には、センサが液圧式のブレーキを
制御し、このブレーキが外側のディスクに機械的に作用
して、このディスクの回転速度を減速する。これによっ
て、内側のディスクに対する外側のディスクの、検査ヘ
ッドの回転方向に抗する相対運動が生ぜしめられる。こ
の相対運動によって、レバーの長孔内に係合する、外側
のディスクに取り付けられたレバーピンがプローブレバ
ーをその回転軸を中心にして回転させる。この回転時
に、それぞれレバーの他方側に取り付けられたプローブ
が対象物から持ち上げられる。2つのディスクの相対回
転は、レバーに取り付けられたストッパピンによって制
限される。ブレーキが負荷解除されると、2つのディス
クの互いの相対回転は解除されて、プローブは検査位置
に戻される。
【0006】このような形式の、機械的なブレーキと回
転するディスクとの間の摩擦接続的な接触を伴なう昇降
装置は、プローブの著しく高い回転速度(高い装入効率
を有する最近の検査機械において生じる例えば9000
r.p.m.又はそれ以上の回転数)においては、使用できな
いか、又は、使用する場合には、材料の摩耗及びこれに
伴なう補償費用を考慮しなければならない。長い上昇時
間が必要とされる場合には(これは、例えば製造機械の
欠陥によって軸方向に長く引き伸ばされた欠陥が存在す
る場合)、上昇作業によってブレーキを長く作用させる
必要があり、これによって、場合によっては、検査ヘッ
ド全体を制動させる、機能上重要な部分の摩耗が高めら
れることになる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】そこで本発明の課題
は、前記のような従来技術における欠点を取り除いて、
場合によっては非常に高い回転速度で回転する検査ヘッ
ドのための、摩耗がなく保守を必要とせずに作業する昇
降装置を提供することである。特に昇降装置において
は、対象物の横断面が著しく変化していることを検知し
てから、プローブを上昇若しくは戻すまでの時間が一定
でしかも比較的短くなければならない。検査位置に戻す
ことは、高い反復精度で行なうことができるものでなけ
ればならない。またエネルギーを消費することなしに任
意に長い上昇を行なうことができるようにしなければな
らない。
【0008】
【課題を解決するための手段】この課題を解決した本発
明によれば、切換え装置が、安定した2つの切換え状態
を有しており、これら2つの切換え状態のうちの一方
が、対象物に近い検査位置に相当し、他方が、対象物か
ら遠いプローブの上昇位置に相当するようになってい
る。
【0009】
【発明の効果】本発明によれば、エネルギー的に等価で
ある安定した2つの切換え状態の間での切換えを可能に
する切換え装置が得られた。ここでいう”安定した(st
able)”とは、切換え状態が、それぞれ負荷的なエネル
ギー供給なしで、特に回転する検査ヘッドにおいて外部
から任意の長さの時間に亘って維持できるということで
ある。切換え装置の検査位置に相当する、一方の安定し
た切換え状態においては、検査ヘッドを通過する対象物
の周囲を巡って回転するプローブが、正確に規定可能な
わずかな検査間隔(典型的な場合では1mm〜2mm)を保
って対象物の表面から離れて配置されている。他方の安
定した切換え状態においては、通過する対象物の表面と
プローブとの間の間隔は、例えば4mm〜5mmである。こ
の上昇位置において、プローブは切換え装置によって迅
速に対象物から離れて戻し案内される。各切換え状態
は、切換え装置の各部分の互いに正確に規定された幾何
学的な形状に相当する。
【0010】高速で回転する検査ヘッドにおける切換え
装置は、回転中に、半径方向外側に向けられた遠心力に
さらされる。この遠心力は、重力に基づく加速の数千倍
になる。本発明による切換え装置においては、互いに部
分的に作用し合う、切換え装置の調節手段の配置が遠心
力だけによって事実上変化しないように、切換え部材の
調節手段が配置されていれば特に有利である。これによ
って調節手段の配置は遠心力に対して中立である。これ
によって、検査ヘッドの回転速度が非常に高い場合で
も、遠心力に基づいて切換え装置が不意に調節されるこ
とは避けられる。
【0011】切換え装置の切換えは、調節手段に作用す
る機械的な切換え部材によって行なわれる。この切換え
部材は、調節手段と協働して固有安定性を保つ2つの切
換え状態を有している。検査ヘッドが回転している時に
切換え部材を駆動させるためには、回転する検査ヘッド
において生じる遠心力によって切換え部材が安定化され
得るようになっていれば特に有利である。
【0012】調節手段が遠心力に対して中立に配置され
ていることによって、しかもこの調節手段に作用する、
遠心力によって安定化された切換え部材を使用したこと
によって、次のような切換え装置が得られる。つまり、
高速で回転するシステムにおいて生じる遠心力を比較的
無力にするための、停止しているか又はゆっくりと回転
するシステムのための切換え装置の、これ以上ない簡単
な解決策を提供する切換え装置が得られる。この場合、
最適な使用に適した新しい形式の切換え装置のための高
速で回転するシステムの特別な条件が利用される。
【0013】本発明の有利な構成要件によれば、切換え
装置の部分的に互いに係合し合う各調節手段が、それぞ
れその質量重心点付近で特にその質量重心点で回転可能
に支承されていれば、特に有利である。これによって、
各調節手段のために、これらの調節手段に作用する、遠
心力によって直接作用せしめられるトルクの合計が消滅
する。このような形式で支承された調節手段は、優先位
置を有していない。つまり、検査ヘッドが回転している
場合でも所定の回転位置を維持するために力を消費する
必要はない。これと同じことは、このような形式の遠心
力の影響に対して中立の状態で支承された、部分的に互
いにし作用し合う調節手段の配置のためにも当てはま
る。
【0014】1つの切換え部材が、調節手段の1つに作
用してこれを回転させると、各調節手段を回転加速させ
るためのもたらされた力の他に、妨害的な力として、調
節手段の支承部及び作用箇所で互いに生じる摩擦力だけ
を克服するだけでよい。特に軽量の調節手段において
は、調節手段の切換え部材のために必要とされるエネル
ギーは比較的小さい。
【0015】このような、2つの切換え状態において、
ネルギーの供給なしで安定している双安定性の切換え装
置の別の大きな利点は、切換え過程中にだけ外部から切
換え装置に作用させればよいという点にある。本発明の
有利な別の構成要件によれば、切換えのために比較的短
いエネルギーパルスを必要とするだけである。このエネ
ルギーパルスは、特に1つ又は多数の渦電流ブレーキに
よって、ブレーキエネルギーの形で、渦電流ブレーキに
よって制動可能な回転するディスクに伝達される。
【0016】このような、切換え装置に外部から無接触
で影響を与える形式も、高速で回転する検査ヘッドの運
転条件に特に有利に適している。制動させようとする移
動している部分(ここでは例えば回転するディスク)
と、移動していない部分との間に接触箇所がまったく存
在しないことによって、制動過程は摩擦を受けることな
しでしばしば任意に行なうことができる。これによっ
て、検査装置の保守作業、例えばブレーキライニング又
はブレーキディスクを交換する作業は省かれる。これは
特に、連続的な作業装置、例えば連続的に作業するワイ
ヤ引き伸ばし装置に設けられた検査装置において特に有
利である。この引き伸ばし装置においては、機械の”始
動(running in) ”後に機械を停止させると、製造の中
断及びひいては損失を引き起こすこととなる。
