JPH07307201A - チップ部品及びその製造方法 - Google Patents

チップ部品及びその製造方法

Info

Publication number
JPH07307201A
JPH07307201A JP6305959A JP30595994A JPH07307201A JP H07307201 A JPH07307201 A JP H07307201A JP 6305959 A JP6305959 A JP 6305959A JP 30595994 A JP30595994 A JP 30595994A JP H07307201 A JPH07307201 A JP H07307201A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
component
component body
chip
forming
base material
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP6305959A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3329964B2 (ja
Inventor
Hideya Maki
秀哉 牧
Ikuo Azuma
育雄 東
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
CHUKI SEIKI KK
Taiyo Yuden Co Ltd
Original Assignee
CHUKI SEIKI KK
Taiyo Yuden Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by CHUKI SEIKI KK, Taiyo Yuden Co Ltd filed Critical CHUKI SEIKI KK
Priority to JP30595994A priority Critical patent/JP3329964B2/ja
Publication of JPH07307201A publication Critical patent/JPH07307201A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3329964B2 publication Critical patent/JP3329964B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Details Of Resistors (AREA)
  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
  • Non-Adjustable Resistors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 実装を良好且つ安定に行えるチップ部品とそ
の製造方法を提供すること。 【構成】 金属膜5から成る端子電極の外形を部品本体
の回路構成部分よりも大きな正四角柱状とすると共に、
端子電極の中心線と部品本体の中心線を一致させ、端子
電極相互の4側面を各々同一平面上に位置させてあるの
で、該端子電極の4側面の1つを任意に利用して実装を
良好且つ安定に行うことができる。しかも、部品自体が
表裏を持たないのでバルク供給にも充分に対応でき、実
装コストの低減に大きく貢献できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、バルク供給に有利なチ
ップ部品及びその製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】多数の部品をホッパー等に一括収納しこ
れを1個宛供給する、所謂、バルク供給に適応可能なチ
ップ部品として図31に示すような円柱型のチップ抵抗
器101がある。
【0003】このチップ抵抗器101は、セラミック材
料から成る円柱状の部品本体(図示省略)と、該部品本
体の周面に形成された抵抗膜102と、部品本体両端部
の抵抗膜101上に設けられた円柱状外形の端子電極1
03と、端子電極間の抵抗膜11を覆う樹脂製の外装1
04とから構成されている。抵抗膜102の端子電極1
03に挟まれる部分には抵抗値を調整するための螺旋状
溝102aがトリミング加工されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記従来のチップ抵抗
器101は、端子電極103の外形及び外装104の外
形が共に円柱状であることから、これをバルク供給し基
板等に実装する際に転動や滑り等の不具合を生じ易く実
装を安定に行えない問題点がある。この問題は上記のチ
ップ抵抗器に限らず、同様の部品外形を有する他のチッ
プ部品でも同様に生じ得る。
【0005】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的とするところは、実装を良好且つ安定に行
えるチップ部品とその製造方法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1の発明に係るチップ部品は、周方向に連続
する端子電極を部品両端部に備え、端子電極に挟まれる
部品本体の周囲に部品回路を構成したチップ部品におい
て、両端子電極の外形を部品本体の回路構成部分よりも
大きな正多角柱状とすると共に、端子電極の中心線と部
品本体の中心線を一致させ、端子電極相互の各側面を各
々同一平面上に位置させた、ことを特徴としている。
【0007】請求項2の発明に係るチップ部品は、請求
項1記載のチップ部品において、端子電極が、部品本体
の両端部位置に形成された金属膜からなる、ことを特徴
としている。
【0008】請求項3の発明に係るチップ部品は、請求
項2記載のチップ部品において、部品本体の両端部に正
多角柱部が一体形成され、該正多角柱部位置に金属膜が
所定の厚みで形成されている、ことを特徴としている。
【0009】請求項4の発明に係るチップ部品は、請求
項1記載のチップ部品において、端子電極が、部品本体
の両端部位置に嵌着された正多角柱状外形の金属キャッ
プから成る、ことを特徴としている。
【0010】請求項5の発明に係るチップ部品は、請求
項3記載のチップ部品において、正多角柱部と部品本体
との境界部分が部品本体の中心線と鋭角を成す面で構成
されている、ことを特徴としている。
【0011】請求項6の発明に係るチップ部品は、請求
項3記載のチップ部品において、正多角柱部と部品本体
との境界部分が部品本体の中心線と直交する面で構成さ
れている、ことを特徴としている。
【0012】請求項7の発明に係るチップ部品は、請求
項5または6記載のチップ部品において、金属膜の端縁
が境界部分まで及ぶ、ことを特徴としている。
【0013】請求項8の発明に係るチップ部品は、請求
項1乃至7の何れか1項記載のチップ部品において、端
子電極の外形が正四角柱状で、部品本体の外形がこれよ
りも小さな円柱状である、ことを特徴としている。
