JPH07153719A - ダイシング装置 - Google Patents
ダイシング装置Info
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- JPH07153719A JPH07153719A JP32120393A JP32120393A JPH07153719A JP H07153719 A JPH07153719 A JP H07153719A JP 32120393 A JP32120393 A JP 32120393A JP 32120393 A JP32120393 A JP 32120393A JP H07153719 A JPH07153719 A JP H07153719A
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- Japan
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- microscope
- semiconductor wafer
- blade
- chuck table
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 正確な深さの切断加工をすることができるダ
イシング装置を提供する。 【構成】 顕微鏡37を上下動させてチャックテーブル
12の上面に対し焦点を合わせる。そして、裏面に支持
テープを張りつけたウエハをチャックテーブル12上に
固定し、顕微鏡37を移動させてウエハの上面に対し焦
点を合わせる。ダイシング装置のNC装置は、この時の
顕微鏡37の移動量をチャックテーブル12の上面位置
に加えることでウエハの上面位置を求める。そして、求
めたウエハ上面位置を基準に、スピンドルモータ29に
よって回転したブレード27をウエハに切り込ませると
共に、X軸テーブル15及びY軸テーブル25を移動さ
せて所定深さの切断加工を行う。
イシング装置を提供する。 【構成】 顕微鏡37を上下動させてチャックテーブル
12の上面に対し焦点を合わせる。そして、裏面に支持
テープを張りつけたウエハをチャックテーブル12上に
固定し、顕微鏡37を移動させてウエハの上面に対し焦
点を合わせる。ダイシング装置のNC装置は、この時の
顕微鏡37の移動量をチャックテーブル12の上面位置
に加えることでウエハの上面位置を求める。そして、求
めたウエハ上面位置を基準に、スピンドルモータ29に
よって回転したブレード27をウエハに切り込ませると
共に、X軸テーブル15及びY軸テーブル25を移動さ
せて所定深さの切断加工を行う。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ダイシング装置に関す
る。
る。
【0002】
【従来の技術】ダイシング装置は、スピンドルモータに
よって回転される円盤状の刃具(ブレード)を加工テー
ブル上に固定された半導体ウエハに切り込ませ、スピン
ドルモータまたは加工テーブルを水平移動させることで
ウエハをチップ毎に切断するものである。この切断加工
においては、ブレードの切り込み量が大きいと、ブレー
ドがウエハの裏側に抜けて加工テーブルに傷を付けた
り、ブレード自体を損傷させたりすることがある。従っ
て、ブレードがウエハに対して所定の深さだけ正確に切
り込まれるようにする必要がある。
よって回転される円盤状の刃具(ブレード)を加工テー
ブル上に固定された半導体ウエハに切り込ませ、スピン
ドルモータまたは加工テーブルを水平移動させることで
ウエハをチップ毎に切断するものである。この切断加工
においては、ブレードの切り込み量が大きいと、ブレー
ドがウエハの裏側に抜けて加工テーブルに傷を付けた
り、ブレード自体を損傷させたりすることがある。従っ
て、ブレードがウエハに対して所定の深さだけ正確に切
り込まれるようにする必要がある。
【0003】また、ブレードをウエハの裏面(下面)に
抜けるまで切り込ませると、ウエハの裏面にクラックが
生じるため、ウエハの厚さを若干(3〜5μm)残して
溝を切る場合がある。この場合の切断加工においては、
正確な深さで溝を形成しなければならないため、深さ方
向のブレードの位置決めをより正確に行う必要があり、
従来では以下のように位置決めを行っていた。
