JPH0725987A - 光半導体封止用エポキシ樹脂組成物 - Google Patents
光半導体封止用エポキシ樹脂組成物Info
- Publication number
- JPH0725987A JPH0725987A JP5173870A JP17387093A JPH0725987A JP H0725987 A JPH0725987 A JP H0725987A JP 5173870 A JP5173870 A JP 5173870A JP 17387093 A JP17387093 A JP 17387093A JP H0725987 A JPH0725987 A JP H0725987A
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- JP
- Japan
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- epoxy resin
- optical semiconductor
- resin composition
- organopolysiloxane
- filler
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 内部応力が小さく、しかも光透過性に優れた
光半導体封止用エポキシ樹脂組成物およびこれを用いて
封止された光半導体装置を提供する。 【構成】 オルガノポリシロキサンを用いた変性エポキ
シ樹脂、酸無水物系硬化剤、硬化触媒および粒子径が5
×10-3×〔(m2 +2)/(m2 −1)〕2/3μm以
下の充填剤(ただし、mは充填剤の屈折率〔(A)+
(B)+(C)〕の樹脂硬化体の屈折率との屈折率比を
表し、mは1.0005より大きい、あるいは0.99
95より小さい値をとる。)を含有することを特徴とす
る光半導体封止用エポキシ樹脂組成物である。
光半導体封止用エポキシ樹脂組成物およびこれを用いて
封止された光半導体装置を提供する。 【構成】 オルガノポリシロキサンを用いた変性エポキ
シ樹脂、酸無水物系硬化剤、硬化触媒および粒子径が5
×10-3×〔(m2 +2)/(m2 −1)〕2/3μm以
下の充填剤(ただし、mは充填剤の屈折率〔(A)+
(B)+(C)〕の樹脂硬化体の屈折率との屈折率比を
表し、mは1.0005より大きい、あるいは0.99
95より小さい値をとる。)を含有することを特徴とす
る光半導体封止用エポキシ樹脂組成物である。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光半導体封止用エポキ
シ樹脂組成物およびこれを用いて光半導体素子を封止し
てなる光半導体装置に関するものである。そして本発明
により低応力性および透明性を兼ね備えた光半導体封止
用エポキシ樹脂組成物硬化体により光半導体素子が包被
されてなる光半導体装置が得られる。
シ樹脂組成物およびこれを用いて光半導体素子を封止し
てなる光半導体装置に関するものである。そして本発明
により低応力性および透明性を兼ね備えた光半導体封止
用エポキシ樹脂組成物硬化体により光半導体素子が包被
されてなる光半導体装置が得られる。
【0002】
【従来の技術】発光ダイオ−ド(LED)等の光半導体
素子の封止用樹脂組成物としては、その硬化体が透明性
を有することが要求されており、一般にビスフェノ−ル
A型エポキシ樹脂または脂環式エポキシ樹脂等のエポキ
シ樹脂と酸無水物系硬化剤を用いて得られるものが汎用
されている。
素子の封止用樹脂組成物としては、その硬化体が透明性
を有することが要求されており、一般にビスフェノ−ル
A型エポキシ樹脂または脂環式エポキシ樹脂等のエポキ
シ樹脂と酸無水物系硬化剤を用いて得られるものが汎用
されている。
【0003】しかし、上記エポキシ樹脂組成物を用いた
場合、この樹脂組成物の硬化時の硬化収縮により内部応
力が発生し、それが原因で発光素子の輝度が低下すると
いう問題が生じる。
場合、この樹脂組成物の硬化時の硬化収縮により内部応
力が発生し、それが原因で発光素子の輝度が低下すると