【0014】請求項9の発明に係るチップ部品は、請求
項1乃至7の何れか1項記載のチップ部品において、端
子電極の外形が正四角柱状で、部品本体の外形がこれよ
りも小さな正四角柱状である、ことを特徴としている。
【0015】請求項10の発明に係るチップ部品は、請
求項1乃至9の何れか1項記載のチップ部品において、
部品本体の角及び稜線に丸みが形成されている、ことを
特徴としている。
【0016】請求項11の発明に係るチップ部品は、請
求項1乃至10の何れか1項記載のチップ部品におい
て、端子電極に挟まれる回路構成部分の周囲を外装で被
覆すると共に、該外装の表面高さを端子電極の各側面よ
りも低くした、ことを特徴としている。
【0017】請求項12の発明に係るチップ部品は、請
求項1乃至10の何れか1項記載のチップ部品におい
て、端子電極に挟まれる回路構成部分の周囲を外装で被
覆すると共に、該外装の表面に端子電極の各側面と面一
な平坦面を設けた、ことを特徴としている。
【0018】請求項13の発明に係るチップ部品は、請
求項12記載のチップ部品において、両端子電極の端縁
に隣接する外装の両端位置に凹みを設けた、ことを特徴
としている。
【0019】一方、請求項14の発明に係る製造方法
は、両端部に正多角柱部を一体且つ対称に有するセラミ
ック製の部品本体を形成する工程と、部品本体の周囲所
定箇所に部品回路を形成する工程と、部品本体の正多角
柱部位置に端子電極となる金属膜を所定の厚みで形成す
る工程とを具備した、ことを特徴としている。
【0020】請求項15の発明に係る製造方法は、所定
の断面形状を有するセラミック製の部品本体を形成する
工程と、部品本体の周囲所定箇所に部品回路を形成する
工程と、部品本体の両端部位置に端子電極となる正多角
柱状外形の金属キャップを嵌着する工程を具備した、こ
とを特徴としている。
【0021】請求項16の発明に係る製造方法は、所定
の断面形状を有するセラミック製の部品本体を形成する
工程と、部品本体の周囲所定箇所に部品回路を形成する
工程と、部品本体の両端部位置に端子電極となる正多角
柱状外形の金属膜を形成する工程を具備した、ことを特
徴としている。
【0022】請求項17の発明に係る製造方法は、請求
項14記載のチップ部品の製造方法において、部品本体
形成工程が、未焼成セラミック材料から成る棒またはシ
ートを所定寸法に切断して正多角柱状外形の未焼成単位
基材を得る工程と、未焼成単位基材の中央部分を所定断
面形状に切削する工程と、切削後の未焼成単位基材を焼
成する工程とを有する、ことを特徴としている。
【0023】請求項18の発明に係る製造方法は、請求
項14記載のチップ部品の製造方法において、部品本体
形成工程が、未焼成セラミック材料から成る棒またはシ
ートを所定寸法に切断して正多角柱状外形の未焼成単位
基材を得る工程と、未焼成単位基材を焼成する工程と、
焼成後の単位基材の中央を所定断面形状に切削する工程
とを有する、ことを特徴としている。
【0024】請求項19の発明に係る製造方法は、請求
項14記載のチップ部品の製造方法において、部品本体
形成工程が、未焼成セラミック材料を所定形状のキャビ
ティを備えた型により成形して両端部に正多角柱部を対
称に有する未焼成部品本体を得る工程と、未焼成部品本
体を焼成する工程とを有する、ことを特徴としている。
【0025】請求項20の発明に係る製造方法は、請求
項14記載のチップ部品の製造方法において、部品本体
形成工程が、セラミック製の棒またはシートを所定寸法
に切断して正多角柱状外形の単位基材を得る工程と、単
位基材の中央を所定断面形状に切削する工程とを有す
る、ことを特徴としている。
【0026】請求項21の発明に係る製造方法は、請求
項15または16記載のチップ部品の製造方法におい
て、部品本体形成工程が、未焼成セラミック材料から成
る棒またはシートを所定寸法に切断して所定断面形状の
未焼成単位基材を得る工程と、未焼成単位基材を焼成す
る工程とを有する、ことを特徴としている。
【0027】請求項22の発明に係る製造方法は、請求
項15または16記載のチップ部品の製造方法におい
て、部品本体形成工程が、セラミック製の棒またはシー
トを所定寸法に切断して所定断面形状の単位基材を得る
工程を有する、ことを特徴としている。
【0028】請求項23の発明に係る製造方法は、請求
項14乃至22の何れか1項記載のチップ部品の製造方
法において、部品本体または焼成後の単位基材をバレル
研摩する工程を備えた、ことを特徴としている。
【0029】請求項24の発明に係る製造方法は、請求
項14乃至22の何れか1項記載のチップ部品の製造方
法において、部品本体の端子電極に挟まれる部分に外装
用材料を塗布する工程を備えた、ことを特徴としてい
る。
【0030】
【作用】請求項1乃至4の発明に係るチップ部品では、
両端子電極の外形を正多角柱状とし、端子電極相互の各
側面を各々同一平面上に位置させることにより、端子電
極の何れか1つの側面を実装面として任意に利用するこ
とが可能となる。また、実装時の安定性を確保して転動
や滑り等を防止できる。
【0031】請求項5の発明に係るチップ部品では、正
多角柱部と部品本体との境界部分を部品本体の中心線と
鋭角を成す面で構成することにより、境界部分の補強を
行って部品本体の強度を向上できる。他の作用は請求項
3の発明と同様である。
【0032】請求項6の発明に係るチップ部品では、正
多角柱部と部品本体との境界部分を部品本体の中心線と
直交する面で構成することにより、回路構成部分の有効
面積を増加できる。他の作用は請求項3の発明と同様で
ある。
【0033】請求項7の発明に係るチップ部品では、金
属膜の端縁を境界部分まで及ばせることにより、金属膜
の密着強度を向上できる。他の作用は請求項5,6と同
様である。
【0034】請求項8及び9の発明に係るチップ部品で
は、端子電極の外形を正四角柱状とすることにより、部
品全体の外形を正四角柱状とし、他の角型電子部品と同
様の取扱いが可能となる。他の作用は請求項1乃至7の
発明と同様である。
【0035】請求項10の発明に係るチップ部品では、
部品本体の角及び稜線に丸みを形成することにより、該
部品本体の周りに形成される金属膜や部品回路へのバリ
やエッジの影響を排除できる。他の作用は請求項1乃至
9の発明と同様である。
【0036】請求項11の発明に係るチップ部品では、
端子電極に挟まれる回路構成部分の周囲を外装で被覆
し、該外装の表面高さを端子電極の各側面よりも低くす
ることにより、外装周囲に形成される凹みによって部品
を半田付けする際に生じ得る半田ボールを受容できる。
他の作用は請求項1乃至10の発明と同様である。
【0037】請求項12の発明に係るチップ部品では、
端子電極に挟まれる回路構成部分の周囲を外装で被覆
し、該外装の表面に端子電極の各側面と面一な平坦面を
設けることにより、該平坦面を端子電極の側面と共に利
用してより安定した実装を行える。他の作用は請求項1
乃至10の発明と同様である。
【0038】請求項13の発明に係るチップ部品では、
両端子電極の端縁に隣接する外装の両端位置に凹みを設