抜けるまで切り込ませると、ウエハの裏面にクラックが
生じるため、ウエハの厚さを若干(3〜5μm)残して
溝を切る場合がある。この場合の切断加工においては、
正確な深さで溝を形成しなければならないため、深さ方
向のブレードの位置決めをより正確に行う必要があり、
従来では以下のように位置決めを行っていた。
【0004】図6は、従来のダイシング装置におけるブ
レード13の位置決め方法を説明するためのものであ
る。この図に示すように、支持テープ11の厚さをA、
ウエハ10の厚さをB、切り込みたい溝の深さをCとす
ると、まず、これらのデータを予めNC(数値制御)装
置に入力しておく。チャックテーブル12とブレード1
3との間には、電圧が印加されており、NC装置は、ブ
レード13を降下させてチャックテーブル12と接触さ
せることによって流れる電流を検出することで、チャッ
クテーブル12の上面位置を求める(以下、この動作を
「セットアップ動作」という)。次にNC装置は、求め
たチャックテーブル12の上面位置にAとBの高さ分を
加えることによりウエハ10の上面位置を求める。そし
て、求めたウエハ10の上面位置からブレード13をC
だけ降下させることで深さCの溝を形成する。
レード13の位置決め方法を説明するためのものであ
る。この図に示すように、支持テープ11の厚さをA、
ウエハ10の厚さをB、切り込みたい溝の深さをCとす
ると、まず、これらのデータを予めNC(数値制御)装
置に入力しておく。チャックテーブル12とブレード1
3との間には、電圧が印加されており、NC装置は、ブ
レード13を降下させてチャックテーブル12と接触さ
せることによって流れる電流を検出することで、チャッ
クテーブル12の上面位置を求める(以下、この動作を
「セットアップ動作」という)。次にNC装置は、求め
たチャックテーブル12の上面位置にAとBの高さ分を
加えることによりウエハ10の上面位置を求める。そし
て、求めたウエハ10の上面位置からブレード13をC
だけ降下させることで深さCの溝を形成する。
【0005】また、溝の深さCではなく、溝を形成する
ことで残したい厚さDを、NC装置に入力する場合もあ
る。この場合NC装置は、まず(A+B)−Dを演算す
ることで、厚さDを残すためにブレード13を切り込ま
せなければならない深さCを求める。そして、同様にチ
ャックテーブル12の上面位置を基準に(A+B)を行
い、求めたウエハ10の上面位置から深さCだけブレー
ド13を切り込ませることで溝を切る。なお、ブレード
13をウエハ10の裏面まで切り込ませる切断加工にお
いても同様に、チャックテーブル12の上面位置を基準
にブレード13の位置決めを行っていた。
ことで残したい厚さDを、NC装置に入力する場合もあ
る。この場合NC装置は、まず(A+B)−Dを演算す
ることで、厚さDを残すためにブレード13を切り込ま
せなければならない深さCを求める。そして、同様にチ
ャックテーブル12の上面位置を基準に(A+B)を行
い、求めたウエハ10の上面位置から深さCだけブレー
ド13を切り込ませることで溝を切る。なお、ブレード
13をウエハ10の裏面まで切り込ませる切断加工にお
いても同様に、チャックテーブル12の上面位置を基準
にブレード13の位置決めを行っていた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来のダイシ
ング装置では、チャックテーブル12の上面を基準に、
支持テープ11やウエハ10の厚さA、Bからウエハ1
0の上面位置を求めていたので、厚さA、Bのデータが
不正確であると、実際の位置と異なるウエハ10の上面
位置を求めてしまう。従って、求めた位置から深さC分
だけブレード13を降下させても、切断の深さがCとは
ならず、正確な深さの切断加工ができない。特に、支持
テープ11は、塩化ビニール等の伸縮性を有する材料か
らなり、支持テープ11毎に厚さのばらつきがある。従
って、従来のダイシング装置では、切断の深さがウエハ
10毎に異なってしまう。
ング装置では、チャックテーブル12の上面を基準に、
支持テープ11やウエハ10の厚さA、Bからウエハ1
0の上面位置を求めていたので、厚さA、Bのデータが
不正確であると、実際の位置と異なるウエハ10の上面
位置を求めてしまう。従って、求めた位置から深さC分
だけブレード13を降下させても、切断の深さがCとは