いう問題が生じる。
【0004】このような問題点を解決するため、エポ
キシ樹脂をシリコ−ン変性し、弾性率を下げて内部応力
の低減をはかる。シリカ微粉末を添加し、封止樹脂組
成物の線膨張係数を小さくする方法が提案されている。
キシ樹脂をシリコ−ン変性し、弾性率を下げて内部応力
の低減をはかる。シリカ微粉末を添加し、封止樹脂組
成物の線膨張係数を小さくする方法が提案されている。
【0005】しかしながら、上記のシリコ−ン変性で
は、弾性率は低下できても線膨張係数は逆に増加し、総
合的に大きい効果が得られ難いという欠点があった。ま
た、のシリカ微粉末の添加は、光透過率の低下を招
き、内部応力の低下を実現できても、得られる封止樹脂
組成物硬化体の光透過率が著しく低下するという光半導
体封止用樹脂組成物としては致命的な欠点を有してい
る。
は、弾性率は低下できても線膨張係数は逆に増加し、総
合的に大きい効果が得られ難いという欠点があった。ま
た、のシリカ微粉末の添加は、光透過率の低下を招
き、内部応力の低下を実現できても、得られる封止樹脂
組成物硬化体の光透過率が著しく低下するという光半導
体封止用樹脂組成物としては致命的な欠点を有してい
る。
【0006】この発明は、このような事情に鑑みなされ
たもので、内部応力が小さく、しかも光透過性に優れた
光半導体封止用エポキシ樹脂組成物およびこれを用いて
封止された光半導体装置の提供をその目的とする。
たもので、内部応力が小さく、しかも光透過性に優れた
光半導体封止用エポキシ樹脂組成物およびこれを用いて
封止された光半導体装置の提供をその目的とする。
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、この発明の光半導体封止用エポキシ樹脂組成物は下
記の(A)〜(D)成分を含有することを特徴とする構
成をとる。 (A)エポキシ樹脂とオルガノポリシロキサンとを反応
させて得られる変性エポキシ樹脂。 (B)酸無水物系硬化剤。 (C)硬化触媒。 (D)粒子径が5×10-3×〔(m2 +2)/(m2 −
1)〕2/3 μm以下の充填剤(ただし、mは充填剤の屈
折率と〔(A)+(B)+(C)〕の樹脂硬化体の屈折
率との屈折率比を表し、mは1.0005より大きい、
あるいは0.9995より小さい値をとる。)。
め、この発明の光半導体封止用エポキシ樹脂組成物は下
記の(A)〜(D)成分を含有することを特徴とする構
成をとる。 (A)エポキシ樹脂とオルガノポリシロキサンとを反応
させて得られる変性エポキシ樹脂。 (B)酸無水物系硬化剤。 (C)硬化触媒。 (D)粒子径が5×10-3×〔(m2 +2)/(m2 −
1)〕2/3 μm以下の充填剤(ただし、mは充填剤の屈
折率と〔(A)+(B)+(C)〕の樹脂硬化体の屈折
率との屈折率比を表し、mは1.0005より大きい、
あるいは0.9995より小さい値をとる。)。
【0007】すなわち本発明者らは、エポキシ樹脂とオ
ルガノポリシロキサンとを反応させて得られた変性エポ
キシ樹脂と粒子径が5×10-3×〔(m2 +2)/(m
2 −1)〕2/3 μm以下の充填剤(ただし、mは充填剤
の屈折率と〔(A)+(B)+(C)〕の樹脂硬化体の
屈折率との屈折率比を表し、mは1.0005より大き
い、あるいは0.9995より小さい値をとる。)を用
いることが、内部応力が小さく、および光透過性の双方
に優れた光半導体封止用エポキシ樹脂組成物が得られる
ことを見出した。
ルガノポリシロキサンとを反応させて得られた変性エポ
キシ樹脂と粒子径が5×10-3×〔(m2 +2)/(m
2 −1)〕2/3 μm以下の充填剤(ただし、mは充填剤
の屈折率と〔(A)+(B)+(C)〕の樹脂硬化体の
屈折率との屈折率比を表し、mは1.0005より大き
い、あるいは0.9995より小さい値をとる。)を用
いることが、内部応力が小さく、および光透過性の双方
に優れた光半導体封止用エポキシ樹脂組成物が得られる
ことを見出した。
【0008】上記(A)成分の変性エポキシ樹脂として
は、一般的に分子量500〜7000の1分子中に少な