けることにより、凹みによって部品を半田付けする際に
生じ得る半田ボールを受容できる。他の作用は請求項1
2の発明と同様である。
【0039】一方、請求項14乃至22の発明に係るチ
ップ部品の製造方法では、部品本体形成工程と部品回路
形成工程と端子電極形成工程を順に実施することによ
り、請求項1乃至9記載のチップ部品を製造できる。
【0040】請求項23の発明に係るチップ部品の製造
方法では、部品本体または焼成後の単位基材をバレル研
摩する工程を実施することにより、請求項10記載のチ
ップ部品を製造できる。
【0041】請求項24の発明に係るチップ部品の製造
方法では、部品本体の端子電極に挟まれる部分に外装用
材料を塗布する工程を実施することにより、請求項11
乃至13記載のチップ部品を製造できる。
【0042】
【実施例】図1及び図2は本発明の第1実施例、詳しく
は本発明をチップ抵抗器に適用した例を示すもので、本
実施例のチップ抵抗器1は、部品本体2と抵抗膜3と外
装4と端子電極となる金属膜5とから構成されている。
【0043】部品本体2は、アルミナ等のセラミック材
料から成り、外形が円柱状でその両端部に正四角柱状の
正多角柱部2aを一体に且つ同軸上に有している。正多
角柱部2aは、長手方向と直交する断面形と長手方向の
長さを互いに一致しており、その断面内接円の直径は部
品本体2の断面直径よりも大きく、しかも互いの4側面
が各々同一平面上に位置するように対称に配されてい
る。また、部品本体2と両正多角柱部2aとの境界部分
2bは、図3にも示すように、部品本体2の中心線と鋭
角(図面では約60度)を成す面、立体的には円錐台状
に構成されている。更に、正多角柱部2aを含む部品本
体2の角及び稜線には後述するバレル研摩によって丸み
が形成されている。
【0044】抵抗膜3は、ニッケルクロム等の抵抗材料
から成り、部品本体2の表面全体に所定の厚みで形成さ
れている。この抵抗膜3の中央部分には螺旋状溝3aが
トリミング加工されており、該溝3aにより所定幅及び
長さのスパイラル部(抵抗回路)が形成されている。図
3から判るように、境界部分2bの立ち上がり位置の抵
抗膜3の厚みt2は、他の部分の厚みt1よりも僅かに
大きくなっている。
【0045】外装4は、エポキシ等の樹脂材料から成
り、部品本体2の中間部周囲に形成される環状凹部に配
され、円柱状部上の抵抗膜3と境界部分2b上の抵抗膜
3の一部を覆っている。この外装4の厚みは上記環状凹
部の深さよりも全体的に小さく、また、図2から判るよ
うに、境界部分2bに隣接する部分の外装4の厚みt4
は、他の部分の厚みt3よりも僅かに大きくなってい
る。
【0046】端子電極用の金属膜5は、ニッケル等の金
属材料から成り、両正多角柱部2aの端面及び4側面上
の抵抗膜3の表面に所定の厚みで形成されている。図3
からも判るように、両金属膜5の端縁5aは内方に湾曲
して境界部分2bまで及んでおり、境界部分2b上の抵
抗膜3の残部を覆っている。
【0047】ここで、本実施例のチップ抵抗器1の好適
な製造方法を図4乃至図13を参照して説明する。
【0048】まず、図4(a)に示すように、押出成形
等の手法により得た未焼成セラミック材料から成る横断
面正方形の材料棒Z1を用意し、これを部品寸法に見合
った所定の長さ寸法に切断して単位基材Kを得る。或い
は、同図(b)に示すように、塗工等の手法により得た
同材料から成る所定厚みの材料シートZ2を用意し、こ
れを部品寸法に見合った幅及び長さ寸法に切断して単位
基材Kを得る。
【0049】そして、図5に示すように、上記の未焼成
の単位基材Kの長手方向端面を回転可能な支持具Sで挟
持し、これ軸心線を中心として回転させながら、該単位
基材Kの中央部分を切削刃H1で周方向に削り取って、
図7に示すような両端部に正多角柱部2a’を一体に有
する未焼成の部品本体2’を形成する。
【0050】未焼成の部品本体2’を得る方法は、上記
方法の他、例えば図6に示すような金型M、即ち部品本
体の1/2形に対応するキャビティMaを有する多数個
取りの金型Mを上下一対用意し、両型を用いて未焼成セ
ラミック材料を成形する方法であっても良い。また、横
断面円形の単位基材を得た後、該単位基材の両端部を適
当な治具を用いて押圧変形させて正多角柱部を形成する
方法等も採用可能である。
【0051】次に、未焼成の部品本体2’を所定温度、
例えば未焼成セラミック材料が70〜80%の低純度ア
ルミナの場合には約1200〜1400℃の温度で焼成
し、焼成後にこれらを一括でバレル研摩する。このバレ
ル研摩では部品本体の角及び稜線に丸みが形成されバリ
等が除去されると共に、後述する抵抗膜3の付着性が良
くなるようにその表面が適度に荒らされる。以上で、図
8に示すような両端部に正多角柱部2aを一体に有する
セラミック製の部品本体2が得られる。
【0052】ちなみに、図4に示した材料棒Z1や材料
シートZ2から未焼成の単位基材Kを得る場合には、切
削加工と焼成の順番を変えても上記同様の部品本体2を
得ることができる。
【0053】次に、図9に示すように、バレル研摩後の
部品本体2の表面全体にスパッタリング等の手法により
ニッケルクロム等の抵抗膜3を形成する。上記のバレル
研摩によって部品本体2の角及び稜線に丸みが形成され
ているので、同部分の抵抗膜3の厚みが局部的に薄くな
るようなことはない。
【0054】次に、図10に示すように、抵抗膜形成後
の部品本体2の長手方向端面を図5同様の支持具Sで挟
持し、これ軸心線を中心として回転させながら、円柱部
上の抵抗膜3をトリミング刃H2で削り取って、所定ピ
ッチ及び長さの螺旋状溝3aを形成し抵抗値の設定を行
う。勿論、上記のトリミングはレーザ光照射により抵抗
膜3を部分的に溶融蒸発させることでも行うことができ
る。
【0055】次に、図11に示すように、抵抗膜トリミ
ング後の部品本体2の長手方向端面を図5同様の支持具
Sで挟持し、これ軸心線を中心として回転させながら、
円柱部上の抵抗膜3に塗布ローラRを接触させ、該ロー
ラRの周面に別途供給される外装用樹脂Fを同部分に塗
布する(図12参照)。塗布ローラRの幅は円柱部の長
手長さよりも僅かに短く、外装用樹脂Fとして低粘性の
ものを用いれば該樹脂Fは図12に実線で示した形状で
塗布された後、乾燥固化までに自らの粘性及び表面張力
により広がって同図破線で示すような形状、即ち円柱状
部上の抵抗膜3と境界部分2b上の抵抗膜3の一部を覆
うような形状となる。
【0056】次に、図13に示すように、両正多角柱部
2a上の抵抗膜3の表面に、電解メッキまたは無電解メ
ッキによって端子電極となる金属膜5を形成する。外装
4と両正多角柱部2a上の抵抗膜3との間に僅かな段差
が残されているので、金属膜5の端縁5aは該段差を覆
うように内方に延びて外装4と接触する。
【0057】この後は、必要に応じて金属膜5の表面に
無電解メッキによってSn−Pb等の金属膜を更に形成
する。以上で図1及び図2に示したチップ抵抗器が製造
される。
【0058】本実施例のチップ抵抗器1は、端子電極と
なる金属膜5の外形が正四角柱状であり、両金属膜5の
