JPH07335543A - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置

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JPH07335543A
JPH07335543A JP15512994A JP15512994A JPH07335543A JP H07335543 A JPH07335543 A JP H07335543A JP 15512994 A JP15512994 A JP 15512994A JP 15512994 A JP15512994 A JP 15512994A JP H07335543 A JPH07335543 A JP H07335543A
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JP
Japan
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substrate
nozzle
liquid
coating
rectangular substrate
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Application number
JP15512994A
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English (en)
Inventor
Izuru Izeki
出 井関
Keiji Kirie
敬二 桐栄
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 塗布液など基板に供給される処理液の消費量
を低減することができるとともに、基板表面に処理液を
効率良く供給することができる基板処理装置を提供す
る。 【構成】 角型基板Wを保持するスピンチャック11を
備えた基板保持機構1と、スリット状に開口した吐出口
21aを有し、吐出口21aから塗布液を供給するノズ
ル21と、角型基板Wの回転と同期してノズル21を移
動させる駆動機構3とを備え、角型基板Wの回転にとも
なって、吐出口21aの端部を角型基板Wの端縁に沿っ
て移動させることにより、角型基板Wの表面の所定塗布
範囲内に塗布液が薄く塗布される。そして、塗布液が塗
布された角型基板Wは、高速回転されてその遠心力で角
型基板Wの表面に塗布液が均一に拡げられる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶用のガラス基板、
フォトマスク用基板、光ディスク用基板、及び半導体ウ
エハなどの基板の表面にフォトレジスト液を塗布した
り、現像液、洗浄液、エッチング液、剥離液などの処理
液を供給して所定のウェット処理を行ったりする基板処
理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、基板の表面にフォトレジスト液を
塗布する塗布装置として、例えば、特開平1−1355
65号公報、特開平4−61955号公報に記載された
ものが知られている。
【0003】これらの装置は、いずれも回転テーブル上
に、その表面を上向きにした基板を水平姿勢で吸着保持
し、その基板表面のほぼ中央部に塗布液供給ノズルから
レジスト液等の塗布液を滴下するとともに、回転テーブ
ルを回転させることにより、その回転遠心力によってレ
ジスト液を基板表面全体にわたって拡散させ、基板表面
に均一な薄膜を形成するように構成されている。そし
て、回転テーブルを回転させ、レジスト液を基板表面に
拡散させる際に、遠心力によって基板から振り切られた
余剰のレジスト液は周囲に飛散し、回転テーブルの周囲
を覆うように配備された容器によって回収されて廃棄さ
れる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来装置には次のような問題点がある。すなわち、基
板表面に均一な厚みのレジスト膜を得るためには、実際
に薄膜を形成するのに必要な量よりも多量のレジスト液
を基板表面に供給しなければならない。その結果、供給
したほとんど(90〜98%)のレジスト液が回転テー
ブルの遠心力によって基板から振り切られてしまい、高
価なレジスト液が多量に消費されるといった問題点があ
る。
【0005】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、塗布液など基板に供給される処理液の
