JPH07183422A - 樹脂封止型半導体装置 - Google Patents
樹脂封止型半導体装置Info
- Publication number
- JPH07183422A JPH07183422A JP32667793A JP32667793A JPH07183422A JP H07183422 A JPH07183422 A JP H07183422A JP 32667793 A JP32667793 A JP 32667793A JP 32667793 A JP32667793 A JP 32667793A JP H07183422 A JPH07183422 A JP H07183422A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gnd
- metal
- lead frame
- inductance
- metal substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
Landscapes
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 デバイスのSSO対策のためのGND及びV
DDの強化及び低インダクタンス化。またデバイス縮少化
に伴うリードフレーム作成の困難化を改善する。 【構成】 金属基板1上に絶縁層3を介して配線層8を
形成し、この配線層8を介してデバイス4とリードフレ
ーム6を接続することにより、リードフレームの作成を
容易にする。また金属基板1の一部に金属露出部分を形
成しそこへデバイス4を固着しデバイス4のGNDをワ
イヤボンディングで接続することによりGNDの強化及
びインダクタンス低減、パッケージピンの節約が計れ
る。また金属基板4の一部を厚い絶縁層で分離すること
によりVDDの強化、低インダクタンス化を計れる。
DDの強化及び低インダクタンス化。またデバイス縮少化
に伴うリードフレーム作成の困難化を改善する。 【構成】 金属基板1上に絶縁層3を介して配線層8を
形成し、この配線層8を介してデバイス4とリードフレ
ーム6を接続することにより、リードフレームの作成を
容易にする。また金属基板1の一部に金属露出部分を形
成しそこへデバイス4を固着しデバイス4のGNDをワ
イヤボンディングで接続することによりGNDの強化及
びインダクタンス低減、パッケージピンの節約が計れ
る。また金属基板4の一部を厚い絶縁層で分離すること
によりVDDの強化、低インダクタンス化を計れる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体装置に関し、特に
樹脂封止型半導体装置に関する。
樹脂封止型半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体装置の多ビット並列処理化
に伴ない、バッファーの同時動作数が増加し、GNDの
強化及びLSIパッケージのインダクタンスを減少させ
る等が必要である。そこで図4に示すように、従来の樹
脂型パッケージは、ピン数を増加してGNDに割り当て
る、ホンディングワイヤの距離をなるべく短かくする等
を行なっていた。またデバイスの縮少化に伴ないパッド
ピッチが狭くなりリードフレームのステッチも狭くな
り、デバイスのパッド近くまでリードフレームのステッ
チをもっていくのが困難なためタブテープを介してデバ
イスとリードフレームを接続していた。また、単にアー
スを目的として金属基板と回路をボンディングワイヤで
接続しているものとして図5 (公開特許公報昭62−7
3638)に示すようなものがある。
に伴ない、バッファーの同時動作数が増加し、GNDの
強化及びLSIパッケージのインダクタンスを減少させ
る等が必要である。そこで図4に示すように、従来の樹
脂型パッケージは、ピン数を増加してGNDに割り当て
る、ホンディングワイヤの距離をなるべく短かくする等
を行なっていた。またデバイスの縮少化に伴ないパッド
ピッチが狭くなりリードフレームのステッチも狭くな
り、デバイスのパッド近くまでリードフレームのステッ
チをもっていくのが困難なためタブテープを介してデバ
イスとリードフレームを接続していた。また、単にアー
スを目的として金属基板と回路をボンディングワイヤで
接続しているものとして図5 (公開特許公報昭62−7
3638)に示すようなものがある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の同時動作ノイズ
を減少させる方法では、GNDピンを多く取らなければ
ならないので信号に使用できるピン数が減少してしま
う、もしくは、GNDピン数分パッケージのピン数を増
加させるためパッケージが大型化する問題があった。ま
た、ボンディングワイヤの距離を短縮するためデバイス
にリードフレームのステッチを近づけようとするとステ
ッチの幅、強度の点から困難であり、また、リードフレ
ームが細長くなるためインダクタンスが増加という問題
がある。インダクタンスの問題はタブテープを使用して
も同じである。
を減少させる方法では、GNDピンを多く取らなければ
ならないので信号に使用できるピン数が減少してしま
う、もしくは、GNDピン数分パッケージのピン数を増
加させるためパッケージが大型化する問題があった。ま
た、ボンディングワイヤの距離を短縮するためデバイス
にリードフレームのステッチを近づけようとするとステ
ッチの幅、強度の点から困難であり、また、リードフレ
ームが細長くなるためインダクタンスが増加という問題
がある。インダクタンスの問題はタブテープを使用して
も同じである。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の樹脂封止型半導
体装置は、放熱機能を有する金属基板上に絶縁層を介し
てパターン形成された配線層を有し、該金属基板上の一
部に予め形成された金属露出部分にデバイスを固着する
とともに該金属露出部分と該デバイスのGNDをワイヤ
ーボンド等で接続した構造を有する。
体装置は、放熱機能を有する金属基板上に絶縁層を介し
てパターン形成された配線層を有し、該金属基板上の一
部に予め形成された金属露出部分にデバイスを固着する
とともに該金属露出部分と該デバイスのGNDをワイヤ
ーボンド等で接続した構造を有する。
【0005】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。図1は、本発明の一実施例の樹脂封止型パッケージ