各側面が各々同一平面上に位置しているので、金属膜5
の4側面の何れか1つを実装面として任意に利用するこ
とが可能であり、実装時に優れた安定性を確保して転動
や滑り等を防止することができる。また、部品自体が表
裏を持たないのでバルク供給にも充分に対応でき、実装
コストの低減に大きく貢献できる。
【0059】また、部品本体2と正多角柱部2aとの境
界部分2bが部品本体2の中心線と鋭角を成す面で構成
されているので、境界部分2bの補強を行って部品本体
2の強度を向上することができ、円柱部分の直径が小さ
くなるような場合でも実装時の押し付けや搬送・輸送時
における境界部分への応力集中を回避して亀裂発生等を
防止できる。
【0060】更に、部品本体2の角及び稜線に丸みを形
成してあるので、抵抗膜3及び金属膜5へのバリやエッ
ジの影響、例えばこれらの厚みが同位置で局部的に薄く
なることを防止することができる。
【0061】更にまた、抵抗膜3の円柱部両端の厚みt
2を他の部分よりも厚くすることで、部品本体2の同部
分の強度を向上させることができる。
【0062】更にまた、両金属膜5の端縁5aを境界部
分2aまで及ばせてあるので、該金属膜5の抵抗膜3に
対する密着強度を向上させることができ、実装時の半田
付けで金属膜5が基板側に引き込まれ剥離する問題や実
装後に生じる金属膜5の劣化の問題を防止することがで
きる。
【0063】更にまた、外装4の表面高さを金属膜5の
各側面よりも低くしてあるので、該外装4によって部品
中央が膨らむようなことがなく、また半田付けする際に
生じ得る半田ボールを外装周囲の凹みで受容して半田付
けを良好に実施することができる。
【0064】更にまた、外装4の円柱部両端の厚みt4
を他の部分よりも厚くすることで、部品本体2の同部分
の強度を向上させることができる。
【0065】尚、上述の第1実施例では、部品本体2と
正多角柱部2aとの境界部分を円錐台状に形成したもの
を示したが、図14に示すように、部品本体6と正多角
柱部6aの境界部分を部品本体6の中心線と直交する面
で構成してもよく、この場合には円柱部の表面積を拡大
して抵抗値調整の有効面積を増加できる。
【0066】また、上述の第1実施例では、部品本体2
を円柱状に形成したものを示したが、図15(a)に示
すように、部品本体7を正多角柱部7aと同様の正四角
柱状に形成し境界部分7bを直交面で構成するようにし
ても良く、また同図(b)に示すように、部品本体8と
正多角柱部8aとの境界部分8bを四角錐台状に形成す
るようにしても良い。
【0067】更に、上述の第1実施例では、外装4の表
面を金属膜5の側面よりも低く形成したものを示した
が、該外装4の表面は、後述する第2及び第3実施例の
ように両金属膜5の側面と面一な平坦面で構成されてい
ても良い。
【0068】図16及び図17は本発明の第2実施例、
詳しくは本発明をチップ抵抗器に適用した例を示すもの
で、本実施例のチップ抵抗器11は、部品本体12と抵
抗膜13と外装14と端子電極となる金属キャップ15
とから構成されている。
【0069】部品本体12は、アルミナ等のセラミック
材料から成り、円柱状の外形を有している。
【0070】抵抗膜13は、ニッケルクロム等の抵抗材
料から成り、部品本体12の表面全体に所定の厚みで形
成されている。この抵抗膜13の中央部分には螺旋状溝
13aがトリミング加工されており、該溝13aにより
所定幅及び長さのスパイラル部(抵抗回路)が形成され
ている。
【0071】端子電極用の金属キャップ15は、ニッケ
ル等の金属材料から成り、正四角柱状の外形を有し一端
を閉塞している。この金属キャップ15の断面内接円は
部品本体12の断面直径にほぼ一致しており、抵抗膜形
成後の部品本体12の両端部に導電性接着剤等を介して
夫々嵌着され、互いの4側面が各々同一平面上に位置す
るように対称に配されている。
【0072】外装14は、エポキシ等の樹脂材料から成
り、両金属キャップ15により部品本体12(抵抗膜1
3)の中間部周囲に形成される環状凹部に配され、金属
キャップ15間の抵抗膜13を覆っている。この外装1
4の厚みは上記環状凹部の深さに一致しており、該外装
14の表面には両金属キャップ15の4側面夫々と面一
となる平坦面が形成されている。
【0073】ここで、本実施例のチップ抵抗器11の好
適な製造方法を図18乃至図22を参照して説明する。
【0074】まず、図18に示すように、押出成形等の
手法により得た未焼成セラミック材料から成る横断面円
形の材料棒Z3を用意し、これを部品寸法に見合った所
定の長さ寸法に切断して単位基材K(未焼成の部品本体
12’)を得る。
【0075】未焼成の部品本体12’を得る方法は、上
記方法の他、例えば図6で説明したような部品本体の1
/2形に対応するキャビティを有する多数個取りの金型
を上下一対用意し、両型を用いて未焼成セラミック材料
を成形する方法であっても良い。
【0076】次に、未焼成の部品本体12’を所定温
度、例えば未焼成セラミック材料が70〜80%の低純
度アルミナの場合には約1200〜1400℃の温度で
焼成し、焼成後にこれらを一括でバレル研摩する。この
バレル研摩では部品本体の稜線に丸みが形成されバリ等
が除去されると共に、後述する抵抗膜13の付着性が良
くなるようにその表面が適度に荒らされる。
【0077】次に、図19に示すように、バレル研摩後
の部品本体12の表面全体にスパッタリング等の手法に
よりニッケルクロム等の抵抗膜13を形成する。上記の
バレル研摩によって部品本体12の稜線に丸みが形成さ
れているので、同部分の抵抗膜13の厚みが局部的に薄
くなるようなことはない。
【0078】次に、図20に示すように、抵抗膜形成後
の部品本体12の長手方向端面を図5同様の支持具で挟
持し、これ軸心線を中心として回転させながら、円柱部
上の抵抗膜13をトリミング刃H2で削り取って、所定
ピッチ及び長さの螺旋状溝13aを形成し抵抗値の設定
を行う。勿論、上記のトリミングはレーザ光照射により
抵抗膜13を部分的に溶融蒸発させることでも行うこと
ができる。
【0079】次に、図21に示すように、抵抗膜トリミ
ング後の部品本体12の両端部に、導電性接着剤を介し
て金属キャップ15を夫々嵌着する。
【0080】次に、金属キャップ嵌着後の部品本体12
の長手方向端面を図5と同様の支持具で挟持し、これ軸
心線を中心として回転させながら、金属キャップ15間
の抵抗膜13に塗布ローラを接触させ、該ローラの周面
に別途供給される外装用樹脂Fを同部分にやや厚めに塗
布する(図12(a)参照)。そして、塗布された外装
用樹脂Fが乾燥固化する前にその表面を金属キャップ1
5の側面と平行な押圧板Pを用いて平らに均し、該表面
に金属キャップ15の4側面夫々と面一な平坦面を形成
する(図12(b)参照)。
【0081】外装14の表面に平坦面を形成する方法
は、上記方法の他、例えば塗布された外装用樹脂Fが乾
燥固化した後にその表面が金属キャップ15の側面と面
一となるように平らに削り取る方法や、塗布された外装
用樹脂Fが乾燥固化した後にこれに熱板を押し当てて熱
変形させ平らにする方法であっても良い。
