JPH07161896A - リードフレームとその製造方法 - Google Patents

リードフレームとその製造方法

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JPH07161896A
JPH07161896A JP30289193A JP30289193A JPH07161896A JP H07161896 A JPH07161896 A JP H07161896A JP 30289193 A JP30289193 A JP 30289193A JP 30289193 A JP30289193 A JP 30289193A JP H07161896 A JPH07161896 A JP H07161896A
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dimple
lead frame
dimples
opening
initial
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Kazunobu Nakamura
村 一 宜 中
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Abstract

(57)【要約】 【目的】モールド樹脂との密着性が高いリードフレーム
およびその製造方法を提供する。 【構成】ディンプルの開口部を該ディンプルの内部の空
隙より狭くしたリードフレーム。製造方法は、初期ディ
ンプルを前記ダイパッドの片面にエッチング加工もしく
はプレス加工によって形成した後、該初期ディンプルの
開口部近傍の少なくとも一部を機械加工により変形し、
該初期ディンプルの開口部を該初期ディンプルの内部の
空隙より狭くして前記ディンプルを形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ダイパッドにディンプ
ルを有するリードフレームとその製造方法に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体パッケージに使用される
リードフレームは、金属板から形成されるもので、半導
体素子を載置するダイパッドと複数のリードとが形成さ
れたものである。このリードフレームは、そのダイパッ
ドの表面に半導体素子を載置し、この半導体素子と前記
リードとをワイヤボンディングし、このワイヤおよび半
導体素子とをモールド樹脂により封止して、半導体パッ
ケージを製造するものである。
【0003】半導体パッケージの基板への実装は、半田
をリード先端に配し、加熱炉等により加熱することによ
り一括して実装するリフロー半田付けが行われている。
半田付けを清浄に行いたいとの理由により、半田の融点
より若干高い沸点を有する溶媒を用いて、その溶媒の蒸
気が液化する際の熱を用いて半田付けするベイパーフェ
イズソルダリング(VPS法)が採用されるようになっ
てきている。
【0004】モールド樹脂の熱膨張係数は、通常200
以上である。リードフレームの熱膨張係数は、例えば4
2アロイの場合50程度であり、モールド樹脂の係数に
比べ著しく低い。このため、半導体パッケージを加熱す
ると、熱膨張によるずれが生じ、ダイパッドの裏面と樹
脂との間の密着性が低下する。また、半導体集積回路の
大容量化にともなって、半導体素子およびダイパッドが
大面積化してきており、密着性の向上が望まれている。
【0005】従来、リードフレームのダイパッドに貫通
しない穴、いわゆるディンプルを多数形成することによ
り、リードフレームとモールド樹脂との密着性の向上が
図られている。このディンプルは、図5に示すように、
半球状のものと、図6に示すように、四角錐のものとが
広く採用されている。
【0006】図5の(a)および(b)は、それぞれエ
ッチングディンプルを示す斜視図および断面図である。
エッチングディンプル31は、ダイパッド30の裏面に
形成された半球状の穴であり、板材をエッチングしてリ
ードフレームを形成する際に、ハーフエッチとして形成
されるものである。
【0007】図6の(a)および(b)は、それぞれプ
レスディンプルを示す斜視図および断面図である。プレ
スディンプル41は、ダイパッド40の裏面に形成され
た四角錐の穴であり、先端が四角錐のプレスパンチを圧
入することにより形成されるものである。
【0008】これらのようなディンプルが形成されたリ
ードフレームによれば、ディンプルの無いリードフレー
ムに比べ、リードフレームとモールド樹脂との密着性が
高い半導体パッケージを製造することができる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たようなディンプルを有するリードフレームにおいて
は、リードフレームのダイパッドとモールド樹脂との接
着面積が増えることによる密着力の増加は期待できた
が、モールド樹脂がダイパッドに引っ掛かるアンカー効
果は期待できなかった。
【0010】本発明は、上記事情に鑑みなされたもので
あり、その目的は、モールド樹脂との密着性が高いリー
ドフレームおよびその製造方法を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明に係るリードフレームは、ダイパッドの片面
に設けられた凹状のディンプルを有するリードフレーム
であって、前記ディンプルの開口部を該ディンプルの内
部の空隙より狭くしたことを特徴としている。
【0012】また、本発明に係るリードフレームの製造
方法は、ダイパッドの片面に凹状のディンプルを設けた
リードフレームを製造するに際し、初期ディンプルを前
記ダイパッドの片面にエッチング加工もしくはプレス加
工によって形成した後、該初期ディンプルの開口部近傍
の少なくとも一部を機械加工により変形し、該初期ディ
ンプルの開口部を該初期ディンプルの内部の空隙より狭
くして前記ディンプルを形成することを特徴としてい
る。ここで、前記機械加工は、前記初期ディンプルの近
傍でかつ該初期ディンプルに対して対称な位置に、パン
チを圧入して該初期ディンプルより浅い第二ディンプル
を形成し、前記初期ディンプルの開口部およびその近傍
を変形させて、該初期ディンプルの内部の空隙より該初
期ディンプルの開口部を狭くして前記ディンプルを形成
するのが好ましい。
【0013】
【作用】本発明のリードフレームによれば、モールド樹
脂で封止して半導体パッケージとした時に、樹脂とリー
ドフレームとが嵌合し、特に剪断応力に対して密着性が
向上する。
【0014】本発明のリードフレームの製造方法によれ
ば、初期ディンプルの開口部近傍の少なくとも一部を機
械加工により変形し、該初期ディンプルの開口部を該初
期ディンプルの内部の空隙より狭くするので、初期ディ
ンプルの開口部およびその近傍を狭くする変形が、塑性
変形によって容易に行うことができる。
【0015】
【実施例】以下、本発明のリードフレームを、添付の図
面に示す好適実施例に基づいて詳細に説明する。
【0016】リードフレームは、エッチングあるいはプ
レス加工によって形成されるもので、モールド樹脂によ
り封止された後に樹脂から突出するアウターリードと、
樹脂内に封入されるインナーリードと、インナーリード
先端が収束する位置に形成されたダイパッドとからなる
ものである。
【0017】図1は、本発明のリードフレームの一実施
例の部分断面図であり、この図において符号10は、ダ
イパッドである。ダイパッド10は、リードフレームの
中央あるいは側方中央部に形成されたもので、その一方
の面には、半導体素子が載置され、他方の面(以下、裏
面という)10aには、複数のディンプル11,12が
形成されている。
【0018】ディンプルは、複数の第一ディンプル11
と、それぞれの第一ディンプル11の近傍に形成された
第二ディンプル12とからなるものである。
【0019】第一ディンプル11は、板厚の半分程度の
深さの穴であり、その最深部から2/3程度の深さの深
部側面11aは、四角錐であり、好ましくはプレス加工
により形成される。第一ディンプル11の開口部11b
は、深部側面11aの上端11cの四角形のそれぞれの
辺が内側に湾曲した形状であり、浅い部分の側壁11d
は、深部側から開口部11bにいくにしたがって狭くな
っている。開口部11bの、湾曲している辺のそれぞれ
の中央の側方には、第二ディンプル12が形成されてい
る。
【0020】第二ディンプル12は、断面形状が三角形
の溝であり、前記深部側面11aの上端11cの位置と
同程度の深さである。この第二ディンプル12の外側
(第一ディンプル11と反対側)12aの側壁は、略板
材の厚み方向であり、内側(第一ディンプル11側)1
2bの側壁は、浅い側が第一ディンプル11側に傾いて
いる。
【0021】第一ディンプル11の開口部11bと第二
ディンプル12との位置関係は、開口部11bの周囲の
対称な位置に第二ディンプル12が形成されているのが
好ましく、例えば、第一ディンプル11に対して対称な
位置の2ヵ所あるいは4ヵ所に第二ディンプル12が形
成されている。
【0022】図2は、本発明のリードフレームの他の実
施例の部分断面図であり、この図において符号20は、
ダイパッドである。ダイパッド20の一方の面には、半
導体素子が載置され、裏面20aには、複数のディンプ
ル21,22が形成されている。
【0023】ディンプルは、複数の第一ディンプル21
と、それぞれの第一ディンプル21の近傍に形成された
第二ディンプル22とからなるものである。
【0024】第一ディンプル21は、板厚の半分程度の
深さの穴であり、最深部から2/3程度の深さの深部側
壁21aは、略半球面状である。開口部21bは、深部
側壁21aの上端21cの円形が、等間隔の複数箇所が
内側に湾曲した形状であり、浅い部分の側壁21dは、
深部側から開口部21bにいくにしたがって狭くなって
いる。開口部21bの、湾曲している部分の側方には、
それぞれ第二ディンプル22が形成されている。
【0025】第二ディンプル22は、断面形状が三角形
の溝であり、前記深部側面21aの上端21cの位置と
同程度の深さである。この第二ディンプル22の外側
(第一ディンプル21と反対側)22aの側壁は、略板
材の厚み方向であり、内側(第一ディンプル21側)2
2bの側壁は、浅い側が第一ディンプル11側に傾いて
いる。
【0026】第一ディンプル21の開口部21bと第二
ディンプル22との位置関係は、開口部21bの周囲の
対称な位置に第二ディンプル22が形成されているのが
好ましく、例えば、第一ディンプル21に対して対称な
位置の2ヵ所あるいは4ヵ所に第二ディンプル22が形
成されている。また、第二ディンプル22を、その中心
が開口部21bと同じ環状に形成してもよい。
【0027】次に、本発明のリードフレームの製造方法
の一実施例について説明する。
【0028】板材をエッチングあるいはプレス加工によ
り、リードおよびダイパッド10を形成する。そして、
ダイパッド10の裏面10aに、図3に示すように、板
厚の1/3程度に対応する長さの先端部分が四角錐とな
っている柱状のパンチ13を、その先端が板厚の中央付
近に達するように圧入し、初期ディンプル14を形成す
る。形成された初期ディンプル14は、深部側壁14a
が四角錐で、浅い部分の側壁14bが略板厚方向に形成
され、開口部14cが四角形になっている。
【0029】その後、図4に示すように、この初期ディ
ンプル14の開口部14cのそれぞれの辺の中央の近傍
に、楔型パンチ16を圧入する。楔型パンチ16は、一
方の面16aが平坦で、他方の面16bが前記一方の面
16aに向け傾斜しているいわゆる楔型のものである。
この楔型パンチ16の傾斜している面16bを初期ディ
ンプル14側に向けて、ダイパッド10に押し当て、前
記初期ディンプル14の深さの略1/3の深さに楔型パ
ンチ16を圧入し、第二ディンプル12を形成する。す
ると、楔型パンチ16の傾斜している面16bに押され
た板材は、初期ディンプル14側に変形し、初期ディン
プル14の浅い部分の側壁14bが内側に傾き、第一デ
ィンプル11が形成される。
【0030】なお、本発明の製造方法は、初期ディンプ
ルの形成の後に第二ディンプルを形成すればよく、他の
加工の順序を限定するものではない。例えば、板材にデ
ィンプル11,12を形成した後に、リードおよびダイ
パッド10を打ち抜いてもよい。
【0031】次に、本発明のリードフレームの製造方法
の他の実施例について説明する。
【0032】板材をエッチングしてリードおよびダイパ
ッドを形成すると同時に、ほぼ半球面状の初期ディンプ
ルをハーフエッチとしてダイパッドに形成する。ここ
で、この初期ディンプルは、その浅い部分の側壁が、略
板厚方向に形成するのが好ましい。
【0033】その後、ダイパッド裏面の前記初期ディン
プルの開口部の近傍に、前記楔型パンチ16と同様の楔
型パンチを圧入して、図2に示すような、第二ディンプ
ル22を形成するとともに、初期ディンプルの開口部お
よびその近傍を、開口部の内側に向け変形させ、第一デ
ィンプル21を形成する。
【0034】ここで、楔型パンチは、初期ディンプルに
対して対称な位置に複数箇所、例えば、4ヵ所に圧入す
るのが好ましい。また、楔型パンチ16の断面形状と同
様の断面形状を有する環状のパンチを用いて、初期ディ
ンプルの周囲に第二ディンプルを形成してもよい。
【0035】これらのようなリードフレームの製造方法
によれば、初期ディンプルの近傍にパンチを浅く打ち込
むだけで第二ディンプルおよび第一ディンプルを形成す
ることができ、また、楔型パンチの傾斜している面を初
期ディンプル側に向けて、楔型パンチを圧入するので、
この圧入の力が効率よく初期ディンプルの開口部および
その近傍を塑性変形させる力となり、歪み等を殆ど生じ
ずに第一ディンプル11,21を形成することができ
る。
【0036】上記のようなダイパッド10,20を有す
るリードフレームによれば、半導体素子を設置し、ワイ
ヤボンディングした後、モールド樹脂により封止し半導
体パッケージとした時に、樹脂とリードフレームとの密
着性がよく、樹脂がダイパッドのディンプルに嵌合しア
ンカー効果があるため特に剪断応力に強く、熱膨張に伴
う相対的ずれなどを確実に防止することができ、半導体
パッケージのリフロークラック特性を向上させることが
できる。
【0037】なお、本発明のリードフレームとその製造
方法は、上記実施例に限定されるものではなく、ダイパ
ッドに形成されるディンプルの形状は適宜変更可能であ
り、例えば、図3に示す初期ディンプル14の開口部1
4cを、開口部14cの中心側が下方に向かっているパ
ンチを開口部14cに押圧してこの開口部14cを狭く
塑性変形し、開口部が狭いディンプルを形成し第二ディ
ンプルを形成しなくてもよい。また、ディンプルの配設
位置についても、特に限定するものではなく、例えば、
ダイパッド片面の略全面に等間隔に多数配設してもよ
く、また、ダイパッドの周辺部あるいは中央部にディン
プルのない平坦部を有するように配設してもよい。
【0038】また、第二ディンプルの配設位置は、初期
ディンプルの開口部を変形させて内部の空隙より狭くす
る位置であれば特に限定するものではなく、第一ディン
プルと第二ディンプルとの距離などは、第一ディンプル
の形状および寸法等に応じて適宜変更することが可能で
ある。
【0039】(実施例)本発明のリードフレームと、従
来のダイパッドにディンプルが形成されたリードフレー
ムとを使用して、エポキシ樹脂で封止し半導体パッケー
ジを製造した。
【0040】従来例のリードフレームは、板厚150μ
mの42アロイの板材をプレス加工してリードおよびダ
イパッドを形成し、ダイパッドの裏面の略全面に、図5
(b)に示すように、深さ50μmの四角錐のディンプ
ル41を多数形成したものである。
【0041】本発明例のリードフレームは、従来例と同
様にリードおよびダイパッドを形成し、ダイパッドの裏
面に、図1に示すように、従来例のディンプル41と同
じ深さを有し、深部の形状が従来例のディンプル41と
略同じであり、第二ディンプル12の分だけ開口部11
bおよびその近傍が狭くなっている第一ディンプル11
を従来例と同様の位置に形成したものである。
【0042】それぞれのリードフレームを用いて製造さ
れた半導体パッケージについて、VPS法によるリフロ
ークラック性テストを行った。このテストは、表1に示
す時間、85℃、85%RHに曝した後、VPSを行い
パッケージクラックの有無を調べた。その結果を表1に
示す。
【0043】
【0044】表1から分かるように、従来例のリードフ
レームを使用した半導体パッケージは、72時間までし
か耐えることができなかったが、本発明例のリードフレ
ームを使用した半導体パッケージは、96時間暴露した
ものまで良好な状態であった。このことから、本発明の
リードフレームを用いた半導体パッケージは、リードフ
レームとモールド樹脂との密着が従来より強固であり、
リフロークラック特性が高いものであることが分かっ
た。
【0045】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明に係
るリードフレームによれば、半導体パッケージとしたと
きのリードフレームとモールド樹脂との密着性が向上
し、半導体パッケージのリフロークラック特性を向上さ
せることができ、信頼性が高く、そのため、取扱が容易
な半導体パッケージを製造することができる。そのた
め、半導体パッケージを従来より薄型とすることが可能
となる。
【0046】本発明のリードフレームの製造方法によれ
ば、初期ディンプルの開口部およびその近傍を狭くする
変形を、機械加工によって塑性変形させるという容易な
工程により行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係るリードフレームの一実施例の部
分断面図である。
【図2】 本発明に係るリードフレームの他の実施例の
部分断面図である。
【図3】 本発明に係るリードフレームの製造方法を説
明するための図であり、パンチとリードフレームの一部
分を示す断面図である。
【図4】 本発明に係るリードフレームの製造方法を説
明するための図であり、パンチとリードフレームの一部
分を示す断面図である。
【図5】 (a)および(b)は、それぞれ従来のリー
ドフレームのエッチングディンプルを示す斜視図および
断面図である。
【図6】 (a)および(b)は、それぞれ従来のリー
ドフレームのプレスディンプルを示す斜視図および断面
図である。
【符号の説明】
10,20 ダイパッド 11,21 第一ディンプル 11b,21b 開口部 12,22 第二ディンプル 14 初期ディンプル 16 パンチ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ダイパッドの片面に設けられた凹状のディ
    ンプルを有するリードフレームであって、 前記ディンプルの開口部を該ディンプルの内部の空隙よ
    り狭くしたことを特徴とするリードフレーム。
  2. 【請求項2】請求項1記載のリードフレームであって、 さらに、ダイパッドの片面に設けられた、前記ディンプ
    ルより浅い第二ディンプルを有し、 前記第二ディンプルを前記ディンプルの近傍でかつ該デ
    ィンプルに対して対称な位置に形成したことを特徴とす
    るリードフレーム。
  3. 【請求項3】ダイパッドの片面に凹状のディンプルを設
    けたリードフレームを製造するに際し、 初期ディンプルを前記ダイパッドの片面にエッチング加
    工もしくはプレス加工によって形成した後、 該初期ディンプルの開口部近傍の少なくとも一部を機械
    加工により変形し、該初期ディンプルの開口部を該初期
    ディンプルの内部の空隙より狭くして前記ディンプルを
    形成することを特徴とするリードフレームの製造方法。
  4. 【請求項4】前記機械加工は、前記初期ディンプルの近
    傍でかつ該初期ディンプルに対して対称な位置に、パン
    チを圧入して該初期ディンプルより浅い第二ディンプル
    を形成し、前記初期ディンプルの開口部およびその近傍
    を変形させて、該初期ディンプルの内部の空隙より該初
    期ディンプルの開口部を狭くして前記ディンプルを形成
    する請求項3に記載のリードフレームの製造方法。
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Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1202347A3 (de) * 2000-10-31 2004-03-31 W.C. Heraeus GmbH & Co. KG Verfahren zur Herstellung eines Metallträgerrahmens, Metallträgerrahmen und seine Verwendung
WO2004055889A1 (en) * 2002-12-13 2004-07-01 Freescale Semiconductor, Inc. Miniature moldlocks for heatsink or flag for an overmolded plastic package
JP2007258587A (ja) * 2006-03-24 2007-10-04 Rohm Co Ltd リードフレームおよびその製造方法並びにリードフレームを備えた半導体装置
CN103227115A (zh) * 2012-01-31 2013-07-31 新光电气工业株式会社 引线框及其制造方法和半导体装置及其制造方法
CN103515261A (zh) * 2012-06-27 2014-01-15 瑞萨电子株式会社 用于制造半导体器件的方法和半导体器件
JP2015072991A (ja) * 2013-10-02 2015-04-16 株式会社三井ハイテック リードフレーム及びその製造方法並びにそれを用いた半導体装置
JP2017208486A (ja) * 2016-05-19 2017-11-24 株式会社ミスズ工業 表面に凹凸を有する金属部材、ヒートスプレッダ、半導体パッケージ及びそれらの製造方法
US9882291B2 (en) 2014-10-31 2018-01-30 Yazaki Corporation Electric wire with terminal, and method for manufacturing same
JP2019046932A (ja) * 2017-08-31 2019-03-22 日亜化学工業株式会社 発光装置及びその製造方法
JP2021034705A (ja) * 2019-08-29 2021-03-01 Jx金属株式会社 金属板、金属樹脂複合体、半導体デバイス及び、金属板の製造方法
JP2021089914A (ja) * 2019-12-02 2021-06-10 昭和電工株式会社 放熱装置及び放熱装置の製造方法
WO2024095713A1 (ja) * 2022-11-04 2024-05-10 富士電機株式会社 半導体モジュール及び半導体モジュールの製造方法

Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1202347A3 (de) * 2000-10-31 2004-03-31 W.C. Heraeus GmbH & Co. KG Verfahren zur Herstellung eines Metallträgerrahmens, Metallträgerrahmen und seine Verwendung
WO2004055889A1 (en) * 2002-12-13 2004-07-01 Freescale Semiconductor, Inc. Miniature moldlocks for heatsink or flag for an overmolded plastic package
US7091602B2 (en) 2002-12-13 2006-08-15 Freescale Semiconductor, Inc. Miniature moldlocks for heatsink or flag for an overmolded plastic package
JP2007258587A (ja) * 2006-03-24 2007-10-04 Rohm Co Ltd リードフレームおよびその製造方法並びにリードフレームを備えた半導体装置
JP4657129B2 (ja) * 2006-03-24 2011-03-23 ローム株式会社 半導体装置の製造方法
KR20130088773A (ko) 2012-01-31 2013-08-08 신꼬오덴기 고교 가부시키가이샤 리드프레임 및 그 제조 방법과 반도체 장치 및 그 제조 방법
US8778739B2 (en) 2012-01-31 2014-07-15 Shinko Electric Industries Co., Ltd. Lead frame and method of manufacturing the same, and semiconductor device and method of manufacturing the same
CN103227115A (zh) * 2012-01-31 2013-07-31 新光电气工业株式会社 引线框及其制造方法和半导体装置及其制造方法
CN103227115B (zh) * 2012-01-31 2017-04-12 新光电气工业株式会社 引线框及其制造方法和半导体装置及其制造方法
US9741641B2 (en) 2012-06-27 2017-08-22 Renesas Electronics Corporation Method for manufacturing semiconductor device, and semiconductor device
CN103515261A (zh) * 2012-06-27 2014-01-15 瑞萨电子株式会社 用于制造半导体器件的方法和半导体器件
JP2014007363A (ja) * 2012-06-27 2014-01-16 Renesas Electronics Corp 半導体装置の製造方法および半導体装置
US9293396B2 (en) 2012-06-27 2016-03-22 Renesas Electronics Corporation Method for manufacturing semiconductor device, and semiconductor device
JP2015072991A (ja) * 2013-10-02 2015-04-16 株式会社三井ハイテック リードフレーム及びその製造方法並びにそれを用いた半導体装置
US9882291B2 (en) 2014-10-31 2018-01-30 Yazaki Corporation Electric wire with terminal, and method for manufacturing same
JP2017208486A (ja) * 2016-05-19 2017-11-24 株式会社ミスズ工業 表面に凹凸を有する金属部材、ヒートスプレッダ、半導体パッケージ及びそれらの製造方法
JP2019046932A (ja) * 2017-08-31 2019-03-22 日亜化学工業株式会社 発光装置及びその製造方法
JP2021034705A (ja) * 2019-08-29 2021-03-01 Jx金属株式会社 金属板、金属樹脂複合体、半導体デバイス及び、金属板の製造方法
WO2021039086A1 (ja) * 2019-08-29 2021-03-04 Jx金属株式会社 金属板、金属樹脂複合体、半導体デバイス及び、金属板の製造方法
JP2021089914A (ja) * 2019-12-02 2021-06-10 昭和電工株式会社 放熱装置及び放熱装置の製造方法
WO2024095713A1 (ja) * 2022-11-04 2024-05-10 富士電機株式会社 半導体モジュール及び半導体モジュールの製造方法

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