ならず、正確な深さの切断加工ができない。特に、支持
テープ11は、塩化ビニール等の伸縮性を有する材料か
らなり、支持テープ11毎に厚さのばらつきがある。従
って、従来のダイシング装置では、切断の深さがウエハ
10毎に異なってしまう。
【0007】そこで、本発明の目的は、正確な深さの切
断加工をすることができるダイシング装置を提供するこ
とにある。
断加工をすることができるダイシング装置を提供するこ
とにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明で
は、半導体ウエハが固定される加工テーブルと、前記半
導体ウエハを切断するための刃具と、前記加工テーブル
の上方に配置される顕微鏡と、この顕微鏡を上下動させ
て焦点を合わせる焦点調整手段と、この焦点調整手段に
より前記加工テーブルの上面と前記半導体ウエハの上面
に焦点を合わせた場合の前記顕微鏡の位置から前記半導
体ウエハの上面位置を測定する上面位置測定手段と、こ
の上面位置測定手段で測定された半導体ウエハの上面位
置を基準に前記刃具を前記半導体ウエハに切り込ませる
切り込み手段とをダイシング装置に具備させて前記目的
を達成する。
は、半導体ウエハが固定される加工テーブルと、前記半
導体ウエハを切断するための刃具と、前記加工テーブル
の上方に配置される顕微鏡と、この顕微鏡を上下動させ
て焦点を合わせる焦点調整手段と、この焦点調整手段に
より前記加工テーブルの上面と前記半導体ウエハの上面
に焦点を合わせた場合の前記顕微鏡の位置から前記半導
体ウエハの上面位置を測定する上面位置測定手段と、こ
の上面位置測定手段で測定された半導体ウエハの上面位
置を基準に前記刃具を前記半導体ウエハに切り込ませる
切り込み手段とをダイシング装置に具備させて前記目的
を達成する。
【0009】
【作用】請求項1記載のダイシング装置では、焦点調整
手段によって加工テーブルの上面と半導体ウエハの上面
に顕微鏡の焦点が合わされ、このときの顕微鏡の位置か
ら上面位置測定手段がウエハの上面位置を測定する。切
り込み手段は、この測定されたウエハの上面位置を基準
に刃具をウエハに切り込ませる。
手段によって加工テーブルの上面と半導体ウエハの上面
に顕微鏡の焦点が合わされ、このときの顕微鏡の位置か
ら上面位置測定手段がウエハの上面位置を測定する。切
り込み手段は、この測定されたウエハの上面位置を基準
に刃具をウエハに切り込ませる。
【0010】
【実施例】以下、本発明のダイシング装置における一実
施例を図1ないし図5を参照して詳細に説明する。図1
は、本実施例によるダイシング装置の機械構成を表した
ものである。なお、従来と同様の構成については同一の
符号を付し、その詳細な説明は適宜省略することとす
る。本実施例のダイシング装置は、加工テーブルとして
チャックテーブル12を備えている。このチャックテー
ブル12は、支持テープ11が裏面に張られたウエハ1
0(図6参照)を空気吸引により保持するようになって
おり、X軸テーブル15上に固定されると共に、図示し
ないモータにより矢印Hで示すように回転するようにな
っている。X軸テーブル15は、X軸方向駆動モータ1
7の駆動によるボールネジ19の回転で、ガイドレール
16に案内されて図1に示すX軸方向に水平移動される
ようになっている。
施例を図1ないし図5を参照して詳細に説明する。図1
は、本実施例によるダイシング装置の機械構成を表した
ものである。なお、従来と同様の構成については同一の
符号を付し、その詳細な説明は適宜省略することとす
る。本実施例のダイシング装置は、加工テーブルとして
チャックテーブル12を備えている。このチャックテー
ブル12は、支持テープ11が裏面に張られたウエハ1
0(図6参照)を空気吸引により保持するようになって
おり、X軸テーブル15上に固定されると共に、図示し
ないモータにより矢印Hで示すように回転するようにな
っている。X軸テーブル15は、X軸方向駆動モータ1
7の駆動によるボールネジ19の回転で、ガイドレール
16に案内されて図1に示すX軸方向に水平移動される
ようになっている。
【0011】また、ダイシング装置は、Y軸方向駆動モ
ータ21及びボールネジ23等によって図1のY軸方向
に水平移動されるY軸テーブル25を備えている。この
Y軸テーブル25には、円盤状のブレード27を回転さ
