JPH07169996A - 強誘電体薄膜素子 - Google Patents

強誘電体薄膜素子

Info

Publication number
JPH07169996A
JPH07169996A JP5316192A JP31619293A JPH07169996A JP H07169996 A JPH07169996 A JP H07169996A JP 5316192 A JP5316192 A JP 5316192A JP 31619293 A JP31619293 A JP 31619293A JP H07169996 A JPH07169996 A JP H07169996A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thin film
ferroelectric thin
ferroelectric
site metal
film element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5316192A
Other languages
English (en)
Inventor
Nobuaki Nagao
宣明 長尾
Takayuki Takeuchi
孝之 竹内
Kenji Iijima
賢二 飯島
Tatsuro Kawamura
達朗 河村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP5316192A priority Critical patent/JPH07169996A/ja
Publication of JPH07169996A publication Critical patent/JPH07169996A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 セラミックス薄膜を用いた各種薄膜デバイス
素子に使用される強誘電体薄膜において、結晶中の格子
欠陥が極めて少なく、結晶性、強誘電特性に優れた強誘
電体薄膜素子を提供する。 【構成】 (100)で劈開し鏡面研磨したMgO単結
晶基板1の上に、スパッタリング法によって膜厚0.2
μmのPt薄膜を堆積し、下部電極2を形成する。下部
電極2の上に、高周波マグネトロンスパッタリング法に
よって強誘電体薄膜3を3μmだけ成長させる。強誘電
体薄膜3としては、Aサイト金属とBサイト金属のモル
比(A/B)が1.0以上の組成であるABO3 型ペロ
ブスカイト構造を有する強誘電体薄膜を用いる。強誘電
体薄膜3の上に、スパッタリング法によって膜厚0.2
μmのPt薄膜を堆積し、上部電極4を形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、強誘電体薄膜を用いた
赤外線検出素子、電気光学効果素子、不揮発性メモリ、
圧電素子などの誘電体薄膜素子に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、強誘電体の焦電性、圧電性、分極
反転等の物性を用いたセンサー素子や不揮発性メモリ等
のデバイスが各種提案されている。
【0003】鉛系酸化物強誘電体であるPLTやPZT
は、焦電効果、圧電効果、電気光学効果が大きく、ま
た、残留分極が大きく抗電界が小さいために、優れた材
料として薄膜素子への応用が期待されている。
【0004】通常、これらの材料を薄膜化する場合に
は、基板上に形成した電極上にスパッタリング法、CV
D法、ゾル−ゲル法等によって作製している。尚、この
場合には、強誘電性を発現するペロブスカイト相を得る
ために、600℃以上の基板温度が必要である。
【0005】しかし、酸化鉛(PbO)は蒸気圧が高い
ので、このような高い基板温度では、一度基板上に付着
したPbOが再蒸発して薄膜の組成ズレが生じ、薄膜の
結晶中の格子欠陥が多数生成するために緻密な膜とはな
らず、自発分極が小さくリークの多い薄膜となってしま
う。
【0006】このように従来の鉛系酸化物を用いた強誘
電体薄膜素子はAサイト金属が不足した欠陥の多い薄膜
を使用しているため、本来の強誘電性特性が得られてい
ない。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来の強
誘電体薄膜素子では、薄膜の結晶中の格子欠陥が多数存
在し、緻密な膜とはならず、このため自発分極が小さ
く、また、リークが増加し薄膜の強誘電特性を著しく劣
化させるという問題点を有していた。
【0008】本発明は、上記従来技術の課題を解決する
ため、結晶性、強誘電特性に優れた強誘電体薄膜素子を
提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る強誘電体薄膜素子の構成は、基板上に
形成された第1の電極と、前記第1の電極上に形成され
た強誘電体薄膜と、前記強誘電体薄膜上に形成された第
2の電極とを少なくとも備えた強誘電体薄膜素子であっ
て、前記強誘電体薄膜がABO3 型ペロブスカイト構造
を有する酸化物強誘電体であり、前記強誘電体薄膜中の
Aサイト金属とBサイト金属のモル比(A/B)が1.
0以上の組成であることを特徴とする。
【0010】また、前記構成においては、強誘電体薄膜
が鉛、チタンを主成分とするのが好ましい。また、前記
構成においては、強誘電体薄膜が少なくとも鉛、ランタ
ン、チタンを主成分とするのが好ましい。
【0011】また、前記構成においては、強誘電体薄膜
が少なくとも鉛、チタン、ジルコニウムを主成分とする
のが好ましい。また、前記構成においては、強誘電体薄
膜がバリウム、ストロンチウム、チタンのうち少なくと
