JPH07336030A - プリント配線基板の半田ランドの構造 - Google Patents

プリント配線基板の半田ランドの構造

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JPH07336030A
JPH07336030A JP12997194A JP12997194A JPH07336030A JP H07336030 A JPH07336030 A JP H07336030A JP 12997194 A JP12997194 A JP 12997194A JP 12997194 A JP12997194 A JP 12997194A JP H07336030 A JPH07336030 A JP H07336030A
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JP
Japan
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land
lands
solder
electronic component
printed wiring
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JP12997194A
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Michio Otsuki
道雄 大月
Takahiro Kawamura
隆博 河村
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Sony Corp
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Sony Corp
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components
    • H05K3/3431Leadless components
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3452Solder masks

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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 高密度化するプリント配線基板に実装される
チップ状電子部品の、安定した半田付け状態を実現する
プリント配線基板の半田ランドの構造を提供する。 【構成】 プリント配線基板1の表面にはチップ状電子
部品2を搭載するためのランド10、10Aを互いに対
向して形成し、その周辺には前記ランド10、10Aを
開口して半田レジスト層が形成されている。本発明は前
記ランド10、10Aを凸形の形状にして対向させるよ
うに構成される。 【効果】 半田ランドを凸形の形状とすることで、半田
ペーストの量を適度に制限することができ、安定した半
田付け性が確保でき実装品質が向上する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はプリント配線基板に、リ
ード線を有しないリードレス電子部品を実装するための
半田ランドの形状を改良したプリント配線基板の半田ラ
ンドの構造に関するものである。
【0002】
【従来の技術】電子機器の小型化と薄型化に伴い、この
電子機器に用いられるプリント配線基板の実装はますま
す高密度になり実装間隔は狭少化している。それに伴い
リード線を有しないリードレス電子部品(以下、単に
「チップ状電子部品」と記す)も小型化され、プリント
配線基板の実装技術も困難な状況と成りつつあり、この
ような状況下で、実装品質向上への新たな対応が求めら
れている。
【0003】従来技術の、プリント配線基板にチップ状
電子部品を装着するための半田ランド(以下、単に「ラ
ンド」と記す)の構造について、図4を参照して説明す
る。図4は従来技術のチップ状電子部品のランド構造を
示す図であり、(a)はランド形状を示す上面図、
(b)は半田付け状態を示す側面図である。
【0004】まず、図4(a)のランド形状を示す上面
図を参照して従来のプリント配線基板の構成を説明す
る。プリント配線基板1の表面にはチップ状電子部品2
を搭載するためのランド3、3Aが例えば、膜厚35μ
mの銅箔で平面状に形成され、このランド3、3Aは四
方形で互いに相対向して形成されている。その周辺には
前記ランド3、3Aを開口して半田レジスト層7が形成
され、前記ランド3、3Aの任意の部位には、信号を伝
達するための配線パターン4、4Aが延在している。前
記チップ状電子部品2の両端には銀パラジウムの外部電
極5、5Aが設けられ、前記ランド3、3A上に位置を
合わせて搭載される。
【0005】ランド3、3A上には半田ペースト6が塗
布されており、この半田ペースト6は初めクリーム状を
成しているが、例えば、熱風や赤外線で溶融して冷却す
ると通常の固形半田6Aの状態に相変化する。この半田
ペースト6の作用によって、チップ状電子部品2の外部
電極5、5Aとランド3、3Aとが固着させられてい
る。
【0006】図4(b)は従来技術のチップ状電子部品
2の半田付け状態を示す側面図であり、プリント配線基
板1上にランド3、3Aを介してチップ状電子部品2が
搭載され、半田ペースト6が溶解した半田6Aで固着し
ている状態を示している。半田6Aの量は、ランド3、
3Aの大きさや形状にある程度コントロールされてお
り、ランド3、3Aの大きさや形状は、プリント配線基
板1の実装品質をも左右するものである。