くとも1個のアミノ基を有するオルガノポリシロキサン
によって変性された変性ビスフェノ−ルA型エポキシ樹
脂および変性脂環式エポキシ樹脂の片方もしくは双方が
用いられる。このように、上記特定のオルガノポリシロ
キサンを用いると、エポキシ樹脂中のエポキシ基に対す
る反応性が高いため、副反応が生じず変性反応が良好に
進行し効果的である。
は、一般的に分子量500〜7000の1分子中に少な
くとも1個のアミノ基を有するオルガノポリシロキサン
によって変性された変性ビスフェノ−ルA型エポキシ樹
脂および変性脂環式エポキシ樹脂の片方もしくは双方が
用いられる。このように、上記特定のオルガノポリシロ
キサンを用いると、エポキシ樹脂中のエポキシ基に対す
る反応性が高いため、副反応が生じず変性反応が良好に
進行し効果的である。
【0009】上記特定のオルガノポリシロキサンとして
は、例えば、ジメチルポリシロキサン、メチルフェニル
ポリシロキサンおよびジフェニルポリシロキサン等が挙
げられ、特に下記の一般式〔化2〕で表されるものを用
いるのが好適である。
は、例えば、ジメチルポリシロキサン、メチルフェニル
ポリシロキサンおよびジフェニルポリシロキサン等が挙
げられ、特に下記の一般式〔化2〕で表されるものを用
いるのが好適である。
【化2】
【0010】そして、上記〔化2〕中、m+n=3〜4
0のものを用いるのが特に好ましい。また、上記一般式
〔化2〕で表されるオルガノポリシロキサンにおいて、
なかでも下記の一般式〔化3〕で表されるものを用いる
のが好適である。
0のものを用いるのが特に好ましい。また、上記一般式
〔化2〕で表されるオルガノポリシロキサンにおいて、
なかでも下記の一般式〔化3〕で表されるものを用いる
のが好適である。
【化3】
【0011】上記〔化1〕、〔化2〕および〔化3〕に
おいて、繰り返し単位数がmの部分とnの部分とは交互
に結合している場合もあり、ランダムに結合している場
合もある。またブロック的に結合している場合もある。
また、〔化3〕中のR7 としては、一般的に−CH2 C
H2 CH2 −が挙げられる。
おいて、繰り返し単位数がmの部分とnの部分とは交互
に結合している場合もあり、ランダムに結合している場
合もある。またブロック的に結合している場合もある。
また、〔化3〕中のR7 としては、一般的に−CH2 C
H2 CH2 −が挙げられる。
【0012】このようなオルガノポリシロキサンは、エ
ポキシ樹脂中のエポキシ基との反応性の良好なアミノ基
を1分子中に少なくとも1個有する必要があり、しかも
分子量が500〜7000であることが好ましい。特に
好ましいのは500〜3000である。
ポキシ樹脂中のエポキシ基との反応性の良好なアミノ基
を1分子中に少なくとも1個有する必要があり、しかも
分子量が500〜7000であることが好ましい。特に
好ましいのは500〜3000である。
【0013】すなわち、オルガノポリシロキサンの分子
量が7000を超えると、変性時に相分離を生起し易
く、この相分離したものが残存して樹脂組成物中の配合
物が不均一となりシリコ−ン化合物が均一分散しなくな
る。その結果、内部応力の低減効果が得られにくくな
る。また、分子量が大きすぎるとシリコ−ン化合物の粒
子自体も大きくなりすぎ光が粒子に当たり光透過率が低
下してしまう。
量が7000を超えると、変性時に相分離を生起し易
く、この相分離したものが残存して樹脂組成物中の配合
物が不均一となりシリコ−ン化合物が均一分散しなくな
る。その結果、内部応力の低減効果が得られにくくな
る。また、分子量が大きすぎるとシリコ−ン化合物の粒
子自体も大きくなりすぎ光が粒子に当たり光透過率が低
下してしまう。
【0014】逆に、分子量が500未満だと、エポキシ
樹脂中にシリコ−ン化合物が溶解してしまい、海−島構
造を形成しがたくなるため、やはり内部応力の低減効果
が得られにくくなるからである。さらに、上記〔化2〕
において、R3 およびR4 がともにフェニル基のオルガ
ノポリシロキサンを用いると、得られるエポキシ樹脂組
成物硬化体はより透明性に優れたものとなり一層効果的