消費量を低減することができるとともに、基板表面に処
理液を効率良く供給することができる基板処理装置を提
供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために次のような構成をとる。すなわち、請求項
1に記載の基板処理装置は、基板表面に所定の処理液を
供給して基板の処理を行う基板処理装置において、前記
基板を回転可能に保持する基板保持手段と、実質的にス
リット状に開口し、前記基板保持手段に保持された基板
表面に向けて処理液を吐出する吐出口を有する処理液供
給手段と、前記基板保持手段に保持された基板の端縁に
沿って前記吐出口の端部が移動するように、前記基板保
持手段による基板の回転と同期して、前記基板保持手段
と前記処理液供給手段とを相対移動させる駆動手段と、
を備えたものである。
【0007】また、請求項2に記載の装置は、請求項1
に記載の装置において、前記駆動手段が、前記基板保持
手段による基板の回転と同期し、前記基板保持手段に対
して前記スリット状の吐出口をその延びる方向に往復移
動させるものである。
【0008】また、請求項3に記載の装置は、請求項1
に記載の装置において、前記駆動手段が、前記基板保持
手段による基板の回転と同期し、前記基板保持手段に対
して前記スリット状の吐出口を回転変位させるものであ
る。
【0009】
【作用】すなわち、請求項1の発明によれば、基板保持
手段に基板が保持され、処理液供給手段の実質的にスリ
ット状に開口した吐出口から基板に処理液が供給され
る。そして、基板保持手段により基板が回転されるとと
もに、駆動手段により、その基板の回転と同期して、基
板の端縁に沿って吐出口の端部が移動するように、基板
保持手段と処理液供給手段とが相対移動されることによ
り、基板表面の所定の供給範囲内に処理液が供給され
る。その後、処理液に応じて基板保持手段により基板を
高速回転させる。例えば基板の表面にフォトレジスト膜
を形成する場合には、基板表面の所定の塗布範囲内にフ
ォトレジスト液が塗布された後、基板保持手段によりフ
ォトレジスト液が塗布された基板を高速回転させること
によって、フォトレジスト液がその遠心力で周方向に拡
げられ、基板表面に均一なフォトレジストの薄膜が形成
される。
【0010】また、請求項2の発明によれば、駆動手段
により、基板保持手段に保持された基板の端縁に沿って
吐出口の端部が移動するように、基板保持手段による基
板の回転と同期して、基板保持手段に対してスリット状
の吐出口がその延びる方向に往復移動されることによ
り、基板表面の所定の供給範囲内に処理液が供給され
る。
【0011】また、請求項3の発明によれば、駆動手段
により、基板保持手段に保持された基板の端縁に沿って
吐出口の端部が移動するように、基板保持手段による基
板の回転と同期して、基板保持手段に対してスリット状
の吐出口を回転変位されることにより、基板表面の所定
の供給範囲内に処理液が供給される。
【0012】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。図1は本発明に係る基板塗布装置の一実施例の概
略構成を示すブロック図であり、図2は塗布液供給機構
の平面図である。
【0013】この基板塗布装置は、角型基板Wを水平姿
勢で回転可能に保持する基板保持機構1と、基板保持機
構1に保持された角型基板Wに塗布液を塗布する塗布液
供給機構2と、塗布液供給機構2を往復移動させる駆動
機構3などから構成されている。以下、各部の構成を詳
細に説明する。
【0014】基板保持機構1は、その上面に角型基板W
を吸着保持するスピンチャック11と、このスピンチャ
ック11を回転軸12を介して回転させるためのモータ
13とを備えている。モータ13の出力軸13aとスピ
ンチャック11の回転軸12との間にはベルト13bが
掛けられており、これによってモータ13の出力はスピ
ンチャック11に伝達されてスピンチャック11が回転
軸芯P1 周りに回転させられるように構成されている。
スピンチャック11の回転軸12には、スピンチャック
11の回転位置基準となる原点位置検出用の円板14が
連結されている。この円板14の周囲の一部にはスリッ
ト状の切欠部が形成されており、円板14の周囲を挟み
込むように配置された光センサ15によって円板14の
切欠部を検出してスピンチャック11の原点位置を検出
するように構成されている。さらに、モータ13の出力
軸13aには、スピンチャック11の回転角度を検出す