【0017】さらに有利には、回転速度が次第に大きく
なる渦電流ブレーキにおいては、この渦電流ブレーキに
よって制動させようとする部分がその作用を大きくす
る。前述のように、切換え装置の切換え過程自体は、少
ないエネルギー消費を伴なって行なわれるが、勿論この
エネルギー消費は、検査ヘッドの回転速度が増大するに
つれて大きくなる。しかしながらこれは、渦電流ブレー
キの、同様に回転数の増大に伴なって増大する作用によ
って補償される。
【0018】この切換え装置の直接の目的は、プローブ
と検査対象物との間の、特に運転中の間隔変化を、有利
には少なくとも1つのプローブ保持手段(この保持手段
にプローブが取り付けられている)を回転させることに
よって行なうことができるようにすることである。プロ
ーブは、質量を補償するレバーとして構成することがで
き、この場合に、プローブを保持するレバーの重心点
は、有利にはレバーの回転軸線若しくは支承軸線と正確
に合致していてよい。このような形式で支承されたレバ
ーにおいては、検査ヘッド(この検査ヘッドのロータに
レバーが支承されている)の回転数が高い場合において
も、遠心力に基づく不意の調節が行われることはなく、
またこのような形式のレバーは、検査ヘッドの回転数が
高い場合でも回転することができる。これは特に、例え
ばねじれに対して強い軽量の部材(例えば平らなカーボ
ンファイバー材料)より部分的に成っている、レバーの
軽量な構造において特に当てはまる。
【0019】種々異なる直径を有する検査対象物のため
の検査機械を使用するためには、プローブを備えたプロ
ーブ保持手段を、このプローブの最適な作用範囲が、プ
ローブ保持手段の制限された回転範囲に亘って、検査対
象物の通過軸線に対して半径方向に配置されるように、
設計されていれば特に有利である。これによって、プロ
ーブと対象物表面との間の間隔が同一である場合に、種
々異なる直径を有する対象物のための測定条件が、プロ
ーブの作用に関連してほぼ同じである。有利な実施例の
細長いプローブにおいてそうであるように、プローブの
最適な作用範囲がプローブの長手方向軸線上に存在する
場合には、対象物表面に対して直角なプローブの配置
(この位置においてはプローブが検査対象物に対して半
径方向に配置されている)は、次のようにして得られ
る。つまり、プローブ長手方向軸線が、プローブ保持手
段の回転軸線を通って延びる、中くらい(若しくは平均
的な)の直径を有する対象物の外周面における接線平面
に対して直角に配置されていることによって得られる。
平均的な直径から著しくずれていない直径を有する対象
物においては、プローブ長手方向軸線は常に、検査対象
物に対してほぼ半径方向に配置されており、いずれにし
ても、プローブの作用範囲は対象物に対してまだ最適に
整列されている。
【0020】種々異なる検査対象物においてプローブが
ほぼ半径方向に整列されていることは、プローブの上昇
させる際にはそれほど重要なことではない。何故なら
ば、上昇状態では測定を行なう必要がないからである。
しかしながらこれは、検査装置において、検査のために
必要な、プローブ回転軌道の直径が調節可能であれば、
特に有利である。検査装置の有利な実施例においては、
プローブ軌道の直径調節が、調節手段を回転させること
によって行なわれる。この調節手段は、検査ヘッドと同
軸的にこの検査ヘッドに対して回転可能に配置されてい
る。有利にはディスクの形状に構成されている調節手段
は、調節手段の回転軸線を螺旋状に巡って延びる螺旋状
セグメント溝を有することができる。この螺旋状セグメ
ント溝においては、調節手段の回転軸線と溝との間の半
径方向間隔が変化する。この螺旋状セグメント溝内に、
ピンとして構成されたカップリング手段が係合するよう
になっている。このピンは、プローブ保持レバーの回転
軸線若しくは支承軸線から離れて配置されており、この
場合に、プローブ保持レバーの支承部は、検査ヘッドの
ロータに、この検査ヘッドに対して定置に配置されてい
る。調節手段を検査ヘッドのロータに対して共通の回転
軸線を中心にして回転させると、カップリングピンは側
方に対して遊びなしに螺旋状セグメント溝の長手方向に
沿って延びており、この場合、カップリングピンは、調
節手段の各回転方向に応じて、検査ヘッドの回転軸線に
向かって、又はこの回転軸線から離れる方向に移動す
る。カップリングピンがプローブ保持レバーの側面に係
合すると、検査ヘッドの回転軸線に向かうカップリング
ピンの運動によって、プローブは同様に回転軸線に向か
って移動するように作用を受ける。検査ヘッドロータに
対して調節手段の回転方向が逆転されると、プローブは
検査ヘッドの回転軸線から離れる方向でほぼ半径方向外
側に移動する。
【0021】プローブ回転軌道の直径調節は、ディスク
状の調節手段によって、互いに作用し合い、かつそれぞ
れ遠心力の影響を受けない調節手段だけによって行なわ
れる。検査ヘッドに対する、調節手段の可能な回転の全
行程は、この場合、螺旋状セグメント溝の長さに亘って
制限することができる。螺旋状セグメント溝において
は、特に、非常に高い精度を有するプローブの回転軌道
若しくは循環軌道の所望の直径が調節できる程度の小さ
いピッチを有していれば有利である。何故ならば、調節
手段の小さい回転エラーは、プローブの半径方向位置の
ためには最小の影響しか有していないからである。
【0022】調節手段の回転によるプローブ回転軌道の
直径調節のこのような原理は、検査装置においては、検
査対象物からプローブを上昇させるための切換え装置の
ためにも使用される。
【0023】検査位置における調節手段の調節、つま
り、所定の直径を有する対象物の検査のために検査装置
を適応させることは、この場合、調節駆動装置を回転さ
せることによって得られる。この調節駆動装置は、検査
ヘッドのロータが停止している場合に、調節手段に形状
接続的に連結することができ、この調節手段と共通に、
検査ヘッドのロータに対して回転させることができる。
またこの調節手段は、検査ヘッドのロータが回転してい
る場合に、ロータに対して回転しないようになってい
る。検査ヘッドのローラが回転する際に、調節手段及び
調節駆動装置は、遠心力連結解除によって連結解除され
るので、調節手段はロータ及び調節駆動装置によって回
転可能である。
【0024】調節駆動装置に対する調節手段の相対回転
の程度は、調節駆動装置に設けられた円形セグメント溝
によって制限されており、この円形セグメント溝内に、
調節手段に配置されたカップリング手段が係合するの
で、調節手段は、所定の調節箇所だけ調節駆動装置に対
して回転可能である。調節駆動装置に対する及びひいて
は検査ヘッドのロータに対する、調節手段のこの限定さ
れた回転によって、プローブの半径方向位置の変化が得
られる。調節駆動装置に対する調節手段の、一方方向に
おける相対回動は、この場合、短時間の制動によって得
られ、これに対してそれとは逆方向の相対回動は、回転
する調節駆動装置に対して調節手段を短時間加速させる
ことによって得られる。
【0025】調節手段の制動、つまり(短時間の)回転
方向で回転運動を減速させることは、調節手段に渦電流
ブレーキを作用させることによって得られる。加速、つ
まり回転方向で回転速度を(短時間)高めることによっ
て、調節手段を、制動前の回転位置に戻し案内すること
ができるが、この加速は、同様に渦電流ブレーキによっ
て制動可能な制御手段を制動することによって得られ
る。この制御手段は、調節手段と同軸的に配置され、こ
の調節手段に対して回転可能なディスクの形状に構成す
ることができる。特にディスク状の調節手段及びディス
ク状の制御手段が、この場合、一方のディスクが回転す
