JPH07283819A - パケット交換装置およびパケットのブロック間同期転送における位相設定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】装置内の機能ブロック間で同期転送を行なう際
の、同期転送用の位相値の最適値を設定する。 【構成】 発生／チェック部３２６は、各ブロック間で
固定長パケットの送出タイミングの位相を設定するため
に、あらかじめ定めたテスト用固定長パケットをブロッ
ク間に伝送する。発生／チェック部３２６は、伝送され
たテスト用固定長パケットを受信し、送出したテスト用
固定長パケットを正しく受信したか否かを判断する。判
断の結果、正しく受信していない場合には、位相設定部
３１１／３１８の位相を異なる値に設定し、再度、正し
く受信できるまでテスト用固定長パケットを送出する。
正しく受信したときの位相を最適な位相とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、パケット交換装置の非
同期転送モードのパケット送受信方法に係り、特に、装
置内の機能ブロック間においてパケットを同期転送する
際の位相設定方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】固定長パケットのセルにより通信を実現
するＡＴＭ（Asynchronous TransferMode）装置は、”
ＢーＩＳＤＮ入門”（オーム社）に示されるような技術
が従来知られている。ＡＴＭ装置では、スイッチングの
前段でセルの同期をとるために、セルをバッファに蓄積
して読み出す方法が一般に知られている。例えば、電子
情報通信学会交換システム技術研究報告”ＡＴＭ交換シ
ステムアーキテクチャの検討”（ＳＳＥ８９−３８、３
７および３８ページ）に示されるような従来技術があ
る。この従来技術では、バッファとしてＦＩＦＯ（Firs
t In First Out）を用い、回線側のクロックによりセル
を書き込み、装置内のクロックで読みだすことにより、
クロックの乗せ換えを行なっている。

【０００３】一方、音声などの同期データを扱う装置に
おいては、端末間のデータ遅延は、通常最大で２３ms以
内であると言われている（電気通信協会”ＮＴＴ通信網
を理解していただくために”２６５ページ参照）。ＡＴ
Ｍにおいて音声などの同期データを扱う場合も、この遅
延時間を守る必要がある。

【０００４】ＡＴＭでは、転送されるデータは非同期で
送られることを前提にしているので、ＡＴＭ通信を行う
装置間のインタフェース部では、パケット型の待時系デ
ータと同様に、同期データもバッファリングして受信す
ることが必要になる。非同期転送は、同期転送に比べて
多量のデータバッファを必要とし、システムが大きい場
合にバッファリングの回数も増加するためデータ遅延が
大きくなる。

【０００５】そこで、一旦バッファリングしたセルを装
置内で処理する場合には、セルの転送を同期転送にする
ことで装置内処理に必要なバッファリング遅延を減らす
方法が考えられる。ＡＴＭでは、セルと呼ばれる固定長
のパケットのヘッダ部分に、ヘッダ部のエラー検出用に
ＨＥＣと呼ばれるデータビットを有し、セルを受信した
際に、このＨＥＣデータの位置を検出してセル先頭位置
を認識することができる。この場合、バッファリングし
たセルのＨＥＣを検出することによりセルの位置を認識
した後、セルを装置内の同期信号に合わせてバッファか
ら読みだすことで、装置内においてセルを同期転送でき
る。

【０００６】さらに、上記同期転送においてスイッチ部
で複数の入力を一度にスイッチングする場合、スイッチ
部での処理回路を簡単にし、処理遅延を低減するため
に、セルを多重化し、スイッチ部への入力セル位相を固
定的に決める方法がある。この方法は、電子情報通信学
会交換システム技術研究報告”共通バッファ形ＡＴＭス
イッチのＬＳＩ構成法”ＩＮ８９ー１０３、５１，５２
ページに記載されている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】一般に、交換装置で
は、収容回線数の変更、システム規模の拡大等に柔軟に
対応できるようにするため、幾つかの機能ブロックに分
かれた装置構成を持つ。上記方法によるＡＴＭ交換装置
においてシステムを拡張または縮退して運用しようとす
る時、ブロック間のセル転送タイミングはスイッチ部へ
の入力タイミングを基準にする必要が有るため、新たに
ブロックを追加する場合などには、ブロック間の位相を
設定しなおさなければならなくなる。従来は、各ブロッ
ク間の遅延量を計算し、保守者が個別に各ブロックに備
える位相調整を行なうため、多くの作業時間を必要とし
ている。

【０００８】また、同一のハードウェアを使用して各規
模のシステムを構築する場合にも、システム構成ごと
に、周辺の温度状況により位相が異なるので、ブロック
間のセル転送タイミングを新たに設定する必要がある。

【０００９】本発明は、このような場合において、どの
ような構成に変化しても、セルの転送タイミングの最適
値を自動的に検出し、位相の設定することができるパケ
ット交換装置、および、パケットのブロック間同期転送
における位相設定方法を提供することを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明は、上述の課題を
解決するために、伝送路に接続される複数のインタフェ
ース部と、前記複数のインタフェース部の各々において
入力した固定長パケットを宛先にしたがって交換するス
イッチ部とを有するパケット交換装置であって、当該パ
ケット交換装置内において固定長パケットの同期転送を
行なうべく、固定長パケットの送出タイミングの位相設
定を行なうために、あらかじめ定めたテスト用固定長パ
ケットを発生し、前記インタフェース部と前記スイッチ
部間に当該テスト用固定長パケットを伝送させ、該伝送
されたテスト用固定長パケットを受信する発生／チェッ
ク部を有し、前記複数のインタフェース部の各々は、前
記スイッチ部への固定長パケットの送出タイミングの位
相が設定される位相設定手段を備え、前記発生／チェッ
ク部は、前記発生したテスト用固定長パケットと同一の
固定長パケットを受信したか否かを判断し、判断の結果
に従って前記位相設定手段の位相を設定する。