るためのロータリエンコーダ16が設けられている。光
センサ15及びロータリエンコーダ16の出力信号はそ
れぞれ後述するCPU41に入力される。
【0015】塗布液供給機構2は、角型基板Wの長手方
向の幅の半分よりも若干長めに形成された本発明の塗布
液供給手段に相当するノズル21を備えている。このノ
ズル21は、図3に示すように、その先端が先細り状に
形成された板部材を互いに向かい合うように重ね合わせ
て一体に構成されたものであり、その先端にスリット状
に開口された吐出口21aを備えている。ノズル21
は、その内部に吐出口21aに連通する液溜部21bを
備え、図示しない供給配管を介して塗布液供給源に連通
接続されている。ノズル21は、塗布液供給源から供給
された塗布液をスリット状の吐出口21aから均一に吐
出するものである。なお、ノズル21は、角型基板Wの
回転軸芯P1 に対して端部に行くに従い塗布液を多く供
給するように構成する、例えばそのスリット幅を基板端
部に向かって広く形成することが好ましい。これは、後
述する塗布時に角型基板Wの中央部への塗布液供給過多
になるのを避けるためである。
【0016】ノズル21は、リニアモータ32とリニア
エンコーダ33とを備えた駆動機構3の揺動アーム31
に往復移動可能に支持されている。揺動アーム31は鉛
直方向の軸芯P2 周りで揺動可能にモータ34に連動連
結されている。このモータ34を正逆方向に駆動回転し
て揺動アーム31を揺動させることにより、揺動アーム
31を角型基板Wの上方で回転軸芯P1 に対向する塗布
作用位置(図2に鎖線で示す位置)と、角型基板Wの上
方から外れた待機位置(図2に実線で示す位置)とにわ
たって移動させる。さらに、塗布作用位置において、リ
ニアモータ32を作動することにより、ノズル21を揺
動アーム31の基端側の原点位置(図2に鎖線で示す位
置)と、角型基板Wの上方の所定の塗布位置(図2に斜
線で示す位置)とにわたって移動させる。
【0017】塗布位置に設定されたノズル21は、角型
基板Wの表面と吐出口21aの下端とのギャップGを一
定に保持された状態で、角型基板Wの回転と同期して揺
動アーム31に沿って往復駆動される。角型基板Wと吐
出口21aの下端とのギャップGは0.2mm 〜1mm に設定
するのが好ましい。ギャップGが0.2mm 以下になると、
角型基板Wが反っていたり、ノズル21の加工精度によ
っては当接する恐れがある。一方、1mm 以上になると、
角型基板Wとノズル21との間に広い空隙ができ塗布ム
ラが発生しやすくなる。以上のように、ノズル21は、
スリット状に開口された吐出口21aから塗布液を帯状
に吐出して角型基板Wに向けて供給するようになってい
る。
【0018】次に、本実施例の操作・制御系の構成を説
明する。操作部40は、キーボード等によって構成さ
れ、この操作部40を介してオペレータが塗布条件や起
動開始命令等を入力する。塗布条件としては、非塗布域
データΔL、すなわち、基板端縁から内側に入った塗布
液を塗布しない領域の距離(図2参照)等がある。この
非塗布域データΔLは、使用する塗布液や供給量等によ
って決定されるが、35mm程度が好ましい。
【0019】CPU41は、操作部40から与えられた
塗布条件のうちの非塗布域データΔLを第1メモリ42
へ記憶させるとともに、第2メモリ43に設定されてい
る装置全体の制御プログラムに従って、各モータドライ
バ44,45,46を介して各モータへ駆動信号を出力
する。また、CPU41は、光センサ15で検出された
スピンチャック11の原点位置情報や、ロータリエンコ
ーダ16,リニアエンコーダ33からの各パルス信号を
計数することによりスピンチャック11,ノズル21の
各位置情報を取り込んでいる。
【0020】第2メモリ43には、制御プログラムのう
ち角型基板Wの回転と同期してノズル21を移動させる
ためのデータが予め設定されている。以下、図4、図5
を参照して説明する。
【0021】まず、図4に示すように、角型基板Wを、
その回転軸芯P1 を基準として回転させた所定角度θ毎
に刻み、各角度θ0 〜θn における角型基板Wの回転軸
芯P1 から基板端面までの各距離r0 〜rn を求める。
図5は、各角度θ0 〜θn と各距離r0 〜rn との関係
を示している。これらの各角度θ0 〜θn をアドレスと
し、各角度θ0 〜θn における各距離r0 〜rn を各ア
ドレスのデータとしたテーブルが第2メモリ43に記憶
されている。
【0022】そして、CPU41は、第1メモリ42に