である。
樹脂中にシリコ−ン化合物が溶解してしまい、海−島構
造を形成しがたくなるため、やはり内部応力の低減効果
が得られにくくなるからである。さらに、上記〔化2〕
において、R3 およびR4 がともにフェニル基のオルガ
ノポリシロキサンを用いると、得られるエポキシ樹脂組
成物硬化体はより透明性に優れたものとなり一層効果的
である。
【0015】また、場合により、これら変性エポキシ樹
脂と通常用いられる他のエポキシ樹脂を併用することも
できる。上記他のエポキシ樹脂を用いる場合、その使用
割合は、オルガノポリシロキサンを除く全エポキシ樹脂
中50重量%(以下「%」と略す)以内に設定するのが
好ましい。ここで、他のエポキシ樹脂の使用割合とは
(他のエポキシ樹脂の重量)/〔(変性エポキシ樹脂の
エポキシ樹脂だけの重量)+(他のエポキシ樹脂の重
量)〕×100で表される。そして、この発明に用いら
れるエポキシ樹脂(ただし、変性エポキシ樹脂を除
く。)としては、一般にエポキシ当量100〜100
0、軟化点120℃以下のものを用いるのが好ましい。
脂と通常用いられる他のエポキシ樹脂を併用することも
できる。上記他のエポキシ樹脂を用いる場合、その使用
割合は、オルガノポリシロキサンを除く全エポキシ樹脂
中50重量%(以下「%」と略す)以内に設定するのが
好ましい。ここで、他のエポキシ樹脂の使用割合とは
(他のエポキシ樹脂の重量)/〔(変性エポキシ樹脂の
エポキシ樹脂だけの重量)+(他のエポキシ樹脂の重
量)〕×100で表される。そして、この発明に用いら
れるエポキシ樹脂(ただし、変性エポキシ樹脂を除
く。)としては、一般にエポキシ当量100〜100
0、軟化点120℃以下のものを用いるのが好ましい。
【0016】なお、上記オルガノポリシロキサンで上記
エポキシ樹脂を変性する場合、オルガノポリシロキサン
の使用量は、エポキシ樹脂100重量部(以下「部」と
略す)に対して5〜40部の範囲に設定することが好ま
しい。すなわち、オルガノポリシロキサンが5部未満で
は充分な低応力効果が得られ難く、逆に40部を超える
とオルガノポリシロキサンのドメインが大きくなり封止
樹脂が不透明になる傾向があるからである。
エポキシ樹脂を変性する場合、オルガノポリシロキサン
の使用量は、エポキシ樹脂100重量部(以下「部」と
略す)に対して5〜40部の範囲に設定することが好ま
しい。すなわち、オルガノポリシロキサンが5部未満で
は充分な低応力効果が得られ難く、逆に40部を超える
とオルガノポリシロキサンのドメインが大きくなり封止
樹脂が不透明になる傾向があるからである。
【0017】上記(B)成分の酸無水物系硬化剤として
は、分子量140〜200程度のものを用いるのが好ま
しく、例えばヘキサヒドロ無水フタル酸、テトラヒドロ
無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸および
メチルテトラヒドロ無水フタル酸等の無色ないし淡黄色
の酸無水物が挙げられる。酸無水物系硬化剤の配合量
は、変性エポキシ樹脂100部に対して50〜200部
の範囲に設定することが好適である。
は、分子量140〜200程度のものを用いるのが好ま
しく、例えばヘキサヒドロ無水フタル酸、テトラヒドロ
無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸および
メチルテトラヒドロ無水フタル酸等の無色ないし淡黄色
の酸無水物が挙げられる。酸無水物系硬化剤の配合量
は、変性エポキシ樹脂100部に対して50〜200部
の範囲に設定することが好適である。
【0018】上記(C)成分の硬化触媒としては、第三
級アミン、イミダゾ−ル化合物および有機金属錯塩等が
あげられ、単独でもしくは併せて用いられる。
級アミン、イミダゾ−ル化合物および有機金属錯塩等が
あげられ、単独でもしくは併せて用いられる。
【0019】上記(D)成分である充填剤については、
微粒子充填系の光散乱に基づく透明性低下について検討
し、次の結果を得た。微粒子充填樹脂の光散乱強度Iは
次式〔数1〕で与えられる。
