JPH0351776A - 半導体デバイス用ソケット - Google Patents

半導体デバイス用ソケット

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Publication number
JPH0351776A
JPH0351776A JP1184582A JP18458289A JPH0351776A JP H0351776 A JPH0351776 A JP H0351776A JP 1184582 A JP1184582 A JP 1184582A JP 18458289 A JP18458289 A JP 18458289A JP H0351776 A JPH0351776 A JP H0351776A
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JP
Japan
Prior art keywords
socket
lid
carriers
carrier
main body
Prior art date
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Pending
Application number
JP1184582A
Other languages
English (en)
Inventor
Isao Yoshino
吉野 勲
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (概要〕 複数のキャリアが連ねて装着される形式の半導体デバイ
ス用ソケットに関し、 半導体デバイスの装着の自動化を図ることを目的とし、 キャリアがセットされるキャリアセット部が複数並んで
配されたソケット本体と、下面の長手方向に沿う両側に
上記キャリアを複数連ねて嵌合保持する溝を有する蓋と
、半導体デバイスが載置されたキャリアが複数保持され
た上2!蓋を上記ソケット本体に固定するクランパとよ
りなり、上記蓋がソケット本体に固定されて、半導体デ
バイスが載置された複数のキャリアが各キャリアセット
部上にセットされる様構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は複数のキャリアが連ねて装着される形式の半導
体デバイス用ソケットに関する。
被測定デバイス(半導体デバイス)は検査用ソケットに
装着されて検査される。
この検査工程において、電気特性の測定に加えて、被測
定デバイスを検査用ソケットに装着する動作も自動化さ
れる傾向にある。
従って、検査用ソケットは自動化に適した構造であるこ
とが望ましい。
〔従来の技術〕
第4図は従来のバーンインのための被測定デバイス検査
用ソケット1を示す。
2はソケット本体であり、バーンイン用ボード3上に固
定しである。
4は蓋であり、両側にクランパ5.6を有する。
7はキャリアである。
被測定デバイス8をソケット1に装着する場合には、ま
ず被測定デバイス8をキャリア7に載置する作業■を行
ない、次にキャリア7をソケット本体2のキャリアセッ
ト部2a上にセットする作業■を行ない、最後に、蓋4
をクランパ5,6によりソケット本体2に固定する作業
■を行なう。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記のように、−の被測定デバイス8をソケット1に装
着するのに三つの作業が必要となる。
従って例えば三つの被測定デバイス8.8−i。
8−2を装着するには、第5図に示すように、9つもの
作業■〜■が必要となり、しがも、比較的複雑となる装
着作業が−のデバイス毎に必要となり、被測定デバイス
をソケットに装着する作業の自動化が図りにくい。
本発明は半導体デバイスの装着の自動化を図ることを可
能とする半導体デバイス用ソケットを提供することを目
的とする。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、キャリアがセットされるキャリアセット部が
複数並んで配されたソケット本体と、下面の長手方向に
沿う両側に上記キャリアを複数連ねて嵌合保持する溝を
有する蓋と、半導体デバイスが載置されたキャリアが複
数保持された上記蓋を上記ソケット本体に固定するクラ
ンパとよりなり、 上記蓋がソケット本体に固定されて、半導体デバイスが
載置された複数のキャリアが各キャリアセット部上にセ
ットされる様構成したものである。
〔作用〕
−の蓋をソケット本体に固定するーの作業により、複数
個の半導体デバイスのソケットへの装着が可能となり、
比較的複雑である固定作業の回数が減り、ロボットによ
る装着の自動化を実現し易くなる。
〔実施例〕
第1図は本発明の一実施例になるバーンイン用である被
測定デバイス(半導体デバイス)検査用ソケット20を
示す。
21は細長のソケット本体であり、中央の凸段部21a
の上面に、キャリアがセットされるキャリアセット部2
2.23.24が三つ並んで配されており、バーンイン
用ボード25上に固定しである。21b、21cは両側
の凹段部である。
ソケット本体21には、各キャリアセット部22.23
.24毎に、一対のキャリア位置決めビン26が植設し
てあり、且つ凹段部21b。
21cの夫々反対側の端近層に、蓋位置決めビン27が
植設しである。
28.29は夫々蓋をクランプするクランパであり、ソ
ケット本体21の長手方向上中央の部位に設けである。
30は蓋であり、ソケット本体21に対応した細長形状
を有し、下面の長手方向に沿う両側に、キャリアを保持
するためのガイド溝31.32を有する。
33.34は夫々ガイド溝31.32を形成するための
フランジ部である。
35はキャリア収容空間であり、蓋の下面に形成されて
いる。
36は位置決め用孔である。
40、.40−2.40−3は夫々同じキャリアであり
、夫々中央に被測定デバイス載置部40−1a。
40  .4(13aを有し、且つ位置決め用孔28 40−B、、40−2b、40−3bを有する。
5o−1,5o−2,5o−3は夫々被測定デバイスで
ある。
次に被測定デバイス50−1〜50−3を上記のソケッ
ト20に装着する作業手順について、第2図を併せ参照
して説明する。
まず、被測定デバイス50−1〜50−3を夫々キャリ
ア40−1〜40−3の載置部40−1a〜40−3.
に載置する作業(!E)、 o、 oを行なう。
次にこのキャリア40〜40−3を、その両側1 をガイド溝31.32に嵌合させて、蓋30の下面側に
連ねて挿入する作業@、 O,Cj;w行なう。
最後に三つのキャリア40〜40−3が収容中1 間35内に収まって連なって保持された蓋30をソケッ
ト本体21上に載置し、クランパ28゜29によりクラ
ンプする作業Oを行なう。
上記の作業によって、第3図に示すように、蓋30がソ
ケット本体21上に固定され、各キャリア40〜40−
3が夫々キャリアセット部22゜1 23.24にセットされ、各被測定デバイス50−〜5
0−3が各リードをソケット本体21内のリードと電気
的に接続された状態とされる。
蓋30は位置決め用孔36をビン27に嵌合されて位置
決めされ、各キャリア40−1〜40−3は夫々位置決
め用孔’4o−1b〜40−3bを夫々ビン26に嵌合
されて個別に位置決めされる。これにより各キャリア4
0−1〜40−3は各キャリアセット部22.23.2
4に精度良く位置決めされてセットされ、各被測定デバ
イス50−1〜50−3は各リードがソケット本体21
と正しく電気的に接続された状態となり、バーンインは
正常に行われる。
なお、蓋30は、7ランジ部33.34を凹段部21b
、2ICに当接させて、ソケット本体21上に載置され
る。
上記より分かるように、■ 三つの被測定デバイス50
−〜50−3をソケット20にセットする作業の数は7
つであり、従来の9つより2つ少ない。
■ キャリア40−1〜40−3を蓋30に収容する作
業についてみると、作業の数は従来と同じく3つである
が、蓋30が同一物であり、同じ蓋30にキャリア40
−1〜40−3を連ねて挿入する作業となり、蓋を一つ
一つ取り換える手間がなく、作業はその分単純なものと
なる。
■ 蓋30をソケット本体21に固定する作業が上記の
作業のうち最も複雑なものである。この作業が上記三つ
のキャリアについて一回で済んでいる。
上記のI、 Il、 IIIの理由により、上記の作業
をロボットによる自動化とすることが容易となる。
また、三つのキャリア40−1〜40−3を蓋30内に
収容する作業On、 O,[相]を別の場所で行なって
おけば、被測定デバイス50−1〜50−3をソケット
20に装着する作業は、デバイス三つ毎に一回の作業伽
足り、作業回数が従来の場合の1/3にまで削減でき、
自動化が更に容易となる。
なお、被測定デバイス50−1〜50−3の種類に応じ
て、ソケット本体21についてはキャリアセット部22
.23.24の構成の異なるものを用意しておき、キャ
リアについては外形寸法及び位置決め用孔の位置は変え
ずに被測定デバイス載置部の寸法形状を変えたものを用
意しておくことにより、蓋30については同じものを共
用することが出来、好都合である。
また、蓋30内体を、複数のキャリアを搬送するコンテ
ナとして使用することもできる。
また上記実施例は二連式の例であるが、これに限らず、
四速式、五速式の構成とすることもできる。
また蓋30には、キャリアがみえるように上面に開口窓
を形成してもよい。
〔発明の効果〕
以上説明した様に、本発明によれば、複数のキャリアを
一度にソケット本体に固定できるため、蓋をソケット本
体に固定する作業回数が減り、被測定デバイスをソケッ
トに装着する作業のロボットによる自動化に好適である
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の半導体デバイス用ソケットの一実施例
を示す図、 第2図は被測定デバイスのソケットへの装着作業を説明
する図、 第3図は被測定デバイスが装着された状態を示す図、 第4図は従来の被測定デバイス検査用ソケットの1例を
示す図、 第5図は第4図のソケットにおいて被測定デバイスのソ
ケットへの装着作業を説明する図である。 図において、 20は被測定デバイス検査用ソケット、21はソケット
本体1 22〜24はキャリアセット部、 25はバーンイン用ボード、 26はキャリア位置決めビン、 27は上蓋位置決めビン、 28.29はクランパ、 30は蓋、 31.32は溝、 35はキャリア収容空間、 36は位置決め用孔、 40−1〜40−3はt”?!J7. 40 〜40−3aは被測定デバイス載置部、Ia 40−tb〜40−3bは位置決め用孔、50〜50−
3は被測定デバイス 1 を示す。 第2図 クク」(シi−(員り定デノ(4スA嘩1噴を閂)ンケ
ート11−ダ91Σ1(す7第4図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 キャリア(40_−_1、40_−_2、40_−_3
    )がセットされるキャリアセット部(22、23、24
    )が複数並んで配されたソケット本体(21)と、下面
    の長手方向に沿う両側に上記キャリアを複数連ねて嵌合
    保持する溝(31、32)を有する蓋(30)と、 半導体デバイス(50_−_1〜50_−_3)が載置
    されたキャリア(40_−_1〜40_−_3)が複数
    保持された上記蓋(30)を上記ソケット本体(21)
    に固定するクランパ(28、29)とよりなり、上記蓋
    (30)がソケット本体(21)に固定されて、半導体
    デバイス(50_−_1〜50_−_3)が載置された
    複数のキャリア(40_−_1〜40_−_3)が各キ
    ャリアセット部(22、23、24)上にセットされる
    構成の半導体デバイス用ソケット。
JP1184582A 1989-07-19 1989-07-19 半導体デバイス用ソケット Pending JPH0351776A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0536839U (ja) * 1991-03-22 1993-05-18 安藤電気株式会社 フローテイングガイド付きハンドラ用キヤリア
JPH07229949A (ja) * 1994-02-18 1995-08-29 Nippon Maikuronikusu:Kk Ic測定治具

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0536839U (ja) * 1991-03-22 1993-05-18 安藤電気株式会社 フローテイングガイド付きハンドラ用キヤリア
JP2541191Y2 (ja) * 1991-03-22 1997-07-09 安藤電気株式会社 フローティングガイド付きハンドラ用キャリア
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