記憶された非塗布域データΔLと、第2メモリ43に設
定されていたテーブルとから、ノズル21の移動量を算
出する。例えば、図2に示す塗布位置において、ノズル
21の原点位置からの移動量Lは、次式で表される。
【0023】L=R−r+ΔL
【0024】なお、Rは原点位置におけるノズル21の
端部から角型基板Wの回転軸芯P1までの距離、rは角
型基板Wの回転軸芯P1 から短辺の中央位置までの距離
である。
【0025】次に、図6に示したフローチャートに従っ
て、本実施例装置の動作を説明する。 ステップS1:まず、角型基板Wの中心とスピンチャッ
ク11の中心とを合わせ、スピンチャック11の原点位
置に対して角型基板Wの回転方向の位置関係が所定の関
係となるように、角型基板Wをスピンチャック11上に
載置する。
【0026】ステップS2:モータ13を駆動してスピ
ンチャック11を回転させ、光センサ15が円板14の
切欠部を検出した時点でモータ13の駆動を停止させる
ことにより、スピンチャック11を原点位置に位置決め
する。
【0027】ステップS3:待機位置にある揺動アーム
31を軸芯P2 周りに揺動させて、塗布作用位置に位置
決めする。このとき、ノズル21は原点位置にある。
【0028】ステップS4:つぎに、CPU41は、オ
ペレータによって入力設定された非塗布域データΔLを
第1メモリ42から読み出すとともに、第2メモリ43
のテーブルに設定されている原点角度θ0 における距離
0 とを呼び出し、上記した式に基づいてノズル21の
移動距離L0 を算出する。そして、CPU41は、算出
した移動距離L0 に応じた移動信号をモータドライバ4
5を介してリニアモータ32に出力し、原点位置にある
ノズル21を角型基板Wの回転軸芯P1 に向かって移動
させる。これにより、ノズル21が塗布位置に移動され
る。すなわち、ノズル21の端部が角型基板Wの端縁か
ら内側に所定距離(非塗布域データΔL)入った位置ま
で移動される。
【0029】ステップS5:ノズル21が塗布位置に達
すると、ノズル21の移動を停止させ、この状態で図示
しない塗布液供給源を作動させて、ノズル21から角型
基板Wの表面に所定量の塗布液を供給する。
【0030】ステップS6,S7:CPU41は、駆動
信号をモータドライバ46を介してモータ13に出力
し、モータ13を回転駆動してスピンチャック11とと
もに角型基板Wを回転軸芯P1 周りに回転させる。スピ
ンチャック11を回転させている間、CPU41はロー
タリエンコーダ16から位置情報(移動角度)を順次取
り込み、この位置情報と第2メモリ43のテーブルに予
め設定されている角度θとを比較することにより、スピ
ンチャック11が一回目の角度θ1 に近づいているかど
うかを判別する。スピンチャック11が一回目の角度θ
1 に達したことを判別すると、次のステップS8に進
む。
【0031】ステップS8:スピンチャック11が一回
目の角度θ1 に達すると、CPU41は、スピンチャッ
ク11を一旦停止させるとともに、ステップS4と同様
に、第1メモリ42に記憶させた非塗布域データΔL
と、第2メモリ43のテーブルに設定されている一回目
の角度θ1 における距離r1 とを呼び出し、ノズル21
の移動距離L1 を算出する。そして、CPU41は、算
出した移動距離L1 と前回の移動距離L0 との差分(L
1 −L0 )に応じた移動信号をモータドライバ45を介
してリニアモータ32に出力し、ノズル21を移動させ
る。以下、角度がθ2 ,θ3 ,…と変わるごとに、上述
したと同様にノズル21の位置が制御されながら、角型
基板Wの表面に塗布液を塗布される。以下、図7を参照
して具体的に説明する。
【0032】図7(a)に示すように、ノズル21の吐
出口21aが塗布位置に位置決めされた状態において、
角型基板Wを原点位置から反時計方向に回転させ、これ
に同期してノズル21をX方向に移動させる。すなわ
ち、吐出口21aの端部21bを回転する角型基板Wの
端縁Waに沿って一定間隔(非塗布域データΔL)に保
ちながら、ノズル21がX方向に移動されることによ
り、図7(b)に示すように、角型基板Wの斜線で示す
範囲に塗布液が塗布される。そして、吐出口21aの端
部21bが角型基板Wの角部に達すると、図7(c)に
示すように、角型基板Wの回転に応じてノズル21をX
方向とは逆方向に徐々に移動させる。これを繰り返して
角型基板Wを一回転させることにより、図7(d)に示
すように、非塗布域を残して角型基板Wの斜線で示す塗
布範囲内に塗布液が塗布される。
【0033】ステップS9:また、CPU41は、ロー
タリエンコーダ16からの位置情報に基づき、スピンチ
ャック11が原点角度θ0 に近づいているかどうかを判
別する。スピンチャック11が原点角度θ0 に達したこ
とを判別すると、次のステップS10に進む。
【0034】ステップS10:スピンチャック11が原
点角度θ0 に達すると、CPU41は、塗布液の供給を
停止させるとともに、ノズル21と揺動アーム31とを
上記した逆の手順で原点位置と待機位置とにそれぞれ復
帰させる。
【0035】ステップS11:揺動アーム31を角型基
板Wの側方に外れた待機位置に復帰させた後、スピンチ
ャック11を高速回転させる。角型基板Wが高速回転さ
れることにより、その遠心力で角型基板Wの塗布領域に
塗布された塗布液が外周方向に拡げられるので、角型基
板Wの全面にわたって均一な厚さの薄膜が形成される。
なお、この際、余剰の塗布液も基板周端から飛散される
が、予め角型基板Wの塗布範囲内に塗布液を薄く塗布し
たうえで、角型基板Wを高速回転させて均一な薄膜を形
成するので、角型基板Wから飛散する余剰の塗布液の量
はごくわずかであり、大幅に塗布液の消費量を低減する
ことができる。具体的には、角型基板Wの表面に100 μ
m 程度の塗布液を塗布した後、角型基板Wを1500〜2000
rpm で高速回転し、その遠心力により角型基板Wの表面
に塗布された塗布液が周方向に拡げられ、最終的に5 〜
10μm 程度の均一な膜厚が得られる。従って、従来装置
に比べ塗布液の消費量を約1/3に低減することができ
る。
【0036】なお、本発明は上記した実施例に限定され
ることなく、次のように種々の変形実施が可能である。
【0037】(1) 実施例では、角型基板Wの回転に
同期してノズル21をその長手方向に往復移動させるよ
うにしていたが、本発明はこれに限らず、例えば、ノズ
ルに回転変位機構を設け、角型基板Wの回転に同期して
ノズルを角型基板Wの端縁に沿うように回転変位させ
て、角型基板Wの表面に塗布液を塗布するようにしても
よい。以下、図8を参照して具体的に説明する。
【0038】図8(a)に示すように、角型基板Wの原
点位置に対して、ノズル21’の吐出口21aをその回
転軸芯P3 周りに回転変位させた塗布位置に位置決めし
た状態にセットする。続いて、角型基板Wを回転軸芯P
1 周りに反時計方向に回転させ、これに同期して吐出口
21aを回転軸芯P3 周りに反時計方向に徐々に回転さ
せる。すなわち、吐出口21aの端部21bを、回転す
る角型基板Wの端縁Waに沿って一定間隔(非塗布域デ
ータΔL)に保ちながら、ノズル21’を回転させるこ
とにより、図8(b)に示すように、角型基板Wの斜線
で示す範囲に塗布液が塗布される。そして、吐出口21
aの端部21bが角型基板Wの角部に達すると、図8
(c)に示すように、角型基板Wの回転に応じて吐出口
21aを時計方向に徐々に回転させる。これを繰り返し
て角型基板Wを一回転させることにより、上記した実施
例と同様に、非塗布域を残して角型基板Wの塗布範囲内
に塗布液が塗布される。
【0039】(2) また、ノズル21を揺動アーム3
に固定して、角型基板Wを回転させるとともに、角型基
板Wの端縁がノズル21の端部に沿うようにスピンチャ
ック11を水平面内において移動させてもよい。
【0040】(3) また、実施例では、角型基板Wの
表面を上向きにした姿勢で、ノズル21の下向きに開口
した吐出口21aに接近した状態で移動させることによ
り、角型基板Wの表面の塗布領域に塗布液を塗布するよ
うにしていたが、本発明はこれに限らず、角型基板Wの
姿勢及びこれに対応したノズル21の向きは任意であ
る。例えば、角型基板Wの表面を下向き姿勢で、上向き
に開口した吐出口21aに接近した状態で移動させるこ
とにより、角型基板Wの表面の塗布領域に塗布液を塗布
するようにしてもよい。また、角型基板Wの表面を下向
きに傾斜した姿勢で、上向きに傾斜した吐出口21aに
接近した状態で移動させることにより、角型基板Wの表
面に塗布液を塗布するようにしてもよい。
【0041】(4) また、実施例では、角型基板Wに
塗布液を塗布するようにしていたが、本発明はこれに限
らず、例えば、オリエンテーションフラットのある半導
体ウエハにも適用することができる。
【0042】(5) また、上記実施例は基板に塗布液
を塗布してその薄膜を形成する塗布装置であったが、本
発明はこれに限らず、基板の表面に現像液、洗浄液、エ
ッチング液、剥離液などの処理液を供給して基板表面の
現像、洗浄、エッチング、剥離など所定のウェット処理