もいずれか2つ、又は3つ全てを主成分とするのが好ま
しい。
【0012】また、前記構成においては、強誘電体薄膜
中のAサイト金属の一部をアルカリ土類金属で置換した
ものであるのが好ましい。また、前記構成においては、
強誘電体薄膜中のBサイト金属の一部をマンガンで置換
したものであるのが好ましい。
【0013】
【作用】前記本発明の構成によれば、上部電極と下部電
極との間に、Bサイト金属に対するAサイト金属の組成
比が化学量論比よりも過剰に含まれる強誘電体薄膜を使
用するものであるため、Aサイト金属がBサイト金属に
対して化学量論組成比以下の薄膜を使用した場合と異な
り、強誘電体薄膜が格子欠陥の極めて少ないペロブスカ
イト型の結晶構造を有することとなり、その結果、薄膜
が緻密化するために自発分極が大きくなり、また同時
に、リークが減少することにより焦電特性に優れた強誘
電体薄膜素子を実現することができる。
【0014】
【実施例】以下、実施例を用いて本発明をさらに具体的
に説明する。 (実施例1)図1は本発明に係る強誘電体薄膜素子の一
実施例を示す断面図である。
【0015】(100)で劈開し鏡面研磨したMgO単
結晶を基板1とし、まず、基板1の上に、スパッタリン
グ法によって膜厚0.2μmのPt薄膜を堆積し、下部
電極2を形成した。次いで、下部電極2の上に、高周波
マグネトロンスパッタリング法によって強誘電体薄膜3
を3μm成長させた。尚、スパッタリングターゲットと
しては、下記(数1)で表記される酸化物の粉末を用い
た。
【0016】
【数1】
【0017】次いで、強誘電体薄膜3の上に、スパッタ
リング法によって膜厚0.2μmのPt薄膜を堆積し、
上部電極4を形成した。以上のようにして作製した強誘
電体薄膜素子の焦電特性を測定したところ、下記(表
1)のような結果を得た。尚、強誘電体薄膜には分極処
理を施していない。
【0018】
【表1】
【0019】この(表1)から明らかなように、本実施
例1による強誘電体薄膜素子は、焦電係数が7.5倍に
向上しリークが少ないために、tanδが小さいという
点で優れた焦電効果を発揮することができる。
【0020】以上のように本実施例1によれば、下部電
極2と上部電極4との間に、Aサイト金属とBサイト金
属のモル比(A/B)が1.0以上の組成であるABO
3 型ペロブスカイト構造を有する強誘電体薄膜層を設け
たことにより、リークが少なく焦電特性に優れた強誘電
体薄膜素子を実現することができた。
【0021】尚、本実施例1においては、強誘電体薄膜
3のAサイト金属として鉛を用いているが、必ずしもこ
の構成に限定されるものではなく、その一部をアルカリ
土類金属であるマグネシウム、カルシウム等に置換した
ものであっても同様の効果を得ることができる。
【0022】また、本実施例1においては、強誘電体薄
膜3のBサイト金属としてチタンを用いているが、必ず
しもこの構成に限定されるものではなく、その一部をマ
ンガンに置換したものであっても同様の効果を得ること
ができる。
【0023】(実施例2)本実施例2で作製した強誘電
体薄膜素子の構成は図1と同様である。本実施例2が実
施例1と異なる点は、強誘電体薄膜3に(Pb、La)
TiO3 薄膜を用いた点である。尚、スパッタリングタ
ーゲットとしては、下記(数2)で表記される酸化物の
粉末を用いた。
【0024】
【数2】
【0025】以上のように構成された強誘電体薄膜素子
の焦電特性を測定したところ、下記(表2)のような結
果を得た。尚、本実施例2においても、実施例1と同様
に強誘電体薄膜には分極処理を施していない。
【0026】
【表2】
【0027】この(表2)から明らかなように、本実施
例2による強誘電体薄膜素子は、焦電係数が4.9倍に
向上しリークが少ないために、tanδが小さいという
点で優れた焦電効果を発揮することができる。
【0028】以上のように本実施例2によれば、下部電
極2と上部電極4との間に、Aサイト金属とBサイト金
属のモル比(A/B)が1.0以上の組成であるABO
3 型ペロブスカイト構造を有する強誘電体薄膜層を設け
たことにより、リークが少なく焦電特性に優れた強誘電
体薄膜素子を実現することができた。
【0029】尚、本実施例2においては、強誘電体薄膜
3のAサイト金属として鉛、ランタンを用いているが、
必ずしもこの構成に限定されるものではなく、その一部
をアルカリ土類金属であるマグネシウム、カルシウム等
に置換したものであっても同様の効果を得ることができ
る。
【0030】また、本実施例2においては、強誘電体薄
膜3のBサイト金属としてチタンを用いているが、必ず
しもこの構成に限定されるものではなく、その一部をマ
ンガンに置換したものであっても同様の効果を得ること
ができる。
【0031】(実施例3)本実施例3で作製した強誘電
体薄膜素子の構成は図1と同様である。本実施例3が実
施例1と異なる点は、強誘電体薄膜3にPb(Zr、T
i)O3 薄膜を用いた点である。尚、スパッタリングタ
ーゲットとしては、下記(数3)で表記される酸化物の
粉末を用いた。
【0032】
【数3】
【0033】以上のように構成された強誘電体薄膜素子
の焦電特性を測定したところ、下記(表3)のような結
果を得た。尚、本実施例3においても、実施例1と同様
に強誘電体薄膜には分極処理を施していない。
【0034】
【表3】
【0035】この(表3)から明らかなように、本実施
例3による強誘電体薄膜素子は、焦電係数が3.6倍に
向上しリークが少ないために、tanδが小さいという
点で優れた焦電効果を発揮することができる。
【0036】以上のように本実施例3によれば、下部電