【００１１】

【作用】本発明のパケット交換機装置では、発生／チェ
ック（Ｇ／Ｃ）部において、固定長パケットの位相設定
を行なうためのあらかじめ定めたテスト用固定長パケッ
トを発生し、インタフェース部とスイッチ部間に当該テ
スト用固定長パケットを送出し、送出されたテスト用固
定長パケットを受信する。例えば、前記スイッチ部から
のテスト用固定長パケットを、当該インタフェース部の
入力に折り返すループバック手段をさらに備えておき、
発生／チェック部は、折り返されたテスト用固定長パケ
ットを、前記スイッチ部から受信するようにしてもよ
い。

【００１２】発生／チェック部は、伝送させたテスト用
固定長パケットと同一の固定長パケットを受信したか否
かを判断し、判断の結果に従って前記位相設定手段の位
相を設定する。

【００１３】もし、セルが正しく受信さないときは、位
相設定手段に対し、発生／チェック部（もしくは制御部
を備える場合には、制御部）より位相値を変更するよう
に指示した後、再度、テスト用固定長パケットを送出
し、伝送させたテスト用固定長パケットと同一の固定長
パケットを受信するまで上記手順を続ける。判断の結
果、一致した場合の位相を最適な位相とし、位相設定手
段に設定された位相を格納する位相設定テーブルを備え
る場合には、位相設定テーブルにこの最適な位相を記憶
する。

【００１４】また、パケットが受信可能な位相の値が複
数有る場合には、これらを全て記憶し、その中の平均値
を、最適な位相として設定しても良い。

【００１５】また、多重／分離部を備える場合には、多
重／分離部の位相設定手段を、インタフェース部の位相
設定手段の位相設定より前に、設定していくことによ
り、システム全体を最適なタイミングに調整することが
できる。

【００１６】また、発生／チェック部を各インタフェー
ス部にそれぞれ有する場合には、それぞれの発生／チェ
ック部において、宛先を自ブロックとしたテスト用固定
長パケットを送出する。スイッチ部は、このテスト用固
定長パケットを宛先のインタフェース部に送り返すの
で、発生／チェック部ではこれを検出し、上記判断を行
なっていき、最適な位相値を検出する。

【００１７】これにより、システムたち上げまたはシス
テム構成変更時の保守者の作業時間を軽減することがで
きる。さらに、保守者は位相設定を意識すること無くシ
ステムの変更ができる。

【００１８】

【実施例】まず、図１、図４、図７および図８を参照し
て、本発明による位相設定用固定長パケットによる位相
設定の第１の実施例を説明する。

【００１９】図１は、第１の実施例における、固定長パ
ケットの交換処理をするＡＴＭ交換装置の機能ブロック
図を示している。

【００２０】図１において、ＡＴＭ交換装置３０は、固
定長パケットとしてＡＴＭセルを用いて交換処理を行な
うとともに、電源立ち上げなどの初期動作において、テ
スト用セルを送出して装置内でループさせて受信するこ
とにより、受信したテスト用セルが読み取れるタイミン
グに各機能ブロックごとに位相を合わせてＡＴＭ交換装
置内３０の同期をとる。ＡＴＭ交換装置３０は、ヘッダ
部に示される宛先に基づきセル単位に交換を行なう一つ
または複数のＳＷ部３２２／３２３／３２４と、外部回
線３０２を収容してＳＤＨフレーム３０１を終端してＡ
ＴＭセルを生成する一つまたは複数のＬＩＦ３０３／３
０４／３０５(Line Interface)と、ＳＷ(Switch)部３２
２に対するＡＴＭセルの送出びＬＩＦ−ＳＷ間でセルの
多重分離を行う一つまたは複数の多重部３１２／３１３
／３１４と、ＳＷ部に接続され、テスト用固定長パケッ
トであるテストセル（図７にフォーマットを示す）の送
出、テストセルの受信、および、受信したテストセルの
内容のチェックを行なうＧ／Ｃ(Generate and Check)部
３２６とを有する。これらの機能ブロックのそれぞれ
は、ＣＫ部３２７より供給される装置内基準クロックに
同期化して動作する。また、装置内には、共通な基準フ
レーム信号が基準位相生成部３２９より供給され、ここ
れを装置内のＡＴＭセルの転送タイミングの基準として
いる。ＬＩＦ部、多重部およびＳＷ部の各部は、一つの
回路パッケージを示し、各部はそれぞれｎ個（ｎは自然
数）のパッケージを備え、面構成をとる。本実施例にお
いては、それぞれｎ個（ｎ面）のパッケージを備えてい
る場合を図１に示す。