【0082】この後は、必要に応じて金属キャップ15
の表面に無電解メッキによってSn−Pb等の金属膜を
形成する。以上で図16及び図17に示したチップ抵抗
器が製造される。
【0083】本実施例のチップ抵抗器11は、端子電極
となる金属キャップ15の外形が正四角柱状であり、両
金属キャップ15の各側面が各々同一平面上に位置して
いるので、金属キャップ15の4側面の何れか1つを実
装面として任意に利用することが可能であり、実装時の
安定性を確保して実装時の転動や滑り等を防止すること
ができる。また、部品自体が表裏を持たないのでバルク
供給にも充分に対応でき、実装コストの低減に大きく貢
献できる。
【0084】また、部品本体12の稜線に丸みを形成し
てあるので、抵抗膜13及び金属キャップ15へのバリ
やエッジの影響、例えば抵抗膜13の厚みが同位置で局
部的に薄くなることを防止することができる。
【0085】更に、外装14の表面に金属キャップ15
の各側面と面一な平坦面を設けてあるので、該平坦面を
金属キャップ15の側面と共に利用してより安定した実
装を行うことができる。
【0086】尚、上述の第2実施例では、部品本体12
として円柱状外形のものを用いたが、図23に示すよう
に、正四角柱状の外形を有するものを部品本体16とし
ても良い。また、部品本体として正四角柱状外形のもの
を用いる場合には、図24に示すように、部品本体17
の側面と金属キャップ15の側面とに所定の角度差(図
中は45度)を持たせるようにしても良い。
【0087】また、上述の第2実施例では、外装14の
表面高さを金属キャップ15の側面と一致させたものを
示したが、該外装14の表面は、第1実施例のように金
属キャップ15の各側面よりも高さ的に低いものであっ
ても良い。
【0088】図25及び図26は本発明の第3実施例、
詳しくは本発明をチップ抵抗器に適用した例を示すもの
で、本実施例のチップ抵抗器21は、部品22と抵抗膜
23と外装24と端子電極となる金属膜25とから構成
されている。
【0089】部品本体22は、アルミナ等のセラミック
材料から成り、円柱状の外形を有している。
【0090】抵抗膜23は、ニッケルクロム等の抵抗材
料から成り、部品本体22の表面全体に所定の厚みで形
成されている。この抵抗膜23の中央部分には螺旋状溝
23aがトリミング加工されており、該溝23aにより
所定幅及び長さのスパイラル部(抵抗回路)が形成され
ている。
【0091】端子電極用の金属膜25は、ニッケル等の
金属材料から成り、部品本体22の端面及び端部周面上
の抵抗膜23の表面に設けられている。この両金属膜2
5は正四角柱状の外形を有し、互いの4側面が各々同一
平面上に位置するように対称となっている。
【0092】外装24は、エポキシ等の樹脂材料から成
り、両金属膜25により部品本体12(抵抗膜23)の
中間部周囲に形成される環状凹部に配され、金属膜25
間の抵抗膜23を覆っている。この外装24の厚みは上
記環状凹部の深さに一致しており、該外装24の表面に
は両金属膜25の4側面夫々と面一となる平坦面が形成
されている。
【0093】ここで、本実施例のチップ抵抗器21の好
適な製造方法を図27乃至図28を参照して説明する。
【0094】まず、図18と同様に、押出成形等の手法
により得た未焼成セラミック材料から成る横断面円形の
材料棒を用意し、これを部品寸法に見合った所定の長さ
寸法に切断して単位基材(未焼成の部品本体)を得る。
【0095】未焼成の部品本体を得る方法は、上記方法
の他、例えば図6で説明したような部品本体の1/2形
に対応するキャビティを有する多数個取りの金型を上下
一対用意し、両型を用いて未焼成セラミック材料を成形
する方法であっても良い。
【0096】次に、未焼成の部品本体を所定温度、例え
ば未焼成セラミック材料が70〜80%の低純度アルミ
ナの場合には約1200〜1400℃の温度で焼成し、
焼成後にこれらを一括でバレル研摩する。このバレル研
摩では部品本体の稜線に丸みが形成されバリ等が除去さ
れると共に、後述する抵抗膜の付着性が良くなるように
その表面が適度に荒らされる。
【0097】次に、図20と同様に、バレル研摩後の部
品本体の表面全体にスパッタリング等の手法によりニッ
ケルクロム等の抵抗膜を形成する。上記のバレル研摩に
よって部品本体の稜線に丸みが形成されているので、同
部分の抵抗膜の厚みが局部的に薄くなるようなことはな
い。
【0098】次に、図20と同様に、抵抗膜形成後の部
品本体の長手方向端面を図5同様の支持具で挟持し、こ
れ軸心線を中心として回転させながら、円柱部上の抵抗
膜をトリミング刃で削り取って、所定ピッチ及び長さの
螺旋状溝を形成し抵抗値の設定を行う。勿論、上記のト
リミングはレーザ光照射により抵抗膜を部分的に溶融蒸
発させることでも行うことができる。
【0099】次に、図27に示すように、抵抗膜トリミ
ング後の部品本体22の両端部に、ニッケル粉末を含有
した導電ペーストを付着して、正四角柱状外形の金属膜
25を形成する。この金属膜25の形成方法としては、
図28(a),(b)に示すように、正四角柱状内形の
凹所Taを有するディップ台Tを用意し、該凹所Ta内
に導電ペーストDPを充填してこれに抵抗膜トリミング
後の部品本体22を押し込んだ後、導電ペーストDPの
固化を待って部品本体22を引き上げる方法等が採用で
きる。
【0100】次に、図12と同様に、金属膜形成後の部
品本体22の長手方向端面を図5と同様の支持具で挟持
し、これ軸心線を中心として回転させながら、金属膜2
5間の抵抗膜13に塗布ローラを接触させ、該ローラの
周面に別途供給される外装用樹脂を同部分にやや厚めに
塗布する。そして、塗布された外装用樹脂が乾燥固化す
る前にその表面を金属膜25の側面と平行な押圧板を用
いて平らに均し、該表面に金属膜25の各側面と面一な
平坦面を形成する。
【0101】外装24の表面に平坦面を形成する方法
は、上記方法の他、例えば塗布された外装用樹脂が乾燥
固化した後にその表面が金属膜25の側面と面一となる
ように平らに削り取る方法や、塗布された外装用樹脂が
乾燥固化した後にこれに熱板を押し当てて熱変形させ平
らにする方法であっても良い。
【0102】この後は、必要に応じて金属キャップ25
の表面に無電解メッキによってSn−Pb等の金属膜を
形成する。以上で図25及び図26に示したチップ抵抗
器が製造される。
【0103】本実施例のチップ抵抗器21は、端子電極
となる金属膜25の外形が正四角柱状であり、両金属膜
25の各側面が各々同一平面上に位置しているので、金
属膜25の4側面の何れか1つを実装面として任意に利
用することが可能であり、実装時の安定性を確保して実
装時の転動や滑り等を防止することができる。また、部
品自体が表裏を持たないのでバルク供給にも充分に対応
でき、実装コストの低減に大きく貢献できる。
【0104】また、部品本体22の稜線に丸みを形成し
てあるので、抵抗膜23及び金属膜25へのバリやエッ
ジの影響、例えば抵抗膜23の厚みが同位置で局部的に
薄くなることを防止することができる。
【0105】更に、外装24の表面に金属膜25の各側
