JP2541191Y2 - フローティングガイド付きハンドラ用キャリア - Google Patents

フローティングガイド付きハンドラ用キャリア

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JP2541191Y2
JP2541191Y2 JP1991077840U JP7784091U JP2541191Y2 JP 2541191 Y2 JP2541191 Y2 JP 2541191Y2 JP 1991077840 U JP1991077840 U JP 1991077840U JP 7784091 U JP7784091 U JP 7784091U JP 2541191 Y2 JP2541191 Y2 JP 2541191Y2
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JP
Japan
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carrier
guide
socket
handler
floating guide
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JP1991077840U
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Inventor
荒川　　修
晃弘 門奈
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安藤電気株式会社
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Publication date
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Description

【考案の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】この考案は、多数のＩＣを同時に
測定することができるフローティングガイド付きハンド
ラ用キャリアについてのものである。
【０００２】
【従来の技術】次に、従来技術によるハンドラ用キャリ
アの構成を図３により説明する。図３の１１はキャリ
ア、１２は測定用のＩＣソケット、１３はＩＣ支持板、
１４は測定されるＩＣである。
【０００３】キャリア１１は多数のＩＣ１４を支持板１
３に載せ、搬送する。図３はキャリア１１を移動し、キ
ャリア１１内のＩＣ１４とＩＣソケット１２を接触させ
た状態図であり、ＩＣソケット１２からテスト信号を送
り、ＩＣ１４をテストする。
【０００４】
【考案が解決しようとする課題】図３のＩＣ１４が１個
または少数の場合はよいが、多数のＩＣ１４を同時に測
定する場合は、キャリア１１の熱膨脹や加工精度などの
関係でＩＣ１４とＩＣソケット１２を確実に接触させ、
ＩＣ１４を測定するのが困難になる。
【０００５】この考案は、キャリア内に微動できるフロ
ーティングガイドを組み込み、ＩＣソケットに設けたガ
イドピンをフローティングガイドに設けたガイド穴に挿
入することにより、キャリアが熱膨脹等の影響を受けて
も、多数のＩＣをＩＣソケットに確実に挿入することが
できるハンドラ用キャリアの提供を目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この考案では、キャリア１に微動状態で組み込ま
れ、下面にガイド穴２Ａがあけられ、上面にＩＣ５を保
持する凹部２Ｂが設けられるフローティングガイド２
と、ガイド穴２Ａに挿入されるガイドピン３Ａが取り付
けられるＩＣソケット３とを備える。
【０００７】
【作用】次に、この考案によるハンドラ用キャリアの構
成を図１により説明する。図１の１はキャリア、２はフ
ローティングガイド、２Ａはフローティングガイド２の
下面に設けられたガイド穴、２Ｂはフローティングガイ
ド２の上面に設けられたＩＣ５の保持用凹部、３はＩＣ
ソケット、３ＡはＩＣソケットに取り付けられたガイド
ピン、４は基板、５はＩＣである。フローティングガイ
ド２は凹部２ＢにＩＣ５を保持し、キャリア１に微動状
態で組み込まれる。したがって、フローティングガイド
２内のＩＣ５は、キャリア１に対し微動することができ
る。ＩＣソケット３は基板４に固定され、ガイドピン３
Ａはガイド穴２Ａに挿入される
【０００８】図１の状態からキャリア１を動かし、ＩＣ
５をＩＣソケット３上に移動させる。次に、キャリア１
を下降させ、フローティングガイド２のガイド穴２Ａに
ＩＣソケット３のガイドピン３Ａを挿入させれば、測定
状態が完了する。
【０００９】次に、キャリア１の実施例の構成を図２に
より説明する。図２アはキャリア１の外観図であり、Ｉ
Ｃ５を多数載せることができる。図２イはキャリア１の
部分拡大図であり、図２ウは図２イの側面図である。図
２ウの２Ｃはフローティングガイド２に設けられたフラ
ンジであり、キャリア１にはフランジ２Ｃが微動できる
外形の凹部１Ａが形成され、フランジ２Ｃにあけられた
穴２Ｄに、キャリア１に取り付いているシャフト１Ｃを
挿入することにより、フローティングガイド２を保持す
る。
【００１０】
【考案の効果】この考案によれば、キャリア内に微動で
きるフローティングガイドを組み込み、ＩＣソケットに
設けたガイドピンをフローティングガイドに設けたガイ
ド穴に挿入するので、キャリアが熱膨脹の影響を受けて
も、多数のＩＣをＩＣソケットに確実に挿入することが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この考案によるハンドラ用キャリアの構成図で
ある。
【図２】図１のキャリア１の実施例の構成図である。
【図３】従来技術によるハンドラ用キャリアの構成図で
ある。
【符号の説明】
１ キャリア ２ フローティングガイド ２Ａ ガイド穴 ３ ＩＣソケット ３Ａ ガイドピン ４ 基板 ５ ＩＣ

Claims (1)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項１】 キャリア(1) に微動状態で組み込まれ、
    下面にガイド穴(2A)があけられ、上面にＩＣ(5) を保持
    する凹部(2B)が設けられるフローティングガイド(2)
    と、 ガイド穴(2A)に挿入されるガイドピン(3A)が取り付けら
    れるＩＣソケット(3)とを備えることを特徴とするフロ
    ーティングガイド付きハンドラ用キャリア。
JP1991077840U 1991-03-22 1991-03-22 フローティングガイド付きハンドラ用キャリア Expired - Lifetime JP2541191Y2 (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006080435A (ja) * 2004-09-13 2006-03-23 Mitsubishi Electric Corp 回路基板検査装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5819273B2 (ja) * 1977-07-27 1983-04-16 ロ−ヌ−プ−ラン アンデユストリイ 酵素組成物およびその製造法
JPH0351776A (ja) * 1989-07-19 1991-03-06 Fujitsu Ltd 半導体デバイス用ソケット

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5819273B2 (ja) * 1977-07-27 1983-04-16 ロ−ヌ−プ−ラン アンデユストリイ 酵素組成物およびその製造法
JPH0351776A (ja) * 1989-07-19 1991-03-06 Fujitsu Ltd 半導体デバイス用ソケット

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