【００２１】ＬＩＦ部３０３および多重部３１２内部に
は、装置内の基準クロックおよび基準位相信号に対して
ＳＷ側に出力するテストセルを含む全てのＡＴＭセルの
出力位相が任意に設定可能な位相設定部３１１および３
１８と、テストセルを含む全てのＡＴＭセル折り返しを
行うループバック部３０８，３０９，３１５および３１
６と、ＡＴＭセルの宛先を示すヘッダ部を任意のあて先
に書き替える為のヘッダ変換機能３１０，３１７および
３２５とを有する。位相設定部は、例えば、数ビット分
のＦＩＦＯやシフトレジスタにより構成することができ
る。さらに、ＡＴＭ装置３０内の制御をする制御部３３
２は、CPバス３３１を介して各部およびＧ／Ｃ部３２６
に接続されており、各ブロック内の位相設定部における
位相設定、ループバック、ヘッダ部の設定、Ｇ／Ｃ部に
おけるテストセル発生、停止等を制御する。CPバス３３
１の代わりに、各部ごとに個別信号線を設けるようにし
てもよい。さらに、制御部３３２には、テストセルの送
出指示を受け付けるための入力部３１と、障害が発生し
たときにその旨を表示する表示部３２とを接続させても
よい。また、制御部３３２には、各部の折り返しにおけ
る位相情報を格納する位相設定テーブル３３を備える。

【００２２】図９に、位相設定テーブル３３の例を示
す。位相設定テーブルには、後述するように、実装され
ているブロックについての位相を格納している。また、
位相は、０〜２π（rad)の範囲を、位相設定可能な単位
に分け、単位ごとにあらかじめ位相値を定めておく。例
えば、π／１２ごとに位相設定が可能な場合には、最小
位相値Ｐmin＝０から、最大位相値ＰMAX＝２４として定
めておく。また、図８に示すように、受信可能な範囲は
ある程度幅があるので、位相を検出する際には、各ルー
プバック部でループさせ、テストセル送出時に位相設定
値を最小の位相値から順次位相値を大きくしていき、正
常に受信したときの位相値と、また、位相設定値を最大
の位相値から順次位相値を小さくしていき、正常に受信
したときの位相値との平均をとり、その平均値を位相設
定値している。また、ループバック部は、セルのヘッダ
検出機能を付加することにより、テスト用セルのみをル
ープさせるようにすれば、通常の交換動作時において
も、位相の設定を行なうようにできる。

【００２３】まず、図１における通常の交換動作を説明
し、その後、テストセル送出時の動作を説明する。外部
より入力されたデータは、ＡＴＭ装置３０の内部クロッ
クとは非同期のため、まずＬＩＦ３０３の受信バッファ
３０６に外部からの入力タイミングに従って書き込まれ
る。さらに、受信バッファ３０６に書き込まれる際に、
ヘッダ検出によりＡＴＭセルの先頭が認識される。受信
バッファ３０６に書き込まれたＡＴＭセルは、ＣＫ部３
２７の基準クロックと、基準位相生成部３２９の基準フ
レームに同期したタイミングで受信バッファより取り出
され、装置内で同期したデータとなる。このＡＴＭセル
は、ヘッダ変換部３１０で、ヘッダに含まれる宛先に対
応した目的の出回線のアドレスがヘッダに付加される。
ヘッダが変換されたＡＴＭセルは、位相設定部３１１に
おいて、後述する位相設定により設定されている位相
分、位相が調整されて多重部３１２に入力される。

【００２４】多重部３１２において、ＡＴＭセルは多重
され、ヘッダ変換部３１７で、ヘッダに含まれる宛先に
対応した目的の出回線のアドレスがヘッダに付加され、
位相設定部３１８において、設定されている位相分、位
相が調整されてＳＷ部３２２に送出される。ＳＷ部３２
２では、先にＬＩＦ３１７において変換されＡＴＭセル
のヘッダ部に付加された宛先にもとづきセルの交換を行
い、対応する出回線にセルを送出する。

【００２５】ＳＷ部３２２からのセルを受けた多重部３
１２は、セルを分離し、各ＬＩＦに分配し、ＬＩＦでは
セルデータを、あらかじめ定めたフレーム上にマッピン
グして、装置外へと送出する。

【００２６】次に、図４および図８を参照して位相設定
をする場合の動作について説明する。以下の動作は、シ
ステム立ち上げ時または必要に応じて任意の時間に行っ
てもよい。または、入力部３１において位相設定指示の
受け付け後に、以下の動作を行なってもよい。

【００２７】図４に、位相設定手順の流れ図を、図８
に、位相設定時の位相変化の様子を示す。

【００２８】図４において、制御部３２２は、CPバス３
３１を経由してＬＩＦおよび多重部すべての実装情報を
読み取る（ステップ４０１）。ここで、実装情報とは、
実装されているパッケージを把握するための情報であ
り、パッケージが実装している場合には実装を示すフラ
グ（図示せず。また、フラグはCPバス３３１に接続され
ている）がセットされ、フラグを読み取ることにより、
前述したようにｎ個のパッケージが実装されていれば、
実装情報はｎとなる。また、実装される装置側には固有
の実装番地（もしくは装置番号）があらかじめ定められ
ており、実装されている番地が図９に示す位相設定テー
ブルに格納される。実装されているＬＩＦおよび多重部
内部の位相設定部全てに対して、以下の位相設定処理を
実行する。または、実装されるＬＩＦおよび多重部の実
装番地を入力部より入力し、制御部では、入力された実
装番地のＬＩＦおよび多重部内部の位相設定部に対して
位相設定処理を実行するようにしてもよい。

【００２９】つぎに、制御部３３２は、ＳＷ部３２２に
近い多重部において、Ｎ＝１の多重部３１２に対し（ス
テップ４０１１）、ＳＷ側へループバックを行なうよう
にループバック部３１５および３１６を設定し（ステッ
プ４０２）、ヘッダ変換部３２５にテスト用セルのヘッ
ダを多重部３１２宛を示すように設定する（ステップ４
０３）。また、テスト用セルをＧ／Ｃ部３２６に折り返
すため、多重部３１２内のヘッダ変換部３１７に対し、
ヘッダ変換部を通過するテスト用セルのヘッダの内容
を、多重部３１２宛からＧ／Ｃ部３２６宛に変換するよ
うに指示する。テスト用セルには、図７に示すヘッダ部
１に、テスト用セル識別用に予め定義されたＶＰＩ(Vir
tual Path Identifier)、ＶＣＩ(Virtual Channel Iden
tifier)のヘッダが付加される。

【００３０】つぎに、多重部３１２内の位相設定部３１
８に対して、基準クロック３２８および基準フレーム３
３０で示される基準タイミングに対してどのタイミング
でATMセルを出力するかを決める位相値Ｐを設定する
（ステップ４０４）。この時、制御部から初期値として
設定可能な位相値の内、プラス側の最大位相値ＰMAX
（もしくは最小位相値Ｐmin）が設定される。ついで、
Ｇ／Ｃ部３２６では、テスト用セルを生成し、生成され
たテスト用セルがＳＷ３２２で交換され、多重部３１２
に向けて送出される。さらに、テスト用セルは、多重部
３１２内のループバック部３１６および３１５により、
ＳＷ部３２２に向けて折り返され、さらに多重部３１２
内のヘッダ変換部３１７でＧ／Ｃ部３２６宛にヘッダを
変換され、ＳＷ３２２でＧ／Ｃ部３２６に交換され、Ｇ
／Ｃ部３２６に戻ってくる。

【００３１】Ｇ／Ｃ部３２６は、前述したヘッダ部１に
記されたテスト用セル識別用のＶＰＩ，ＶＣＩを持った
テスト用セルのヘッダを検出する（ステップ４０５）。
ヘッダが正しく検出できた場合には、導通している旨を
制御部３３２に通知する。

【００３２】また、テスト用セルを複数送出し、テスト
用セルのデータに、送出順序を示すシーケンスＮｏ．を
付加しておき、Ｇ／Ｃ部３２６で受信されたテスト用セ
ルのシーケンスＮｏ．が、送出した順番と同じ順番に受
信されているかを調べることにより、全セルが正しく折
り返されていることを確認する方法を取ってもよい。ま
た、データ内にその他のチェック用ビットパターンを設
定しておき、このチェック用ビットパターンを検出する
ようにしてもよい。

【００３３】受信したテスト用セルのヘッダが正しく受
信できなかったり、シーケンス番号から判断される受信
テスト用セル数が送信テスト用セル数と食い違った場合
や、受信した順番が送信した順番と異なるときには、制
御部３３２に正常でないことを通知する。制御部３３２
では、正常でないことが通知されると、位相値Ｐの設定
値が最小位相値Ｐminより小さいか否かを判断し（もし
くは最大位相値ＰMAXより大きいか否かを判断し）（ス
テップ４０６）、位相値Ｐの設定値が最小位相値Ｐmin
より小さくない場合（もしくは最大位相値ＰMAXより大
きくない場合）には、位相設定部３１８に対して位相値
Ｐを１単位分減少させる（または増加させる）ように指
示する（ステップ４０７）。以上、ステップ４０５から
ステップ４０７までのステップを、ヘッダが正しく検出
できるまでテスト用セルを送出して繰り返す。また、ス
テップ４０５において、テスト用セル送出後、あらかじ
め定めた時間の間にテスト用セルを受信できない場合に
は、ステップ４０６に移行するようにしてもよい。

【００３４】Ｇ／Ｃ部３２６でテスト用セルが正しく受
信できた場合には、制御部３３２は、その時の位相値Ｐ
の値を、図９に示すように、＋側の導通可能な最大位相
Ｐ＋（もしくはー側の導通可能な最大位相Ｐー）として
位相設定テーブル３３に格納する（ステップ４０８）。

【００３５】ついで、位相値Ｐの値を、設定可能な最小
値Ｐmin（もしくは設定可能な最大値ＰMAX）に設定し
（ステップ４０９）、上述した手順と同様に、テスト用
セルの送受を行い、ステップ４１０から４１２におい
て、テスト用セルを正常に受信できるまでＰの値を１単
位分ずつ変更していく。Ｇ／Ｃ部３２６でテスト用セル
が正しく受信できた場合には、制御部３３２は、その時
のＰの値を、ー側の導通可能な最大位相Ｐー（もしくは
＋側の導通可能な最大位相Ｐ＋）として位相設定テーブ
ル３３に格納する（ステップ４１３）。

【００３６】制御部３３２では、格納された最大位相Ｐ
＋と最小位相Ｐーとの平均値を計算し（ステップ４１
４）、求めた平均値を最適な位相設定値Ｐとして、位相
設定テーブル３３に格納するとともに、位相設定部３１
８に設定する。これにより、多重部３１２に対する位相
設定を完了する。以下、同様にして、全ての多重部（２
〜ｎまで）に対し位相設定を行う（ステップ４１６およ
びステップ４１７）。