面と面一な平坦面を設けてあるので、該平坦面を金属膜
25の側面と共に利用してより安定した実装を行うこと
ができる。
【0106】尚、上述の第2実施例では、部品本体22
として円柱状外形のものを用いたが、図29に示すよう
に、正四角柱状の外形を有するものを部品本体26とし
その表面に抵抗膜27を形成するようにしても良い。ま
た、部品本体として正四角柱状外形のものを用いる場合
には、図24と同様に、部品本体の側面と金属膜の側面
とに所定の角度差を持たせるようにしても良い。
【0107】また、上述の第3実施例では、外装24の
表面高さを金属キャップ25の各側面と一致させたもの
を示したが、該外装24の表面は、第1実施例のように
金属キャップ15の各側面よりも高さ的に低いものであ
っても良い。
【0108】図30には半田付けにより実装を行う場合
に有用な形状例を示してある。同図(a)は第2,第3
実施例に対応するもので、金属キャップ或いは金属膜3
2の端縁に隣接する外装32の長手方向両端位置に、周
方向に連続する凹み33を形成してある。また、同図
(b)は第1実施例に対応するもので、金属膜41の端
縁に隣接する外装42の長手方向両端位置に、周方向に
連続する凹み43を形成してある。これら凹み33,4
3は、外装32,33に金属キャップ或いは金属膜の側
面と面一の平坦面を形成する場合に有用なもので、半田
付けする際に生じ得る半田ボールを受容してその飛散を
防止する役目を果たす。
【0109】以上、上記実施例では何れも本発明をチッ
プ抵抗器に適用した例を示したが、本発明はチップ抵抗
器に限らず、端子電極に挟まれる部品本体の周囲に部品
回路を構成可能な電子部品、例えば部品本体の周囲に複
数の内部電極層を絶縁層を介して形成したチップコンデ
ンサや、部品本体の周囲に多層構造或いは単層構造のコ
イル導体を形成したチップインダクタや、部品本体の周
囲に短絡導体を形成したチップジャンパー等にも幅広く
適用できる。
【0110】
【発明の効果】以上詳述したように、請求項1乃至4の
発明によれば、端子電極の何れか1つの側面を実装面と
して任意に利用することができ、実装時に優れた安定性
を確保して転動や転がり等を確実に防止することができ
る。また、部品自体が表裏を持たないのでバルク供給に
も充分に対応でき、実装コストの低減に大きく貢献でき
る。
【0111】請求項5の発明によれば、境界部分の補強
を行って部品本体の強度を向上することができ、部品本
体中央部分の形が小さくなるような場合でも実装時の押
し付けや搬送・輸送時における境界部分への応力集中を
回避して亀裂発生等を防止することができる。他の効果
は請求項3の発明と同様である。
【0112】請求項6の発明によれば、回路構成部分の
有効面積を増加して設計自由度を増すことができる。他
の効果は請求項3の発明と同様である。
【0113】請求項7の発明によれば、金属膜の密着強
度を向上させて、実装時の半田付けで金属膜が基板側に
引き込まれ剥離する問題や実装後に生じる金属膜の劣化
の問題を防止することができる。他の効果は請求項5,
6の発明と同様である。
【0114】請求項8及び9の発明によれば、端子電極
の4側面全てを各々実装面として利用できることは勿
論、他の角型電子品と同様に取扱うことができる。他の
効果は請求項1乃至7の発明と同様である。
【0115】請求項10の発明によれば、金属膜や部品
回路へのバリやエッジの影響を排除して高品質の部品を
得ることができる。他の効果は請求項1乃至9の発明と
同様である。
【0116】請求項11の発明によれば、外装によって
部品中央が膨らむようなことがなく、また半田付けする
際に生じ得る半田ボールを外装周囲の凹みで受容して半
田付けを良好に実施することができる。他の効果は請求
項1乃至10の発明と同様である。
【0117】請求項12の発明によれば、外装表面の平
坦面を端子電極の側面と共に利用してより安定した実装
を行うことができる。他の効果は請求項1乃至10の発
明と同様である。
【0118】請求項13の発明によれば、半田付けする
際に生じ得る半田ボールを外装両端位置の凹みで受容し
て半田付けを良好に実施することができる。他の効果は
請求項12の発明と同様である。
【0119】請求項14乃至22の発明によれば、部品
本体形成工程と部品回路形成工程と端子電極形成工程を
順に実施することにより、請求項1乃至9記載のチップ
部品を的確且つ安定して製造することができる。
【0120】請求項23の発明によれば、部品本体また
は焼成後の単位基材をバレル研摩する工程を実施するこ
とにより、請求項10記載のチップ部品を的確且つ安定
して製造することができる。
【0121】請求項24の発明に係るチップ部品の製造
方法では、部品本体の端子電極に挟まれる部分に外装用
材料を塗布する工程を実施することにより、請求項11
乃至13記載のチップ部品を的確且つ安定して製造する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例を示すチップ抵抗器の斜視
【図2】図1のA−A線断面図
【図3】図2の要部拡大図
【図4】単位基材形成工程を示す図
【図5】単位基材の切削工程を示す図
【図6】部品本体の他の作成方法を示す図
【図7】未焼成の部品本体の斜視図
【図8】バレル研摩後の部品本体の斜視図
【図9】抵抗膜形成工程を示す図
【図10】トリミング工程を示す図
【図11】外装形成工程を示す図
【図12】外装用樹脂の付着状態を示す図
【図13】金属膜形成工程を示す図
【図14】部品本体の他の形状例を示す斜視図
【図15】部品本体の他の形状例を示す斜視図
【図16】本発明の第2実施例を示すチップ抵抗器の斜
視図
【図17】図16のB−B線断面図
【図18】単位基材形成工程を示す図
【図19】抵抗膜形成工程を示す図
【図20】トリミング工程を示す図
【図21】金属キャップ嵌着工程を示す図
【図22】外装形成工程を示す図
【図23】部品本体の他の形状例を示す斜視図
【図24】部品本体と金属キャップの他の嵌着向きを示
す斜視図
【図25】本発明の第3実施例を示すチップ抵抗器の斜
視図
【図26】図25のC−C線断面図
【図27】金属膜形成状態を示す斜視図
【図28】金属膜形成工程を示す図
【図29】部品本体の他の形状例を示す斜視図
【図30】外装両端位置に凹みを形成した例を示す断面
【図31】従来例を示す円柱型チップ抵抗器の外観斜視
【符号の説明】
1…チップ抵抗器、2…部品本体、2a…正多角柱部、
2c…境界部分、3…抵抗膜、4…外装、5…金属膜、
5a…金属膜の端縁、Z1…材料棒、Z2…材料シー
ト、K…単位基材、M…金型、F…外装用樹脂、6,
7,8…部品本体、6a,7a,8a…正多角柱部、6
b,7b,8b…境界部分、11…チップ抵抗器、12
…部品本体、13…抵抗膜、14…外装、15…金属キ
ャップ、Z3…材料棒、16,17…部品本体、21…
チップ抵抗器、22…部品本体、23…抵抗膜、24…
外装、25…金属膜、27…部品本体、31…金属キャ
ップ或いは金属膜、32…外装、33…凹み、41…金
属膜、42…外装、43…凹み。