ることによって他方のディスクが逆方向で相対回転する
ように連結されていれば、制御ディスクの制動によっ
て、調節手段を加速させることができる。
【0026】このような形式の回転方向逆転カップリン
グは、例えば調節手段と制御手段との間に接続された、
形状接続式及び又は摩擦接続式に係合する2つの例えば
変向ディスク又は変向ホイールを介して得られる。勿
論、2つの調節手段に係合する、調節駆動装置に回転可
能に支承された切換えレバーも有利である。この切換え
レバーは同時に、遠心力を安定化させる切換え部材の一
部でもあって、この切換え部材がその軸受軸線を中心に
して回転すると、調節手段及び制御手段は互いに相対的
にわずかに回転する。回転方向切換えカップリングによ
って及びひいては一方のディスクの制動によって、この
ディスクに連結された他方のディスクの相対的な加速が
生ぜしめられる。
【0027】回転する構成部材、特にディスクの回転速
度を変えるためには、別の手段も考えられ得る。この場
合に、本発明による切換え装置においては切換えのため
に、切換え装置に非常に短時間作用を加えるだけで十分
である。
【0028】影響を及ぼそうとするディスクに短時間及
びひいては摩耗なしで接触を加えることができる回転速
度変化手段も考えられる。この場合、回転速度変化手段
においては、接触範囲内及び接触時点での軌道速度分力
は、影響を与えようとするディスクの回転方向で、接触
範囲でのディスクの分力よりも小さい。
【0029】また、接触範囲での接触時点での回転速度
変化装置の相応の速度分力が、ディスクの速度分力より
も大きければ、回転するディスクの回転運動を加速させ
ることもできる。従って例えば、周速度が、加速させよ
うとするディスクの周速度とは異なっていて、しかも外
周面がディスクの外周面に作用するようになっている制
御ディスクを、ディスクを制動若しくは加速させるため
に使用することもできる。2つのディスクが短時間接触
する際に、周速度は互いに近づくように作用する。この
場合に、制御ディスクの周速度が回転方向で、制動しよ
うとするディスクの周速度よりも小さければ、このディ
スクの制動が行なわれる。それとは逆に、制御ディスク
の周速度が回転方向で、影響を与えようとするディスク
の周速度よりも大きければ、影響を与えようとするディ
スクの加速が行なわれる。
【0030】適当に構成された回転するディスクの制動
若しくは加速は、ディスクの外周面が水車のように構成
されていて、この外周面の少なくとも1箇所でほぼ接線
方向で圧力ガスが吹き当てられるようにすることによっ
て、空圧式(ニューマチック式)に行なわれる。ディス
クの回転方向に抗して圧力ガスが吹き当てられるとディ
スクは制動され、ディスクの回転方向で圧力ガスが吹き
当てられるとディスクは加速される。
【0031】回転するディスクの制動若しくは加速は、
ディスクの慣性モーメントがディスクの質量分部の変化
によって変えられることによって、回転するディスクの
角度運動量(angural momentum)を利用しながら外部か
ら作用することなしに得られる。この場合、アイススケ
ーターのスピン(爪先回転)におけるように、質量を効
果的に外方にずらすことによって回転運動の遅延が行な
われ、また質量を効果的に内方にずらすことによって回
転運動の加速が行なわれる。この場合に、ディスクの質
量は変わることなく維持される。半径方向で外方若しく
は内方に向かって効果的に移動可能な質量部材、これは
例えばディスク内部でガイドレールによってガイドさ
れ、このディスクに働く電磁石によって移動させること
ができる。このような質量部材を使用して、ディスクの
回転運動の制動若しくは加速させることができる。
【0032】本発明は、請求項及び以上の説明並びに以
下の図面に関する実施例だけに限定されるものではな
い。各請求項に記載した構成要件は、それぞれ単独で
も、あるいは本発明の枠内で本発明の実施例との組み合
わせでも、また別の分野においても実施することができ
る。
【0033】
【実施例】次に図面に示した実施例について本発明の構
成を具体的に説明する。
【0034】図1に示した切換え装置の有利な実施例に
おいては、螺旋状ディスク11として構成された調節手
段と、直径調節ディスク12として構成された調節駆動
部材とが、検査ヘッド軸線13を中心にして同軸的に回
転可能に配置されており、この場合、(図示していな
い)検査対象物が、検査ヘッドを通る検査ヘッド軸線に
対して平行に延びている。螺旋状ディスク11は、部分
的に並んで延びる、最終長さの4つの螺旋状セグメント
溝14を有している。これら4つの螺旋状セグメント溝
14は、それぞれ90°互いにずらして、検査ヘッド軸
線13に対して回転対象的に配置されている。螺旋状デ
ィスク11の外側範囲には長孔状の切欠15が設けられ
ており、この切欠15の長手軸線は、螺旋状ディスク1
1の半径方向に延びている。この切欠15内には、この
切欠15内で半径方向に移動可能な遠心力カップリング
ピン16が配置されており、このカップリングピン16
の外方への半径方向運動に対して、まずカップリングば
ね17が抗するように作用し、次いでこのカップリング
ばね17内に配置されたストッパピン18が抗するよう
に働く。検査ヘッドのロータが停止しているか又はゆっ
くりと回転している場合には、遠心力カップリングピン
16は、カップリングばね17によって、直径調節ディ
スク12内に設けられた円形セグメント溝20内で、検
査ヘッド軸線13に向けられた切欠19内に押し込まれ
る。これによって螺旋状ディスク11と直径調節ディス
ク12とは、検査ヘッドが停止している時には形状接続
的に連結され、それと同時に互いに回転可能である。
【0035】検査ヘッドのロータには、質量補償式のプ
ローブ保持レバー21として構成された4つのプローブ
保持手段が、それぞれ互いに90°ずらして回転対象的
に配置されている。これら4つのプローブ保持レバー2
1は、それぞれそのレバー回転軸線22を中心にして回
転可能にロータに軸受けされていて、そのそれぞれ一方
の終端範囲でそれぞれ1つのプローブ23が取り付けら
れている。これらのプローブ23の長手方向軸線は、検
査ヘッド軸線に対してほぼ半径方向に、各プローブ保持
レバー21のプローブ側には、カップリングピン24と
して構成されたカップリング手段が配置されていて、そ
れぞれ1つのカップリングピン24が螺旋状ディスク1
1の螺旋状セグメント溝14内に係合する。調節手段
(11,12,21)が互いに図示のように配置された
位置で、及び矢印25で示された方向で検査ヘッドが回
転する際に、プローブの有効範囲は、円弧状の検査軌道
26に沿って検査対象物の周囲を巡って回転する。
【0036】図2に概略的に示された側面図には、切換
え装置の調節手段が、検査ヘッド軸線13(ロータ27
の回転軸線でもある)の方向で、どのように相前後して
配置されているかが示されている。プローブ保持レバー
のカップリングピン24が螺旋状ディスク11の螺旋状
セグメント溝14内に係合する状態が明確に示されてお
り、この場合、螺旋状ディスクは螺旋状ディスク軸受と
しての円錐台形歯車伝動装置28によって、ロータ27
に対して回転可能に軸受けされている。螺旋状ディスク
11の切欠15内には、カップリングばね17に隣接し
て、遠心力カップリングピン16が配置されている。こ
のカップリングピン16は、直径調節ディスク12の円
形セグメント溝20内に係合する。
【0037】直径調節ディスク12の調節及び、この直
径調節ディスク12に遠心力カップリングピン16を介
して形状接続式に連結された螺旋状ディスク11の、ロ
