JPH0715135Y2 - 半導体選別装置 - Google Patents

半導体選別装置

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JPH0715135Y2
JPH0715135Y2 JP1986185810U JP18581086U JPH0715135Y2 JP H0715135 Y2 JPH0715135 Y2 JP H0715135Y2 JP 1986185810 U JP1986185810 U JP 1986185810U JP 18581086 U JP18581086 U JP 18581086U JP H0715135 Y2 JPH0715135 Y2 JP H0715135Y2
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JP
Japan
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chute
divided
semiconductor
chutes
dividing
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隆文 木塚
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NEC Corp
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は半導体装置を選別における分類機構に関するも
のである。
〔従来の技術〕
従来、この種の選別機は分類機構として半導体素子を各
々の分類シュートへ搬送する受け部を有し、その製品受
け部が、受け定位置と分類シュート部間を繰り返し移動
することにより、１ケずつ製品を分類するようになって
いた。
〔考案が解決しようとする問題点〕
上述した従来の分類機構が第３図である。１は固定シュ
ートであり、上部の測定ステーション（図示せず）で測
定された製品半導体素子が一担ここに格下される。７は
分類シュート８へ素子を搬送分類するため受け部であ
り、この受け部に素子が１ケずつ供給され７は分類指令
に基づき、その分類位置へ駆動されて素子を分類する。
この方法では、分類が１ケずつシーケンシャルに行なわ
れるため、特に２つ以上の測定ステーションを有し、同
時に２つ以上の製品の測定され、排出される選別装置に
おいては分類に要する時間がその同時測定個数に比例し
て長くなるという欠点がある。
〔問題点を解決するための手段〕
本考案は、上述の欠点をなくすため測定ステーションか
ら製品が落下してくるシュートがその分類数に対応して
分割されており、かつ各々の分割されたシュートには回
転機構を有している。すなわち、本考案による半導体選
別装置は、測定済みの半導体装置を夫々排出する複数の
半導体装置排出部を有する測定ステーション部と、分類
毎に対応して設けられた複数の収納部と、前記複数の半
導体装置排出部に対応する複数の分割シュート列を１方
の辺とし、前記複数の収納部に対応する複数の分割シュ
ート列を他方の辺とするように構成されたマトリックス
状の分割シュート群であって、各分割シュートは回転機
構を有し、この回転機構により隣接する分割シュート間
を連通又は非連通の状態とし、前記半導体装置排出部に
対応する分割シュートから連通状態にある隣接分割シュ
ートへ半導体装置を順次送ることにより収納部に対応す
る分割シュートへ導く分割シュート群とを備えることを
特徴とする。
〔実施例〕 次に本考案について図面を参照して説明する。
第１図は本考案の一実施例の側面図である。測定ステー
ション３から搬送機構２製品１を受ける分割シュート４
は回転機構を有し、測定ステーション３から送られてく
る製品１を受ける製品は分類信号に基づき搬送２により
所定の分割シュート（4a〜4d）の位置に分類され、搬送
完了後分割シュート４の各々がロータリアクチュモデタ
等を駆動源として90°回転し製品１を落下させ分類シュ
ート５に収納される。第２図この分割シュートの製品受
け及び排出の手順を図示したものである。
〔考案の効果〕
以上説明したように本考案は特に測定ステーションを２
つ以上もち同時測定機能を有する選別装置において、分
類に要する時間が各分類並列に処理される為従来機に比
し大巾に短縮できるこれにより設備自身の能力が大巾に
改善され多大な効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の一実施例側面図、第２図はこのうち分
割シュートの動きを図示したものである。第３図は従来
の一般的な分類機構の側面図である。 １……半導体製品、２……製品搬送部、３……測定ステ
ーション部、４……分割シュート部、4a〜4d……分割シ
ュートの分類に対応したもの、５……収納部、６……固
定シュート、７……製品受け部、８……分類収納シュー
ト、９……７の駆動源。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項１】測定済みの半導体装置を夫々排出する複数
    の半導体装置排出部を有する測定ステーション部と、分
    類毎に対応して設けられた複数の収納部と、前記複数の
    半導体装置排出部に対応する複数の分割シュート列を１
    方の辺とし、前記複数の収納部に対応する複数の分割シ
    ュート列を他方の辺とするように構成されたマトリック
    ス状の分割シュート群であって、各分割シュートは回転
    機構を有し、この回転機構により隣接する分割シュート
    間を連通又は非連通の状態とし、前記半導体装置排出部
    に対応する分割シュートから連通状態にある隣接分割シ
    ュートへ半導体装置を順次送ることにより収納部に対応
    する分割シュートへ導く分割シュート群とを備えること
    を特徴とする半導体選別装置。
JP1986185810U 1986-12-01 1986-12-01 半導体選別装置 Expired - Lifetime JPH0715135Y2 (ja)

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JPS6390836U JPS6390836U (ja) 1988-06-13
JPH0715135Y2 true JPH0715135Y2 (ja) 1995-04-10

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55127158A (en) * 1979-03-26 1980-10-01 Babcock Hitachi Kk Pulverizer

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59176825U (ja) * 1983-05-13 1984-11-26 ロ−ム株式会社 電子部品ハンドラ

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55127158A (en) * 1979-03-26 1980-10-01 Babcock Hitachi Kk Pulverizer

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JPS6390836U (ja) 1988-06-13

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