Claims (24)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 周方向に連続する端子電極を部品両端部
    に備え、端子電極に挟まれる部品本体の周囲に部品回路
    を構成したチップ部品において、 両端子電極の外形を部品本体の回路構成部分よりも大き
    な正多角柱状とすると共に、端子電極の中心線と部品本
    体の中心線を一致させ、端子電極相互の各側面を各々同
    一平面上に位置させた、 ことを特徴とするチップ部品。
  2. 【請求項2】 端子電極が、部品本体の両端部位置に形
    成された金属膜からなる、 ことを特徴とする請求項1記載のチップ部品。
  3. 【請求項3】 部品本体の両端部に正多角柱部が一体形
    成され、該正多角柱部位置に金属膜が所定の厚みで形成
    されている、 ことを特徴とする請求項2記載のチップ部品。
  4. 【請求項4】 端子電極が、部品本体の両端部位置に嵌
    着された正多角柱状外形の金属キャップから成る、 ことを特徴とする請求項1記載のチップ部品。
  5. 【請求項5】 正多角柱部と部品本体との境界部分が部
    品本体の中心線と鋭角を成す面で構成されている、 ことを特徴とする請求項3記載のチップ部品。
  6. 【請求項6】 正多角柱部と部品本体との境界部分が部
    品本体の中心線と直交する面で構成されている、 ことを特徴とする請求項3記載のチップ部品。
  7. 【請求項7】 金属膜の端縁が境界部分まで及ぶ、 ことを特徴とする請求項5または6記載のチップ部品。
  8. 【請求項8】 端子電極の外形が正四角柱状で、部品本
    体の外形がこれよりも小さな円柱状である、 ことを特徴とする請求項1乃至7の何れか1項記載のチ
    ップ部品。
  9. 【請求項9】 端子電極の外形が正四角柱状で、部品本
    体の外形がこれよりも小さな正四角柱状である、 ことを特徴とする請求項1乃至7の何れか1項記載のチ
    ップ部品。
  10. 【請求項10】 部品本体の角及び稜線に丸みが形成さ
    れている、 ことを特徴とする請求項1乃至9の何れか1項記載のチ
    ップ部品。
  11. 【請求項11】 端子電極に挟まれる回路構成部分の周
    囲を外装で被覆すると共に、該外装の表面高さを端子電
    極の各側面よりも低くした、 ことを特徴とする請求項1乃至10の何れか1項記載の
    チップ部品。
  12. 【請求項12】 端子電極に挟まれる回路構成部分の周
    囲を外装で被覆すると共に、該外装の表面に端子電極の
    各側面と面一な平坦面を設けた、 ことを特徴とする請求項1乃至10の何れか1項記載の
    チップ部品。
  13. 【請求項13】 両端子電極の端縁に隣接する外装の両
    端位置に凹みを設けた、 ことを特徴とする請求項12記載のチップ部品。
  14. 【請求項14】 両端部に正多角柱部を一体且つ対称に
    有するセラミック製の部品本体を形成する工程と、部品
    本体の周囲所定箇所に部品回路を形成する工程と、部品
    本体の正多角柱部位置に端子電極となる金属膜を所定の
    厚みで形成する工程とを具備した、 ことを特徴とするチップ部品の製造方法。
  15. 【請求項15】 所定の断面形状を有するセラミック製
    の部品本体を形成する工程と、部品本体の周囲所定箇所
    に部品回路を形成する工程と、部品本体の両端部位置に
    端子電極となる正多角柱状外形の金属キャップを嵌着す
    る工程を具備した、 ことを特徴とするチップ部品の製造方法。
  16. 【請求項16】 所定の断面形状を有するセラミック製
    の部品本体を形成する工程と、部品本体の周囲所定箇所
    に部品回路を形成する工程と、部品本体の両端部位置に
    端子電極となる正多角柱状外形の金属膜を形成する工程
    を具備した、 ことを特徴とするチップ部品の製造方法。
  17. 【請求項17】 部品本体形成工程が、未焼成セラミッ
    ク材料から成る棒またはシートを所定寸法に切断して正
    多角柱状外形の未焼成単位基材を得る工程と、未焼成単
    位基材の中央部分を所定断面形状に切削する工程と、切
    削後の未焼成単位基材を焼成する工程とを有する、 ことを特徴とする請求項14記載のチップ部品の製造方
    法。
  18. 【請求項18】 部品本体形成工程が、未焼成セラミッ
    ク材料から成る棒またはシートを所定寸法に切断して正
    多角柱状外形の未焼成単位基材を得る工程と、未焼成単
    位基材を焼成する工程と、焼成後の単位基材の中央を所
    定断面形状に切削する工程とを有する、 ことを特徴とする請求項14記載のチップ部品の製造方
    法。
  19. 【請求項19】 部品本体形成工程が、未焼成セラミッ
    ク材料を所定形状のキャビティを備えた型により成形し
    て両端部に正多角柱部を対称に有する未焼成部品本体を
    得る工程と、未焼成部品本体を焼成する工程とを有す
    る、 ことを特徴とする請求項14記載のチップ部品の製造方
    法。
  20. 【請求項20】 部品本体形成工程が、セラミック製の
    棒またはシートを所定寸法に切断して正多角柱状外形の
    単位基材を得る工程と、単位基材の中央を所定断面形状
    に切削する工程とを有する、 ことを特徴とする請求項14記載のチップ部品の製造方
    法。
  21. 【請求項21】 部品本体形成工程が、未焼成セラミッ
    ク材料から成る棒またはシートを所定寸法に切断して所
    定断面形状の未焼成単位基材を得る工程と、未焼成単位
    基材を焼成する工程とを有する、 ことを特徴とする請求項15または16記載のチップ部
    品の製造方法。
  22. 【請求項22】 部品本体形成工程が、セラミック製の
    棒またはシートを所定寸法に切断して所定断面形状の単
    位基材を得る工程を有する、 ことを特徴とする請求項15または16記載のチップ部
    品の製造方法。
  23. 【請求項23】 部品本体または焼成後の単位基材をバ
    レル研摩する工程を備えた、 ことを特徴とする請求項14乃至22の何れか1項記載
    のチップ部品の製造方法。
  24. 【請求項24】 部品本体の端子電極に挟まれる部分に
    外装用材料を塗布する工程を備えた、 ことを特徴とする請求項14乃至23の何れか1項記載
    のチップ部品の製造方法。
JP30595994A 1994-03-18 1994-12-09 チップ部品及びその製造方法 Expired - Fee Related JP3329964B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30595994A JP3329964B2 (ja) 1994-03-18 1994-12-09 チップ部品及びその製造方法