極2と上部電極4との間に、Aサイト金属とBサイト金
属のモル比(A/B)が1.0以上の組成であるABO
3 型ペロブスカイト構造を有する強誘電体薄膜層を設け
たことにより、リークが少なく焦電特性に優れた強誘電
体薄膜素子を実現することができた。
【0037】尚、本実施例3においては、強誘電体薄膜
3のAサイト金属として鉛を用いているが、必ずしもこ
の構成に限定されるものではなく、その一部をアルカリ
土類金属であるマグネシウム、カルシウム等に置換した
ものであっても同様の効果を得ることができる。
【0038】また、本実施例3においては、強誘電体薄
膜3のBサイト金属としてジルコニウム、チタンを用い
ているが、必ずしもこの構成に限定されるものではな
く、その一部をマンガンに置換したものであっても同様
の効果を得ることができる。
【0039】(実施例4)本実施例4で作製した強誘電
体薄膜素子の構成は図1と同様である。本実施例4が実
施例1と異なる点は、強誘電体薄膜3に(Ba、Sr)
TiO3 薄膜を用いた点である。尚、スパッタリングタ
ーゲットとしては、下記(数4)で表記される酸化物の
粉末を用いた。
【0040】
【数4】
【0041】以上のように構成された強誘電体薄膜素子
の焦電特性を測定したところ、下記(表4)のような結
果を得た。尚、本実施例4においても、実施例1と同様
に強誘電体薄膜には分極処理を施していない。
【0042】
【表4】
【0043】この(表4)から明らかなように、本実施
例4による強誘電体薄膜素子は、焦電係数が1.8倍に
向上しリークが少ないために、tanδが小さいという
点で優れた焦電効果を発揮することができる。
【0044】以上のように本実施例4によれば、下部電
極2と上部電極4との間に、Aサイト金属とBサイト金
属のモル比(A/B)が1.0以上の組成であるABO
3 型ペロブスカイト構造を有する強誘電体薄膜層を設け
たことにより、リークが少なく焦電特性に優れた強誘電
体薄膜素子を実現することができた。
【0045】尚、本実施例4においては、強誘電体薄膜
3のAサイト金属としてバリウム、ストロンチウムを用
いているが、必ずしもこの構成に限定されるものではな
く、その一部をアルカリ土類金属であるマグネシウム、
カルシウム等に置換したものであっても同様の効果を得
ることができる。
【0046】また、本実施例4においては、強誘電体薄
膜3のBサイト金属としてチタンを用いているが、必ず
しもこの構成に限定されるものではなく、その一部をマ
ンガンに置換したものであっても同様の効果を得ること
ができる。
【0047】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る強誘
電体薄膜素子によれば、上部電極と下部電極との間に、
Bサイト金属に対するAサイト金属の組成比が化学量論
比よりも過剰に含まれる強誘電体薄膜を使用するもので
あるため、Aサイト金属がBサイト金属に対して化学量
論組成比以下の薄膜を使用した場合と異なり、強誘電体
薄膜が格子欠陥の極めて少ないペロブスカイト型の結晶
構造を有することとなり、その結果、薄膜が緻密化する
ために自発分極が大きくなり、また同時に、リークが減
少することにより焦電特性に優れた強誘電体薄膜素子を
実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る強誘電体薄膜素子の一実施例を示
す断面図である。
【符号の説明】
1 MgO基板 2 白金下部電極 3 強誘電体薄膜 4 白金上部電極
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 河村 達朗 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板上に形成された第1の電極と、前記
    第1の電極上に形成された強誘電体薄膜と、前記強誘電
    体薄膜上に形成された第2の電極とを少なくとも備えた
    強誘電体薄膜素子であって、前記強誘電体薄膜がABO
    3 型ペロブスカイト構造を有する酸化物強誘電体であ
    り、前記強誘電体薄膜中のAサイト金属とBサイト金属
    のモル比(A/B)が1.0以上の組成であることを特
    徴とする強誘電体薄膜素子。
  2. 【請求項2】 強誘電体薄膜が鉛、チタンを主成分とす
    る請求項1に記載の強誘電体薄膜素子。
  3. 【請求項3】 強誘電体薄膜が少なくとも鉛、ランタ
    ン、チタンを主成分とする請求項1に記載の強誘電体薄
    膜素子。
  4. 【請求項4】 強誘電体薄膜が少なくとも鉛、チタン、
    ジルコニウムを主成分とする請求項1に記載の強誘電体
    薄膜素子。
  5. 【請求項5】 強誘電体薄膜がバリウム、ストロンチウ
    ム、チタンのうち少なくともいずれか2つ、又は3つ全
    てを主成分とする請求項1に記載の強誘電体薄膜素子。
  6. 【請求項6】 強誘電体薄膜中のAサイト金属の一部を
    アルカリ土類金属で置換した請求項1から5のいずれか
    に記載の強誘電体薄膜素子。
  7. 【請求項7】 強誘電体薄膜中のBサイト金属の一部を
    マンガンで置換した請求項1から6のいずれかに記載の
    強誘電体薄膜素子。
JP5316192A 1993-12-16 1993-12-16 強誘電体薄膜素子 Pending JPH07169996A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5316192A JPH07169996A (ja) 1993-12-16 1993-12-16 強誘電体薄膜素子