ータ2に対する相対的な調節は、円錐台形歯車伝動装置
28として構成された調節手段を介して行なわれる。こ
の円錐台形歯車伝動装置28は、直径調節ディスク12
の対応する歯にかみ合う。この直径調節ディスクの調節
は、検査ヘッドが停止している時に手動で行なわれる
が、相応に制御可能な内部モータを介して自動的に行な
うこともできる。直径調節ディスクには切換え装置軸受
ジャーナル29が堅固に固定されており、この軸受ジャ
ーナル29は、螺旋状ディスク11に設けられた長孔切
欠30を貫通してこの螺旋状ディスク11に後ろから係
合していて、この切換え装置軸受ジャーナル29に、切
換えレバー31として構成された切換え部材が回転可能
に軸受けされている。この切換えレバー31は、螺旋状
ディスク11に固定された螺旋状ディスクジャーナル3
2を介して螺旋状ディスク11に係合し、切換えディス
ク33に固定された切換えディスクジャーナル34を介
して切換えディスク33に係合する。この切換えディス
ク33は、切換えディスク軸受35を介してロータ27
に対して、このロータ27と同軸的に回転可能に軸受け
されている。
【0038】螺旋状ディスク11の外周部付近には螺旋
状ディスク・渦電流ブレーキ51が、また切換えディス
ク33の外周部付近には切換えディスク渦電流ブレーキ
52が、次のような形式で配置されている。つまり、渦
電流パルスによって渦電流ブレーキが短時間”操作”さ
れると、それぞれ影響を受けるディスク11若しくは3
3の回転運動が短時間制動され得るように配置されてい
る。
【0039】機能 次に図3〜図5を用いて、本発明による切換え装置の機
能を説明する。ディスク状の横断面を有する検査対象物
36は、検査ヘッド軸線13と同軸的に検査ヘッドを通
って案内されている(図3)。検査対象物の通過方向で
検査ヘッドの前側に、センサ例えば光学的又は電子光化
学的なセンサ、あるいは機械的なフィーラーと協働する
センサが接続されている。このセンサは、例えば互いに
溶接しようとするワイヤの接続箇所における溶接継ぎ目
等の、検査対象物の非均一な横断面形状を確認して、切
換え装置のための制御信号を生ぜしめる。
【0040】ロータが停止している時には、まず円錐台
形歯車伝動装置(図示せず)の補助を受けて直径調節デ
ィスク12及び螺旋状ディスク11が、プローブ保持レ
バー21のカップリングピン24が螺旋状セグメント溝
14内でこの溝14に沿って延びるように、ロータに対
して回動する。このような、特に螺旋状ディスク11
が、ロータ(このロータでプローブ保持レバー21がそ
のレバー回転軸線22で支承されている)に対して回動
することによって、プローブ保持レバーがレバー回転軸
線22を中心にして回転し、ひいては、プローブ23が
検査対象物に対してほぼ半径方向で又はこの検査対象物
から離れる方向で移動するようになっている。この、螺
旋状ディスクの回転角度に応じた半径方向の移動程度
は、螺旋状セグメント溝14の勾配に基づいている。こ
の螺旋状セグメント溝14の勾配は、図1に示した螺旋
状セグメント溝の勾配よりも、図3に示したものの方が
作図上の理由により急勾配である。調節は、プローブ2
3の有効範囲と検査対象物36の表面との間に検査間隔
37が残るように行なわれる。
【0041】直径調節作業中に、遠心力カップリングピ
ン16はカップリングばね17によって、形状接続的に
円形セグメント20の切欠19内に押しつけられるの
で、直径調節ディスク12と螺旋状ディスク11とは共
通に回転する。検査位置で、螺旋状ディスク・マーキン
グ38と直径調節ディスク・マーキング39とが互いに
整列し、螺旋状ディスクジャーナル32は回転方向25
で、切換えディスクジャーナル34に先行して移動す
る。
【0042】螺旋状ディスクジャーナル32及び切換え
ディスクジャーナル34は、切換えレバー31内で摺動
可能に軸受されたディスクホルダ40を介して切換えレ
バー31に係合する。この切換えレバー31の質量体重
心点43(切換えレバーの相応の側で付加的な重量を示
す、黒い円で概略的に示されている)は、その回転軸線
42と一致していない(図4参照)。切換えレバー31
の位置によって、螺旋状ディスク11に対する切換えデ
ィスク33の相対回動位置も規定される。この位置は、
切換えディスクマーキング41によって示されている。
【0043】検査ヘッドのロータが検査ヘッド軸線13
を中心として矢印25方向で回転運動を開始すると、同
じ速度及び同じ方向で、螺旋状ディスク11、直径調節
ディスク12、切換えディスク33、並びにロータに支
承されたプローブ保持レバー21(この保持レバー21
のうちの1つだけが、これによって保持されているプロ
ーブ23と一緒に図示されている)、及び切換えレバー
31が回転する。切換えレバー31は、直径調節ディス
ク12の切換え装置軸受ジャーナル29で回転可能に軸
受けされている。この場合、プローブ23の有効範囲
は、検査対象物36の表面から検査間隔37を保ってこ
の検査対象物36の周囲を巡って回転する。
【0044】回転速度が高くなるにつれて、切換え装置
のすべての部分に働く遠心力が大きくなる。ロータの限
界回転数を越えると、遠心力カップリングピン16に働
く遠心力は、同様に遠心力によって影響を受けるカップ
リングばね17によってもたらされる対抗力よりも大き
いので、遠心力カップリングピンは、切欠15に沿って
半径方向外側へ、ストッパピン18に向かって押しつけ
られる。これによって直径調節ディスク12及び螺旋状
ディスク11はカップリングピンの範囲で連結解除され
る。
【0045】しかしながら、直径調節ディスクに対する
螺旋状ディスク11の回転位置は、連結解除後において
も、遠心力カップリングピンの範囲でやはり明確に規定
され、遠心力によって安定されている。これについて、
遠心力によって安定化された、切換え装置の切換え状態
を概略的に示す図4を用いて説明する。切換えレバー3
1は、切換え装置の回転軸線42を中心にして回転可能
に切換え装置軸受ジャーナルに軸受けされている。切換
えレバー31の質量重心点43は、切換え装置の回転軸
線42から重心点間隔44を保って位置している。これ
は、実際には、例えば切換え部材の左右非対称の形状に
よって得られる。つまり互いに向き合って位置するレバ
ーアームを種々異なる厚さに設計することによって得ら
れる。
【0046】切換え装置を検査ヘッド軸線13を中心に
して回転させると、矢印45の方向に向けられた遠心力
が、重心点間隔44を越えて切換えレバーにトルクを生
ぜしめる。直線で示された切換えレバーの位置(図3に
相当する)で、このトルクは、切換えレバーをロータの
回転方向25に抗して回転させる。これは、螺旋状ディ
スクジャーナル32を介して伝達された、螺旋状ディス
ク(図示せず)の矢印25の方向の回転に相当する。こ
の回転は、遠心力カップリングピン16のストッパによ
って切欠19の側壁46で制限されているので、カップ
リングピンはトルクによって側壁46に向かって押しつ
けられる。これによって、切換えディスクジャーナル3
4を介して、切換えディスク33の回転位置も、図3に
示した位置で規定され、切換えレバー31に働く遠心力
によって安定される。
【0047】螺旋状ディスク11に働く渦電流ブレーキ
を操作すると、螺旋状ディスク11はその回転速度を、
十分なブレーキ効率の下で検査ヘッドのロータに対して
減速される。これは、回転するロータに関連して、検査
ヘッドの回転方向25に抗する螺旋状ディスクの相対運
動に相当する。制動することによって、螺旋状ディスク
ジャーナル32には、回転方向25に抗する方向に向け