を行う装置にも適用可能である。
【0043】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
1に記載の発明によれば、基板表面の所定の供給範囲内
に処理液が供給されるので、その供給される処理液の消
費量を低減することができる。また、基板の端縁に沿っ
て吐出口の端部が移動しながら、基板表面の所定の供給
範囲内に処理液が供給されるので、基板の形状や基板サ
イズが変わっても基板表面に処理液を効率良く供給する
ことができる。特に、基板表面にフォトレジスト膜など
の薄膜を形成する場合には、予め基板の所要の供給範囲
内に塗布液を薄く塗布したうえで、基板を高速回転させ
て均一な薄膜を形成するので、基板から飛散する余剰の
塗布液の量はごくわずかであり、大幅に塗布液の消費量
を低減することができる。
【0044】また、請求項2に記載の発明によれば、駆
動手段により、基板保持手段に保持された基板の端縁に
沿って吐出口の端部が移動するように、基板保持手段に
よる基板の回転と同期して、基板保持手段に対してスリ
ット状の吐出口がその延びる方向に往復移動されるの
で、一度の動作で基板全面の所定範囲内に処理液を供給
することができ、基板表面に処理液をより一層効率良く
供給することができる。特に、角型基板に対して有効な
ものである。
【0045】また、請求項3に記載の発明によれば、駆
動手段が、処理液供給手段を回転変位させるものである
ので、処理液供給手段を駆動する駆動機構を簡単にする
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る基板塗布装置の一実施例の概略構
成を示すブロック図である。
【図2】塗布液供給機構の平面図である。
【図3】ノズル先端の縦断面図である。
【図4】角型基板の中心から端縁までの距離データの説
明図である。
【図5】第2メモリのテーブルの模式図である。
【図6】基板塗布装置の動作フローチャートである。
【図7】基板塗布装置の動作説明図である。
【図8】その他の実施例の動作説明図である。
【符号の説明】
1 … 基板保持機構 2 … 塗布液供給機構 3 … 駆動機構 11 … スピンチャック 21 … ノズル(塗布液供給手段) 31 … 揺動アーム 40 … 操作部 41 … CPU 42 … 第1メモリ 43 … 第2メモリ W … 基板

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板表面に所定の処理液を供給して基板
    の処理を行う基板処理装置において、 前記基板を回転可能に保持する基板保持手段と、 実質的にスリット状に開口し、前記基板保持手段に保持
    された基板表面に向けて処理液を吐出する吐出口を有す
    る処理液供給手段と、 前記基板保持手段に保持された基板の端縁に沿って前記
    吐出口の端部が移動するように、前記基板保持手段によ
    る基板の回転と同期して、前記基板保持手段と前記処理
    液供給手段とを相対移動させる駆動手段と、 を備えたことを特徴とする基板処理装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の装置において、 前記駆動手段は、前記基板保持手段による基板の回転と
    同期し、前記基板保持手段に対して前記スリット状の吐
    出口をその延びる方向に往復移動させることを特徴とす
    る基板処理装置。
  3. 【請求項3】 請求項1に記載の装置において、 前記駆動手段は、前記基板保持手段による基板の回転と
    同期し、前記基板保持手段に対して前記スリット状の吐
    出口を回転変位させることを特徴とする基板処理装置。
JP15512994A 1994-06-13 1994-06-13 基板処理装置 Pending JPH07335543A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100625321B1 (ko) * 2005-08-18 2006-09-15 세메스 주식회사 현상액 도포 장치 및 그 방법
JP2008177584A (ja) * 2008-01-25 2008-07-31 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理方法および基板処理装置

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