微粒子充填系の光散乱に基づく透明性低下について検討
し、次の結果を得た。微粒子充填樹脂の光散乱強度Iは
次式〔数1〕で与えられる。
【数1】
【0020】光の波長λは550nmを中心波長とした
可視光400〜700nmに限定されているので、
〔(m2 −1)/(m2 +2)〕2 D3 を一定値以下に
抑えることで光散乱を小さくすることが可能になり、目
的の特に透明性の低下しないエポキシ樹脂組成物硬化体
を得ることができる。
可視光400〜700nmに限定されているので、
〔(m2 −1)/(m2 +2)〕2 D3 を一定値以下に
抑えることで光散乱を小さくすることが可能になり、目
的の特に透明性の低下しないエポキシ樹脂組成物硬化体
を得ることができる。
【0021】実験結果に基づき、〔(m2 −1)/(m
2 +2)〕2 D3 の値を1.2×10-7以下にすること
により透明性を得る条件を得た。ここで、Dの単位はμ
mである。このときの樹脂硬化体の透明性は、着色透明
の場合も含み、分光光度系で測定し、硬化体厚さ4mm
で600nmの波長の光透過率が60%以上、好ましく
は80%以上をいう。
2 +2)〕2 D3 の値を1.2×10-7以下にすること
により透明性を得る条件を得た。ここで、Dの単位はμ
mである。このときの樹脂硬化体の透明性は、着色透明
の場合も含み、分光光度系で測定し、硬化体厚さ4mm
で600nmの波長の光透過率が60%以上、好ましく
は80%以上をいう。
【0022】透明性を得る条件を粒子径Dについて書き
直すと次式〔数2〕となる。
直すと次式〔数2〕となる。
【数2】
【0023】従って、上式〔数2〕から、どのような種
類の樹脂あるいは充填剤を用いても、充填剤の粒子径あ
るいはその屈折率と樹脂硬化体の屈折率が、D<5×1
0-3×〔(m2 +2)/(m2 −1)〕2/3 μmを満足
させることによって、光散乱が抑えられ、透明性を確保
することが可能である。
類の樹脂あるいは充填剤を用いても、充填剤の粒子径あ
るいはその屈折率と樹脂硬化体の屈折率が、D<5×1
0-3×〔(m2 +2)/(m2 −1)〕2/3 μmを満足
させることによって、光散乱が抑えられ、透明性を確保
することが可能である。
【0024】(D)成分として用いる充填剤としては、
超微粒子すなわち粒子径1μm以下の領域に入る程度と
なる。本発明における充填剤と樹脂部の屈折率比を本発
明の制限内で適宜選ぶことによって透明性を確保した樹
脂硬化体を得ることができる。しかし、粒子径が1μm
以上になると、屈折率の制限範囲が極めて狭く厳しくな
り、すなわち樹脂硬化体の屈折率と充填剤の屈折率を非
常に近づけなければならない。また、充填剤の屈折率の
温度変化による影響も無視できなくなり、樹脂硬化体の
透明性を維持することが難しくなる。本発明において
は、屈折率はアツベ屈折率計を用いて25℃で測定し
た。
超微粒子すなわち粒子径1μm以下の領域に入る程度と
なる。本発明における充填剤と樹脂部の屈折率比を本発
明の制限内で適宜選ぶことによって透明性を確保した樹
脂硬化体を得ることができる。しかし、粒子径が1μm
以上になると、屈折率の制限範囲が極めて狭く厳しくな
り、すなわち樹脂硬化体の屈折率と充填剤の屈折率を非
常に近づけなければならない。また、充填剤の屈折率の
温度変化による影響も無視できなくなり、樹脂硬化体の
透明性を維持することが難しくなる。本発明において
は、屈折率はアツベ屈折率計を用いて25℃で測定し
た。
【0025】また充填剤の使用量は、エポキシ樹脂組成
物全体に対して10〜80重量%が好ましく、さらに好
ましくは25〜70重量%である。
物全体に対して10〜80重量%が好ましく、さらに好
ましくは25〜70重量%である。
【0026】また充填剤としての超微粒子は、凝集し二
次粒子を形成しやすいので、それを防ぐため、適切な分
散剤として有機溶媒を用いることが好ましい。
次粒子を形成しやすいので、それを防ぐため、適切な分
散剤として有機溶媒を用いることが好ましい。
【0027】例えば、メタノ−ル、エタノ−ル、プロパ
ノ−ル、ブタノ−ル、キシレン、トルエン、ヘキサン、
エチレングリコ−ル、メチルエ−テル、メチルエチルエ
−テル、エチルエ−テル、プロピルエ−テル、テトラヒ
ドロフラン、ジメチルアセトアミド、ジメチルホルムア
ミド、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノ
ン、ジオキサンおよびメチルイソブチルケトン等が挙げ
られる。これらは、単独でもしくは併せて用いられる。
ノ−ル、ブタノ−ル、キシレン、トルエン、ヘキサン、
エチレングリコ−ル、メチルエ−テル、メチルエチルエ
−テル、エチルエ−テル、プロピルエ−テル、テトラヒ
ドロフラン、ジメチルアセトアミド、ジメチルホルムア
ミド、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノ
ン、ジオキサンおよびメチルイソブチルケトン等が挙げ
られる。これらは、単独でもしくは併せて用いられる。
【0028】充填剤の材質としては、シリカ、酸化チタ
ン、酸化アルミニウムおよび酸化ジルコニウム等が用い
られる。
ン、酸化アルミニウムおよび酸化ジルコニウム等が用い
られる。
【0029】なお、この発明における樹脂組成物には、
上記(A)、(B)、(C)および(D)成分の他に必
要に応じて、変性剤、変色防止剤、老化防止剤、離型
剤、希釈剤等の従来公知の添加剤を適宜配合することが
でき、この樹脂組成物は、通常、液状、粉末状もしくは
この粉末を打錠したタブレット状になっている。
上記(A)、(B)、(C)および(D)成分の他に必
要に応じて、変性剤、変色防止剤、老化防止剤、離型
剤、希釈剤等の従来公知の添加剤を適宜配合することが
でき、この樹脂組成物は、通常、液状、粉末状もしくは
この粉末を打錠したタブレット状になっている。
【0030】上記エポキシ樹脂組成物は、例えば、次の
ように製造することができる。すなわち、上記各成分の
原料を適宜配合し、予備混合した後、混練機にて加熱下
のもとに混練して溶融混合する。そして、これを室温に
冷却した後、公知の手段によって、粉砕し、必要に応じ
て打錠するという一連の工程により製造することができ
る。ただし、シリカ粒子が超微粒子の場合、特願平4−
116822のようにあらかじめ有機溶媒にシリカ超微
粒子を分散させ、ついでこのシリカ超微粒子の分散液と
樹脂成分を混合させ、その後、脱溶媒するとよい。
ように製造することができる。すなわち、上記各成分の
原料を適宜配合し、予備混合した後、混練機にて加熱下
のもとに混練して溶融混合する。そして、これを室温に
冷却した後、公知の手段によって、粉砕し、必要に応じ
て打錠するという一連の工程により製造することができ
る。ただし、シリカ粒子が超微粒子の場合、特願平4−
116822のようにあらかじめ有機溶媒にシリカ超微
粒子を分散させ、ついでこのシリカ超微粒子の分散液と
樹脂成分を混合させ、その後、脱溶媒するとよい。
【0031】このような、エポキシ樹脂組成物を用いて
の、光半導体素子の封止は、特に限定するものでなく、
通常のトランスファ−成形、注型などの公知のモ−ルド
方法により行うことができる。
の、光半導体素子の封止は、特に限定するものでなく、
通常のトランスファ−成形、注型などの公知のモ−ルド
方法により行うことができる。
【0032】
【実施例】以下、実施例を用いて本発明を説明する。 実施例1、2および比較例1、2 実施例1 有機溶媒(キシレン)中にビスフェノ−ルA
型エポキシ樹脂(EP827、油化シェルエポキシ社
製)100部と分子量1680のアミノ基を2つ持つポ
リジメチルシロキサン20部とを配合し、150℃で熱
処理した後、上記有機溶媒を揮散除去することにより、
変性ビスフェノ−ルA型エポキシ樹脂を作製した。一方
粒子径が0.015μmであるシリカ超微粒子をアルコ
−ルに分散させた後、このシリカ超微粒子の固形分24
0部、上記変性ビスフェノ−ルA型エポキシ樹脂120
部、4−メチルヘキサヒドロ無水フタル酸100部、2
−エチル−4メチルイミダゾ−ル0.4部を配合、混合
することにより目的とする光半導体封止用エポキシ樹脂
組成物を得た。この時充填剤と樹脂硬化体の屈折率比m
は25℃において0.985であった。
型エポキシ樹脂(EP827、油化シェルエポキシ社
製)100部と分子量1680のアミノ基を2つ持つポ
リジメチルシロキサン20部とを配合し、150℃で熱
処理した後、上記有機溶媒を揮散除去することにより、
変性ビスフェノ−ルA型エポキシ樹脂を作製した。一方
粒子径が0.015μmであるシリカ超微粒子をアルコ
−ルに分散させた後、このシリカ超微粒子の固形分24
0部、上記変性ビスフェノ−ルA型エポキシ樹脂120
部、4−メチルヘキサヒドロ無水フタル酸100部、2
−エチル−4メチルイミダゾ−ル0.4部を配合、混合
することにより目的とする光半導体封止用エポキシ樹脂
組成物を得た。この時充填剤と樹脂硬化体の屈折率比m
は25℃において0.985であった。
【0033】実施例2 実施例1において分子量168
0のポリジメチルシロキサンの代わりに分子量3000
のアミノ基を2つ持つポリメチルフェニルシロキサンを
用い、シリカ粒子の代わりに粒子径0.008μmの酸
化チタンを180部添加した系にて、光半導体封止用エ
ポキシ樹脂組成物を得た。この時充填剤と樹脂硬化体の
屈折率比mは25℃において1.429であった。
0のポリジメチルシロキサンの代わりに分子量3000
のアミノ基を2つ持つポリメチルフェニルシロキサンを
用い、シリカ粒子の代わりに粒子径0.008μmの酸
化チタンを180部添加した系にて、光半導体封止用エ
ポキシ樹脂組成物を得た。この時充填剤と樹脂硬化体の
屈折率比mは25℃において1.429であった。
【0034】比較例1 実施例1において、粒子径0.
15μmのシリカ粒子を用いた以外は同様にして光半導
体封止用エポキシ樹脂組成物を得た。この樹脂組成物
は、光透過率が10%以下となり不透明樹脂硬化体とな
った。この時充填剤と樹脂硬化体の屈折率比mは25℃
において0.985であった。
15μmのシリカ粒子を用いた以外は同様にして光半導
体封止用エポキシ樹脂組成物を得た。この樹脂組成物
は、光透過率が10%以下となり不透明樹脂硬化体とな
った。この時充填剤と樹脂硬化体の屈折率比mは25℃
において0.985であった。
【0035】比較例2 実施例1において、シリカ粒子
を添加しなかった以外は同様にして光半導体封止用エポ
キシ樹脂組成物を得た。この硬化体の光透過率は87%
であった。
を添加しなかった以外は同様にして光半導体封止用エポ
キシ樹脂組成物を得た。この硬化体の光透過率は87%
であった。
【0036】次に、実施例1、2および比較例2で得ら
れたエポキシ樹脂組成物を用いて、硬化温度150℃で
LEDを樹脂封止して光半導体装置を作製し、この光半
導体装置の高温での通電輝度劣化を測定した。その結果
を下記の〔表1〕に示す。なお、通電輝度劣化の測定
は、次のようにして行った。すなわち、光半導体装置
(LEDデバイス)に定電流を流し、輝度として電流印
加後5秒後の受光素子の出力電流値を求め劣化率を測定
した。測定条件は、評価素子0.5×0.5mmのGa
As、パッケ−ジとしては、直径5mmのパイロットラ
ンプを用い、80℃雰囲気下において、20mA通電の
1000時間後の輝度劣化率である。
れたエポキシ樹脂組成物を用いて、硬化温度150℃で
LEDを樹脂封止して光半導体装置を作製し、この光半
導体装置の高温での通電輝度劣化を測定した。その結果
を下記の〔表1〕に示す。なお、通電輝度劣化の測定
は、次のようにして行った。すなわち、光半導体装置
(LEDデバイス)に定電流を流し、輝度として電流印
加後5秒後の受光素子の出力電流値を求め劣化率を測定
した。測定条件は、評価素子0.5×0.5mmのGa
As、パッケ−ジとしては、直径5mmのパイロットラ
ンプを用い、80℃雰囲気下において、20mA通電の
1000時間後の輝度劣化率である。
【表1】 以上の結果から実施例1および2では、透明性も高く、
封止した発光素子の輝度劣化も大幅に抑制されているこ
とがわかる。また、比較例1では、透明性が極めて低い
ため光半導体封止樹脂としては使用できない。
封止した発光素子の輝度劣化も大幅に抑制されているこ
とがわかる。また、比較例1では、透明性が極めて低い
ため光半導体封止樹脂としては使用できない。
【0037】
【発明の効果】以上のように、本発明の光半導体封止用
エポキシ樹脂組成物は、オルガノポリシロキサンにより
エポキシ樹脂が変性されていること、および粒子径が5
×10 -3×〔(m2 +2)/(m2 −1)〕2/3 μm以
下の超微粒子を含んでいるため、内部応力が小さく、ま
た光透過率を低下させることなく、封止した光半導体装
置の輝度劣化を大きく抑制することができる。
エポキシ樹脂組成物は、オルガノポリシロキサンにより
エポキシ樹脂が変性されていること、および粒子径が5
×10 -3×〔(m2 +2)/(m2 −1)〕2/3 μm以
下の超微粒子を含んでいるため、内部応力が小さく、ま
た光透過率を低下させることなく、封止した光半導体装
置の輝度劣化を大きく抑制することができる。
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 23/31 33/00 N 7376−4M
Claims (5)
- 【請求項1】 下記の(A)〜(D)成分を含有する光
半導体封止用エポキシ樹脂組成物。 (A)エポキシ樹脂とオルガノポリシロキサンとを反応
させて得られる変性エポキシ樹脂。 (B)酸無水物系硬化剤。 (C)硬化触媒。 (D)粒子径が5×10-3×〔(m2 +2)/(m2 −
1)〕2/3 μm以下の充填剤(ただし、mは充填剤の屈
折率と〔(A)+(B)+(C)〕の樹脂硬化体の屈折
率との屈折率比を表し、mは1.0005より大きい、
あるいは0.9995より小さい値をとる。)。 - 【請求項2】 オルガノポリシロキサンがエポキシ基と
反応性の官能基を有する分子量500〜7000のオル
ガノポリシロキサンであり、エポキシ樹脂がビスフェノ
−ルA型エポキシ樹脂もしくは脂環式エポキシ樹脂であ
る請求項1記載の光半導体封止用エポキシ樹脂組成物。 - 【請求項3】 オルガノポリシロキサンが下記の一般式
〔化1〕で表される請求項1記載の光半導体封止用エポ
キシ樹脂組成物。 【化1】 - 【請求項4】 充填剤がシリカ粒子である請求項1〜4
いづれか記載の光半導体封止用エポキシ樹脂組成物。 - 【請求項5】 請求項1〜5いづれか記載の光半導体封
止用エポキシ樹脂組成物を用いて光半導体素子を封止し
てなる光半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5173870A JPH0725987A (ja) | 1993-07-14 | 1993-07-14 | 光半導体封止用エポキシ樹脂組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5173870A JPH0725987A (ja) | 1993-07-14 | 1993-07-14 | 光半導体封止用エポキシ樹脂組成物 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0725987A true JPH0725987A (ja) | 1995-01-27 |
Family
ID=15968664
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5173870A Pending JPH0725987A (ja) | 1993-07-14 | 1993-07-14 | 光半導体封止用エポキシ樹脂組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0725987A (ja) |
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-
1993
- 1993-07-14 JP JP5173870A patent/JPH0725987A/ja active Pending
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