られる力が働く。この力は、ジャーナル間隔47を保っ
て切換えレバー31にトルク(遠心力によって生ぜしめ
らめられるトルクとは逆方向に向けられるトルク)を作
用させる。所定のブレーキ効率において、このトルク
は、遠心力によって生ぜしめられたトルクを越えて、切
換えレバー31は矢印25の方向で、図4に破線で示し
た位置に切換えられる。この場合、切換えレバー31
は、特に、質量重心点43と切換え装置の回転軸線42
とが、検査ヘッド軸線13から見て互いに合致する不安
定な位置をも克服するようになっている。
【0048】このような不安定な位置を越えてから、制
動を生ぜしめ、かつ、遠心力によって影響を受けるトル
クは、同じ方向でつまり破線で示した位置に向かう方向
で切換えレバーに作用する。制動は、切換え装置の不安
定な位置を越えるまでしか必要ではない。切換えレバー
が破線で示した位置にくると、遠心力カップリングピン
16は円形セグメント20の側壁48に押しつけられ
る。
【0049】螺旋状ディスク11の制動を介して切換え
レバー31が回転せしめられると、切換えディスクジャ
ーナル34を介して、切換えディスク33が螺旋状ディ
スク11に対して相対的に矢印25方向で回転せしめら
れ、螺旋状ディスク11が直径調節ディスク12に対し
て相対的に矢印25の方向とは逆方向に回転せしめられ
る。この回転運動は、遠心力カップリングピン16円形
セグメント溝20の側壁48に当接することによって制
限されるので、螺旋状ディスク11は、直径調節ディス
ク12(このディスク12に円形セグメント溝20が設
けられている)に対して、調節角度49だけ矢印25の
方向に抗して回転せしめられる。図3に示した位置と比
較して、検査ヘッドに対する直径調節ディスクの位置
(直径調節ディスク・マーキング39によって示されて
いる)が変化しない場合には、螺旋状ディスク・マーキ
ング38を有する螺旋状ディスク11が、矢印25方向
とは逆の方向で、切換えディスク33(切換えディスク
・マーキング41を有する)が矢印25の回転方向で移
動する。
【0050】螺旋状セグメント溝14は矢印25の方向
とは逆方向で移動もするので、カップリングピン24
は、螺旋状セグメント溝14の、半径方向でさらに外側
に存在する位置に配置されている。それに応じて、プロ
ーブ保持レバー21は矢印25の方向でレバー回転軸線
22を中心にして回転するので、プローブ23は、対象
物表面にから間隔50を保って配置されている。この切
換え状態は、図3に示した切換え状態とエネルギー論的
に同じでしかも遠心力によってのみ安定化される。
【0051】横断面非均一性の範囲が検査ヘッドを通っ
て走行して、対象物が再びその所望の横断面を得ると、
この変化は同様に検出されて切換え装置にリセット信号
が送られる。検査装置を図3に示した検査位置にリセッ
トするために、切換えディスク33を短時間制動させる
必要がある。これによって前記形式で、切換えレバー3
1が矢印25の方向とは逆方向に不安定な位置を越えて
再び図3に示した検査位置に回転せしめられる。
【0052】この装置のそれぞれの切換え状態を表示す
るために、公知の多数の手段を使用することができる。
従って光学的な検出器が、調節手段に設けられたマーキ
ング(前記マーキング38,39及び41と同様の)の
位置を検出して、外部に表示することができる。切換え
レバー31の位置及び又は遠心力カップリングピン16
及び又はプローブ保持レバー21の位置に基づいて、例
えば電気的、電子的又は電磁石的に作動するセンサ装置
を介して、切換え状態を表示することもできる。
【0053】以上のように本発明によれば、非常に迅速
に切換えを行なうことができる機械的なフリップ・フロ
ップ(Flip-flop)装置が得られた。切換えの速度は、ロ
ータの回転速度と、切換え時に移動させようとするロー
タの質量に基づいている。この質量が小さければ、一方
ではそれぞれの軸受を小さい寸法で構成することができ
(これによって克服したい摩擦力を小さくすることがで
きる)、他方では、小さい力で調節手段を加速させるこ
とができ、ひいては切換えを加速させることができる。
しかしながら勿論、調節手段を設計する際の限界条件と
して、著しく大きい遠心力は除外されるので、弾性的な
及び場合によっては塑性変形に対する相応の安定性を与
える必要があることを考慮しなければならない。
【0054】本発明による装置の運転確実性を得るため
に、検査対象物の周囲を巡って回転するプローブの範囲
に圧力ガスを供給するか、又はこの範囲から圧力ガスを
導出することも役立つ。これは一方では特に金属による
汚れ(これによって検査信号が不都合な影響を受ける)
に対して検査範囲を保護するのに役立ち、他方では、圧
力ガスを供給することによって装置を冷却し、また常に
摩擦熱が生じているにも拘わらず常に一定の運転温度に
保つことができる。これは、各部材の熱膨張を考慮した
一定な検査条件を得るために有好都合である。
【0055】実際には、組み込まれた検査装置を有する
連続的に作業するワイヤ引き伸ばし装置は、例えば図6
に示したように組み立てることができる。検査装置の入
口側には、第1のワイヤローラ55と第2のワイヤロー
ラ56とが配置されており、この場合、ワイヤは引き伸
ばし過程を行なうためにまずワイヤローラ55から繰り
出され、溶接ロボット57及びワイヤ貯蔵装置58の範
囲を通ってワイヤ引き伸ばし装置59に供給される。ワ
イヤの通過方向で見て引き伸ばし装置の後ろ側には、検
査装置54に配属されたセンサ60が配置されており、
このセンサ60は、ワイヤ引き伸ばし装置59から引き
出されるワイヤ61の横断面非均一性が生じた時には、
場合によっては制御及び評価装置69を介して検査装置
54に切換え信号が送られる。検査装置54の前後に
は、引き伸ばし又はガイドノズル70が設けられてい
る。出口側の引き伸ばし又はガイドノズルの後ろ側に
は、マーキング装置63が配置されており、このマーキ
ング装置63は、インキスプレーによって、引き伸ばさ
れたワイヤの次のような範囲、つまり、検査装置によっ
て欠陥があると確認された範囲又は、切換え装置がプロ
ーブの上昇位置に存在した時に検査ヘッドを通過したた
めに、まったく検査ができない範囲にマーキングを施
す。高品質を確保するために、この装置は”未検査=欠
陥有り”の原則に基づいて作業する。次いで、引き伸ば
されて検査され、場合によってはマーキングされたワイ
ヤは、引張りモータ65のドラム64に巻き付けられ、
このドラム64から出口側ワイヤローラ66上に落下す
るようになっている。
【0056】図示の実施例では、丁度今引き伸ばしプロ
セスを終了したワイヤのワイヤ終端部67が、溶接ロボ
ット57の範囲に達し、ここで保持されている。ワイヤ
ローラ55に巻き付けられたワイヤのワイヤ始端部68
がワイヤ終端部67に溶接される。この溶接過程中にワ
イヤは、ワイヤ貯蔵装置58から引き伸ばし装置内に達
するようになっていて、従って、この引き伸ばし装置
は、溶接過程中に速度を変化させずに作業することがで
きる。溶接過程後に、溶接ビードを備え、場合によって
はずれを有する溶接箇所が、ワイヤ貯蔵装置58を通っ
てワイヤ引き伸ばし装置59に達し、ここでワイヤ引き
伸ばしノズルを通過する。溶接箇所は、ワイヤ引き伸ば
し過程のためにはそれほど妨害にならないが、例えば溶
接ビードは、ワイヤの周囲をわずかな間隔を保って高速
で回転する壊れやすいプローブがこの溶接ビードに接触
するとを破壊することがある。溶接ビードの箇所がセン
サ60に達すると、このセンサ60は、切換え信号を検
査装置54に送信し、ここで切換え装置がプローブを迅
速にその上昇位置にもたらす。約3m/sの典型的なワ
イヤ送り速度において、切換え過程は、センサ60によ
る数分の1秒での横断面非均一性の検知に追従しなけれ
ばならない。プローブがワイヤから離れると直ちに、マ
ーキング装置63はワイヤの非検査箇所をマーキング
し、この非検査箇所はそれ以上使用されない。
【0057】横断面非均一の箇所がセンサ60を通過す
ると、センサ60はその目標値信号を再び発信し、切換
え装置を新たに切り換えるので、プローブは再びその検
査位置にリセットされる。このリセット作業は、この装
置においては高い反復精度で行なわれるので、プローブ
を持ち上げる前で、しかもリセットした後で、検査装置
の制御及び評価装置68が、ほぼ同じ強さの信号を受信
する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の1実施例による切り換え装置の、機能
上重要な部分を示す概略的な側面図である。
【図2】切り換え装置の概略的な側面図である。
【図3】検査位置における切り換え装置の、一部破断し
た概略図である。
【図4】双安定性の切り換えの作用形式を示す概略図で
ある。
【図5】上昇位置における切り換え装置の、一部破断し
た概略図である。
【図6】検査装置が組み込まれている、連続的に作業す
るワイヤ引き伸ばし装置の概略図である。
【符号の説明】
11 螺旋状ディスク、 12 直径調節ディスク、
13 検査ヘッド軸線、 14 螺旋状セグメント溝、
15 切欠、 16 遠心カップリングピン、 17
カップリングばね、 18 ストッパピン、 19
切欠、 20円形セグメント溝、 21 プローブ保持
レバー、 22 レバー回転軸線、23 プローブ、
24 カップリングピン、 25 回転方向矢印、 2
6検査軌道、 27 ロータ、 28 円錐台形歯車伝
動装置、 29 切換装置軸受ジャーナル、 30 長
孔、 31 切換レバー、 32 螺旋状ディスクジャ
ーナル、 33 切換ディスク、 34 切換えディス
クジャーナル、 35 切換えディスク軸受、 36
検査対象物、 37 検査間隔、 38 螺旋状ディス
ク・マーキング、 39 直径調節ディスク・マーキン
グ、 40ディスクホルダ、 41 切換ディスクマー
キング、 42 回転軸線、 43質量体重心点、 4
4 重心点間隔、 46 側壁、 47 ジャーナル間
隔、 48 側壁、 49 調節角度、 51 螺旋状
ディスク・渦電流ブレーキ、 52 切換えディスク・
渦電流ブレーキ、 53 切換え装置、 54 検査装
置、 55,56 ワイヤローラ、 57 溶接ロボッ
ト、 58 ワイヤ貯蔵装置、 59 ワイヤ引き伸ば
し装置、 60 センサ、 61 ワイヤ、63 マー
キング装置、 64 ドラム、 65 引っ張りモー
タ、 66出口側ワイヤローラ、 67 ワイヤ終端
部、 68 ワイヤ始端部、 69制御及び評価装置、
70 引き伸ばし又はガイドノズル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ヘルムート シュヴァルツ ドイツ連邦共和国 クスターディンゲン ヴォルフスグルーベンシュトラーセ 12 (72)発明者 ハインリッヒ ブラウン ドイツ連邦共和国 ロイトリンゲン アッ ハルムシュタイゲ 40

Claims (23)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 細長い対象物、殊にワイヤを検査するた
    めの装置であって、通過する対象物を検査する検査ヘッ
    ドと、この検査ヘッドが回転する際にこの検査ヘッドの
    外側で操作されて対象物(36)とプローブ(23)と
    の間の半径方向間隔を変える切換え装置(53)とを有
    しており、前記検査ヘッドは、可動なプローブ保持手段
    (21)に設けられ、かつ、対象物(36)の周囲を巡
    る円形のプローブ循環軌道に沿ってガイドされた少なく
    とも1つのプローブ(23)を備えている形式のものに
    おいて、 前記切換え装置が、安定した2つの切換え状態を有して
    おり、これら2つの切換え状態のうちの一方が、対象物
    に近い検査位置に相当し、他方が、対象物から遠いプロ
    ーブの上昇位置に相当するようになっていることを特徴
    とする、細長い対象物を検査するための装置。
  2. 【請求項2】 切換え装置(53)が、遠心力の作用に
    抗して安定した状態を維持する、部分的に互いに作用し
    合う調節手段と、この調節手段に作用する切換え手段と
    を有している、請求項1記載の装置。
  3. 【請求項3】 切換え装置(53)が、回転時に遠心力
    によって安定化され得る2つの安定した切換え状態を有
    する機械的な切換え手段を備えている、請求項1又は2
    記載の装置。
  4. 【請求項4】 機械的な切換え手段が、機械重心点の外
    側で回転可能に支承され、かつその回転が制限された少
    なくとも1つの切換え部材(31)を有している、請求
    項3記載の装置。
  5. 【請求項5】 切換え装置(53)が、遠心力によって
    生ぜしめられるトルクの影響を受けない調節手段を有し
    ており、これらの調節手段が、それぞれの重心点を中心
    にして回転可能に支承され、かつ、互いに部分的に作用
    し合うようになっている、請求項1から4までのいずれ
    か1項記載の装置。
  6. 【請求項6】 切換え部材(31)が少なくとも1つの
    調節手段に作用する、請求項1から5までのいずれか1
    項記載の装置。
  7. 【請求項7】 切換え手段が、エネルギーパルスによっ
    て切換え可能である、請求項1から6までのいずれか1
    項記載の装置。
  8. 【請求項8】 切換え装置に無接触で作用する、渦電流
    ブレーキ(51,52)として構成されたエネルギーパ
    ルス伝達装置が設けられている、請求項1から9までの
    いずれか1項記載の装置。
  9. 【請求項9】 プローブ循環軌道の直径、及びひいては
    プローブ(23)と検査対象物(36)との間の半径方
    向の間隔が、プローブ保持手段(21)が回転すること
    によって調節可能である、請求項1から8までのいずれ
    か1項記載の装置。
  10. 【請求項10】 プローブ保持部材(21)の制限され
    た回転範囲に亘っての、プローブ(23)の最適な作用
    を有する範囲が、検査対象物(36)に対してほぼ半径
    方向に向けられている、請求項1から9までのいずれか
    1項記載の装置。
  11. 【請求項11】 プローブ(23)を有するプローブ保
    持手段(21)がプローブ保持レバーとして構成されて
    おり、該プローブ保持レバーの重心点が、該保持レバー
    の回転軸線(22)付近、殊にこの回転軸線(22)上
    に位置している、請求項1から10までのいずれか1項
    記載の装置。
  12. 【請求項12】 切換え装置(53)が、カップリング
    手段(24)を介してプローブ保持手段(21)に係合
    する、回転時にプローブ保持手段(21)を回転させる
    回転可能に軸受された調節手段(11)を有しており、
    該調節手段(11)が、検査ヘッドのロータに対して同
    軸的に配置され、このロータに対して回転可能である、
    請求項1から11までのいずれか1項記載の装置。
  13. 【請求項13】 調節手段(11)が、この調節手段の
    回転軸線の周囲に螺旋状に延びる少なくとも1つの螺旋
    状セグメント溝(14)を有しており、該螺旋状セグメ
    ント溝(14)内に、プローブ保持手段(21)の回転
    軸線(22)から離れてこのプローブ保持手段(21)
    に設けられた、カップリングピンとして構成されたカッ
    プリング手段(24)が係合する、請求項1から13ま
    でのいずれか1項記載の装置。
  14. 【請求項14】 ディスク状に構成された調節手段(1
    1)に作用する、同様にディスク状に構成された調節駆
    動部材(12)が設けられており、該調節駆動部材(1
    2)が、自動安定化可能な調節手段によって内部で及び
    又は外部で操作可能である、請求項1から13までのい
    ずれか1項記載の装置。
  15. 【請求項15】 調節手段(11)に作用する遠心力・
    連結解除装置が、調節駆動部材(12)と調節手段(1
    1)との間に設けられている、請求項1から14までの
    いずれか1項記載の装置。
  16. 【請求項16】 遠心力・連結解除装置が、検査ヘッド
    を通って延びる中央の軸線に対してほぼ半径方向に調節
    手段(11)で及び又は調節手段(11)内で可動にガ
    イドされた遠心力・カップリングピン(16)を有して
    おり、該遠心力・カップリングピン(16)は、ばね
    (17)によって検査ヘッド軸線(13)に向かって作
    用する力によって負荷されるようになっていて、ロータ
    の回転時に遠心力によって、調節駆動部材(12)内へ
    の形状接続的な係合から出る方向に可動である、請求項
    15記載の装置。
  17. 【請求項17】 調節手段(11)と同軸的に回転し、
    この調節手段(11)に対して回動可能な、殊に切換え
    ディスクとして構成された制御手段(33)が設けられ
    ている、請求項1から16までのいずれか1項記載の装
    置。
  18. 【請求項18】 調節手段(11)と制御手段(33)
    との間に回転方向切換えカップリングが設けられてい
    る、請求項1から17までのいずれか1項記載の装置。
  19. 【請求項19】 回転方向切換えカップリングが、調節
    駆動部材(12)に回転可能に支承された切換え部材
    (31)を有しており、この切換え部材(31)が、こ
    の切換え部材(31)で摺動可能に支承されたジャーナ
    ル(32,34)として構成された係合手段を介して調
    節手段(11)及び制御手段(33)に係合する、請求
    項18記載の装置。
  20. 【請求項20】 プローブ(23)の範囲へ圧力ガスを
    供給するか若しくはこの範囲から圧力ガスを導出する手
    段が設けられている、請求項1から19までのいずれか
    1項記載の装置。
  21. 【請求項21】 切換え装置(53)の切換え状態を表
    示する表示手段が設けられている、請求項1から20ま
    でのいずれか1項記載の装置。
  22. 【請求項22】 対象物(36)の通過方向で検査ヘッ
    ドの前方に、横断面非均一性を検出するための検出手段
    が接続されており、この検出手段が、切換え装置のため
    の制御信号を生ぜしめるようになっている、請求項1か
    ら21までのいずれか1項記載の装置。
  23. 【請求項23】 互いに及び検査ヘッドのロータに対し
    て回転可能な、回転方向切換え・カップリングを介して
    連結された2つのディスクが設けられており、これら2
    つのディスクの一方が、調節手段(11)と同一であっ
    て、他方が制御手段(33)と同一であり、これらの2
    つのディスクの間に配置され、このディスクに作用する
    双安定性の切換え部材(31)が設けられており、この
    切換え部材(31)が回転方向切換え・カップリングの
    一部であって、この切換え部材の切換え状態が、回転時
    に殊に遠心力によって安定化されるようになっており、
    操作時に前記ディスク(11,33)に作用して、これ
    らのディスクの回転運動を制動する少なくとも1つの渦
    電流ブレーキが設けられている、請求項1から22まで
    のいずれか1項記載の装置。
JP6098804A 1993-07-20 1994-05-12 細長い対象物を検査するための装置 Expired - Lifetime JP2716659B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4324332A DE4324332C2 (de) 1993-07-20 1993-07-20 Einrichtung zum Prüfen von langgestreckten Gegenständen ggf. mit Querschnittsunregelmäßigkeiten
DE4324332.0 1993-07-20

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0743350A true JPH0743350A (ja) 1995-02-14
JP2716659B2 JP2716659B2 (ja) 1998-02-18

Family

ID=6493273

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6098804A Expired - Lifetime JP2716659B2 (ja) 1993-07-20 1994-05-12 細長い対象物を検査するための装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5517114A (ja)
JP (1) JP2716659B2 (ja)
DE (1) DE4324332C2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160040848A (ko) * 2014-10-06 2016-04-15 주식회사 포스코 로프 점검장치 및 로프 점검방법
JP2019082369A (ja) * 2017-10-30 2019-05-30 矢崎エナジーシステム株式会社 腐食診断方法及び腐食診断装置

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19817953A1 (de) * 1998-04-22 1999-10-28 Hilti Ag Markiervorrichtung
DE19963231A1 (de) * 1999-12-27 2001-06-28 Foerster Inst Dr Friedrich Prüfeinrichtung zum Prüfen von langgestreckten Gegenständen
DE202005003685U1 (de) * 2005-03-08 2005-10-13 Zindler, Pascale Mignard Technische Neuerungen im Magnetkreis des Hochenergiewechselfeldjochs
DE102008040049B4 (de) 2008-07-01 2011-12-01 Uwe Mehr Vorrichtung zur Fixierung und/oder Führung eines Körpers
US8264221B2 (en) * 2009-07-31 2012-09-11 Olympus Ndt Eddy current probe assembly adjustable for inspecting test objects of different sizes
DE102015214232A1 (de) * 2015-07-28 2017-02-02 Prüftechnik Dieter Busch AG Sondeneinrichtung, Rotierkopf und Prüfgerät
CN110618191B (zh) * 2019-09-19 2023-05-12 西安建筑科技大学 一种适用于钢丝绳的金属磁记忆检测装置
CN114221188B (zh) * 2022-01-13 2024-02-20 北京三一智造科技有限公司 一种回转接头及作业机械

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3612987A (en) * 1970-04-13 1971-10-12 Amf Inc Inspection apparatus for moving elongated articles including means for extending and retracting a sensor relative to the article
CA1038038A (en) * 1976-04-30 1978-09-05 Northern Telecom Limited Apparatus for measuring and indicating the thickness of non-metallic coatings
SU968728A1 (ru) * 1980-10-01 1982-10-23 Научно-исследовательский и опытно-конструкторский институт автоматизации черной металлургии Двухкоординатный отметчик дефектов
US4449408A (en) * 1982-04-22 1984-05-22 Magnetic Analysis Corporation EMAT Test apparatus having retractable probe
SU1089505A1 (ru) * 1983-01-10 1984-04-30 Колпинское отделение Всесоюзного научно-исследовательского и проектно-конструкторского института металлургического машиностроения Научно-производственного объединения "ВНИИМЕТМАШ" Сканирующее устройство дефектоскопа
SU1280515A1 (ru) * 1985-08-02 1986-12-30 Научно-Исследовательский Институт Интроскопии След щий многозвенный механизм дл дефектоскопии круглого проката
DE3739190A1 (de) * 1987-11-19 1989-06-01 Foerster Inst Dr Friedrich Rotierkopf zum abtasten der oberflaeche zylindrischer pruefteile
DE9108162U1 (ja) * 1991-07-03 1991-10-24 Rohmann, Juergen, 6711 Beindersheim, De
DE4121948A1 (de) * 1991-07-03 1993-01-07 Juergen Dipl Ing Rohmann Sondentraeger fuer die wirbelstrom-werkstoffpruefung

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160040848A (ko) * 2014-10-06 2016-04-15 주식회사 포스코 로프 점검장치 및 로프 점검방법
JP2019082369A (ja) * 2017-10-30 2019-05-30 矢崎エナジーシステム株式会社 腐食診断方法及び腐食診断装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2716659B2 (ja) 1998-02-18
DE4324332A1 (de) 1995-01-26
DE4324332C2 (de) 1996-04-18
US5517114A (en) 1996-05-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0743350A (ja) 細長い対象物を検査するための装置
US4869112A (en) Screw-driven actuator for test frame
US5169483A (en) Tire component member attaching apparatus
US6065711A (en) Yarn brake and textile machine and yarn feed device equipped therewith
CA1162638A (en) Method and apparatus for pipe inspection
JPH0625756B2 (ja) 構造部材用ボールの超音波探傷検査方法及び超音波探傷検査装置
JP3793888B2 (ja) 玉軸受の検査方法
CA2006325C (en) Rotating eddy current roller head
JP2868684B2 (ja) 摩擦・摩耗試験装置
US5486760A (en) Apparatus for checking surface features of conical parts including a probe disposed within a transversal groove of a roller
US20030150260A1 (en) Device for measuring the uniformity of a vehicle tire
KR100719912B1 (ko) 고무마찰 시험기
JP2010106426A (ja) 糸ロープ巻取体を製造するための装置
JPH0326960A (ja) 超音波検査装置
JPS5856805B2 (ja) 断絶部のある表面のための測定装置
JP3177471B2 (ja) ボールベアリングの検査装置
JPH06288848A (ja) ディスクブレーキの引き摺りトルク測定方法
JP2018521327A (ja) プローブ素子、回転頭部及び試験装置
KR200248436Y1 (ko) 차량 브레이크 디스크/드럼의 디티브이 자동측정 시스템
JPH09229908A (ja) 球体の探傷用回転装置
RU2789760C1 (ru) Устройство автоматического измерения диаметра и длины подшипниковых роликов
JPH07191001A (ja) 超音波探傷装置
US4498329A (en) Apparatus for measurement of sliding friction using gyroscopic mass
JPS6124651B2 (ja)
JP4523844B2 (ja) テーパー鋼管の製造方法