せるスピンドルモータ29を、スピンドル上下動モータ
31やボールネジ33等によってZ軸方向に上下動させ
る移動機構35が固定されている。この移動機構35に
よるスピンドルモータ29の降下でブレード27は、ウ
エハ10に対して切り込まれる。なお、このブレード2
7とチャックテーブル12との間には、従来と同様に、
セットアップ動作のために電圧が印加され、これらの導
通は、図示しない検出手段によって検出されるようにな
っている。
ータ21及びボールネジ23等によって図1のY軸方向
に水平移動されるY軸テーブル25を備えている。この
Y軸テーブル25には、円盤状のブレード27を回転さ
せるスピンドルモータ29を、スピンドル上下動モータ
31やボールネジ33等によってZ軸方向に上下動させ
る移動機構35が固定されている。この移動機構35に
よるスピンドルモータ29の降下でブレード27は、ウ
エハ10に対して切り込まれる。なお、このブレード2
7とチャックテーブル12との間には、従来と同様に、
セットアップ動作のために電圧が印加され、これらの導
通は、図示しない検出手段によって検出されるようにな
っている。
【0012】Y軸テーブル25上には、顕微鏡37も固
定部材39を介して固定されている。顕微鏡37は、チ
ャックテーブル12の上面やウエハ10表面を拡大して
見るためのものであり、モータやボールネジ等からなる
図示しない移動機構によって固定部材39に対しZ軸方
向に上下動されるようになっている。顕微鏡37の焦点
は、この上下動で合わされる。なお、チャックテーブル
12の上面には、顕微鏡37による焦点合わせ用の印が
設けられている。また、チャックテーブル12を、研磨
で表面に光沢を持たせたセラミック等の多孔質体とし、
表面の孔によって顕微鏡37の焦点合わせをするように
してもよい。但し、この場合チャックテーブル12を絶
縁体とすると、セットアップ動作時にチャックテーブル
12の上面位置を検出することができないので、セット
アップ動作用に一部を導電体にする。
定部材39を介して固定されている。顕微鏡37は、チ
ャックテーブル12の上面やウエハ10表面を拡大して
見るためのものであり、モータやボールネジ等からなる
図示しない移動機構によって固定部材39に対しZ軸方
向に上下動されるようになっている。顕微鏡37の焦点
は、この上下動で合わされる。なお、チャックテーブル
12の上面には、顕微鏡37による焦点合わせ用の印が
設けられている。また、チャックテーブル12を、研磨
で表面に光沢を持たせたセラミック等の多孔質体とし、
表面の孔によって顕微鏡37の焦点合わせをするように
してもよい。但し、この場合チャックテーブル12を絶
縁体とすると、セットアップ動作時にチャックテーブル
12の上面位置を検出することができないので、セット
アップ動作用に一部を導電体にする。
【0013】図2は、本実施例によるダイシング装置の
制御系の構成を表したものである。本実施例によるダイ
シング装置は、NC装置41を備えている。このNC装
置41は、フィードバックしたスピンドルモータ29の
回転数に応じてスピンドルモータ用ドライバ43を制御
したり、スピンドルモータ29の位置(高さ)に応じて
スピンドル上下動モータ用ドライバ45を制御すること
で、スピンドルモータ29を所望の回転数で回転させた
り、スピンドルモータ29を所定の位置(高さ)に移動
させたりするようになっている。また、NC装置41
は、チャックテーブル12を回転させる駆動モータ47
のチャックテーブル回転モータ用ドライバ49を制御す
ることでチャックテーブル12を所定角度回転させるよ
うになっている。
制御系の構成を表したものである。本実施例によるダイ
シング装置は、NC装置41を備えている。このNC装
置41は、フィードバックしたスピンドルモータ29の
回転数に応じてスピンドルモータ用ドライバ43を制御
したり、スピンドルモータ29の位置(高さ)に応じて
スピンドル上下動モータ用ドライバ45を制御すること
で、スピンドルモータ29を所望の回転数で回転させた
り、スピンドルモータ29を所定の位置(高さ)に移動
させたりするようになっている。また、NC装置41
は、チャックテーブル12を回転させる駆動モータ47
のチャックテーブル回転モータ用ドライバ49を制御す
ることでチャックテーブル12を所定角度回転させるよ
うになっている。
【0014】さらに、NC装置41は、X軸テーブル1
5とY軸テーブル25の位置を認識すると共に、それら
の位置に応じてX軸方向駆動モータ17を駆動させるX
軸方向駆動モータ用ドライバ51やY軸方向駆動モータ
21を駆動させるY軸方向駆動モータ用ドライバ53を
制御することで、X軸テーブル15やY軸テーブル25
を所定位置に移動させるようになっている。また、NC
装置41には、顕微鏡37を上下動させる駆動モータ5
7の顕微鏡上下動モータ用ドライバ59と、顕微鏡37
で拡大された像をCCDカメラ等でとらえて明暗を解析
することで焦点ずれを測定する画像処理装置55とが接
続されている。NC装置41は、この画像処理装置55
で測定された焦点ずれに応じて、顕微鏡37を上下動さ
せることで、焦点合わせを行うようになっている。
5とY軸テーブル25の位置を認識すると共に、それら
の位置に応じてX軸方向駆動モータ17を駆動させるX
軸方向駆動モータ用ドライバ51やY軸方向駆動モータ
21を駆動させるY軸方向駆動モータ用ドライバ53を
制御することで、X軸テーブル15やY軸テーブル25
を所定位置に移動させるようになっている。また、NC
装置41には、顕微鏡37を上下動させる駆動モータ5
7の顕微鏡上下動モータ用ドライバ59と、顕微鏡37
で拡大された像をCCDカメラ等でとらえて明暗を解析
することで焦点ずれを測定する画像処理装置55とが接
続されている。NC装置41は、この画像処理装置55
で測定された焦点ずれに応じて、顕微鏡37を上下動さ
せることで、焦点合わせを行うようになっている。
【0015】次に、このように構成された実施例の動作
について説明する。図3は、NC装置41が行う処理を
中心にダイシング装置の動作の流れを表したものであ
る。NC装置30は、まず、スピンドルモータ29のブ
レード27及び顕微鏡37がチャックテーブル12の上
方に位置するように各テーブル15、25を所定位置に
移動させる(ステップ1)。そして、セットアップ動作
によりチャックテーブル12の上面位置を求める(ステ
ップ2)。すなわち、ウエハ10がない状態でスピンド
ルモータ20を降下させてチャックテーブル12上にブ
レード27を接触させ、ブレード27とチャックテーブ
ル12との間の導通を検出することで、ブレード27に
対するチャックテーブル12の上面位置を求め、これを
記憶する。次に、NC装置41は、画像処理装置55で
測定される焦点ずれに応じて、顕微鏡37を上下動させ
て、チャックテーブル12の上面に形成された印に対し
て焦点を合わせる(ステップ3)。
について説明する。図3は、NC装置41が行う処理を
中心にダイシング装置の動作の流れを表したものであ
る。NC装置30は、まず、スピンドルモータ29のブ
レード27及び顕微鏡37がチャックテーブル12の上
方に位置するように各テーブル15、25を所定位置に
移動させる(ステップ1)。そして、セットアップ動作
によりチャックテーブル12の上面位置を求める(ステ
ップ2)。すなわち、ウエハ10がない状態でスピンド
ルモータ20を降下させてチャックテーブル12上にブ
レード27を接触させ、ブレード27とチャックテーブ
ル12との間の導通を検出することで、ブレード27に
対するチャックテーブル12の上面位置を求め、これを
記憶する。次に、NC装置41は、画像処理装置55で
測定される焦点ずれに応じて、顕微鏡37を上下動させ
て、チャックテーブル12の上面に形成された印に対し
て焦点を合わせる(ステップ3)。
【0016】図4は、チャックテーブル12の上面に焦
点を合わせたときの顕微鏡37の位置を表したものであ
る。図4に示す状態では、顕微鏡37が、チャックテー
ブル12の上面位置から距離aの位置にある。この距離
aは、顕微鏡37固有の焦点距離であり、一定値であ
る。顕微鏡37の焦点が合ったら、支持テープ11が裏
面に張られたウエハ10をチャックテーブル12上の所
定位置に載置し、空気吸引により保持する(ステップ
4)。チャックテーブル12上にウエハ10が保持され
ると、その厚さ分顕微鏡37の焦点はずれる。そこで、
NC装置41は、顕微鏡37を上昇させてウエハ10表
面に形成されたパターンに対して焦点を合わせる(ステ
ップ5)。
点を合わせたときの顕微鏡37の位置を表したものであ
る。図4に示す状態では、顕微鏡37が、チャックテー
ブル12の上面位置から距離aの位置にある。この距離
aは、顕微鏡37固有の焦点距離であり、一定値であ
る。顕微鏡37の焦点が合ったら、支持テープ11が裏
面に張られたウエハ10をチャックテーブル12上の所
定位置に載置し、空気吸引により保持する(ステップ
4)。チャックテーブル12上にウエハ10が保持され
ると、その厚さ分顕微鏡37の焦点はずれる。そこで、
NC装置41は、顕微鏡37を上昇させてウエハ10表
面に形成されたパターンに対して焦点を合わせる(ステ
ップ5)。
【0017】図5は、ウエハ10に対して焦点を合わせ
たときの顕微鏡37の位置を表したものである。図5に
示すように、顕微鏡37は、図4に示した位置(図5に
おいて点線で示す)からウエハ10と支持テープ11の
厚さに相当する距離bだけ移動している。NC装置41
は、顕微鏡37の位置を認識しているので、その位置変
化から距離bを求め、これを記憶しておく(ステップ
6)。
たときの顕微鏡37の位置を表したものである。図5に
示すように、顕微鏡37は、図4に示した位置(図5に
おいて点線で示す)からウエハ10と支持テープ11の
厚さに相当する距離bだけ移動している。NC装置41
は、顕微鏡37の位置を認識しているので、その位置変
化から距離bを求め、これを記憶しておく(ステップ
6)。
【0018】そして、ステップ2において記憶したチャ
ックテーブル12の上面位置に距離bを加えてウエハ1
0の上面位置を求め、これを記憶する(ステップ7)。
次に、NC装置41は、ブレード27を降下させてもウ
エハ10と接触しない位置にチャックテーブル12を移
動させ(ステップ8)、スピンドルモータ29を所定回
転数で回転させる(ステップ9)。そして、ステップ7
において記憶したウエハ10の上面位置までブレード2
7を降下させると共に、更に切り込みたい深さ分、ブレ
ード27を降下させる(ステップ10)。なお、この時
の切り込みたい深さは、オペレータが予めNC装置41
に入力しておく。
ックテーブル12の上面位置に距離bを加えてウエハ1
0の上面位置を求め、これを記憶する(ステップ7)。
次に、NC装置41は、ブレード27を降下させてもウ
エハ10と接触しない位置にチャックテーブル12を移
動させ(ステップ8)、スピンドルモータ29を所定回
転数で回転させる(ステップ9)。そして、ステップ7
において記憶したウエハ10の上面位置までブレード2
7を降下させると共に、更に切り込みたい深さ分、ブレ
ード27を降下させる(ステップ10)。なお、この時
の切り込みたい深さは、オペレータが予めNC装置41
に入力しておく。
【0019】次に、NC装置41は、各テーブル15、
25を所定の工程分移動させてブレード27によるウエ
ハ10の切断加工を行い(ステップ11)、処理を終了
させる。すなわち、ブレード27を前述の所望の深さ分
降下させた状態で、X軸テーブル15をチャックテーブ
ル12の直径と略等しい振幅で往復動させると共に、一
往復毎にY軸テーブル25を所定ピッチ(例えば、1チ
ップの大きさ分)づつ移動させる。これにより、ウエハ
10表面には、所望の深さの溝が全面にわたり形成され
る。そして、チャックテーブル12を90°回転させて
同様に溝を切ることで、ウエハ10をチップ毎に分割す
る編み目状の溝を形成する。
25を所定の工程分移動させてブレード27によるウエ
ハ10の切断加工を行い(ステップ11)、処理を終了
させる。すなわち、ブレード27を前述の所望の深さ分
降下させた状態で、X軸テーブル15をチャックテーブ
ル12の直径と略等しい振幅で往復動させると共に、一
往復毎にY軸テーブル25を所定ピッチ(例えば、1チ
ップの大きさ分)づつ移動させる。これにより、ウエハ
10表面には、所望の深さの溝が全面にわたり形成され
る。そして、チャックテーブル12を90°回転させて
同様に溝を切ることで、ウエハ10をチップ毎に分割す
る編み目状の溝を形成する。
【0020】以上説明したように、本実施例のダイシン
グ装置によれば、実測で求めたウエハ10の上面位置を
基準にブレード27が深さ方向に切り込まれるので、支
持テープ11毎に厚さのばらつきがあっても、正確な深
さの切断加工をすることができる。
グ装置によれば、実測で求めたウエハ10の上面位置を
基準にブレード27が深さ方向に切り込まれるので、支