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6-49342 1994-03-18
JP4934294 1994-03-18
JP30595994A JP3329964B2 (ja) 1994-03-18 1994-12-09 チップ部品及びその製造方法

Related Child Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11235198A Division JP2000049003A (ja) 1999-08-23 1999-08-23 チップ部品
JP2000015912A Division JP2000200702A (ja) 1994-03-18 2000-01-25 チップ部品

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07307201A true JPH07307201A (ja) 1995-11-21
JP3329964B2 JP3329964B2 (ja) 2002-09-30

Family

ID=26389728

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP30595994A Expired - Fee Related JP3329964B2 (ja) 1994-03-18 1994-12-09 チップ部品及びその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3329964B2 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0840332A2 (en) * 1996-10-31 1998-05-06 Taiyo Yuden Co., Ltd. Method of manufacturing chip components and apparatus for manufacturing unit elements for chip components
JPH10335105A (ja) * 1997-06-02 1998-12-18 Taiyo Yuden Co Ltd チップ部品
US5963119A (en) * 1996-10-11 1999-10-05 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Electric component having conductor film formed on insulative base
JP2000195721A (ja) * 1998-12-24 2000-07-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品及び製造方法及び無線端末装置
US6609009B1 (en) 1999-04-26 2003-08-19 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Electronic component and radio terminal using the same
US7884698B2 (en) 2003-05-08 2011-02-08 Panasonic Corporation Electronic component, and method for manufacturing the same

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5963119A (en) * 1996-10-11 1999-10-05 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Electric component having conductor film formed on insulative base
US6131041A (en) * 1996-10-11 2000-10-10 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Wireless terminal equipment including electric component having conductor film formed on insulative base
EP0840332A2 (en) * 1996-10-31 1998-05-06 Taiyo Yuden Co., Ltd. Method of manufacturing chip components and apparatus for manufacturing unit elements for chip components
EP0840332A3 (en) * 1996-10-31 2000-04-19 Taiyo Yuden Co., Ltd. Method of manufacturing chip components and apparatus for manufacturing unit elements for chip components
CN1089938C (zh) * 1996-10-31 2002-08-28 太阳诱电株式会社 芯片元件的制造方法及芯片元件用单体的制造装置
JPH10335105A (ja) * 1997-06-02 1998-12-18 Taiyo Yuden Co Ltd チップ部品
JP2000195721A (ja) * 1998-12-24 2000-07-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品及び製造方法及び無線端末装置
US6609009B1 (en) 1999-04-26 2003-08-19 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Electronic component and radio terminal using the same
US7884698B2 (en) 2003-05-08 2011-02-08 Panasonic Corporation Electronic component, and method for manufacturing the same

Also Published As

Publication number Publication date
JP3329964B2 (ja) 2002-09-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0283239B1 (en) Electrolytic capacitors including a solid electrolyte layer, and their production
US20180286566A1 (en) Electronic component
JP5225598B2 (ja) 電子部品およびその製造法
US20030117258A1 (en) Thin film chip resistor and method for fabricating the same
JPH07307201A (ja) チップ部品及びその製造方法
US20180286565A1 (en) Electronic component
US20210043340A1 (en) Electronic component and method of manufacturing electronic component
JP2000049003A (ja) チップ部品
JP2000200702A (ja) チップ部品
FR2741501A1 (fr) Procede et appareil de fabrication de cartes dielectriques, de circuit imprime et multicouches
JPH06120062A (ja) 円柱セラミックインダクタの製造方法
JPH02194518A (ja) 固体電解コンデンサの製造方法
JP4720818B2 (ja) 積層コンデンサの製造方法
JP6629013B2 (ja) チップ抵抗器およびチップ抵抗器の製造方法
JP4504577B2 (ja) チップ形抵抗器の製造方法
JPH118108A (ja) チップ部品の製造方法
JP3425848B2 (ja) チップ部品
JP2001093704A (ja) チップサーミスタ及びその製造方法
JP2662897B2 (ja) チップ型サーミスタ及びその製法
JP2008016645A (ja) 抵抗器の製造方法
JPH03233915A (ja) セラミックコイル部品の製造方法
JPH0115156Y2 (ja)
JP2003209024A (ja) チップ型電子部品とその製造方法、およびそれを備えたプリント基板、ならびにその実装方法
JPH10335122A (ja) チップ部品の製造方法
JP2023147927A (ja) チップ型電子部品の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19991130

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090719

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100719

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110719

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120719

Year of fee payment: 10

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees