JPH07267337A - デバイス供給機構 - Google Patents
デバイス供給機構Info
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- JPH07267337A JPH07267337A JP6087776A JP8777694A JPH07267337A JP H07267337 A JPH07267337 A JP H07267337A JP 6087776 A JP6087776 A JP 6087776A JP 8777694 A JP8777694 A JP 8777694A JP H07267337 A JPH07267337 A JP H07267337A
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- JP
- Japan
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- supply mechanism
- ball feeder
- chute
- device supply
- station
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Chutes (AREA)
- Specific Conveyance Elements (AREA)
- Feeding Of Articles To Conveyors (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、各ステーションにおける待ち時間を
できるだけ短くするようにした、極めて優れたデバイス
供給機構を提供することを目的とする。 【構成】デバイスを整列させて給送するボールフィーダ
と、該ボールフィーダにより給送されるデバイスを、複
数のステーション２２に対して搬送するシュート１６，
１７，１８，１９とを含んでいる、デバイス供給機構に
おいて、上記シュート１６，１７，１８，１９が、円周
方向に等間隔に設けられた複数のステーション２２を有
するロータリシュート２０によって、構成されているこ
とにより、デバイス供給機構を構成する。
できるだけ短くするようにした、極めて優れたデバイス
供給機構を提供することを目的とする。 【構成】デバイスを整列させて給送するボールフィーダ
と、該ボールフィーダにより給送されるデバイスを、複
数のステーション２２に対して搬送するシュート１６，
１７，１８，１９とを含んでいる、デバイス供給機構に
おいて、上記シュート１６，１７，１８，１９が、円周
方向に等間隔に設けられた複数のステーション２２を有
するロータリシュート２０によって、構成されているこ
とにより、デバイス供給機構を構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、デバイスが、ボールフ
ィーダから、複数のステーションを有するシュートに給
送される、デバイス供給機構に関するものである。
ィーダから、複数のステーションを有するシュートに給
送される、デバイス供給機構に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、このようなデバイス供給機構は、
例えば図４に示すように構成されている。即ち、図４に
おいて、デバイス供給機構１は、図示しないボールフィ
ーダ等の供給部２から供給されるデバイス３を、供給側
のシュート４から、分類シャトル５に載せ、該分類シャ
トル５を上下動させることにより、上下方向に並んで配
設された複数のシュート、図示の場合、４つのシュート
６，７，８，９に給送するように構成されている。
例えば図４に示すように構成されている。即ち、図４に
おいて、デバイス供給機構１は、図示しないボールフィ
ーダ等の供給部２から供給されるデバイス３を、供給側
のシュート４から、分類シャトル５に載せ、該分類シャ
トル５を上下動させることにより、上下方向に並んで配
設された複数のシュート、図示の場合、４つのシュート
６，７，８，９に給送するように構成されている。
【０００３】このような構成のデバイス供給機構１によ
れば、供給部２から供給側のシュート４を通って供給さ
れるデバイス３は、分類シャトル５に載せられた後、該
分類シャトル５が、上下方向に移動せしめられることに
より、各シュート６，７，８，９の何れか一つに対して
選択的に対向せしめられ、該分類シャトル５から、対応
するシュート６，７，８または９に対して、給送され得
る。これにより、各シュート６，７，８または９毎にあ
る触子にて、所定のデバイス検査が行なわれ得る。
れば、供給部２から供給側のシュート４を通って供給さ
れるデバイス３は、分類シャトル５に載せられた後、該
分類シャトル５が、上下方向に移動せしめられることに
より、各シュート６，７，８，９の何れか一つに対して
選択的に対向せしめられ、該分類シャトル５から、対応
するシュート６，７，８または９に対して、給送され得
る。これにより、各シュート６，７，８または９毎にあ
る触子にて、所定のデバイス検査が行なわれ得る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成のデバイス供給機構１においては、各シュート
６，７，８または９に対して、分類シャトル５を移動さ
せるために、分類シャトル５の移動時間が必要である。
従って、各シュート６，７，８，９では、分類シャトル
５の移動等のための機械的な準備時間が必要である。各
シュート６乃至９までデバイスを搬送し、デバイスを検
査する場合、実質の検査時間の他に、各シュート６乃至
９へデバイスを供給し、排出するための機械的な準備時
間が生ずることになる。
うな構成のデバイス供給機構１においては、各シュート
６，７，８または９に対して、分類シャトル５を移動さ
せるために、分類シャトル５の移動時間が必要である。
従って、各シュート６，７，８，９では、分類シャトル
５の移動等のための機械的な準備時間が必要である。各
シュート６乃至９までデバイスを搬送し、デバイスを検
査する場合、実質の検査時間の他に、各シュート６乃至
９へデバイスを供給し、排出するための機械的な準備時
間が生ずることになる。
【０００５】かくして、生産工程における検査時間は、
この待ち時間も含めることにより、比較的長くなってし
まうため、デバイスの生産コストが高くなってしまうと
いう問題があった。
この待ち時間も含めることにより、比較的長くなってし
まうため、デバイスの生産コストが高くなってしまうと
いう問題があった。
【０００６】本発明は、以上の点に鑑み、各シュートへ
のデバイス供給における待ち時間をできるだけ短くする
ようにした、デバイス供給機構を提供することを目的と
している。
のデバイス供給における待ち時間をできるだけ短くする
ようにした、デバイス供給機構を提供することを目的と
している。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明によ
れば、デバイスを整列させて順次給送するボールフィー
ダと、該ボールフィーダにより給送されるデバイスを、
複数のステーションに対して搬送するシュートとを含ん
でいる、デバイス供給機構において、上記シュートが、
等間隔に設けられた複数のステーションを有するロータ
リーシュートによって、構成されていることを特徴とす
る、デバイス供給機構により、達成される。
れば、デバイスを整列させて順次給送するボールフィー
ダと、該ボールフィーダにより給送されるデバイスを、
複数のステーションに対して搬送するシュートとを含ん
でいる、デバイス供給機構において、上記シュートが、
等間隔に設けられた複数のステーションを有するロータ
リーシュートによって、構成されていることを特徴とす
る、デバイス供給機構により、達成される。
【０００８】本発明によるデバイス供給機構は、好まし
くは、ロータリーシュートが、多段式に構成されてい
る。
くは、ロータリーシュートが、多段式に構成されてい
る。
【０００９】本発明によるデバイス供給機構は、好まし
くは、ボールフィーダが、その上面にふるい蓋を備えて
おり、該ふるい蓋の穴を通ってデバイスが内部に落下す
るようになっている。
くは、ボールフィーダが、その上面にふるい蓋を備えて
おり、該ふるい蓋の穴を通ってデバイスが内部に落下す
るようになっている。
【００１０】本発明によるデバイス供給機構は、好まし
くは、ボールフィーダが、ロータリーシュートの各ステ
ーションに対応して、複数のトラックを備えている。
くは、ボールフィーダが、ロータリーシュートの各ステ
ーションに対応して、複数のトラックを備えている。
【００１１】
【作用】上記構成によれば、ロータリーシュートが回転
せしめられることにより、デバイスが、ロータリーシュ
ートの各ステーションに対して順次に給送され得る。こ
れにより、各ステーションに対する機械的な準備時間が
比較的短くなる。従って、各ステーションにおける検査
時間が短い場合であっても、次のデバイスが給送される
までの待ち時間が大幅に短縮され得ることになる。
せしめられることにより、デバイスが、ロータリーシュ
ートの各ステーションに対して順次に給送され得る。こ
れにより、各ステーションに対する機械的な準備時間が
比較的短くなる。従って、各ステーションにおける検査
時間が短い場合であっても、次のデバイスが給送される
までの待ち時間が大幅に短縮され得ることになる。
【００１２】ロータリーシュートが、多段式に構成され
ている場合には、容易に多ステーションによるマルチ化
が行なわれ得ることになる。
ている場合には、容易に多ステーションによるマルチ化
が行なわれ得ることになる。
【００１３】また、ボールフィーダが、その上面にふる
い蓋を備えており、該ふるい蓋の穴を通ってデバイスが
内部に落下するようになっている場合には、個々のデバ
イスが、一つ一つ離れた状態で落下することになる。
い蓋を備えており、該ふるい蓋の穴を通ってデバイスが
内部に落下するようになっている場合には、個々のデバ
イスが、一つ一つ離れた状態で落下することになる。
【００１４】さらにボールフィーダが、ロータリーシュ
ートの各ステーションに対応して、複数のトラックを備
えている場合には、各トラックを通って供給されるデバ
イスは、そのまま対応するステーションに給送されるこ
とになる。
ートの各ステーションに対応して、複数のトラックを備
えている場合には、各トラックを通って供給されるデバ
イスは、そのまま対応するステーションに給送されるこ
とになる。
【００１５】
【実施例】以下、図面に示した実施例に基づいて、本発
明を詳細に説明する。図１は、本発明によるデバイス供
給機構の一実施例を示している。即ち、図１において、
デバイス供給機構１０は、ボールフィーダ１１及びロー
タリーシュート２０から構成されている。
明を詳細に説明する。図１は、本発明によるデバイス供
給機構の一実施例を示している。即ち、図１において、
デバイス供給機構１０は、ボールフィーダ１１及びロー
タリーシュート２０から構成されている。
【００１６】ボールフィーダ１１は、図１（Ａ）にて右
周りに外側に広がる螺旋状の一つのトラック１３を備え
ている。このトラック１３は、図１（Ｂ）に示すよう
に、上方に向かって突出する境界部１３ａにより画成さ
れていると共に、その上面には、ふるい蓋１４が備えら
れている。これにより、該ふるい蓋１４の上方に供給さ
れた多数のデバイスが、一つ一つ該ふるい蓋１４の穴１
４ａを通って、ボールフィーダ１１の内部に落下するよ
うになっている。
周りに外側に広がる螺旋状の一つのトラック１３を備え
ている。このトラック１３は、図１（Ｂ）に示すよう
に、上方に向かって突出する境界部１３ａにより画成さ
れていると共に、その上面には、ふるい蓋１４が備えら
れている。これにより、該ふるい蓋１４の上方に供給さ
れた多数のデバイスが、一つ一つ該ふるい蓋１４の穴１
４ａを通って、ボールフィーダ１１の内部に落下するよ
うになっている。
【００１７】また、ロータリーシュート２０は、図２に
示すように、垂直な回転軸２１の周りに回転可能に支持
されていると共に、その周面に沿って、等間隔に複数の
ステーション２２を備えている。そして、これらのステ
ーション２２には、図２（Ｂ）に示す如くそれぞれ検査
用の触子２３，２４，２５，２６が設けられている。
示すように、垂直な回転軸２１の周りに回転可能に支持
されていると共に、その周面に沿って、等間隔に複数の
ステーション２２を備えている。そして、これらのステ
ーション２２には、図２（Ｂ）に示す如くそれぞれ検査
用の触子２３，２４，２５，２６が設けられている。
【００１８】さらに、上記ボールフィーダ１１のトラッ
ク１３は、図１（Ａ）に示すように、ボールフィーダ１
１の最外周縁から、ロータリーシュート２０に向かって
延び、ロータリ分岐部１５によって、該ロータリーシュ
ート２０の各ステーション２２に対応するシュート１
６，１７，１８，１９に、選択的に接続され得るように
なっている。
ク１３は、図１（Ａ）に示すように、ボールフィーダ１
１の最外周縁から、ロータリーシュート２０に向かって
延び、ロータリ分岐部１５によって、該ロータリーシュ
ート２０の各ステーション２２に対応するシュート１
６，１７，１８，１９に、選択的に接続され得るように
なっている。
【００１９】本発明によるデバイス供給機構１０は、以
上のように構成されており、ボールフィーダ１１のふる
い蓋１４の上に供給されたデバイスは、一つ一つが、該
ふるい蓋１４の穴１４ａを通って、該ボールフィーダ１
１内に落下する。そして、該ボールフィーダ１１の鋸歯
状振動により、個々のデバイスは、トラック１３内にて
整列せしめれ、且つ該トラック１３に沿って搬送される
ことになる。
上のように構成されており、ボールフィーダ１１のふる
い蓋１４の上に供給されたデバイスは、一つ一つが、該
ふるい蓋１４の穴１４ａを通って、該ボールフィーダ１
１内に落下する。そして、該ボールフィーダ１１の鋸歯
状振動により、個々のデバイスは、トラック１３内にて
整列せしめれ、且つ該トラック１３に沿って搬送される
ことになる。
【００２０】このようにしてトラック１３を搬送される
デバイスは、ロータリー分岐部１５によって、選択され
たシュート１６，１７，１８または１９に振り分けられ
た後、ロータリーシュート２０の各ステーション２２に
給送される。これにより、各デバイスは、それぞれ触子
２３，２４，２５，２６に対して、電気的に接続され
る。かくして、各触子２３，２４，２５，２６によっ
て、マルチ測定による（各ステーション毎の）デバイス
検査が行なわれ、各デバイスの良不良が判別され得る。
デバイスは、ロータリー分岐部１５によって、選択され
たシュート１６，１７，１８または１９に振り分けられ
た後、ロータリーシュート２０の各ステーション２２に
給送される。これにより、各デバイスは、それぞれ触子
２３，２４，２５，２６に対して、電気的に接続され
る。かくして、各触子２３，２４，２５，２６によっ
て、マルチ測定による（各ステーション毎の）デバイス
検査が行なわれ、各デバイスの良不良が判別され得る。
【００２１】ここで、ロータリー分岐部１５で振り分け
られたデバイスが、ロータリーシュート２０の各ステー
ション２２に、給送され得るので、デバイス供給は、比
較的短い時間間隔で、行なわれ得ることになる。従っ
て、所謂機械的準備時間が短くて済むので、一つのデバ
イスの検査が終了してから、次のデバイスが給送される
までの待ち時間が大幅に短縮され得る。かくして、デバ
イスの検査が、待ち時間の短縮により、比較的短時間
で、迅速に行なわれ得るので、生産コストが低減され得
ると共に、上記デバイスの生産効率が向上せしめられ得
ることになる。
られたデバイスが、ロータリーシュート２０の各ステー
ション２２に、給送され得るので、デバイス供給は、比
較的短い時間間隔で、行なわれ得ることになる。従っ
て、所謂機械的準備時間が短くて済むので、一つのデバ
イスの検査が終了してから、次のデバイスが給送される
までの待ち時間が大幅に短縮され得る。かくして、デバ
イスの検査が、待ち時間の短縮により、比較的短時間
で、迅速に行なわれ得るので、生産コストが低減され得
ると共に、上記デバイスの生産効率が向上せしめられ得
ることになる。
【００２２】図３は、本発明によるデバイス供給機構の
他の実施例を示している。即ち、図３において、デバイ
ス供給機構３０は、ボールフィーダ３１及びロータリー
シュート２０から構成されている。
他の実施例を示している。即ち、図３において、デバイ
ス供給機構３０は、ボールフィーダ３１及びロータリー
シュート２０から構成されている。
【００２３】ボールフィーダ３１は、鋸歯振動されてい
ると共に、図３（Ａ）にて右周りに外側に広がる螺旋状
に形成された複数、図示の場合４つのトラック３３ａ，
３３ｂ，３３ｃ，３３ｄを備えている。このトラック３
３ａ，３３ｂ，３３ｃ，３３ｄは、図３（Ｂ）に示すよ
うに、上方に向かって突出する境界部３３ｅにより画成
されている。
ると共に、図３（Ａ）にて右周りに外側に広がる螺旋状
に形成された複数、図示の場合４つのトラック３３ａ，
３３ｂ，３３ｃ，３３ｄを備えている。このトラック３
３ａ，３３ｂ，３３ｃ，３３ｄは、図３（Ｂ）に示すよ
うに、上方に向かって突出する境界部３３ｅにより画成
されている。
【００２４】これらのトラック３３ａ，３３ｂ，３３
ｃ，３３ｄは、図３（Ａ）に示すように、その内端が、
それぞれボールフィーダ３１内にて、中心軸３２に対し
て、等角度間隔に位置するようになっている。これによ
り、ボールフィーダ３１が振動したとき、各トラック３
３ａ，３３ｂ，３３ｃ，３３ｄに対して、ボールフィー
ダ３１内のデバイスが、ほぼ均等に拾い上げられるよう
になっている。
ｃ，３３ｄは、図３（Ａ）に示すように、その内端が、
それぞれボールフィーダ３１内にて、中心軸３２に対し
て、等角度間隔に位置するようになっている。これによ
り、ボールフィーダ３１が振動したとき、各トラック３
３ａ，３３ｂ，３３ｃ，３３ｄに対して、ボールフィー
ダ３１内のデバイスが、ほぼ均等に拾い上げられるよう
になっている。
【００２５】さらに、該ボールフィーダ３１の上面に
は、ふるい蓋３４（鎖線図示）が備えられている。これ
により、該ふるい蓋３４の上方に供給された多数のデバ
イスが、一つ一つ該ふるい蓋３４の穴（図示せず）を通
って、ボールフィーダ３１の内部に落下するようになっ
ている。
は、ふるい蓋３４（鎖線図示）が備えられている。これ
により、該ふるい蓋３４の上方に供給された多数のデバ
イスが、一つ一つ該ふるい蓋３４の穴（図示せず）を通
って、ボールフィーダ３１の内部に落下するようになっ
ている。
【００２６】また、ロータリーシュート２０は、図１及
び図２に示した実施例と同様に構成されている。
び図２に示した実施例と同様に構成されている。
【００２７】さらに、上記ボールフィーダ３１の各トラ
ック３３ａ，３３ｂ，３３ｃ，３３ｄは、図３（Ａ）に
示すように、ボールフィーダ３１の最外周縁から、ロー
タリーシュート２０に向かって延びており、該ロータリ
ーシュート２０の各ステーション２２に接続されている
（図２参照）。
ック３３ａ，３３ｂ，３３ｃ，３３ｄは、図３（Ａ）に
示すように、ボールフィーダ３１の最外周縁から、ロー
タリーシュート２０に向かって延びており、該ロータリ
ーシュート２０の各ステーション２２に接続されている
（図２参照）。
【００２８】このように構成されたデバイス供給機構３
０によれば、ボールフィーダ３１のふるい蓋３４の上に
供給されたデバイスは、一つ一つが、該ふるい蓋３４の
穴を通って、該ボールフィーダ３１内に落下する。そし
て、該ボールフィーダ３１の回転駆動により、個々のデ
バイスは、それぞれトラック３３ａ，３３ｂ，３３ｃ，
３３ｄにて整列せしめれ、且つ該トラック３３ａ，３３
ｂ，３３ｃ，３３ｄに沿って搬送されることになる。
０によれば、ボールフィーダ３１のふるい蓋３４の上に
供給されたデバイスは、一つ一つが、該ふるい蓋３４の
穴を通って、該ボールフィーダ３１内に落下する。そし
て、該ボールフィーダ３１の回転駆動により、個々のデ
バイスは、それぞれトラック３３ａ，３３ｂ，３３ｃ，
３３ｄにて整列せしめれ、且つ該トラック３３ａ，３３
ｂ，３３ｃ，３３ｄに沿って搬送されることになる。
【００２９】このようにしてトラック３３ａ，３３ｂ，
３３ｃ，３３ｄを搬送されるデバイスは、それぞれロー
タリーシュート２０の各ステーション２２に給送され
る。これにより、各デバイスは、それぞれ触子２３，２
４，２５，２６に電気的に接続される。かくして、各触
子２３，２４，２５，２６によって、マルチ測定による
（各ステーション毎の）デバイス検査が行なわれ、各デ
バイスの良不良が判別され得る。
３３ｃ，３３ｄを搬送されるデバイスは、それぞれロー
タリーシュート２０の各ステーション２２に給送され
る。これにより、各デバイスは、それぞれ触子２３，２
４，２５，２６に電気的に接続される。かくして、各触
子２３，２４，２５，２６によって、マルチ測定による
（各ステーション毎の）デバイス検査が行なわれ、各デ
バイスの良不良が判別され得る。
【００３０】この場合も、同様にして、各トラック３３
ａ，３３ｂ，３３ｃ，３３ｄからのデバイスが、ロータ
リーシュート２０の各ステーション２２に給送され得る
ので、デバイス供給は、比較的短い時間間隔で、行なわ
れ得ることになる。従って、所謂機械的準備時間が短く
て済むので、一つのデバイスの検査が終了してから、次
のデバイスが給送されるまでの待ち時間が大幅に短縮さ
れ得る。かくして、デバイスの検査が、待ち時間の短縮
により、比較的短時間で、迅速に行なわれ得るので、生
産コストが低減され得ると共に、上記デバイスの生産効
率が向上せしめられ得ることになる。
ａ，３３ｂ，３３ｃ，３３ｄからのデバイスが、ロータ
リーシュート２０の各ステーション２２に給送され得る
ので、デバイス供給は、比較的短い時間間隔で、行なわ
れ得ることになる。従って、所謂機械的準備時間が短く
て済むので、一つのデバイスの検査が終了してから、次
のデバイスが給送されるまでの待ち時間が大幅に短縮さ
れ得る。かくして、デバイスの検査が、待ち時間の短縮
により、比較的短時間で、迅速に行なわれ得るので、生
産コストが低減され得ると共に、上記デバイスの生産効
率が向上せしめられ得ることになる。
【００３１】尚、図１及び図２の実施例によるデバイス
供給機構１０においても、また図３の実施例によるデバ
イス供給機構３０においても、ロータリーシュート２０
の各ステーション２２は、４段式に構成されているが、
これに限らず、２段式でもよく、また５段式以上の、多
段式に構成されていてもよい。このような多段式の構成
により、多ステーションによるマルチ化が容易に行なわ
れ得ることになる。
供給機構１０においても、また図３の実施例によるデバ
イス供給機構３０においても、ロータリーシュート２０
の各ステーション２２は、４段式に構成されているが、
これに限らず、２段式でもよく、また５段式以上の、多
段式に構成されていてもよい。このような多段式の構成
により、多ステーションによるマルチ化が容易に行なわ
れ得ることになる。
【００３２】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、ロ
ータリーシュートが回転せしめられることにより、デバ
イスが、ロータリーシュートの各ステーションに対して
給送され得る。これにより、各ステーションに対する機
械的な準備時間が比較的短くなる。従って、生産工程に
おける個々のデバイスの待ち時間を含む検査時間が短縮
されることになり、検査効率が向上せしめられ得るの
で、デバイスの生産コストが低減され得ることになる。
ータリーシュートが回転せしめられることにより、デバ
イスが、ロータリーシュートの各ステーションに対して
給送され得る。これにより、各ステーションに対する機
械的な準備時間が比較的短くなる。従って、生産工程に
おける個々のデバイスの待ち時間を含む検査時間が短縮
されることになり、検査効率が向上せしめられ得るの
で、デバイスの生産コストが低減され得ることになる。
【００３３】ロータリーシュートが、多段式に構成され
ている場合には、容易に多ステーションによるマルチ化
が行なわれ得ることになり、汎用性の高いデバイス供給
機構が提供され得ることになる。
ている場合には、容易に多ステーションによるマルチ化
が行なわれ得ることになり、汎用性の高いデバイス供給
機構が提供され得ることになる。
【００３４】また、ボールフィーダが、その上面にふる
い蓋を備えており、該ふるい蓋の穴を通ってデバイスが
内部に落下するようになっている場合には、個々のデバ
イスが、一つ一つ離れた状態で落下することになるの
で、個々のデバイスが確実に且つ迅速に給送され得るこ
とになる。
い蓋を備えており、該ふるい蓋の穴を通ってデバイスが
内部に落下するようになっている場合には、個々のデバ
イスが、一つ一つ離れた状態で落下することになるの
で、個々のデバイスが確実に且つ迅速に給送され得るこ
とになる。
【００３５】さらにボールフィーダが、ロータリーシュ
ートの各ステーションに対応して、複数のトラックを備
えている場合には、各トラックを通って供給されるデバ
イスは、そのまま対応するステーションに給送されるこ
とになるので、デバイスは、途中で振り分ける必要がな
いため、各ステーションに対してより一層迅速に給送さ
れ得ることになる。
ートの各ステーションに対応して、複数のトラックを備
えている場合には、各トラックを通って供給されるデバ
イスは、そのまま対応するステーションに給送されるこ
とになるので、デバイスは、途中で振り分ける必要がな
いため、各ステーションに対してより一層迅速に給送さ
れ得ることになる。
【００３６】かくして、本発明によれば、各ステーショ
ンにおける待ち時間をできるだけ短くするようにした、
極めて優れたデバイス供給機構が、提供され得ることに
なる。
ンにおける待ち時間をできるだけ短くするようにした、
極めて優れたデバイス供給機構が、提供され得ることに
なる。
【図１】本発明によるデバイス供給機構の一実施例を示
す、（Ａ）は概略平面図、及び（Ｂ）はボールフィーダ
の概略側面図である。
す、（Ａ）は概略平面図、及び（Ｂ）はボールフィーダ
の概略側面図である。
【図２】図１の実施例におけるロータリーシュートを示
す、（Ａ）は概略平面図、及び（Ｂ）は概略側面図であ
る。
す、（Ａ）は概略平面図、及び（Ｂ）は概略側面図であ
る。
【図３】本発明によるデバイス供給機構の他の実施例を
示す、（Ａ）は概略平面図、及び（Ｂ）はボールフィー
ダの概略側面図である。
示す、（Ａ）は概略平面図、及び（Ｂ）はボールフィー
ダの概略側面図である。