【００３７】また、ステップ４０６において位相値Ｐの
設定値が最小位相値Ｐminより小さい場合と、ステップ
４１１において位相値Ｐの設定値が最大位相値ＰMAXよ
り大きい場合には、全ての位相値において導通がとれな
かったときであるとして、導通障害である旨を制御部３
３２に通知する。導通障害の通知があると制御部３３２
では、表示部３２に、導通障害が発生したことを障害の
発生したブロックの実装番地とともに表示する。また、
制御部３３２は、導通障害が発生した場合には、あらか
じめ定めた警告音や警告メッセージ等を出力するように
してもよい。

【００３８】さらに、ＬＩＦ部に対しても同様に、位相
設定を行う。これにより、システム全体で位相値が最適
化される。

【００３９】また、位相値設定後に、システムの再立ち
上げを行なうときに、位相設定テーブル３３に格納され
ている位相設定値Ｐをそれぞれの位相設定部に再設定す
るようにしてもよい。

【００４０】つぎに、図５、図６、図７および図８を参
照して第２の実施例を説明する。

【００４１】図５は、第２の実施例における、固定長パ
ケットの交換処理をするＡＴＭ交換装置の機能ブロック
図を示している。第２の実施例においては、Ｇ／Ｃ部を
各ブロックごとに備える場合について説明する。このた
め、第１の実施例におけるループバック部の代わりに、
各ブロックにおいて、外部から入力されたＡＴＭセル
と、Ｇ／Ｃ部から送出されたテスト用セルとを切り換え
るセレクタを設ける。さらに、各々のＧ／Ｃ部から送出
するテスト用セルは、異なるヘッダを付加するようにあ
らかじめ定めておく。

【００４２】図５において、ＡＴＭ交換装置５０は、ヘ
ッダ部に示される宛先に基づきセル単位に交換を行なう
一つまたは複数のＳＷ部５１９／５２０／５２１と、外
部回線５０２を収容してＳＤＨフレーム５０１を終端し
てＡＴＭセルを生成する一つまたは複数のＬＩＦ５０３
／５０４／５０５(Line Interface)と、ＳＷ(Switch)部
３２２に対するＡＴＭセルの送出びＬＩＦ−ＳＷ間でセ
ルの多重分離を行う一つまたは複数の多重部５１２／５
１３／５１４とを有する。これらの機能ブロックのそれ
ぞれは、ＣＫ部５２５より供給される装置内基準クロッ
クに同期化して動作する。また、装置内には、共通な基
準フレーム信号が基準位相生成部５２７より供給され、
ここれを装置内のＡＴＭセルの転送タイミングの基準と
している。

【００４３】また、ＬＩＦおよび多重部の各ブロックに
は、装置内の基準クロックおよび基準位相信号に対して
ＳＷ側に出力するテストセルを含む全てのＡＴＭセルの
出力位相が任意に設定可能な位相設定部５１１／５１８
と、ＡＴＭセルの宛先を示すヘッダ部を任意のあて先に
書き替える為のヘッダ変換機能５１０，５１７と、テス
ト用固定長パケットであるテストセル（図７にフォーマ
ットを示す）の送出、テストセルの受信、および、受信
したテストセルの内容のチェックを行なうＧ／Ｃ(Gener
ate and Check)部５０９／５１６とを有する。また、通
常のＡＴＭセルとテスト用セルとを切替るためのセレク
タ５０８／５１５を有する。さらに、装置内の制御をす
る制御部５２９は、CPバス５３０を介して各ブロックに
接続されており、各ブロック内の位相設定部における位
相設定、ヘッダ部の設定、Ｇ／Ｃ部におけるテストセル
発生、停止、セレクタ５０８，５１５対するテスト用セ
ルと通常のＡＴＭセルとの切替等を制御する。さらに、
第１の実施例と同様に、制御部５２９には、テストセル
の送出指示を受け付けるための入力部５１と、障害が発
生したときにその旨を表示する表示部５２と、各部の折
り返しにおける位相情報を格納する位相設定テーブル５
３とを備えてもよい。

【００４４】つぎに、図５における通常の交換動作を説
明する。外部より入力されたデータは、装置内クロック
とは非同期のため、まずＬＩＦ５０３の受信バッファ５
０６に外部からの入力タイミングに従って書き込まれ
る。さらに、受信バッファ５０６に書き込まれる際に、
ヘッダ検出によりＡＴＭセルの先頭が認識される。受信
バッファ５０６に書き込まれたＡＴＭセルは、ＣＫ部５
２５の基準クロックと、基準位相生成部５２７の基準フ
レームに同期したタイミングで受信バッファより取り出
され、装置内で同期したデータとなる。このＡＴＭセル
は、ヘッダ変換部５１０で、ヘッダに含まれる宛先に対
応した目的の出回線のアドレスがヘッダに付加される。
ヘッダが変換されたＡＴＭセルは、位相設定部５１１に
おいて、後述する位相設定により設定されている位相
分、位相が調整されて多重部５１２に入力される。

【００４５】多重部５１２において、ＡＴＭセルは多重
され、ヘッダ変換部５１７で、ヘッダに含まれる宛先に
対応した目的の出回線のアドレスがヘッダに付加され、
位相設定部５１８において、設定されている位相分、位
相が調整されてＳＷ部５１９に送出される。ＳＷ部５１
９では、先にＬＩＦ５０３において変換されＡＴＭセル
のヘッダ部に付加された宛先にもとづきセルの交換を行
い、対応する出回線にセルを送出する。

【００４６】ＳＷ部５１９からのセルを受けた多重部５
１２は、セルを分離し、各ＬＩＦに分配し、ＬＩＦでは
セルデータを、あらかじめ定めたＳＤＨフレーム上にマ
ッピングして、装置外へと送出する。

【００４７】つぎに、図６および図８を参照して位相設
定をする場合の動作について説明する。以下の動作は、
システム立ち上げ時または必要に応じて任意の時間に行
ってもよい。図６に、位相設定手順の流れ図を、図８
に、位相設定時の位相変化の様子を示す。

【００４８】図６において、制御部５２９は、でCPバス
５３０を経由して（あるいは個別信号線を用いてもよ
い）ＬＩＦおよび多重部の実装情報を読み取る（ステッ
プ６０１。実装されているＬＩＦおよび多重部の実装番
地を図９に示す位相設定テーブルに格納し、実装されて
いるＬＩＦおよび多重部内部の位相設定部全てに対して
以下の位相設定処理を実行する。

【００４９】つぎに、制御部５２９は、ＳＷ部５１９に
近い多重部において、Ｎ＝１の多重部５１２に対し（ス
テップ６０１１）、テスト用セルを疎通させるようセレ
クタ５１５を切り換える（ステップ６０２）。また、送
出するテスト用セルのヘッダを多重部５１２宛を示すよ
うに設定する（ステップ６０３）。またテスト用セルを
Ｇ／Ｃ部５１６で受信するため、多重部５１２内のヘッ
ダ変換部５１７に対し、ヘッダ変換部５１７を通過する
テスト用セルのヘッダの内容を、Ｇ／Ｃ部５１６宛（多
重部５１２宛であり、また、特定のＧ／Ｃ部５１６宛の
ヘッダとする）に変換するように指示する。

【００５０】つぎに、多重部５１２内の位相設定部５１
８に対して、基準クロック５２６および基準フレーム５
２８で示される基準タイミングに対してどのタイミング
でATMセルを出力するかを決める位相値Ｐを設定する
（ステップ６０４）。この時、制御部から初期値として
設定可能な位相値の内、プラス側の最大位相値ＰMAX
（もしくは最小位相値Ｐmin）が設定される。ついで、
Ｇ／Ｃ部５１６では、テスト用セルを生成し、生成され
てテスト用セルがスイッチ部５１９に向けて送出され、
このときテスト用セルはヘッダに従ってスイッチ内で交
換され、多重部５１２に向けて折り返され、多重部５１
２内のＧ／Ｃ部５１６に戻って来る。

【００５１】Ｇ／Ｃ部５１６は、ヘッダ１内に記された
テスト用セル識別用の特別のＶＰＩ，ＶＣＩを持ったテ
スト用セルのヘッダを検出する（ステップ６０５）。

【００５２】受信したテスト用セルのヘッダが正しく受
信できなかった場合、制御部５２９に正常でないことを
通知する。制御部５２９では、正常でないことが通知さ
れると、位相値Ｐの設定値が最小位相値Ｐminより小さ
いか否かを判断し（もしくは最大位相値ＰMAXより大き
いか否かを判断し）（ステップ６０６）、位相値Ｐの設
定値が最小位相値Ｐminより小さくない場合（もしくは
最大位相値ＰMAXより大きくない場合）には、位相設定
部５１８に対して位相値Ｐを１単位分減少させる（また
は増加させる）ように指示する（ステップ６０７）。以
上、６０５から６０７までのステップを、ヘッダが正し
く検出できるまでテスト用セルを送出して繰り返す。ま
た、ステップ６０５において、テスト用セル送出後、あ
らかじめ定めた時間の間にテスト用セルを受信できない
場合には、ステップ６０６に移行するようにしてもよ
い。

【００５３】Ｇ／Ｃ部５１６でテスト用セルが正しく受
信できた場合には、制御部５２９は、その時の位相値Ｐ
の値を、図９に示すように、＋側の導通可能な最大位相
Ｐ＋（もしくはー側の導通可能な最大位相Ｐー）として
位相設定テーブル３３に格納する（ステップ６０８）。

【００５４】ついで、位相値Ｐの値を、設定可能な最小
値Ｐmin（もしくは設定可能な最大値ＰMAX）に設定し
（ステップ６０９）、上述した手順と同様に、テスト用
セルの送受を行い、ステップ６１０から６１２におい
て、テスト用セルを正常に受信できるまでＰの値を１単
位分ずつ変更していく。Ｇ／Ｃ部５１６でテスト用セル
が正しく受信できた場合には、制御部５２９は、その時
のＰの値を、ー側の導通可能な最大位相Ｐー（もしくは
＋側の導通可能な最大位相Ｐ＋）として位相設定テーブ
ル３３に格納する（ステップ６１３）。

【００５５】制御部５２９では、格納された最大位相Ｐ
＋と最小位相Ｐーとの平均値を計算し（ステップ６１
４）、求めた平均値を最適な位相設定値Ｐとして、位相
設定テーブル３３に格納するとともに、位相設定部５１
８に設定する。これにより、多重部５１２に対する位相
設定を完了する。以下同様にして全ての多重部に対し位
相設定を行う（ステップ６１６およびステップ６１
７）。ついで、ＬＩＦ部に対して同様に設定を行う。こ
れにより、システム全体で位相値が最適化される。

