JP2017181257A - 光検出装置および光検出システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光検出装置は、複数の第1検出器および複数の第2検出器を含む光検出器と、前記光検出器上に配置された光結合層と、前記光結合層上に配置された偏光子アレイとを備える。前記光結合層は、第1低屈折率層、第1グレーティングを含む第1高屈折率層、および第2低屈折率層をこの順に含む。前記偏光子アレイは、一方向に偏光した光を透過させる第1偏光領域、および前記第1偏光領域に隣接し、前記一方向に偏光した光を遮光する第2偏光領域を含む。前記第1偏光領域は、第1検出器に対向し、前記第2偏光領域は、第2検出器に対向する。前記第1偏光領域に対向する領域における前記第1グレーティングの方位と、前記第2偏光領域に対向する領域における前記第1グレーティングの方位とは、直交している。
【選択図】図8C
Description
図1Aは、本検討例に係る光検出システム100の模式図である。光検出システム100は、光源2と、集光レンズ7と、光検出装置13と、制御回路1と、演算回路14と、を備える。
(式1)sinθ = N-λ0/Λ
ここで、Nは導波光6bについての実効屈折率、θは入射面(xy面)の法線に対する入射角度である。図2Aの例では光が入射面に垂直に入射しているのでθ=0である。この場合、導波光6bはxy面内をx方向に伝搬する。
主面を有し、前記主面に沿って配置された複数の第1検出器および複数の第2検出器を含む光検出器と、
前記光検出器上に配置された光結合層であって、
第1低屈折率層、
前記第1低屈折率層上に配置され、第1グレーティングを含む第1高屈折率層、および
前記第1高屈折率層上に配置された第2低屈折率層を含み、
前記第1高屈折率層は前記第1低屈折率層および前記第2低屈折率層よりも高い屈折率を有する、光結合層と、
前記光結合層上に配置された偏光子アレイであって、
一方向に偏光した光を透過させる第1偏光子が配置された少なくとも1つの第1偏光領域、および前記第1偏光領域に隣接し、前記一方向に偏光した光を遮光する第2偏光子が配置された少なくとも1つの第2偏光領域を含み、
前記第1偏光領域は、前記複数の第1検出器の少なくとも1つに対向し、
前記第2偏光領域は、前記複数の第2検出器の少なくとも1つに対向し、
前記第1偏光領域に対向する領域における前記第1グレーティングの方位と、前記第2偏光領域に対向する領域における前記第1グレーティングの方位とは、直交している、
偏光子アレイと、
を備える光検出装置。
前記第1検出器は、前記第2偏光領域を透過し、前記光結合層内を伝搬する光のエバネセント成分が及ぶ範囲内に配置され、
前記第2検出器は、前記第1偏光領域を透過し、前記光結合層内を伝搬する光のエバネセント成分が及ぶ範囲内に配置されている、
項目1に記載の光検出装置。
前記第1検出器は、第1の時間において、前記第1偏光領域を透過した光と、前記第2偏光領域を透過し、前記光結合層内を伝搬する光のエバネセント成分とを検出し、
前記第2検出器は、前記第1の時間とは異なる第2の時間において、前記第2偏光領域を透過した光と、前記第1偏光領域を透過し、前記光結合層内を伝搬する光のエバネセント成分とを検出する、
項目2に記載の光検出装置。
主面を有し、前記主面に沿って配置された複数の第1検出器および複数の第2検出器を含む光検出器と、
前記光検出器上に配置された光結合層であって、
第1低屈折率層、
前記第1低屈折率層上に配置され、第1グレーティングを含む第1高屈折率層、および
前記第1高屈折率層上に配置された第2低屈折率層を含み、
前記第1高屈折率層は前記第1低屈折率層および前記第2低屈折率層よりも高い屈折率を有する、光結合層と、
前記光結合層上に配置された偏光子アレイであって、
一方向に偏光した光を透過させる第1偏光子が配置された少なくとも1つの第1偏光領域、および前記第1偏光領域に隣接し、前記一方向に偏光した光を遮光する第2偏光子が配置された少なくとも1つの第2偏光領域を含み、
前記第1偏光領域は、前記複数の第1検出器の少なくとも1つに対向し、
前記第2偏光領域は、前記複数の第2検出器の少なくとも1つに対向し、
前記第1偏光領域に対向する領域における前記第1グレーティングの周期と、前記第2偏光領域に対向する領域における前記第1グレーティングの周期とは、異なっている、
偏光子アレイと、
を備える光検出装置。
前記第1偏光子および前記第2偏光子の各々は、一定の隙間を隔てて周期的に配置された直線状の複数の金属線によって形成され、
前記第1偏光子における前記複数の金属線の方位と、前記第2偏光子における前記複数の金属線の方位とは、直交している、
項目1から4のいずれかに記載の光検出装置。
前記偏光子アレイ上に配置され、前記偏光子アレイに入射する光の偏光方向を一様に特定の方向に揃える直線偏光子と、
前記直線偏光子を前記主面に垂直な軸の周りに回転させるモータと、
前記モータを制御する第1制御回路と、
を備える、
項目1から4のいずれかに記載の光検出装置。
前記第1制御回路は、
前記直線偏光子の偏光透過軸の方向と、前記第1偏光子の偏光透過軸の方向とを揃えた状態で、前記光検出器に1回目の光の検出を実行させ、
前記直線偏光子の偏光透過軸の方向と、前記第2偏光子の偏光透過軸の方向とを揃えた状態で、前記光検出器に2回目の光の検出を実行させる、
項目6に記載の光検出装置。
前記光結合層は、
前記第1低屈折率層と前記光検出器との間に配置された第3低屈折率層、および
前記第3低屈折率層と前記1低屈折率層との間に配置され、第2グレーティングを含む第2高屈折率層をさらに含み、
前記第2高屈折率層は、前記第1低屈折率層および前記第3低屈折率層よりも高い屈折率を有し、
前記第2グレーティングの方位は、前記第1グレーティングの方位と整合している、
項目1から7のいずれかに記載の光検出装置。
項目1から8のいずれかに記載の光検出装置と、
前記光検出装置に接続された演算回路をさらに備え、
前記演算回路は、
前記第1偏光領域に対向する前記第1検出器によって検出される光量を第1光量P0とし、前記第2偏光領域に対向する前記第2検出器によって検出される光量を第2光量P1とするとき、
前記第2光量P1と前記第1光量P0との比P1/P0を示す信号、
前記第1光量P0と前記第2光量P1との和に対する前記第1光量P0の割合P0/(P0+P1)を示す信号、および
前記第1光量P0と前記第2光量P1との和に対する前記第2光量P1の割合P1/(P0+P1)を示す信号
の少なくとも1つの信号を出力する、
光検出システム。
前記少なくとも1つの第1偏光領域は複数の第1偏光領域を備え、
前記少なくとも1つの第2偏光領域は複数の第2偏光領域を備え、
前記複数の第1偏光領域および前記複数の第2偏光領域は、隣接する第1偏光領域および第2偏光領域の対を複数個含み、
前記演算回路は、
前記隣接する透光領域および遮光領域の対ごとに、前記隣接する透光領域および遮光領域に対向する前記第1検出器および前記第2検出器から出力される信号に基づいて、
前記第2光量P1と前記第1光量P0との比P1/P0を示す信号、
前記第1光量P0と前記第2光量P1との和に対する前記第1光量P0の割合P0/(P0+P1)を示す信号、および
前記第1光量P0と前記第2光量P1との和に対する前記第2光量P1の割合P1/(P0+P1)を示す信号
の少なくとも1つの信号を生成して出力する、
項目9に記載の光検出システム。
前記演算回路は、生成した前記信号の値が所定の閾値以上となる領域と、前記信号の値が前記閾値未満となる領域とを区別して表した画像情報を生成する、項目10に記載の光検出システム。
所定の波長帯域の光を出射する光源をさらに備え、
前記複数の第1検出器および前記複数の第2検出器は、前記光源から出射される光の波長帯域に検出感度を有する、
項目8から11のいずれかに記載の光検出システム。
前記光結合層の上に配置され、前記光源が出射する波長帯域の光を選択的に透過させるバンドパスフィルターをさらに備える、項目12に記載の光検出システム。
前記光源を制御する第2制御回路をさらに備え、
前記第2制御回路は、前記光源から出射される光のコヒーレンス長を変化させる、項目12または13のいずれかに記載の光検出システム。
前記演算回路は、前記第2制御回路が変化させた光のコヒーレンス長ごとに、
前記第2光量P1と前記第1光量P0との比P1/P0を示す信号、
前記第1光量P0と前記第2光量P1との和に対する前記第1光量P0の割合P0/(P0+P1)を示す信号、および
前記第1光量P0と前記第2光量P1との和に対する前記第2光量P1の割合P1/(P0+P1)を示す信号
の少なくとも1つの信号を生成して出力する、
項目14に記載の光検出システム。
本実施形態の構成は、検光子(直線偏光子)が光検出装置13の前面に配置されている点、ならびに、透光領域および遮光領域の構造、グレーティングのパターニング、および光検出器の位置が異なる点を除いて、検討例と同じである。このため、検討例と共通する構成要素には同一の参照符号を付し、重複する説明は省略する。
次に、本開示の実施形態2を説明する。
1 制御回路
2 光源
3 出射光
4 被写体
5、5a、5A 散乱光
7 集光レンズ
8a 実質的な物体(物点の集まり)
8b 像面位置の像
9 光結合層
9a 開口、透光領域
9A 遮光領域
10 光検出器
11a、11A マイクロレンズ
13 光検出装置
14 演算回路
15 モータ
Claims (15)
- 主面を有し、前記主面に沿って配置された複数の第1検出器および複数の第2検出器を含む光検出器と、
前記光検出器上に配置された光結合層であって、
第1低屈折率層、
前記第1低屈折率層上に配置され、第1グレーティングを含む第1高屈折率層、および
前記第1高屈折率層上に配置された第2低屈折率層を含み、
前記第1高屈折率層は前記第1低屈折率層および前記第2低屈折率層よりも高い屈折率を有する、光結合層と、
前記光結合層上に配置された偏光子アレイであって、
一方向に偏光した光を透過させる第1偏光子が配置された少なくとも1つの第1偏光領域、および前記第1偏光領域に隣接し、前記一方向に偏光した光を遮光する第2偏光子が配置された少なくとも1つの第2偏光領域を含み、
前記第1偏光領域は、前記複数の第1検出器の少なくとも1つに対向し、
前記第2偏光領域は、前記複数の第2検出器の少なくとも1つに対向し、
前記第1偏光領域に対向する領域における前記第1グレーティングの方位と、前記第2偏光領域に対向する領域における前記第1グレーティングの方位とは、直交している、
偏光子アレイと、
を備える光検出装置。 - 前記第1検出器は、前記第2偏光領域を透過し、前記光結合層内を伝搬する光のエバネセント成分が及ぶ範囲内に配置され、
前記第2検出器は、前記第1偏光領域を透過し、前記光結合層内を伝搬する光のエバネセント成分が及ぶ範囲内に配置されている、
請求項1に記載の光検出装置。 - 前記第1検出器は、第1の時間において、前記第1偏光領域を透過した光と、前記第2偏光領域を透過し、前記光結合層内を伝搬する光のエバネセント成分とを検出し、
前記第2検出器は、前記第1の時間とは異なる第2の時間において、前記第2偏光領域を透過した光と、前記第1偏光領域を透過し、前記光結合層内を伝搬する光のエバネセント成分とを検出する、
請求項2に記載の光検出装置。 - 主面を有し、前記主面に沿って配置された複数の第1検出器および複数の第2検出器を含む光検出器と、
前記光検出器上に配置された光結合層であって、
第1低屈折率層、
前記第1低屈折率層上に配置され、第1グレーティングを含む第1高屈折率層、および
前記第1高屈折率層上に配置された第2低屈折率層を含み、
前記第1高屈折率層は前記第1低屈折率層および前記第2低屈折率層よりも高い屈折率を有する、光結合層と、
前記光結合層上に配置された偏光子アレイであって、
一方向に偏光した光を透過させる第1偏光子が配置された少なくとも1つの第1偏光領域、および前記第1偏光領域に隣接し、前記一方向に偏光した光を遮光する第2偏光子が配置された少なくとも1つの第2偏光領域を含み、
前記第1偏光領域は、前記複数の第1検出器の少なくとも1つに対向し、
前記第2偏光領域は、前記複数の第2検出器の少なくとも1つに対向し、
前記第1偏光領域に対向する領域における前記第1グレーティングの周期と、前記第2偏光領域に対向する領域における前記第1グレーティングの周期とは、異なっている、
偏光子アレイと、
を備える光検出装置。 - 前記第1偏光子および前記第2偏光子の各々は、一定の隙間を隔てて周期的に配置された直線状の複数の金属線によって形成され、
前記第1偏光子における前記複数の金属線の方位と、前記第2偏光子における前記複数の金属線の方位とは、直交している、
請求項1から4のいずれかに記載の光検出装置。 - 前記偏光子アレイ上に配置され、前記偏光子アレイに入射する光の偏光方向を一様に特定の方向に揃える直線偏光子と、
前記直線偏光子を前記主面に垂直な軸の周りに回転させるモータと、
前記モータを制御する第1制御回路と、
を備える、
請求項1から4のいずれかに記載の光検出装置。 - 前記第1制御回路は、
前記直線偏光子の偏光透過軸の方向と、前記第1偏光子の偏光透過軸の方向とを揃えた状態で、前記光検出器に1回目の光の検出を実行させ、
前記直線偏光子の偏光透過軸の方向と、前記第2偏光子の偏光透過軸の方向とを揃えた状態で、前記光検出器に2回目の光の検出を実行させる、
請求項6に記載の光検出装置。 - 前記光結合層は、
前記第1低屈折率層と前記光検出器との間に配置された第3低屈折率層、および
前記第3低屈折率層と前記1低屈折率層との間に配置され、第2グレーティングを含む第2高屈折率層をさらに含み、
前記第2高屈折率層は、前記第1低屈折率層および前記第3低屈折率層よりも高い屈折率を有し、
前記第2グレーティングの方位は、前記第1グレーティングの方位と整合している、
請求項1から7のいずれかに記載の光検出装置。 - 請求項1から8のいずれかに記載の光検出装置と、
前記光検出装置に接続された演算回路をさらに備え、
前記演算回路は、
前記第1偏光領域に対向する前記第1検出器によって検出される光量を第1光量P0とし、前記第2偏光領域に対向する前記第2検出器によって検出される光量を第2光量P1とするとき、
前記第2光量P1と前記第1光量P0との比P1/P0を示す信号、
前記第1光量P0と前記第2光量P1との和に対する前記第1光量P0の割合P0/(P0+P1)を示す信号、および
前記第1光量P0と前記第2光量P1との和に対する前記第2光量P1の割合P1/(P0+P1)を示す信号
の少なくとも1つの信号を出力する、
光検出システム。 - 前記少なくとも1つの第1偏光領域は複数の第1偏光領域を備え、
前記少なくとも1つの第2偏光領域は複数の第2偏光領域を備え、
前記複数の第1偏光領域および前記複数の第2偏光領域は、隣接する第1偏光領域および第2偏光領域の対を複数個含み、
前記演算回路は、
前記隣接する透光領域および遮光領域の対ごとに、前記隣接する透光領域および遮光領域に対向する前記第1検出器および前記第2検出器から出力される信号に基づいて、
前記第2光量P1と前記第1光量P0との比P1/P0を示す信号、
前記第1光量P0と前記第2光量P1との和に対する前記第1光量P0の割合P0/(P0+P1)を示す信号、および
前記第1光量P0と前記第2光量P1との和に対する前記第2光量P1の割合P1/(P0+P1)を示す信号
の少なくとも1つの信号を生成して出力する、
請求項9に記載の光検出システム。 - 前記演算回路は、生成した前記信号の値が所定の閾値以上となる領域と、前記信号の値が前記閾値未満となる領域とを区別して表した画像情報を生成する、請求項10に記載の光検出システム。
- 所定の波長帯域の光を出射する光源をさらに備え、
前記複数の第1検出器および前記複数の第2検出器は、前記光源から出射される光の波長帯域に検出感度を有する、
請求項8から11のいずれかに記載の光検出システム。 - 前記光結合層の上に配置され、前記光源が出射する波長帯域の光を選択的に透過させるバンドパスフィルターをさらに備える、請求項12に記載の光検出システム。
- 前記光源を制御する第2制御回路をさらに備え、
前記第2制御回路は、前記光源から出射される光のコヒーレンス長を変化させる、請求項12または13のいずれかに記載の光検出システム。 - 前記演算回路は、前記第2制御回路が変化させた光のコヒーレンス長ごとに、
前記第2光量P1と前記第1光量P0との比P1/P0を示す信号、
前記第1光量P0と前記第2光量P1との和に対する前記第1光量P0の割合P0/(P0+P1)を示す信号、および
前記第1光量P0と前記第2光量P1との和に対する前記第2光量P1の割合P1/(P0+P1)を示す信号
の少なくとも1つの信号を生成して出力する、
請求項14に記載の光検出システム。
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