の断面図である。放熱性のある金属基板1上にリードフ
レーム6とデバイス4をボンディングワイヤ5を介して
接続するために絶縁層上に配線層のパターン8を形成す
る。そして金属基板1上の一部に金属露出部分を形成
し、その部分に導電性接着剤2を使用してデバイス4を
固着する。デバイス4は、ボンディングワイヤ5を介し
て信号及びVDD用の配線層のパターン8に接続され、G
NDはボンディングワイヤ5によって金属基板1へ接続
される。デバイス4のGNDが金属基板1に接続される
ことによって金属基板1全体をGNDとして使用できる
ため大幅なGND強化が計れると共に板状であるために
インダクタンスを大幅に軽減できる。またGNDを金属
基板1で形成するため従来のGNDピン数分を信号に割
当てることができ、パッケージのピンを効率よく使用す
ることができる。その上金属基板1は放熱機能を有する
ためデバイスの熱を効率よく放熱し熱抵抗を減少させ
る。
る。図1は、本発明の一実施例の樹脂封止型パッケージ
の断面図である。放熱性のある金属基板1上にリードフ
レーム6とデバイス4をボンディングワイヤ5を介して
接続するために絶縁層上に配線層のパターン8を形成す
る。そして金属基板1上の一部に金属露出部分を形成
し、その部分に導電性接着剤2を使用してデバイス4を
固着する。デバイス4は、ボンディングワイヤ5を介し
て信号及びVDD用の配線層のパターン8に接続され、G
NDはボンディングワイヤ5によって金属基板1へ接続
される。デバイス4のGNDが金属基板1に接続される
ことによって金属基板1全体をGNDとして使用できる
ため大幅なGND強化が計れると共に板状であるために
インダクタンスを大幅に軽減できる。またGNDを金属
基板1で形成するため従来のGNDピン数分を信号に割
当てることができ、パッケージのピンを効率よく使用す
ることができる。その上金属基板1は放熱機能を有する
ためデバイスの熱を効率よく放熱し熱抵抗を減少させ
る。
【0006】次に、図2に本発明の一実施例の表面図を
示す。本発明は絶縁層3上に形成した配線層のパターン
8によってパッド9とリードフレーム6を接続するた
め、リードフレームとの直接接続に比べパターン形状に
自由度及び強度があるので、ボンディング及びリードフ
レームの接続が容易になる。またワイヤーボンディング
により接続できるので、タブテープによる方法より組立
が容易である。配線層のパターン8の形状を工夫するこ
とによってインダクタンスを減少できる。
示す。本発明は絶縁層3上に形成した配線層のパターン
8によってパッド9とリードフレーム6を接続するた
め、リードフレームとの直接接続に比べパターン形状に
自由度及び強度があるので、ボンディング及びリードフ
レームの接続が容易になる。またワイヤーボンディング
により接続できるので、タブテープによる方法より組立
が容易である。配線層のパターン8の形状を工夫するこ
とによってインダクタンスを減少できる。
【0007】図3は、本発明の第2の実施例の樹脂封止
型パッケージの表面図である。これは、図1の一実施例
に加えて、金属基板1の一部を厚い絶縁層10によって
分離し、VDD用金属基板11を形成する。これによって
VDDのピン数を節約することができ、VDDのインダクタ
ンスが減少する。またVDD用金属基板11が図3のよう
な形状を取ることによりボンディングワイヤを短くでき
コーナ部分でのボンディングワイヤ長の増加を抑えイン
ダクタンス増加を抑えられる。
型パッケージの表面図である。これは、図1の一実施例
に加えて、金属基板1の一部を厚い絶縁層10によって
分離し、VDD用金属基板11を形成する。これによって
VDDのピン数を節約することができ、VDDのインダクタ
ンスが減少する。またVDD用金属基板11が図3のよう
な形状を取ることによりボンディングワイヤを短くでき
コーナ部分でのボンディングワイヤ長の増加を抑えイン
ダクタンス増加を抑えられる。
【0008】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、金属基板
1上に絶縁層3を介してパターン形成された配線層8を
有し、金属基板1の一部に金属露出部分を持ち、その金
属露出部分にデバイス4を固着し、デバイス4のGND
がワイヤボンディングで金属露出部分が接続されている
ことにより、金属基板1がGNDピンの働きをするの
で、パッケージのピンにGNDを割り当てる必要がなく
ピンを効果的に使用できる。GNDが平板なのでインダ
クタンスを減少できる。広くGNDを取れるので、GN
D強化ができる。また、パターン形成された配線層でデ
バイスとリードフレームが接続されるので、パターン形
状を工夫することによりステッチ間隔の狭いリードフレ
ームを作成する必要がない。インダクタンスも減少させ
られ、強度も保てる。また、金属基板1の一部を厚い絶
縁層で分割することによりVDDも形成でき、VDDの強
化、インダクタンスの減少という効果を有する。
1上に絶縁層3を介してパターン形成された配線層8を
有し、金属基板1の一部に金属露出部分を持ち、その金
属露出部分にデバイス4を固着し、デバイス4のGND
がワイヤボンディングで金属露出部分が接続されている
ことにより、金属基板1がGNDピンの働きをするの
で、パッケージのピンにGNDを割り当てる必要がなく
ピンを効果的に使用できる。GNDが平板なのでインダ
クタンスを減少できる。広くGNDを取れるので、GN
D強化ができる。また、パターン形成された配線層でデ
バイスとリードフレームが接続されるので、パターン形
状を工夫することによりステッチ間隔の狭いリードフレ
ームを作成する必要がない。インダクタンスも減少させ
られ、強度も保てる。また、金属基板1の一部を厚い絶
縁層で分割することによりVDDも形成でき、VDDの強
化、インダクタンスの減少という効果を有する。
【図1】本発明の樹脂封止型半導体装置の一実施例の断
面図。
面図。
【図2】図1に示す半導体装置の表面図。
【図3】本発明の第2の実施例を示す表面図。
【図4】従来例を示す断面図。
【図5】他の従来例を示す断面図。
1 金属基板 2 導電性接着剤 3 絶縁層 4 デバイス 5 ボンディングワイヤ 6 リードフレーム 7 モールド樹脂 8 配線層 9 パッド 10 厚い絶縁層 11 VDD用金属基板
Claims (2)
- 【請求項1】 放熱機能を有する金属基板上に絶縁層を
介してパターン形成された配線層を有し、前記金属基板
