JPH07159320A - 光散乱媒体の屈折率分布情報の計測装置 - Google Patents

光散乱媒体の屈折率分布情報の計測装置

Info

Publication number
JPH07159320A
JPH07159320A JP5306341A JP30634193A JPH07159320A JP H07159320 A JPH07159320 A JP H07159320A JP 5306341 A JP5306341 A JP 5306341A JP 30634193 A JP30634193 A JP 30634193A JP H07159320 A JPH07159320 A JP H07159320A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
optical path
optical
difference
medium
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP5306341A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3264469B2 (ja
Inventor
Ichiro Miyagawa
一郎 宮川
Masahiro Toida
昌宏 戸井田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
Priority to JP30634193A priority Critical patent/JP3264469B2/ja
Priority to US08/350,471 priority patent/US5526118A/en
Publication of JPH07159320A publication Critical patent/JPH07159320A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3264469B2 publication Critical patent/JP3264469B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 媒体から出射する直進透過光と散乱光とを完
全に分離して直進透過光を高S/Nで検出するととも
に、波長オーダより大きな光路差に相当する程度の大き
な屈折率変化の分布を短時間で計測する光散乱媒体の屈
折率分布情報の計測装置を提供する。 【構成】 周波数の等しい同期した2つのSLD光
3 ,a4 がそれぞれ進行する、長さのほぼ等しい2つ
の光路A,Bのうち、一方の光路B上に光路差制御器3
7、この光路Bを進行する光a4 の位相を鋸歯状に掃引
することにより周波数をシフトせしめるピエゾ素子3
2、およびこのピエゾ素子32を駆動する鋸歯状波発生
ドライブ回路33、およびフォトダイオードが2次元的
に並設された光検出器30を設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光散乱媒体の屈折率分布
情報の計測装置に関し、詳細には光ヘテロダイン検出方
式により光散乱媒体内部の屈折率(粗密)分布を計測す
る装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より光散乱媒体内部の形態を観察す
るために種々の装置が用いられている。例えば、光散乱
媒体内部に散在する介在物の光に対する屈折率の差を利
用してその介在物の形態を観察する装置として特開昭63
-179223 号に記載された、極短パルス時間ゲート法によ
る装置が知られている。この装置は、タイミング制御装
置により制御されたタイミングでパルス状の光を出射す
る光源と、この光源より出射されたパルス状の光を計測
しようとする光散乱媒体に照射し、その光散乱媒体を透
過した前記パルス状の光を検出する光検出器と、光散乱
媒体と光検出器との間に、タイミング制御装置による制
御に応じて上記光散乱媒体を透過した光の光検出器への
入射を許容する開位置と遮断する閉位置とを採る得る高
速シャッタとを備えたものであって、光散乱媒体内部に
散在する介在物の光に対する屈折率に応じて、そのパル
ス光が光散乱媒体を通過するのに要する時間が異なるこ
とを利用し、高速シャッタの開閉を制御することによっ
て、介在物の光に対する屈折率に応じた透過光を選択的
に得るものである。
【0003】一方、生体等の光散乱媒体の直進透過光を
検出する方法の1つとして光ヘテロダイン検出法が知ら
れている(特開平 2-110345 号,同 2-110346 号公報参
照)。この光ヘテロダイン検出方式は、波長の僅かに異
なる2つの光束をそれらの進行方向が一致するように重
ね合わせ、波長の差によって生じる光の干渉現象を利用
するものであって、重ね合わされる2つの光束の進行方
向が完全に一致しないと、その光束の垂直な面において
時間的に強弱を繰返すビート信号を検出することができ
ないため、光散乱媒体を直進透過した直進透過光だけを
極めて高精度に弁別することができる。そしてこの高精
度な方向弁別性能を有する光ヘテロダイン検出方式によ
れば、光散乱媒体内部の介在物を透過した光によって検
出された上記ビート信号の位相と、基準となる所定の光
の位相との差(位相差)は、その介在物の屈折率差に応
じたものであるため、この位相差を演算処理することに
よって、この介在物の屈折率差を得ることができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし前記極短パルス
時間ゲート法は、光散乱媒体からの所望の透過光だけを
高精度に選択するために、高速シャッタとして高コスト
のストリークカメラを使用する必要があり、装置全体が
高価になる。さらに光散乱媒体内部の前記介在物は散在
しているため、その分布を得るためには、光散乱媒体の
一点一点について計測を行う必要があり計測時間が長大
化するという問題がある。
【0005】一方、干渉波のビート信号の位相差から屈
折率差を得る光ヘテロダイン検出法は、波長オーダの光
路差に相当する屈折率差を高精度に得られるものの、こ
の波長オーダより大きな光路差に相当する程度の大きな
屈折率の差を計測することはできない。また媒体の内部
で何回も散乱し、媒体の表面より種々の方向に向って出
射する散乱光のうち、直進透過光と同一進行方向に向う
散乱光(クロストーク光)が直進透過光に混入し、その
ため光検出器はこの散乱光の混入した直進透過光を検出
することになり、検出信号のS/Nが劣化するという難
点がある。
【0006】本発明は上記事情に鑑みなされたもので、
媒体から出射する直進透過光と散乱光とを完全に分離し
て直進透過光を高S/Nで検出するとともに、波長オー
ダより大きな光路差に相当する程度の大きな屈折率変化
の分布を短時間で計測する光散乱媒体の屈折率分布情報
の計測装置を提供することを目的とするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の光散乱媒体の屈
折率分布情報の計測装置は、媒体より出射した直進透過
光の進行方向と同一方向に出射する散乱光が、その方向
に出射する直進透過光よりも媒体内部において長い光路
長の光路を通過するという特性を利用して直進透過光を
弁別し、この弁別された直進透過光がこの媒体を通過す
る光学的な光路長と物理的な光路長との差を求め、それ
によって媒体内部の介在物の屈折率差を得る。媒体の各
部分を通過する各直進透過光を、光検出器の光検出素子
によりそれぞれ同時に検出したうえで上記動作を行うこ
とにより、媒体の各部分の介在物の屈折率分布を得るこ
とを特徴とするものである。
【0008】すなわち本発明の第1の光散乱媒体の屈折
率分布情報の計測装置は、請求項1に記載したように、
低コヒーレンスな光を出射する光源と、該光源より出射
された前記低コヒーレンスな光を2つの光束に分割し、
光路長の略等しい2つの異なる光路に沿ってそれぞれ進
行させたのち合成する光学系と、該2つの光路のうち少
なくとも一方の光路上に設けられた、前記2つの光路を
それぞれ各別に進行する2つの光束の周波数が互いに異
なるように該少なくとも一方の光路を進行する光束の周
波数をシフトせしめる周波数シフタと、前記2つの光路
のうち少なくとも一方の光路上に設けられた、該少なく
とも一方の光路の長さを変調せしめて前記2つの光路の
光路差を変調せしめる光路差変調手段と、該2つの光路
のうち一方の光路上に配された光散乱媒体を直進透過し
た光束および該直進透過した光束と同一方向に進む散乱
光と、他方の光路を進行した光束とが、前記光学系によ
りそれぞれ合成されたのちの光束の強度を検出する、該
合成されたのちの光束の進行方向に対して垂直な面に沿
って光検出素子を1次元的あるいは2次元的に並設して
なる光検出器と、前記光路差変調手段により光路差を変
調して、それぞれの光路差で該光検出器の各光検出素子
で検出された光強度に基づいて、前記合成される以前の
直進透過する光束ともう一方の光路を通過する光束との
光学的光路差を各光検出素子ごとに求め、該各光検出素
子ごとに求められた光学的光路差から、ある基準となる
光学的光路差との差を求め、この差を光散乱媒体の厚さ
で除することにより、前記媒体の位置毎の屈折率差を算
出する演算手段とを備えてなることを特徴とするもので
ある。
【0009】ここで上記低コヒーレンスな光としては、
例えば可干渉距離40〜50μmのSLD(Super Lumi
nescent Diode )や可干渉距離0〜20μmのLEDを
用いることができるが、指向性の点で優れるSLDを使
用することが望ましい。
【0010】また上記周波数シフタとは周波数をシフト
する手段であって、具体的には、例えば時間的に位相を
鋸歯状に掃引して変調する方式やAOM(音響光学素
子)を用いた方式を採用することができる。
【0011】また本発明の第2の光散乱媒体の屈折率分
布情報の計測装置は、請求項2に記載したように、コヒ
ーレント光を出射する光源と、該光源より出射された前
記コヒーレント光を時間的に周波数掃引する変調手段
と、該変調されたコヒーレント光を2つの光束に分割
し、予め設定された光路差を有する2つの光路に沿って
それぞれ進行させたのち合成する光学系と、該2つの光
路のうち一方の光路上に配された光散乱媒体を直進透過
した光束および該直進透過した光束と同一方向に進む散
乱光と、他方の光路を進行した光束とが、前記光学系に
よりそれぞれ合成されたのちの光束の強度を検出する、
該合成されたのちの光束の進行方向に対して垂直な面に
沿って光検出素子を1次元的あるいは2次元的に並設し
てなる光検出器と、該光検出器の各光検出素子によりそ
れぞれ検出された光強度に基づいて前記合成される以前
の直進透過する光束ともう一方の光路を通過する光束と
の光学的光路差を各光検出素子ごとに求め、該各光検出
素子ごとに求められた光学的光路差から、ある基準とな
る光学的光路差との差を求め、この差を光散乱媒体の厚
さで除することにより、前記媒体の位置毎の屈折率差を
算出する演算手段とを備えてなることを特徴とするもの
である。
【0012】ここで上記コヒーレント光を出射する光源
は、上記光源より出射されたコヒーレント光を時間的に
周波数掃引する変調手段を兼用するものであってもよ
い。
【0013】なお上記光路上に配された光散乱性の媒体
の表面形状が曲面であったり、また凹凸を有している場
合は、この媒体に光束が入射する際にその媒体の界面で
屈折し、また媒体から直進透過光が出射する際にその界
面で屈折して、媒体に入射した光束の進行方向と媒体か
ら出射した直進透過光の進行方向とが一致しない場合が
ある。そこでこのような場合は媒体を、この媒体の屈折
率とほぼ同一の屈折率を有し、媒体に入射する光束の進
行方向に対して垂直に仕上げられた光入射面と光出射面
を有する光透過性の媒体によって覆うようにしてもよ
い。
【0014】また上記第1および第2の光散乱媒体の屈
折率分布情報の計測装置において、1次元光検出器を使
用する場合は、この1次元光検出器とこの1次元光検出
器を除く系とのうち少なくとも一方を、この1次元光検
出器の延びる方向と略垂直な方向に走査する走査手段を
備える構成として2次元分布を計測することもできる。
【0015】さらに上記第1および第2の光散乱媒体の
屈折率分布情報の計測装置は、被測定体である上記光散
乱媒体とこの光散乱媒体以外の系の全体あるいは一部と
をこの光散乱媒体を照射する光が光散乱媒体に対して相
対的に回転移動しうる移動手段と、屈折率情報計測手段
の後段に画像再構成手段とを設けることにより、各回転
位置において得られた屈折率分布情報をCT手法のアル
ゴリズムを備えた画像再構成手段等により3次元の屈折
率分布画像として出力するように構成することもでき
る。
【0016】
【作用および発明の効果】本発明の第1の光散乱媒体の
屈折率分布情報の計測装置は、光源よりSLD等の低コ
ヒーレンスな光を出射し、この低コヒーレンスな光はビ
ームスプリッタ等の光学系により第1の光束と第2の光
束とに分割され、それぞれ光路長のほぼ等しい第1の光
路、第2の光路に沿って進行した後ビームスプリッタ等
の光学系によって合成され干渉する。
【0017】ここで上記2つの光路のうち一方の光路上
に配された周波数シフタにより、その周波数は他方の光
路を進行する光の周波数とはわずかに異なるようにシフ
トされる。また光散乱性の媒体の配された光路を進行す
る光束は、その配された光散乱性の媒体に入射し、直進
透過光および散乱光が媒体より出射する。
【0018】ここで直進透過光はこの透過光が通過した
媒体の部分の屈折率情報を有している。これは、光が媒
体を通過する光学的な光路長が、通過する媒体の屈折率
に対応することによる。
【0019】一方、散乱光はこの媒体へ入射した光の方
向とは無関係に不定の方向に向かって媒体より出射する
が、その一部の散乱光は直進透過光と同一方向に向かっ
て媒体より出射する(この一部の散乱光を以下、クロス
トーク光と呼ぶ)。
【0020】このため上記媒体の部分の屈折率情報を高
S/Nで得るためには、直進透過光とクロストーク光と
を分離することが必要である。以下本発明におけるこの
分離を行う作用について説明する。
【0021】直進透過光は媒体内を入斜光の進行方向に
沿って最短距離で進行するが、クロストーク光は媒体内
部の散乱媒質により少なくとも1回散乱されたのち出射
するため、クロストーク光が媒体内部において通過する
光路長は、直進透過光が媒体内部において通過する光路
長に対して長くなる。ここで光源より出射した光は可干
渉距離が短いため、ビームスプリッタ等の光学系上にお
いて、一方の光路を進行した光束と、周波数の異なる直
進透過光またはクロストーク光との光路差が、ほぼゼロ
になるとき、これら2つの光は干渉し、これら2つの光
の差周波数で強弱を繰り返すビート信号を生じる。
【0022】この干渉する光は、詳しくは、2つの光路
差に応じて、直進透過光と他方の光路を進行した光とが
干渉した光と、クロストーク光と他方の光路を進行した
光とが干渉した光とに分類される。
【0023】ここで、上記光路差変調手段により少なく
とも一方の光路長を変えることにより、光学的に最短距
離を通過する直進透過光に係る干渉光と余分な光路を通
過したクロストーク光に係る干渉光とを弁別する。弁別
された光学的に最短距離を通過する直進透過光は、媒体
各部分の屈折率差に応じた光学的光路差を生じるため、
その各位置での光学的光路差と、この中のある基準とす
る位置での光学的光路差との差を算出し、該光散乱媒体
の厚さでこれを除することにより、媒体の位置ごとの相
対的な屈折率差の分布を得ることができる。
【0024】この得られた媒体の屈折率差の分布は、媒
体の、光が通過した方向の空間的積分値の分布であるか
ら、前述のように、移動手段により、光散乱媒体とこの
光散乱媒体以外の系の全体あるいは一部とのうち少なく
とも一方を、この光散乱媒体を照射する光が光散乱媒体
に対して相対的に回転移動し、各回転位置毎に上記作用
を繰り返して各回転位置毎の屈折率差の分布情報を求
め、得られた各回転位置毎の屈折率差の分布情報を画像
再構成手段によるCT手法のアルゴリズムにより再構成
することにより、媒体の3次元屈折率分布画像を出力す
ることが可能である。
【0025】このように本発明の第1の光散乱媒体の屈
折率分布情報の計測装置によれば、,媒体から出射する
直進透過光と散乱光とを完全に分離して直進透過光を高
S/Nで検出するとともに、波長オーダより大きな光路
差に相当する程度の大きな屈折率変化の分布を短時間で
計測する光散乱媒体の屈折率分布情報を得ることができ
る。
【0026】本発明の第2の光散乱媒体の屈折率分布情
報の計測装置は、光源より出射されたコヒーレント光
が、変調手段により時間的に周波数掃引され、光学系に
より第1の光束と第2の光束とに分割され、予め設定さ
れた光路差を有する第1の光路、第2の光路に沿って進
行したのち合成される。この2つの光路は予め設定され
た光路差を有するため、各光束が各光路を通過するのに
要する時間は異なる。光源より出射された光は時間的に
周波数掃引されているため、2つの光路をそれぞれ通過
した2つの光束が合成される際の各光束の周波数は異な
った値を示す。
【0027】ここで上記2つの光路のうち第2の光路に
沿って進行する光束は、単にその光路に沿って進行する
だけであるが、第1の光路に沿って進行する光束は、そ
の光路上に配された光散乱性の媒体に入射し、直進透過
光および散乱光が媒体より出射する。
【0028】以下、散乱光のうちクロストーク光と直進
透過光との光路長が異なるのは前述の通りである。
【0029】このため、第1の光路の長さより第2の光
路の長さ(第2の光路長)の方が長い場合、直進透過光
の光路を通過する第1の光路長と第2の光路長との差
は、クロストーク光の光路を通過する第1の光路長と第
2の光路長との差より大きい値となり、したがってこの
光学系上で干渉される直進透過光の周波数と第2の光路
を通過した第2の光束の周波数との差は、クロストーク
光の周波数と第2の光路を通過した第2の光束の周波数
との差より大きい値を示す。干渉した光は、干渉する以
前の2つの光の差周波数で強弱を繰り返すビート信号を
生じるため、直進透過光と第2の光束とが干渉した光の
ビート周波数は、クロストーク光と第2の光束とが干渉
した光のビート周波数より高い値を示す。
【0030】一方、第2の光路の長さ(第2の光路長)
より第1の光路の長さの方が長い場合、直進透過光の光
路を通過する第1の光路長と第2の光路長との差は、ク
ロストーク光の光路を通過する第1の光路長と第2の光
路長との差より小さい値となり、したがってこの光学系
上で干渉される直進透過光の周波数と第2の光路を通過
した第2の光束の周波数との差は、クロストーク光の周
波数と第2の光路を通過した第2の光束の周波数との差
より小さい値を示す。その結果、直進透過光と第2の光
束とが干渉した光のビート周波数は、クロストーク光と
第2の光束とが干渉した光のビート周波数より低いもの
となる。
【0031】ここで、上記ビート周波数ごとの干渉光の
強度に基づいて、光学的に最短距離を通過する直進透過
光に係る干渉光とクロストーク光に係る干渉光とを弁別
する。弁別された光学的に最短距離を通過する直進透過
光にかかる干渉光の周波数より、直進透過光の周波数
と、この直進透過光と干渉する他の光路を進行した光の
周波数との差周波数を求め、その差周波数および周波数
掃引特性に基づいて、直進透過光が通過した光路と干渉
する光が通過した光路との光学的光路差を光検出素子の
各位置で算出し、その各位置での光学的光路差と、この
中のある基準とする位置での光学的光路差との差を算出
し、該光散乱媒体の厚さでこれを除することにより、媒
体の位置ごとの相対的な屈折率差の分布を得ることがで
きる。
【0032】この得られた媒体の各部分の屈折率差の分
布は、前記第1の光散乱媒体の屈折率差の分布情報の計
測装置と同様、光が通過した方向の空間的積分値の分布
であるから、移動手段により、光散乱媒体とこの光散乱
媒体以外の系の全体あるいは一部とのうち少なくとも一
方を、この光散乱媒体を照射する光が光散乱媒体に対し
て相対的に回転移動し、各回転位置毎に上記作用を繰り
返して各回転位置毎の屈折率差の分布情報を求め、得ら
れた各回転位置毎の屈折率差の分布情報を画像再構成手
段によるCT手法のアルゴリズムにより再構成すること
により、媒体の3次元屈折率差の分布画像を出力するこ
とが可能である。
【0033】このように本発明の第2の光散乱媒体の屈
折率分布情報の計測装置によれば、,媒体から出射する
直進透過光と散乱光とを完全に分離して直進透過光を高
S/Nで検出するとともに、波長オーダより大きな光路
差に相当する程度の大きな屈折率変化の分布を短時間で
計測する光散乱媒体の屈折率差分布情報を得ることがで
きる。
【0034】
【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例について
詳細に説明する。
【0035】図1は本発明にかかる光散乱媒体の屈折率
分布情報の計測装置の第1の実施例の概略を示すブロッ
ク図である。図示の屈折率分布情報の計測装置は、周波
数ω0 のSLD(Super Luminescent Diode)光a1 を出
射するSLD光源20と、この光源20より出射された光a
1 を平行光a2 とするコリメータレンズ21と、該平行光
2 を2つの光束a3 およびa4 に分割し、それぞれ光
路長の略等しい2つの光路A,Bに沿って進行させたの
ち重ね合わせるビームスプリッタ22,23およびミラー2
4,25と、この2つの光路A,Bのうち一方の光路Bを
進行する光束a4の位相を図2に示す鋸歯状に変調する
ピエゾ素子32およびこのピエゾ素子32を駆動する信号を
発生する鋸歯状波発生ドライブ回路33と、ビームスプリ
ッタ23により重ね合わせられた光a6 の光強度を検出し
光電変換して電気信号を出力するフォトダイオード(以
下PD(xi ,yj )という)が複数個2次元的に配さ
れた光検出器30と、該光検出器30の各PD(xi
j )により検出された各光の強度に基づいて、重ね合
わせる以前の2つの光が通過する光路の光学的光路差を
算出し、各PD(xi ,yj )に対応した光学的光路差
の分布に基づいて前記光散乱媒体10の屈折率差分布を計
測するデータ処理装置31とを備えた構成である。
【0036】上記PD(xi ,yj )の(xi ,yj
とは、光検出器30の2次元光検出面のx−y座標系にお
ける位置を示すものであり、したがってPD(xi ,y
j )は座標位置(xi ,yj )に配されたPDを意味す
る。
【0037】ここで上記ビームスプリッタ22により2つ
の光路A,Bに沿ってそれぞれ進行する2つの光束
3 ,a4 のうちピエゾ素子32により位相が変調される
ことによって、周波数がシフトされる光束a4 を以下、
参照光a4 (またはa5 )といい、この参照光a4 の光
路B上には光路Bの光路長を変調し、光路Aと光路Bと
の光路差を制御する光路差制御器37およびこの光路差制
御器37を駆動する信号を発生するドライブ回路36が設け
られている。
【0038】また光路差制御器37としては、例えば図6
(A)に示すように2つの光透過性のプレート38を対向
せしめ、これらの各中心点O,O′を中心として逆方向
に同角度だけ回転させるように構成したものや、図6
(B)に示すように入射光に対してわずかに傾斜して対
向する2枚のミラー39をそれらの間の距離が変化するよ
うに平行に移動し得るように構成したものなどを採用す
ることができる。
【0039】これに対し、他方の光路A上には、屈折率
分布を計測しようとする光散乱性の媒体10(光の透過方
向の厚さl0 )が配置される。この媒体10は図3(A)
に示すようにその表面形状が曲面によって形成されてお
り、そのため光ビームが媒体10に入出射する際、その界
面において屈折して光の主ビームの進行方向が変わり、
アーチファクトの原因となる。そこで図3(B)に示す
ように、媒体10とほぼ同一の屈折率を有する光透過性の
マッチング媒体11を媒体10に密着させて主ビームの進行
方向を変えないようにする。なお、このマッチング媒体
10への光の入出射面は光の進行方向に対してほぼ垂直に
仕上げられている。このマッチング媒体10は例えば図3
(C)に示すように、媒体10と同一屈折率の液状媒体14
が充填されたポリエチレン等の極薄の可撓性袋体13を、
平行平板ガラス12に密着させたものによって構成するこ
とができ、これを媒体10に光の入出射方向よりそれぞれ
押し付けてサンドイッチ構造を構成することによって実
現することができる。
【0040】以下、説明簡略化のため媒体10とこのマッ
チング媒体11との全体を媒体10とみなして記述する。
【0041】次に本実施例の作用について説明する。
【0042】光源20より出射されたSLD光a1 はコリ
メータレンズ21により平行光a2 とされ、ビームスプリ
ッタ22によって2つの光路A,Bに沿って進む2つの光
束a3 およひびa4 に分割される。光路Aに沿って進む
光束a3 は媒体10に入射し、この媒体10内部の光散乱媒
質により種々の方向に散乱されて出射する散乱光a
20と、この媒体10の屈折率情報を担持し入射方向と同一
方向に出射される直進透過光a10とに分けられるが、図
4(A)に示すように、散乱光a20の一部は多重散乱さ
れるなどにより、直進透過光a10が出射する方向と同一
方向に出射する光があり、以下これをクロストーク光と
呼ぶ。
【0043】このクロストーク光a21は媒体10内部で多
重散乱されることにより、直進透過光a10が媒体10内部
で通過する光路長よりも長い光路長の光路を通過すると
いう特徴を有する。
【0044】これに対し、図4(B)に示すように、直
進透過光a10を組成する、媒体10の直進透過光a10と垂
直なx−y座標系の各部分(xi ,yj )をそれぞれ直
進透過した直進透過光をa10(xi ,yj )とすると、
これら各直進透過光a10(xi ,yj )は媒体10内部の
各光路上の屈折率に応じた光路長を通過して、この媒体
10より出射する。なおこの直進透過光a10(xi
j )は、座標位置(xi,,yj )の対応するPD
(xi ,yj )に入射する直進透過光である。
【0045】例えば図4(B)において、領域K,L,
Mはそれぞれ媒体10の主要部の屈折率と異なる部分であ
って、透過光a10(x1 ,y1 )は領域Kを通過し、透
過光a10(x2 ,y2 )は屈折率の異なる領域Lを通過
し、透過光a10(x3 ,y3))は屈折率の異なる領域
Lを通過して媒体10より出射する。
【0046】一方、他方の光路Bを進行する光束a
4 は、鋸歯状波発生ドライブ回路33により駆動されるピ
エゾ素子32と一体的に駆動されるミラー25により、図2
に示す鋸歯状に位相が掃引されて周波数ω1 (≠ω0
の参照光a5 とされる。
【0047】この参照光a5 と媒体10より出射した光束
10(xi ,yj ),a21とは、ビームスプリッタ23に
より合成され、その光強度が光検出器30により検出され
て光電変換され光強度に応じた電気信号としてデータ処
理装置31へ出力される。
【0048】ここでSLD光は可干渉距離が40〜50μm
と非常に短いため、光路Aと光路Bとの光路差がほぼゼ
ロである場合以外は、これらの光路A,Bを通過した光
が合成された場合にも干渉されることはないが、ドライ
ブ回路36により駆動される光路差制御器37により上記2
つの光路A,Bの光路差がほぼゼロとされることによっ
て、その光路差に応じて、参照光a5 と各直進透過光a
10(xi ,yj )とが干渉され、あるいは参照光a5
クロストーク光a21とが干渉される。干渉された光a6
は、干渉する以前の2つの光の差周波数Δω(=|ω0
−ω1 |)で強弱を繰り返すビート信号を生じるが、詳
しくは、上述のように光路差に応じて、直進透過光a10
(xi ,yj )が参照光a5 と干渉する場合と、クロス
トーク光a21が参照光a5 と干渉する場合とが有り、以
下、前者の干渉光をa61(xi ,yj )、後者の干渉光
を光a62という。
【0049】ここで直進透過光a10(xi ,yj )と参
照光a5 とが干渉した光a61(xi,,yj )およびク
ロストーク光a21と参照光a5 とが干渉した光a62は、
その座標(xi ,yj )に対応した光検出器30のPD
(xi ,yj )に入力し(図4(B))、各別に光強度
が検出される。図5は光路差制御器37により検出された
光学的光路差ΔLに対する光検出強度を示し、例示的に
PD(x1 ,y1 ),PD(x2 ,y2 ),PD
(x3 ,y3 )について示した図である。図示の光検出
強度曲線において例えばPD(x1 ,y1 )について光
検出強度が特徴的に立ち上がる光学的光路差ΔL
(x1 ,y1 )は、直進透過光a10(x1 ,y1 )と参
照光a5 とが干渉した光a61(x1 ,y1 )を検出した
際の光学的光路差であり、光検出強度が緩やかに小さく
なる部分に対応する光路差はクロストーク光a21に係る
干渉光a62の光学的光路差を意味する。
【0050】データ処理装置31は各PD(xi ,yj
により検出されたこれら光検出強度からこの特徴的に立
ち上がる光学的な光路差ΔL(xi ,yj )を検出し、
この光学的な光路差ΔL(xi ,yj )と、点(x1
1 )の位置における光学的な光路差ΔL(x1
1 )との差Δl(xi ,yj )を算出する。この差Δ
l(xi ,yj )を媒体を通過する物理的な厚さl0
割った値が、媒体10の所定の位置(x1 ,y1 )におけ
る上記屈折率に応じた値を基準にした他の位置(xi
j )の上記屈折率に応じた値を算出することにより、
媒体10の屈折率差の分布を得ることができる。
【0051】このようにデータ処理装置31によって計測
された媒体10の通過部分(xi ,yj )毎の屈折率差の
分布はCRT34に出力されて、媒体10の屈折率差の分布
画像として表示される。
【0052】上述のように本実施例の光散乱媒体の屈折
率分布情報計測装置によれば、光散乱性の媒体より出射
する直進透過光と散乱光とを容易に分離することがで
き、その結果、高S/Nで媒体の吸光情報を得ることが
できる。
【0053】なお本実施例の屈折率分布情報計測装置
は、光路差制御器37、PZT32および鋸歯状波発生ドラ
イブ回路33が、媒体10が配された光路Aとは異なる側の
光路Bに設けられた構成であるが、本発明の屈折率分布
情報計測装置は、このような態様に限るものではなく、
上記各構成体を媒体10が配された光路A上に設けた構成
や両光路にそれぞれ配する構成を採ることもできる。
【0054】図7は本発明にかかる光散乱媒体の屈折率
分布情報計測装置の第2の実施例の概略を示すブロック
図である。図示の屈折率分布情報計測装置は、レーザ光
源50と、この光源50から出射されるレーザ光を図8に示
すように鋸歯状に周波数掃引する周波数掃引ドライブ回
路66と、このドライブ回路66によって周波数掃引されて
光源50より出射されるレーザ光a1 を平行光a2 とする
コリメータレンズ51と、この平行光a2 を2つの光束a
3 ,a4 に分割し、光路長がわずかに異なる2つの光路
A,Bに沿って進行させたのち重ね合わせるビームスプ
リッタ52,53およびミラー54,55と、ビームスプリッタ
53により重ね合わせられた光a5 の光強度を検出し光電
変換して電気信号を出力するPD(xi ,yj )が2次
元的に配された光検出器60と、該光検出器60の各PD
(xi ,yj )により検出された各光の強度変化の周波
数に基づいて、干渉された2つの光の差周波数を検出
し、この差周波数と周波数掃引ドライブ回路66の周波数
掃引特性とに基づいて、媒体10の位置ごとの相対的な屈
折率差の分布を算出するデータ処理装置61とを備えた構
成である。
【0055】ここで上記ビームスプリッタ52により2つ
の光路A,Bに沿ってそれぞれ進行する2つの光束
3 ,a4 のうち一方の光路A上には、屈折率分布を計
測しようとする光散乱性の媒体10が、前記第1の実施例
の場合と同様マッチング媒体11に覆われて配置されてい
る。
【0056】次に本実施例の作用について説明する。
【0057】光源50より出射される光は前述のとおり周
波数掃引ドライブ回路66により図8に示す如く時間的に
周波数掃引される。この周波数掃引されて光源50より出
射した光a1 はコリメータレンズ51により平行光a2
され、ビームスプリッタ52によって2つの光路A,Bに
沿って進む2つの光束a3 およびa4 に分割される。光
路Aに沿って進む光束a3 は媒体10に入射し、前記第1
の実施例において説明したように、この媒体の最短距離
を通って直線的に透過する直進透過光a10、およびこの
直進透過光a10よりも長い光路長の光路を通過するクロ
ストーク光a21として媒体10より出射される。
【0058】このように光路Aを通過した光束a3 のう
ち媒体10より出射する直進透過光a10とクロストーク光
21とが、ビームスプリッタ53により、他方の光路Bを
通過した光束a4 とそれぞれ合成されて干渉を生じる。
【0059】ここで直進透過光a10がビームスプリッタ
53に到達するのに要する時間は、クロストーク光a21
ビームスプリッタ53に到達するのに要する場間よりも短
いため、ビームスプリッタ53上で直進透過光a10が干渉
される光a4 の周波数は、クロストーク光a21が干渉さ
れる光a4 の周波数に対して低い。そのため例えば光路
Aの長さよりも光路Bの長さが短い場合は、直進透過光
10と干渉される光a4 の周波数を直進透過光a10の周
波数との差は、クロストーク光a21と干渉される光a4
の周波数とクロストーク光a21の周波数との差よりも小
さく、干渉によって生じるビート信号の周波数は、直進
透過光a10による干渉a51の方がクロストーク光a21
よる干渉光a52よりも低いものとなる。
【0060】一方、光路Aの長さよりも光路Bの長さが
長い場合は、直進透過光a10と干渉される光a4 の周波
数と直進透過光a10の周波数との差は、クロストーク光
21と干渉される光a4 の周波数とクロストーク光a21
の周波数との差よりも小さく、従って干渉によって生じ
るビート信号の周波数は、直進透過光a10による干渉光
51の方がクロストーク光a21による干渉光a52よりも
高いものとなる。
【0061】上述のとおり干渉によって生じるビート信
号の周波数に基づいて、直進透過光a10とクロストーク
光a21とを弁別することが可能である。
【0062】また、直進透過光a10については、前記第
1の実施例の場合と同様、直進透過光a10を組成する、
媒体10の直進透過光a10と垂直なx−y座標系の各部分
(xi ,yj )をそれぞれ直進透過した直進透過光をa
10(xi ,yj )とすると、これら各直進透過光a
10(xi ,yj )は媒体10内部の各光路上の屈折率に応
じた光路長を通過して、PD(xi ,yj )に入射す
る。
【0063】図9はこの各PD(xi ,yj )により検
出された光検出強度曲線のうち、PD(x1 ,y1 ),
PD(x2 ,y2 ),PD(x3 ,y3 )について示し
た図である。図示の光検出強度曲線において例えばPD
(x1 ,y1 )について光検出強度が特徴的に立ち上が
る周波数ν(x1 ,y1 )は、直進透過光a
10(x1,,y1 )と参照光a5 とが干渉した光a
51(x1 ,y1 )の周波数であり、光検出強度が緩やか
に小さくなる部分に対応する周波数はクロストーク光a
21に係る干渉光a52の周波数を意味する。
【0064】データ処理装置61は各PD(xi ,yj
により検出されたこれら光検出強度からこの特徴的に立
ち上がる周波数ν(xi ,yj )を検出する。この干渉
光のビート信号の周波数は干渉前の2つの光の周波数の
差であるから、この特徴的に立ち上がる各周波数ν(x
i ,yj )と周波数掃引ドライブ回路66の周波数掃引特
性(図8)とに基づいて、各直進透過光a10(xi ,y
j )と参照光a5 との各光路通過時間の差t(xi ,y
j )を算出し、この時間差t(xi ,yj )に応じた光
路差ΔL′(xi ,yj )を算出する。この光路差Δ
L′(xi ,yj))は、光学的な光路差であり、媒体1
0の通過部分(xi ,yj )の屈折率に応じて変化す
る。
【0065】さらにデータ処理装置61は、この算出され
た光学的な光路差ΔL′(xi ,yj )と、点(x1
1 )の位置における光学的な光路差ΔL′(x1 ,y
1 )との差Δl(xi ,yj )を算出する。この差Δl
(xi ,yj )を媒体を通過する物理的な厚さl0 で除
算処理を行う。これにより媒体10の通過部分(xi ,y
j )の屈折率差を算出する。
【0066】このようにデータ処理装置61によって計測
された媒体10の通過部分(xi ,yj )毎の屈折率差の
分布はCRT34に出力されて、媒体10の屈折率差の分布
画像として表示される。
【0067】上述のように本実施例の光散乱媒体の屈折
率分布情報の計測装置によれば、光散乱性の媒体より出
射する直進透過光と散乱光とを完全に分離することがで
き、その結果、高S/Nで媒体の吸光情報を得ることが
できる。
【0068】なお、第1の実施例および第2の実施例に
おいて、媒体10の散乱成分が透過光成分より大きいため
に、また図9に示す光検出強度曲線が広範な周波数帯域
に亘るために、上記直進透過光a10(xi ,yj )と参
照光a5 との干渉光a51(xi ,yj )の周波数ν(x
i ,yj )の検出が困難である場合は、図10に示すよう
にデータ処理装置31(第2の実施例においてはデータ処
理装置61)において相互相関処理装置70を設け、媒体10
のある1点(x1 ,y1 )より検出された上記干渉光a
51(x1 ,y1 )の周波数ν(x1 ,y1 )を基準とし
て他の信号と相互相関の計算処理を行なうことにより、
上記周波数ν(xi ,yj )の検出を行えばよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかる光散乱媒体の屈折率分布情報の
計測装置の第1の実施例の概略を示すブロック図
【図2】参照光の位相掃引波形を示すグラフ
【図3】光散乱媒体への入出射光の界面における屈折の
補正について説明するための説明図
【図4】(A)直進透過光とクロストーク光との関係を
説明するための概念図 (B)直進透過光により屈折率分布を得ることを説明す
るための概念図
【図5】干渉光の光路差と光強度との関係を示すグラフ
【図6】光路差制御器の具体例を示す概略図
【図7】本発明にかかる光散乱媒体の屈折率分布情報の
計測装置の第2の実施例を示す概略ブロック図
【図8】光源より出射されるるレーザ光の周波数掃引波
形を示すグラフ
【図9】干渉光のビート周波数と光強度との関係を示す
グラフ
【図10】本発明にかかる光散乱媒体の屈折率分布情報
の計測装置の他の態様を示す概略ブロック図
【符号の説明】
10 光散乱性の媒体 11 マッチング媒体 12 ガラス板 13 可撓性袋体 14 液状媒体 20 SLD光源 21,51 コリメータレンズ 22,23,52,53 ビームスプリッタ 24,25,39,40,54,55 ミラー 30,60 2次元アレイ光検出器 31,61 データ処理装置 32 ピエゾ素子(PZT) 33 鋸歯状波発生ドライブ回路 34 CRT 36 ドライブ回路 37 光路差制御器 38 光透過性のプレート 50 レーザ光源 66 周波数掃引ドライブ回路 70 相互相関処理装置

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 低コヒーレンスな光を出射する光源と、 該光源より出射された前記低コヒーレンスな光を2つの
    光束に分割し、光路長の略等しい2つの異なる光路に沿
    ってそれぞれ進行させたのち合成する光学系と、 該2つの光路のうち少なくとも一方の光路上に設けられ
    た、前記2つの光路をそれぞれ各別に進行する2つの光
    束の周波数が互いに異なるように該少なくとも一方の光
    路を進行する光束の周波数をシフトせしめる周波数シフ
    タと、 前記2つの光路のうち少なくとも一方の光路上に設けら
    れた、該少なくとも一方の光路の長さを変調せしめて前
    記2つの光路の光路差を変調せしめる光路差変調手段
    と、 該2つの光路のうち一方の光路上に配された光散乱媒体
    を直進透過した光束および該直進透過した光束と同一方
    向に進む散乱光と、他方の光路を進行した光束とが、前
    記光学系によりそれぞれ合成されたのちの光束の強度を
    検出する、該合成されたのちの光束の進行方向に対して
    垂直な面に沿って光検出素子を1次元的あるいは2次元
    的に並設してなる光検出器と、 前記光路差変調手段により光路差を変調して、それぞれ
    の光路差で該光検出器の各光検出素子で検出された光強
    度に基づいて、前記合成される以前の直進透過する光束
    ともう一方の光路を通過する光束との光学的光路差を各
    光検出素子ごとに求め、該各光検出素子ごとに求められ
    た光学的光路差から、ある基準となる光学的光路差との
    差を求め、この差を光散乱媒体の厚さで除することによ
    り、前記媒体の位置毎の屈折率差を算出する演算手段と
    を備えてなることを特徴とする光散乱媒体の屈折率分布
    情報の計測装置。
  2. 【請求項2】 コヒーレント光を出射する光源と、 該光源より出射された前記コヒーレント光を時間的に周
    波数掃引する変調手段と、 該変調されたコヒーレント光を2つの光束に分割し、予
    め設定された光路差を有する2つの光路に沿ってそれぞ
    れ進行させたのち合成する光学系と、 該2つの光路のうち一方の光路上に配された光散乱媒体
    を直進透過した光束および該直進透過した光束と同一方
    向に進む散乱光と、他方の光路を進行した光束とが、前
    記光学系によりそれぞれ合成されたのちの光束の強度を
    検出する、該合成されたのちの光束の進行方向に対して
    垂直な面に沿って光検出素子を1次元的あるいは2次元
    的に並設してなる光検出器と、 該光検出器の各光検出素子によりそれぞれ検出された光
    強度に基づいて前記合成される以前の直進透過する光束
    ともう一方の光路を通過する光束との光学的光路差を各
    光検出素子ごとに求め、該各光検出素子ごとに求められ
    た光学的光路差から、ある基準となる光学的光路差との
    差を求め、この差を光散乱媒体の厚さで除することによ
    り、前記媒体の位置毎の屈折率差を算出する演算手段と
    を備えてなることを特徴とする光散乱媒体の屈折率分布
    情報の計測装置。
JP30634193A 1993-12-07 1993-12-07 光散乱媒体の屈折率分布情報の計測装置 Expired - Lifetime JP3264469B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30634193A JP3264469B2 (ja) 1993-12-07 1993-12-07 光散乱媒体の屈折率分布情報の計測装置
US08/350,471 US5526118A (en) 1993-12-07 1994-12-07 Apparatus for obtaining refractive index distribution information of light scattering media

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30634193A JP3264469B2 (ja) 1993-12-07 1993-12-07 光散乱媒体の屈折率分布情報の計測装置

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001198610A Division JP3502067B2 (ja) 2001-06-29 2001-06-29 光散乱媒体の屈折率分布情報の計測装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07159320A true JPH07159320A (ja) 1995-06-23
JP3264469B2 JP3264469B2 (ja) 2002-03-11

Family

ID=17955937

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP30634193A Expired - Lifetime JP3264469B2 (ja) 1993-12-07 1993-12-07 光散乱媒体の屈折率分布情報の計測装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5526118A (ja)
JP (1) JP3264469B2 (ja)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006084233A (ja) * 2004-09-14 2006-03-30 Hamamatsu Photonics Kk 試料計測装置及び計測方法
JP2006200999A (ja) * 2005-01-19 2006-08-03 Canon Inc 画像処理装置および屈折率分布測定装置
JP2007526981A (ja) * 2003-06-05 2007-09-20 フラウンホーファ−ゲゼルシャフト ツァー フォルデルング デア アンゲバンデン フォルシュンク エー. ファオ. 透明又は部分的に透明な層の屈折率の三次元測定方法及び装置
WO2008047700A1 (en) * 2006-10-20 2008-04-24 Air Water Inc. Non-thermofusible granular phenol resin, method for producing the same, thermosetting resin composition, sealing material for semiconductor, and adhesive for semiconductor
JP2008168137A (ja) * 2007-01-12 2008-07-24 Tianjin Sunshine Optics Technologies Co Ltd 光学距離が選択可能な無侵襲にて人体の成分を測定する方法と測定装置
JP2009294079A (ja) * 2008-06-05 2009-12-17 F K Kogaku Kenkyusho:Kk 試料片の厚さ及び屈折率の計測方法及び装置
JP2011128040A (ja) * 2009-12-18 2011-06-30 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光ファイバ屈折率測定装置及び光ファイバ屈折率測定方法
JP4912504B1 (ja) * 2010-09-16 2012-04-11 キヤノン株式会社 屈折率の計測方法および計測装置
JP2014512527A (ja) * 2011-03-24 2014-05-22 キヤノン株式会社 屈折率を測定する方法及び装置
KR20160087078A (ko) * 2015-01-13 2016-07-21 한국기술교육대학교 산학협력단 마흐-젠더 간섭계를 이용한 에어로졸의 광흡수계수 측정시스템

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5619325A (en) * 1995-04-04 1997-04-08 Advantest Corporation Optical system for ellipsometry utilizing a circularly polarized probe beam
JPH11514096A (ja) * 1996-08-14 1999-11-30 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 混濁状媒体の画像を形成する装置及び方法
JP4138009B2 (ja) * 1996-08-14 2008-08-20 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 境界効果を低下するために液体を用いる混濁状媒体の画像形成
DE19721843C1 (de) * 1997-05-26 1999-02-11 Bosch Gmbh Robert Interferometrische Meßvorrichtung
TW555962B (en) * 2001-05-07 2003-10-01 Asml Us Inc Method, system, and computer program product for determining refractive index distribution
CN1166914C (zh) * 2002-05-31 2004-09-15 清华大学 频率分裂氦-氖激光回馈自混合非接触测微仪
US20080100848A1 (en) * 2006-10-25 2008-05-01 Koji Kobayashi Optical tomograph
JP5008650B2 (ja) * 2008-12-25 2012-08-22 キヤノン株式会社 屈折率分布計測方法及び屈折率分布計測装置
JP5168168B2 (ja) * 2009-01-22 2013-03-21 パナソニック株式会社 屈折率測定装置
JP5328437B2 (ja) * 2009-03-25 2013-10-30 キヤノン株式会社 透過波面測定方法、屈折率分布測定方法、光学素子の製造方法、及び透過波面測定装置
JP4968965B2 (ja) * 2009-11-18 2012-07-04 キヤノン株式会社 屈折率分布の計測方法および計測装置
JP4968966B2 (ja) * 2009-12-07 2012-07-04 キヤノン株式会社 屈折率分布の計測方法および計測装置
JP5021054B2 (ja) * 2010-05-25 2012-09-05 キヤノン株式会社 屈折率分布計測方法および屈折率分布計測装置
JP4895409B2 (ja) * 2010-05-25 2012-03-14 キヤノン株式会社 屈折率分布計測方法および屈折率分布計測装置
US9182375B2 (en) * 2010-10-15 2015-11-10 Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial Systems Corporation Measuring apparatus and measuring method for metallic microstructures or material properties
JP5008763B2 (ja) * 2010-12-03 2012-08-22 キヤノン株式会社 屈折率分布計測方法、屈折率分布計測装置および光学素子の製造方法
JP6157241B2 (ja) * 2013-06-28 2017-07-05 キヤノン株式会社 屈折率計測方法、屈折率計測装置および光学素子の製造方法
CN110017793B (zh) * 2019-04-10 2020-09-18 南京理工大学 一种双通道式抗振动干涉测量装置及方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61202128A (ja) * 1985-03-06 1986-09-06 Hitachi Ltd 半導体レ−ザヘテロダイン干渉計
JPS63179223A (ja) * 1987-01-20 1988-07-23 Shimadzu Corp 測光装置
US5151752A (en) * 1988-06-16 1992-09-29 Asahi Kogaku Kogyo K.K. Method of measuring refractive indices of lens and sample liquid
JP2890309B2 (ja) * 1988-10-20 1999-05-10 科学技術振興事業団 形態及び機能画像化装置
JP2748269B2 (ja) * 1988-10-20 1998-05-06 科学技術振興事業団 機能画像化装置
EP0581871B2 (en) * 1991-04-29 2009-08-12 Massachusetts Institute Of Technology Apparatus for optical imaging and measurement

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007526981A (ja) * 2003-06-05 2007-09-20 フラウンホーファ−ゲゼルシャフト ツァー フォルデルング デア アンゲバンデン フォルシュンク エー. ファオ. 透明又は部分的に透明な層の屈折率の三次元測定方法及び装置
JP2006084233A (ja) * 2004-09-14 2006-03-30 Hamamatsu Photonics Kk 試料計測装置及び計測方法
JP4698992B2 (ja) * 2004-09-14 2011-06-08 浜松ホトニクス株式会社 試料計測装置及び計測方法
JP2006200999A (ja) * 2005-01-19 2006-08-03 Canon Inc 画像処理装置および屈折率分布測定装置
WO2008047700A1 (en) * 2006-10-20 2008-04-24 Air Water Inc. Non-thermofusible granular phenol resin, method for producing the same, thermosetting resin composition, sealing material for semiconductor, and adhesive for semiconductor
JP2008168137A (ja) * 2007-01-12 2008-07-24 Tianjin Sunshine Optics Technologies Co Ltd 光学距離が選択可能な無侵襲にて人体の成分を測定する方法と測定装置
JP2013009963A (ja) * 2007-01-12 2013-01-17 Tianjin Senyo Kagi Hatten Yugenkoshi 光学距離が選択可能な無侵襲にて人体の成分を測定する方法
JP2009294079A (ja) * 2008-06-05 2009-12-17 F K Kogaku Kenkyusho:Kk 試料片の厚さ及び屈折率の計測方法及び装置
JP2011128040A (ja) * 2009-12-18 2011-06-30 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光ファイバ屈折率測定装置及び光ファイバ屈折率測定方法
JP4912504B1 (ja) * 2010-09-16 2012-04-11 キヤノン株式会社 屈折率の計測方法および計測装置
JP2014512527A (ja) * 2011-03-24 2014-05-22 キヤノン株式会社 屈折率を測定する方法及び装置
KR20160087078A (ko) * 2015-01-13 2016-07-21 한국기술교육대학교 산학협력단 마흐-젠더 간섭계를 이용한 에어로졸의 광흡수계수 측정시스템

Also Published As

Publication number Publication date
JP3264469B2 (ja) 2002-03-11
US5526118A (en) 1996-06-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3264469B2 (ja) 光散乱媒体の屈折率分布情報の計測装置
US6037579A (en) Optical interferometer employing multiple detectors to detect spatially distorted wavefront in imaging of scattering media
US5555087A (en) Method and apparatus for employing a light source and heterodyne interferometer for obtaining information representing the microstructure of a medium at various depths therein
US7548320B2 (en) Optical image measuring apparatus
JP4505807B2 (ja) 多重化スペクトル干渉光コヒーレンストモグラフィー
US7486402B2 (en) Optical image measuring apparatus
US7170610B2 (en) Low-coherence inferometric device for light-optical scanning of an object
US20150070685A1 (en) Multiscale distance measurement with frequency combs
JP2017181257A (ja) 光検出装置および光検出システム
JP7359195B2 (ja) 光測定装置
RU2561867C2 (ru) Устройство и способ для оптической когерентной томографии
US6396587B1 (en) Method for recording depth profiles in a specimen and apparatus therefor
JP2008249577A (ja) 検出装置、及びイメージング装置
JP2003075134A (ja) 光干渉を用いた形状測定方法および形状測定装置
JP2017181256A (ja) 光検出装置および光検出システム
US20050122529A1 (en) Measurement system of three-dimensional shape of transparent thin film using acousto-optic tunable filter
JP4026929B2 (ja) 干渉測定装置
JP2013002934A (ja) 形状測定装置並びに深さ測定装置及び膜厚測定装置
US10412319B2 (en) Imaging apparatus including image sensor, optical system, control circuit, and signal processing circuit
WO1998043069A1 (fr) Instrument de mesure optique
JP3264463B2 (ja) 光散乱媒体の吸光計測装置
JP6709407B2 (ja) 厚さ測定装置及び厚さ分布測定装置
JP3502067B2 (ja) 光散乱媒体の屈折率分布情報の計測装置
JP3502076B2 (ja) 光散乱媒体の吸光計測装置
CN110603423B (zh) 采用时频检测的低相干反射的设备和方法

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20011211

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071228

Year of fee payment: 6

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071228

Year of fee payment: 6

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071228

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081228

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081228

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091228

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101228

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101228

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111228

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111228

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121228

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121228

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131228

Year of fee payment: 12

EXPY Cancellation because of completion of term