【0007】ここで、前記プリント配線基板1における
半田付けについては、本願出願人が先に出願した特開昭
58ー89891号明細書記載の「電子部品の混成形実
装基板」があり、その概要は以下の通りである。即ち、
「リード線付電子部品をマウント面から基板に挿入し、
半田デイップ法で半田付けする第一工程と、基板のパタ
ーン面にリード線を有しないリードレス電子部品を半田
付けする第二工程で電子回路を形成する実装基板におい
て、前記リードレス回路素子を半田付けするランドの相
対向する側の面積を、前記ランドの他の側の面積に比較
して小さく形成したランド形状を特徴とする。」という
ものである。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかし、以上説明した
従来技術のチップ状電子部品2のランド構造において
は、プリント配線基板1の表面に形成したランド3、3
Aに半田ペースト6を塗布して、チップ状電子部品2を
搭載し、このチップ状電子部品2の外部電極5、5Aと
ランド3、3Aを半田ペースト6を介して固着するが、
前記ランド3、3Aへの半田ペースト6の塗布量の不均
一や、また、半田ペースト6が溶融時に発生する表面張
力、更にまた、ランド3、3Aに接続されている配線パ
ターン4、4Aの左右の熱容量差の影響により、チップ
状電子部品2が例えば、片側のランド3に引き寄せられ
て垂直状態になる、所謂マンハッタン現象が原因による
未半田が発生する欠点があり、その不良数は数千〜数万
PPMに及ぶこともあった。
【0009】また、プリント配線基板1上に、複数のチ
ップ状電子部品2が接近して併設されるような場合にお
いて、従来技術の四方形のランド形状では、半田ペース
ト6が広がって盛り上がる状態に成りやすいため、半田
ペースト6がランド3、3Aからはみ出して、隣接する
ランドとの間に存在するようになり、複数のチップ状電
子部品2の外部電極5、5Aが互いに接触し、電気的短
絡が発生しやすいという欠点があった。接触を防止する
ため、半田ペースト6の量を制限することも考えられる
が、この時の半田付け状態は悪化して、適正な半田付け
状態は得られず、修正工程を必要として製造工数も増大
する欠点もあった。
【0010】更に、実装済のプリント配線基板1は、プ
リント配線基板検査装置に装着して動作確認を行う必要
があり、そのためランド3、3Aとは別に、プリント配
線基板検査装置のチェック端子用のチェッカーランド
(図示せず)を設ける必要があるが、実装間隔が狭少化
している状況下でそのスペースが無駄と成りつつある。
本発明は、以上記したような不都合な諸点を解決するこ
とを課題とするものであり、チップ状電子部品2をプリ
ント配線基板1に実装する場合、適正な半田付け状態が
得られるプリント配線基板1のランド構造を提供するこ
とにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに、本発明は、リード線を有しないリードレス電子部
品を半田付けする半田ランドを備えたプリント配線基板
において、該半田ランドを凸形部を有する平面形状に
し、凸形部の突起部分を外側にして対向させたことを特
徴とするプリント配線基板の半田ランドの構造とするこ
とで前記課題を解決した。
【0012】また、半田ランドの凸形部の突起部分を、
プリント配線基板検査装置のチェック端子用のチェック
ランドとして併用する手法を採ることによって、前記課
題を解決した。
【0013】
【作用】即ち、本発明においては、プリント配線基板の
半田ランドを、凸形部を有する平面形状にし、凸形部の
突起部分を外側にして対向させることによって、この凸
形部のランド形状が半田ペースト6の分量を適度に制限
するように作用し、プリント配線基板1上のチップ状電
子部品2を安定な半田付け状態を実現することができ
る。また、ランド10、10Aに接続されている配線パ
ターン4、4Aの左右の熱容量差による影響も吸収して
マンハッタン現象も防止できる。
【0014】
【実施例】以下、本発明のプリント配線基板の半田ラン
ドの構造の実施例を図1及び図2を参照して説明する。
図1は本発明のチップ状電子部品のランド構造を示す図
であり、(a)はランド形状を示す上面図であり、
(b)は半田付け状態を示す側面図である。図2は本発
明のチップ状電子部品のランド構造の他の実施例を示す
図であり、(a)は半田レジストの開口部で凸形のラン
ドを形成した状態を示す上面図であり、(b)は三角形
状のランド形状を示す上面図であり、(c)は台形状の
ランド形状を示す上面図であり、(d)は半円形状のラ
ンド形状を示す上面図である。尚、従来技術で記載した
事項と共通する部分には同一の参照番号と符号を付し、
それらの説明を省略する。
【0015】本発明のプリント配線基板の半田ランドの
構造の特徴は、ランド形状を凸形部を有する特別な形状
とした点である。そして、図1(a)はこの特徴的な部
分についての一実施例の形状を示したものである。プリ
ント配線基板1の表面にはチップ状電子部品2を搭載す
るためのランド10、10Aを互いに相対向して形成
し、その周辺には前記ランド10、10Aを開口して半
田レジスト層11が形成されていて、ランド上部に乗る
半田ペースト量の分布は部品より離れた位置のものが部
品位置のものより少なくなる様になっている。即ち、前
記ランド10、10Aを凸形の特別な形状とすること
で、半田ペースト6の分量を適度に制限することが可能
となり、しかも、半田ペースト6の溶融後の半田6Aの
盛り上がり状態が、チップ状電子部品2の外部電極5、
5Aに沿って形成させるようになり安定した半田付け性
が確保できる。図1(b)は本発明の半田ランドの構造
における半田付け状態を示す側面図であり、図示したよ