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5316192A JPH07169996A (ja) 1993-12-16 1993-12-16 強誘電体薄膜素子

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07169996A true JPH07169996A (ja) 1995-07-04

Family

ID=18074328

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5316192A Pending JPH07169996A (ja) 1993-12-16 1993-12-16 強誘電体薄膜素子

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07169996A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8080924B2 (en) 2008-10-06 2011-12-20 Seiko Epson Corporation Liquid ejecting head, liquid ejecting apparatus, and actuator device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8080924B2 (en) 2008-10-06 2011-12-20 Seiko Epson Corporation Liquid ejecting head, liquid ejecting apparatus, and actuator device
US8461747B2 (en) 2008-10-06 2013-06-11 Seiko Epson Corporation Liquid ejecting head, liquid ejecting apparatus, and actuator device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3929513B2 (ja) 誘電体キャパシタおよびその製造方法
US7368172B2 (en) Membrane multi-layer structure, and actuator element, capacitive element and filter element using the same
JP3341357B2 (ja) 圧電体薄膜素子
JP3480624B2 (ja) 強誘電体薄膜被覆基板、その製造方法、及びキャパシタ構造素子
KR100476867B1 (ko) 강유전체기억소자 및 그 제조방법
JP2008042069A (ja) 圧電体素子とその製造方法
JP3182909B2 (ja) 強誘電体キャパシタの製造方法及び強誘電体メモリ装置の製造方法
JPH07106658A (ja) 薄膜材料
JP2001354497A (ja) 強誘電体膜の製造方法
JPH08186182A (ja) 強誘電体薄膜素子
JP3210007B2 (ja) 半導体装置
JPH07169996A (ja) 強誘電体薄膜素子
JPH04206871A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP3138128B2 (ja) 誘電体薄膜構造物
JP3267278B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP3267277B2 (ja) 強誘電体キャパシタの製造方法及び強誘電体メモリ装置の製造方法
JP3363091B2 (ja) 誘電体メモリの製造方法
JP2000082796A (ja) 半導体装置
JPH08172224A (ja) 強誘電体薄膜素子
JP3480767B2 (ja) 薄膜キャパシタ
JP2000164818A (ja) 酸化物強誘電体薄膜被覆基板の製造方法及び酸化物強誘電体薄膜被覆基板
JPH0762235B2 (ja) 強誘電体薄膜の製造方法
JP2001250923A (ja) 誘電体薄膜コンデンサ
JP2000082795A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP2568505B2 (ja) 強誘電体薄膜素子