上の一部に予め形成された金属露出部分にデバイスを固
着するとともに前記金属露出部分と前記デバイスのGN
D端をワイヤーボンドで接続したことを特徴とする樹脂
封止型半導体装置。 - 【請求項2】 前記金属露出部分の一部を絶縁層で分離
し、分離した金属露出部分の一方に前記デバイスのGN
D端を他方に前記デバイスのVDD電源端をワイヤーボン
ドで接続したことを特徴とする請求項2記載の樹脂封止
型半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5326677A JP2646988B2 (ja) | 1993-12-24 | 1993-12-24 | 樹脂封止型半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5326677A JP2646988B2 (ja) | 1993-12-24 | 1993-12-24 | 樹脂封止型半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07183422A true JPH07183422A (ja) | 1995-07-21 |
JP2646988B2 JP2646988B2 (ja) | 1997-08-27 |
Family
ID=18190430
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5326677A Expired - Fee Related JP2646988B2 (ja) | 1993-12-24 | 1993-12-24 | 樹脂封止型半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2646988B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007514320A (ja) * | 2003-12-09 | 2007-05-31 | ゲルコアー リミテッド ライアビリティ カンパニー | 表面実装の発光チップパッケージ |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0217847U (ja) * | 1988-07-20 | 1990-02-06 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58208931A (ja) * | 1982-05-28 | 1983-12-05 | Inoue Japax Res Inc | 磁気テ−プの製作方法 |
-
1993
- 1993-12-24 JP JP5326677A patent/JP2646988B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0217847U (ja) * | 1988-07-20 | 1990-02-06 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007514320A (ja) * | 2003-12-09 | 2007-05-31 | ゲルコアー リミテッド ライアビリティ カンパニー | 表面実装の発光チップパッケージ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2646988B2 (ja) | 1997-08-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2708320B2 (ja) | マルチチップ型半導体装置及びその製造方法 | |
US8445998B1 (en) | Leadframe structures for semiconductor packages | |
US5164817A (en) | Distributed clock tree scheme in semiconductor packages | |
JP2852178B2 (ja) | フィルムキャリアテープ | |
JPH07183422A (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
JPS63255953A (ja) | 絶縁物封止型回路装置 | |
JP2570584B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2890621B2 (ja) | 混成集積回路装置 | |
JPH0653266A (ja) | 半導体装置 | |
JPH032345B2 (ja) | ||
KR100537893B1 (ko) | 리드 프레임과 이를 이용한 적층 칩 패키지 | |
JP2990120B2 (ja) | 半導体装置 | |
JPH08279590A (ja) | マルチチップモジュール型lsiおよびそのパッケージ組み立て方法 | |
US6323541B1 (en) | Structure for manufacturing a semiconductor die with copper plated tapes | |
JP3192238B2 (ja) | 半導体装置の組立方法 | |
KR100525091B1 (ko) | 반도체 패키지 | |
JPH0888310A (ja) | 樹脂封止半導体装置 | |
JP2000269376A (ja) | 半導体装置 | |
JPH05291487A (ja) | 半導体リードフレーム | |
JPH05291345A (ja) | 半導体装置 | |
KR980012384A (ko) | 내부리드 선단이 차별화된 리드프레임 | |
JPH0974167A (ja) | 半導体モジュール | |
JP2795245B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
JPS59207647A (ja) | 半導体装置およびリ−ドフレ−ム | |
JPH0595018A (ja) | 半導体装置の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19961022 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19970408 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |