JPH07159495A - インサーキットテスタ用位置決め穴の微調整機構 - Google Patents

インサーキットテスタ用位置決め穴の微調整機構

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JPH07159495A
JPH07159495A JP5341507A JP34150793A JPH07159495A JP H07159495 A JPH07159495 A JP H07159495A JP 5341507 A JP5341507 A JP 5341507A JP 34150793 A JP34150793 A JP 34150793A JP H07159495 A JPH07159495 A JP H07159495A
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JP
Japan
Prior art keywords
positioning
base board
hole
pin
fine adjustment
Prior art date
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Pending
Application number
JP5341507A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuyoshi Onishi
一嘉 大西
Shinya Murata
眞也 村田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
COSMO TEC KK
Original Assignee
COSMO TEC KK
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Publication date
Application filed by COSMO TEC KK filed Critical COSMO TEC KK
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Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、位置決め穴の移動を可能とするイン
サーキットテスタ用位置決め穴の微調整機構を提供し、
生産ロット等の相違から来る接触ポイントのわずかな相
違に対応できるインサーキットテスタ用検査治具とする
ことを目的とする。 【構成】1、一方のベースボードに位置決めピンを立設
する。 2、他方のベースボード上に位置決め穴より大きい位置
決めピン通過孔を穿設する。 3、位置決めピン通過孔に位置決め穴となるピン挿入孔
が穿設された微調整ガイドを摺動固定可能なるよう固定
カバーにて取り付ける。 4、微調整ガイドに、上部が細く下部が太い傾斜側面
と、底面がベースボードと接触する水平面とを設ける。 5、ベースボードに固定される固定カバーを、内部に微
調整ガイドがベースボードの表面をスライド可能なる大
きさの収納部と、外部よりストッパーピンが微調整ガイ
ドの傾斜側面に当接する位置にストッパーピン装着孔が
形成されたものとする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、上面ユニット(テスト
対象部品に接触する接触ピンを有する側のユニット)
と、下面ユニット(テスト対象部品の実装されたボード
を支持する側のユニット)とを、位置決めピンと位置決
め穴とにより位置決め固定するインサーキットテスタに
おける位置決め穴の微調整機構に関するものとして開発
されたものである。
【0002】
【従来の技術】インサーキットテスタは、電子部品が実
装されたプリント基板(以下、実装基板という。)を実
装部品毎に電気的に試験する機械であり、部品接触ユニ
ットである上面ユニットと、実装ボード支持ユニットで
ある下面ユニットとよりなるもので、通常、下面ユニッ
トに位置決めピンを立設し、上面ユニットの対応する位
置に位置決め穴を穿設し、位置決めピンを位置決め穴に
挿入固定することにより、位置決めを行い接触ピンの正
確な接触ポイントへの接触を可能とするものである。
【0003】しかし、試験される実装基板は、同一内容
のものでも生産ロット等が異なると接触ポイントが微妙
に異なり、位置決め位置を微調整しなければならなかっ
た。しかし、従来、この問題を解決する具体的手段はな
く、位置決めピンを動かす等の手段により対処されてい
た。しかし、かような手段で位置決めの微調整を行うこ
とは技術ではなく技量の範囲であり、必ずしも微調整が
行えるものではなかった。その結果、微調整が行われ
ず、接触不良を起こしたり、又、無理矢理接触させよう
とすると、位置決めピンが位置決め穴に挿入不能になっ
たりするという問題が生じていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、位置決め穴
の移動を可能とするインサーキットテスタ用位置決め穴
の微調整機構を提供し、生産ロット等の相違から来る接
触ポイントのわずかな相違に対応できる精度の高い接触
ピンの接触を確保できるインサーキットテスタ用検査治
具を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するために、上面ユニットと下面ユニットのうち一方の
ベースボードに位置決めピンを立設し、他方のベースボ
ード上の位置決め穴相当位置に位置決め穴より大きい位
置決めピン通過孔を穿設し、該位置決めピン通過孔に位
置決め穴となるピン挿入孔が穿設された微調整ガイドを
摺動固定可能なるよう固定カバーにて取り付けたインサ
ーキットテスタにおいて、微調整ガイドを、上部が細く
下部が太い傾斜側面と、太い側の底面がベースボードと
接触する水平面とされたものとし、ベースボードに固定
される固定カバーを、内部に微調整ガイドがベースボー
ドの表面をスライド可能なる大きさの収納部と、外部よ
りストッパーピンが微調整ガイドの傾斜側面に当接する
位置にストッパーピン装着孔が形成されたものとしたこ
とを特徴とするインサーキットテスタ用位置決め穴の微
調整機構を提供するものである。
【0006】
【実施例】以下図示の実施例に従い詳細に説明する。図
1は、本発明の利用されるインサーキットテスタの斜視
図であり、図2は、位置決め穴の微調整機構の断面図で
あり、図3は、位置決め穴の微調整機構の分解斜視図で
あり、図4が位置決めピンと位置決め穴の関係を示す断
面説明図である。インサーキットテスタは図1に示すよ
うに下面ユニット1と上面ユニット2とを両面治具19
を支点として回動させることにより開閉自在に装着した
のもである。
【0007】図1に現れるように、上面ユニット2の回
動に対しては、下面ユニット1との間に設けられたダン
パー3により負荷が与えられている。実施例におけるダ
ンパー3はガスダンパーを用いられている。尚、本発明
における下面ユニット1は、図示されていないインター
フェースやバキュームポンプに接触され、且つ実装ボー
ドを支持する役割を持つユニットである。上面ユニット
2及び下面ユニット1の概要は、従来のものと同様の構
成であるので詳細な説明は省く。
【0008】本発明は、上面ユニット2と下面ユニット
1のうち一方のベースボード6に位置決めピン4が立設
される。図4に示される実施例では、位置決めピン4は
下面ユニット2のベースボード6の両側に立設されてい
る。そして上面ユニット1のベースボード6に位置決め
穴が設けられることになる。
【0009】上面ユニット2のベースボード6の位置決
め穴相当位置には、位置決め穴より大きい位置決めピン
通過孔7が穿設されている。該位置決めピン通過孔7に
は、位置決め穴となるピン挿入孔8が穿設された微調整
ガイド9が固定カバー10にて、固定カバー10内部で
摺動及び固定可能なる状態で取り付けられている。微調
整ガイド9は、微調整時に摺動させられ、試験時には固
定されている。
【0010】微調整ガイド9は、上部が細く下部が太い
傾斜側面11と、太い側の底面がベースボードと接触す
る水平面12とされていることが必要であり、図示の実
施例では、図2及び図3に示されるように、上部が小径
で下部が大径となる略円錐台形のもので、中央部分に位
置決めピン4と一致する太さのピン挿入孔8が穿設され
ている。
【0011】固定カバー10は、微調整ガイド9の高さ
とほぼ同じ高さを有するリング状の部材であり、上端部
で内側に向かった上端フランジ17と下端部で外側に向
かった下端フランジ18とが形成されており、上端フラ
ンジ17は、微調整ガイド9より小さく、且つ、ピン挿
入孔8より大きい空間を形成するよう構成されており、
下端部のフランジ18は、ビス16によりベースボード
6に固定されるに十分の広さで構成されている。
【0012】上面ユニット2のベースボード6に固定さ
れる固定カバー10は、内部に微調整ガイド9が、上面
ユニット2のベースボード6の表面をスライド可能なる
大きさ(広さ)の収納部13と、外部よりストッパーピ
ン15が微調整ガイド9の傾斜側面11に当接する位置
にストッパーピン装着孔14が形成されたものである。
図3に示す実施例におけるストッパーピン装着孔14
は、固定カバー10の側面3ヶ所で水平方向に穿設され
ている。
【0013】ストッパーピン15は、微調整ガイド9を
固定する部材であり、所謂イモねじが用いられており、
ストッパーピン15は、ストッパーピン装着孔14内に
隠れている。又、ストッパーピン15の先端で微調整ガ
イド9の傾斜側面11との当接面は、両者が面接触可能
なるよう傾斜側面11と等しいテーパ面に形成されてい
る。
【0014】上面ユニット2は、固定フレーム20と可
動のベースボード6よりなり、ダンパー3は固定フレー
ム20の外側の側面に取り付けられている。ベースボー
ド6は、図4に誇張して示されているが、固定フレーム
20の内側の寸法よりほんの少し小さめの大きさで、固
定フレーム20内の上部ストッパー21と下部ストッパ
ー22との間に装着され、下部ストッパー22側よりス
プリング23により上部ストッパー21側に、バキュー
ムポンプの吸引力で下降可能な程度で付勢されている。
従って固定フレーム20と可動のベースボード6と間に
は前後左右上下とも若干の緩衝空間が設けられているこ
とになる。
【0015】上面ユニット2はダンパー圧力を受けてい
るが、ダンパー3の圧力は上面ユニット2の固定フレー
ム20が受けている。従ってダンパー3の圧力により固
定フレーム20自体が、ずれる危険性を有している。し
かし、固定フレーム20と接触ピン24が打ち込まれて
いる可動のベースボード6とは固定されていない。可動
のベースボード6は、固定フレーム20の内側の寸法よ
り小さく、両者の間に緩衝空間が存在するため、可動の
ベースボード6に固定フレーム20が受けたダンパー3
の圧力の影響を受けることがない。従って可動のベース
ボード6に打ち込まれた接触ピン24にも影響を与える
ことはない。
【0016】
【発明の効果】次に、本発明の作用とともに発揮する効
果に付いて説明する。上部ユニット2の位置決めピン通
過孔7の範囲内に微調整ガイド9のピン挿入孔8が位置
するよう第1回目の位置決め位置が決定されている。こ
の状態では、固定カバー10のストッパーピン15にて
微調整ガイド9は固定されている。
【0017】微調整が必要な実装ボードをテストする際
に、微調整作業に入る。微調整作業は、まず固定カバー
10のストッパーピン15を緩め、微調整ガイド9が摺
動可能なるようにする。必要量だけ微調整ガイド9を移
動させて、ピン挿入孔8の位置を修正する。その後、ス
トッパーピン15を締め、微調整ガイド9を固定する。
かようにして微調整作業を終了するのである。
【0018】本発明は、上記のように構成され作用する
ため、ストッパーピン15を緩めて、微調整ガイド9を
移動させるのみで、位置決め位置の微調整が可能であ
り、生産ロット等の相違から来る接触ポイントのわずか
な相違に対応でき、精度の高い接触ピンの接触を確保で
きることとなった。
【0019】又、微調整ガイド9を、上部が細く下部が
太い傾斜側面11とし、該傾斜側面11にストッパーピ
ン15を当接させて固定するものであるため、しっかり
した固定ができるのみならず、底面がベースボード6と
接触する水平面12とされたものであるので、ストッパ
ーピン15を強く締めることにより、水平面12がベー
スボード6と強く密着する。通常ベースボード6の表面
の平面精度は極めて高いものであるため、微調整ガイド
9のピン挿入孔8の方向性を正確に決定することが可能
である。
【0020】実施例の効果であるが、ストッパーピン1
5が、所謂イモねじで、通常はストッパーピン装着孔1
4内に隠れているためインサーキットテスタ使用時の配
線の邪魔にならず。又、ストッパーピン15の先端で微
調整ガイド9の傾斜側面11との当接面は、両者が面接
触可能なるよう傾斜側面11と等しいテーパ面に形成さ
れているため安定した締め付けが可能となった。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の利用されるインサーキットテスタの
斜視図
【図2】 位置決め穴の微調整機構の断面図
【図3】 位置決め穴の微調整機構の分解斜視図
【図4】 位置決めピンと位置決め穴の関係を示す断面
説明図
【符号の説明】
1.....下面ユニット 2.....上面ユニット 3.....ダンパー 4.....位置決めピン 5.....固定フレーム 6.....ベースボード 7.....位置決めピン通過孔 8.....ピン挿入孔 9.....微調整ガイド 10....固定カバー 11....傾斜側面 12....水平面 13....収納部 14....ストッパーピン装着孔 15....ストッパーピン 16....ビス 17....上端フランジ 18....下端フランジ 19....両面治具 20....固定フレーム 21....上部ストッパー 22....下部ストッパー 23....スプリング 24....接触ピン

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】上面ユニットと下面ユニットのうち一方の
    ベースボードに位置決めピンを立設し、他方のベースボ
    ード上の位置決め穴相当位置に位置決め穴より大きい位
    置決めピン通過孔を穿設し、該位置決めピン通過孔に位
    置決め穴となるピン挿入孔が穿設された微調整ガイドを
    摺動固定可能なるよう固定カバーにて取り付けたインサ
    ーキットテスタにおいて、微調整ガイドを、上部が細く
    下部が太い傾斜側面と、太い側の底面がベースボードと
    接触する水平面とされたものとし、ベースボードに固定
    される固定カバーを、内部に微調整ガイドがベースボー
    ドの表面をスライド可能なる大きさの収納部と、外部よ
    りストッパーピンが微調整ガイドの傾斜側面に当接する
    位置にストッパーピン装着孔が形成されたものとしたこ
    とを特徴とするインサーキットテスタ用位置決め穴の微
    調整機構。
JP5341507A 1993-12-10 1993-12-10 インサーキットテスタ用位置決め穴の微調整機構 Pending JPH07159495A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5341507A JPH07159495A (ja) 1993-12-10 1993-12-10 インサーキットテスタ用位置決め穴の微調整機構

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JP5341507A JPH07159495A (ja) 1993-12-10 1993-12-10 インサーキットテスタ用位置決め穴の微調整機構

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Publication Number Publication Date
JPH07159495A true JPH07159495A (ja) 1995-06-23

Family

ID=18346602

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JP5341507A Pending JPH07159495A (ja) 1993-12-10 1993-12-10 インサーキットテスタ用位置決め穴の微調整機構

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JP (1) JPH07159495A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6097198A (en) * 1997-01-10 2000-08-01 Jsr Corporation Inspection jig
CN104392952A (zh) * 2014-09-30 2015-03-04 苏州速腾电子科技有限公司 一种芯片专用夹具

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