【００５６】また、ステップ６０６において位相値Ｐの
設定値が最小位相値Ｐminより小さい場合と、ステップ
６１１において位相値Ｐの設定値が最大位相値ＰMAXよ
り大きい場合には、全ての位相値において導通がとれな
かったときであるとして、導通障害である旨を制御部５
２９に通知する。導通障害の通知があると制御部５２９
では、表示部５２に、導通障害が発生したことを障害の
発生したブロックの実装番地とともに表示する。また、
制御部５２９は、導通障害が発生した場合には、あらか
じめ定めた警告音や警告メッセージ等を出力するように
してもよい。

【００５７】以上のように処理することで、新規立ち上
げ時におけるブロック間の位相設定を行なうことができ
る。このため、従来個別に設定していた保守の作業量を
軽減することができる。また、位相設定動作を、任意の
時間に実行させれば、システムの安定性を増すことがで
きる。さらに、位相設定を行なえない場合には、その旨
を通知するので、保守者は導通障害が発生したことを認
識できる。

【００５８】また、上記第１および第２の実施例は、図
３に示すような共通バッファ形ＡＴＭスイッチの構成に
おいて位相設定を行なう場合を例にしたが、図２に示す
ような、共通バス形のスイッチ構成とる場合にも適用す
ることができる。図２に示す共通バス形スイッチにおい
ては、ＬＩＦ３０３／３０４／３０５においてセル送信
タイミングの位相が調整され、ＭＵＸ部２０１を介して
時分割バス２０２においてセル多重を行なう。あらかじ
め定めた宛先のみを受信するヘッダフィルタ２０３，２
０４，２０５により、時分割バス２０２から自分の宛先
の付いたセルだけを取り出し、バッファ２０６，２０
７，２０８のそれぞれに蓄積させる。この共通バス形ス
イッチにおいても共通バッファ形スイッチと同様に、バ
ス２０２におけるタイミングに合わせて、ＬＩＦ３０３
／３０４／３０５からのセル送出タイミングを設定する
ことができる。

【００５９】このように、本実施例によれば、入力した
固定長パケットを宛先にしたがって交換する、複数の機
能ブロックを備えるパケット交換装置において、ブロッ
ク間の位相を設定し、ブロック間同期転送を可能とする
ことができる。

【００６０】

【発明の効果】以上述べた通り、本発明によれば、収容
回線数の変更、システム規模の変更等あるいはシステム
の新規立ち上げ時におけるブロック間の位相設定を行な
うことができる。このため、従来個別に設定していた保
守の作業量を軽減することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】第１の実施例のＧ／Ｃ部を共通に有する固定長
パケット交換機のブロック図。

【図２】共通バス形スイッチのブロック図。

【図３】共通バッファ形スイッチのブロック図。

【図４】第１の実施例における位相設定方法のフローチ
ャート。

【図５】第２の実施例のＧ／Ｃ部を各ブロックごとに有
する場合の固定長パケット交換装置のブロック図。

【図６】第２の実施例における位相設定方法のフローチ
ャート。

【図７】テスト用セルのフォーマット。

【図８】位相設定時のテスト用セルの位相の変化の様子
を示した説明図。

【図９】位相設定テーブルの内容を示す説明図。

【符号の説明】

１０４・１０５・１０６・２０９・２１０・２１１…回
線、１０７・１０８・１０９・２１４・２１２・２１３
・８００・８０１…セル、１０１・２０１…多重器、１
０３…分離器、１０２・…共通メモリ、２０３・２０５
・２０５…ヘッダフィルタ、２０６・２０７・２０８…
バッファ、２０１・３０１・…データフレーム、３０３
・３０４・３０５・５０３・５０４・５０５…ＬＩＦ、
３１２・３１３・３１４・５１２・５１３・５１４…多
重部、３２２・３２３・３２４、５１９・５２０・５２
１・…スイッチ部、３０６・３０７・５０６・５０７…
データバッファ、３１０・３１７・３２５・５１０・５
１７・…ヘッダ変換機能部、３１１・３１８・５１１・
５１８…位相設定機能部、３０８・３０９・３１５・３
１６…ループバック機能、３３２・５２９…制御部、３
２９・５２７…基準位相生成部、３２１・５２４…共通
メモリ、３２７・５２５…ＣＫ部。