【図４】従来のデバイス供給機構の一例を示す概略側面
図である。
図である。
１０，３０ デバイス供給機構 １１ ボールフィーダ １２，３２ 中心軸 １３ トラック １４，３４ ふるい蓋 １５ ロータリ分岐部 １６，１７，１８，１９ シュート ２０ ロータリーシュート ２１ 回転軸 ２２ ステーション ２３，２４，２５，２６ 触子 ３１ ボールフィーダ ３３ａ，３３ｂ，３３ｃ，３３ｄ トラック
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０１Ｒ 31/26 Ｚ Ｈ０１Ｌ 21/68 Ａ
Claims (4)
- 【請求項１】 デバイスを整列させて順次給送するボー
ルフィーダと、該ボールフィーダにより給送されるデバ
イスを、複数のステーションに対して搬送するシュート
とを含んでいる、デバイス供給機構において、 上記シュートが、等間隔に設けられた複数のステーショ
ンを有するロータリーシュートによって、構成されてい
ることを特徴とする、デバイス供給機構。 - 【請求項２】 ロータリーシュートが、多段式に構成さ
れていることを特徴とする、請求項１に記載のデバイス
供給機構。 - 【請求項３】 ボールフィーダが、その上面にふるい蓋
を備えており、該ふるい蓋の穴を通ってデバイスが内部
に落下することを特徴とする、請求項１または２に記載
のデバイス供給機構。 - 【請求項４】 ボールフィーダが、ロータリーシュート
の各ステーションに対応して、複数のトラックを備えて
いることを特徴とする、請求項１から３の何れかに記載
のデバイス供給機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6087776A JPH07267337A (ja) | 1994-03-31 | 1994-03-31 | デバイス供給機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6087776A JPH07267337A (ja) | 1994-03-31 | 1994-03-31 | デバイス供給機構 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07267337A true JPH07267337A (ja) | 1995-10-17 |
Family
ID=13924389
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6087776A Pending JPH07267337A (ja) | 1994-03-31 | 1994-03-31 | デバイス供給機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07267337A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010180025A (ja) * | 2009-02-06 | 2010-08-19 | Daikyo Seiko Ltd | 部品整列装置 |
| JP2017048006A (ja) * | 2015-09-02 | 2017-03-09 | 関東電子株式会社 | 部品供給装置 |
-
1994
- 1994-03-31 JP JP6087776A patent/JPH07267337A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010180025A (ja) * | 2009-02-06 | 2010-08-19 | Daikyo Seiko Ltd | 部品整列装置 |
| JP2017048006A (ja) * | 2015-09-02 | 2017-03-09 | 関東電子株式会社 | 部品供給装置 |
| WO2017038438A1 (ja) * | 2015-09-02 | 2017-03-09 | 関東電子株式会社 | 部品供給装置 |
| CN107922127A (zh) * | 2015-09-02 | 2018-04-17 | 关东电子株式会社 | 零件供应装置 |
| CN107922127B (zh) * | 2015-09-02 | 2019-09-24 | 关东电子株式会社 | 零件供应装置 |
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