うに半田6Aの盛り上がり状態が、適度に制限されて安
定している状態を示している。
【0016】次に、本発明のチップ状電子部品のランド
構造の他の実施例の数々を図2を参照して説明する。図
2(a)において、チップ状電子部品2を装着するラン
ド形状は、四方形で互いに相対向して形成された従来技
術のランド3、3Aのままで、半田レジスト層11を、
前記発明例と同じ凸形の形状に開口して形成して、前記
発明例と同様の効果が得られるように工夫した実施例で
ある。図2(b)は、チップ状電子部品2を搭載するた
めの三角形のランド12、12Aを互いに相対向して形
成し、その周辺には前記三角形のランド12、12Aを
開口して半田レジスト層15が形成された実施例であ
る。図2(c)は、チップ状電子部品2を搭載するため
の台形のランド13、13Aを互いに相対向して形成
し、その周辺には前記台形のランド13、13Aを開口
して半田レジスト層16が形成された実施例である。図
2(d)は、チップ状電子部品2を搭載するための半円
形のランド14、14Aを互いに相対向して形成し、そ
の周辺には前記半円形のランド14、14Aを開口して
半田レジスト層17が形成された実施例である。
【0017】図3は本発明のチップ状電子部品のランド
にチェック端子が接触した状態を示す上面図であり、プ
リント配線基板1の表面にランド10、10Aを介して
チップ状電子部品2が装着され、半田6Aで固着してお
り、ランド10、10Aの凸形状の突片には、プリント
配線基板検査装置のチェック端子15が接触している状
態を示している。図に示す如く、本来プリント配線基板
1の表面には、プリント配線基板検査装置のチェック端
子15用のチェッカーランド(図示せず)を設ける必要
があるが、本発明ではランド10、10Aの凸形状の突
起部分を前記チェッカーランドとして併用できるため、
チェッカーランドの廃止が実現すれば、更なる実装密度
の向上が計れる。
【0018】本発明は前記実施例に限定されず、種々の
ランド形状を採ることができる。リードレス電子部品に
はあらゆるリードレスの回路素子を含むものとする。ま
た、プリント配線基板の実施形態には特に限定されず、
例えば、配線パターンが4層や6層に形成された多層基
板や、リード付電子部品と混在した半田ディップ法で製
造されるマルチ基板にも本発明が適用できることは言う
までもない。
【0019】
【発明の効果】以上、説明したように、本発明のプリン
ト配線基板の半田ランドの構造によれば、ランドを凸形
の特別な形状とすることで、半田ペーストの分量を適度
に制限することができる。また、ランドに接続されてい
る配線パターンの左右の熱容量差による影響もランドが
吸収して、チップ状電子部品が片側に引き寄せられるマ
ンハッタン現象も回避され半田付け不良もほぼ解消され
る。
【0020】前記ランドを凸形の特別な形状とすること
で、半田ペーストの分量を適度に制限することが可能と
なり、しかも、半田ペーストの溶融後の半田の盛り上が
り状態が、チップ状電子部品の外部電極に沿って、なだ
らかに形成させるようになるため、隣接するランド同士
が接近することなく、電気的短絡を防止できる。更に、
隣接するランド間隔を狭くすることができるから、実装
密度を向上することができる。プリント配線基板が高密
度になれば、半田付け不良は比例して多くなる状況の下
で、以上のような利点は実装効率の向上に寄与し、総合
的な実装品質向上を計ることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明のチップ状電子部品のランド構造を示
す図であり、(a)はランド形状を示す上面図、(b)
は半田付け状態を示す側面図である。
【図2】 本発明のチップ状電子部品のランド構造の他
の実施例を示す図であり、(a)は半田レジストの開口
部で凸形のランドを形成した状態を示す上面図であり、
(b)は三角形状のランド形状を示す上面図、(c)は
台形状のランド形状を示す上面図、(d)は半円形状の
ランド形状を示す上面図である。
【図3】 本発明のチップ状電子部品のランドにチェッ
ク端子が接触した状態を示す側面図である。
【図4】 従来技術のチップ状電子部品のランド構造を
示す図であり、(a)はランド形状を示す上面図、
(b)は半田付け状態を示す側面図である。
【符号の説明】
1 プリント配線基板 2 チップ状電子部品 3、3A 従来技術のランド 6 半田ペースト 6A 半田 7 半田レジスト層 10、10A 本発明のランド 11 凸形状の半田レジスト層 12、12A 三角形のランド 13、13A 台形形のランド 14、14A 半円形状のランド 15 三角形状の半田レジスト層 16 台形状の半田レジスト層 17 半円形状の半田レジスト層

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 リード線を有しないリードレス電子部品
    を半田付けする半田ランドを備えたプリント配線基板に
    おいて、該半田ランドを凸形部を有する平面形状にし、
    凸形部の突起部分を外側にして対向させたことを特徴と
    する、プリント配線基板の半田ランドの構造。
  2. 【請求項2】 半田ランドの凸形部の突起部分は、プリ
    ント配線基板検査装置のチェック端子用のチェックラン
    ドであることを特徴とする、請求項1に記載の半田ラン
    ドの構造。
JP12997194A 1994-06-13 1994-06-13 プリント配線基板の半田ランドの構造 Pending JPH07336030A (ja)

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