Claims (14)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】伝送路に接続される複数のインタフェース
   部と、前記複数のインタフェース部の各々において入力
   した固定長パケットを宛先にしたがって交換するスイッ
   チ部とを有するパケット交換装置であって、 当該パケット交換装置内において固定長パケットの同期
   転送を行なうべく、固定長パケットの送出タイミングの
   位相設定を行なうために、あらかじめ定めたテスト用固
   定長パケットを発生し、前記インタフェース部と前記ス
   イッチ部間に当該テスト用固定長パケットを伝送させ、
   該伝送されたテスト用固定長パケットを受信する発生／
   チェック部を有し、 前記複数のインタフェース部の各々は、前記スイッチ部
   への固定長パケットの送出タイミングの位相が設定され
   る位相設定手段を備え、 前記発生／チェック部は、前記発生したテスト用固定長
   パケットと同一の固定長パケットを受信したか否かを判
   断し、判断の結果に従って前記位相設定手段の位相を設
   定することを特徴とするパケット交換装置。
2. 【請求項２】請求項１において、前記発生／チェック部
   は、前記判断の結果、発生したテスト用固定長パケット
   と同一の固定長パケットを受信できなかったときに、前
   記位相設定手段による送出タイミングの位相をずらして
   設定し、判断の結果が一致するまでテスト用固定長パケ
   ットを送出し、一致したときの位相を最適な位相として
   設定することを特徴とするパケット交換装置。
3. 【請求項３】請求項２において、前記発生／チェック部
   は、前記位相設定手段の位相をずらして設定するのに、
   前記位相の最小値からあらかじめ定めた移相量ずつ位相
   を大きくしていくことを特徴とするパケット交換装置。
4. 【請求項４】請求項２において、前記発生／チェック部
   は、前記位相設定手段の位相をずらして設定するのに、
   前記位相の最大値からあらかじめ定めた移相量ずつ位相
   を小さくしていくことを特徴とするパケット交換装置。
5. 【請求項５】請求項３において、前記発生／チェック部
   は、前記位相の最小値からあらかじめ定めた移相量ずつ
   位相を大きくしていき、前記判断の結果が一致するまで
   テスト用固定長パケットを送出し、前記判断の結果が一
   致したときの位相と、前記位相の最大値からあらかじめ
   定めた移相量ずつ位相を小さくしていき、前記判断の結
   果が一致するまでテスト用固定長パケットを送出し、前
   記判断の結果が一致したときの位相との平均値を、最適
   な位相として設定することを特徴とするパケット交換装
   置。
6. 【請求項６】請求項２において、前記発生／チェック部
   は、前記テスト用固定長パケットを、前記スイッチ部に
   送出し、 前記複数のインタフェース部の各々は、前記スイッチ部
   からのテスト用固定長パケットを、当該インタフェース
   部の入力に折り返すループバック手段をさらに備え、 前記発生／チェック部は、折り返されたテスト用固定長
   パケットを、前記スイッチ部から受信することを特徴と
   するパケット交換装置。
7. 【請求項７】請求項１において、前記発生／チェック部
   は、前記テスト用固定長パケットに送出順序番号を付加
   して、前記テスト用固定長パケットを複数送出し、受信
   後に、前記テスト用固定長パケットに付加された送出順
   序番号を参照し、送出した順番にテスト用固定長パケッ
   トを受信していないことを検出することを特徴とするパ
   ケット交換装置。
8. 【請求項８】請求項１において、前記発生／チェック部
   への前記テスト用固定長パケットの送出指示を受け付け
   る入力部をさらに有することを特徴とするパケット交換
   装置。
9. 【請求項９】請求項１において、前記発生／チェック部
   による判断の結果、発生したテスト用固定長パケットが
   正しく受信しなかった旨を表示出力する表示部をさらに
   有することを特徴とするパケット交換装置。
10. 【請求項１０】請求項７において、前記発生／チェック
    部により、送出した順番にテスト用固定長パケットを受
    信していない旨を表示出力する表示部をさらに有するこ
    とを特徴とするパケット交換装置。
11. 【請求項１１】請求項１において、前記インタフェース
    部で入力した固定長パケットを宛先ごとに多重し、前記
    スイッチ部で交換された多重された固定長パケットを分
    離し、前記インタフェース部に送出する多重／分離部を
    さらに有し、 前記多重／分離部は、前記スイッチ部への固定長パケッ
    トの送出タイミングの位相が設定される位相設定手段を
    備え、 前記発生／チェック部は、前記インタフェース部と前記
    スイッチ部間に前記テスト用固定長パケットを伝送する
    前に、前記多重／分離部と前記スイッチ部間にテスト用
    固定長パケットを伝送し、伝送したテスト用固定長パケ
    ットと同一の固定長パケットを受信したか否かを判断
    し、判断の結果に従って前記多重／分離部の位相設定手
    段の位相をさらに設定することを特徴とするパケット交
    換装置。
12. 【請求項１２】請求項１において、前記複数のインタフ
    ェース部の各々の位相設定手段に設定された位相を格納
    する位相設定テーブルと、当該パケット交換装置の立ち
    上げ時に、前記複数のインタフェース部の各々の位相設
    定手段に、前記位相設定テーブルに格納されている位相
    を設定する制御部とをさらに有することを特徴とするパ
    ケット交換装置。
13. 【請求項１３】請求項１において、前記発生／チェック
    部は、前記複数のインタフェース部の各々に備えること
    を特徴とするパケット交換装置。
14. 【請求項１４】入力した固定長パケットを宛先にしたが
    って交換する、複数の機能ブロックを備えるパケット交
    換装置におけるパケットのブロック間同期転送における
    位相設定方法であって、 各ブロック間で固定長パケットの送出タイミングの位相
    を設定する第１のステップと当該パケット交換装置内に
    おいて固定長パケットの同期転送を行なうべく、固定長
    パケットの送出タイミングの位相設定を行なうために、
    あらかじめ定めたテスト用固定長パケットを前記ブロッ
    ク間に伝送させる第２のステップと、 前記ブロック間に伝送させたテスト用固定長パケットを
    受信する第３のステップと、 伝送させたテスト用固定長パケットと同一の固定長パケ
    ットを受信したか否かを判断する第４のステップと、 前記判断の結果、伝送させたテスト用固定長パケットと
    同一の固定長パケットを受信できなかった場合には、前
    記位相を異なる値に設定し、前記第２のステップに戻る
    第５のステップと、 前記判断の結果、伝送させたテスト用固定長パケットと
    同一の固定長パケットを受信したときに、前記位相を最
    適な位相とすることを特徴とするパケットのブロック間
    同期転送における位相設定方法。