持テープ11毎に厚さのばらつきがあっても、正確な深
さの切断加工をすることができる。
【0021】
【発明の効果】本発明のダイシング装置によれば、上面
位置測定手段で測定された半導体ウエハの上面位置を基
準に刃具を半導体ウエハに切り込ませるので、正確な深
さの切断加工をすることができる。
位置測定手段で測定された半導体ウエハの上面位置を基
準に刃具を半導体ウエハに切り込ませるので、正確な深
さの切断加工をすることができる。
【図1】本発明の一実施例によるダイシング装置の機械
構成を示した斜視図である。
構成を示した斜視図である。
【図2】同装置の制御系の構成を示したブロック図であ
る。
る。
【図3】同装置の動作の流れを示したフローチャートで
ある。
ある。
【図4】同装置において、チャックテーブルの上面に焦
点を合わせたときの顕微鏡の位置を示した説明図であ
る。
点を合わせたときの顕微鏡の位置を示した説明図であ
る。
【図5】同装置において、ウエハの上面に焦点を合わせ
たときの顕微鏡の位置を示した説明図である。
たときの顕微鏡の位置を示した説明図である。
【図6】従来のダイシング装置における切り込み方法を
示した説明図である。
示した説明図である。
10 ウエハ 11 支持テープ 12 チャックテーブル 15 X軸テーブル 16 ガイドレール 17 X軸方向駆動モータ 19、23、33 ボールネジ 21 Y軸方向駆動モータ 25 Y軸テーブル 27 ブレード 29 スピンドルモータ 31 スピンドル上下動モータ 35 移動機構 37 顕微鏡 39 固定部材 41 NC装置 43 スピンドルモータ用ドライバ 45 スピンドル上下動モータ用ドライバ 47、57 駆動モータ 49 チャックテーブル回転モータ用ドライバ 51 X軸方向駆動モータ用ドライバ 53 Y軸方向駆動モータ用ドライバ 55 画像処理装置 59 顕微鏡上下動モータ用ドライバ
Claims (1)
- 【請求項1】 半導体ウエハが固定される加工テーブル
と、 前記半導体ウエハを切断するための刃具と、 前記加工テーブルの上方に配置される顕微鏡と、 この顕微鏡を上下動させて焦点を合わせる焦点調整手段
と、 この焦点調整手段により前記加工テーブルの上面と前記
半導体ウエハの上面に焦点を合わせた場合の前記顕微鏡
の位置から前記半導体ウエハの上面位置を測定する上面
位置測定手段と、 この上面位置測定手段で測定された半導体ウエハの上面
位置を基準に前記刃具を前記半導体ウエハに切り込ませ
る切り込み手段とを具備することを特徴とするダイシン
グ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32120393A JPH07153719A (ja) | 1993-11-26 | 1993-11-26 | ダイシング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32120393A JPH07153719A (ja) | 1993-11-26 | 1993-11-26 | ダイシング装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07153719A true JPH07153719A (ja) | 1995-06-16 |
Family
ID=18129951
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP32120393A Pending JPH07153719A (ja) | 1993-11-26 | 1993-11-26 | ダイシング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07153719A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011183483A (ja) * | 2010-03-05 | 2011-09-22 | Toshiba Mach Co Ltd | 距離測定機能付きの研削盤 |
JP2013222822A (ja) * | 2012-04-17 | 2013-10-28 | Disco Abrasive Syst Ltd | 分割方法 |
-
1993
- 1993-11-26 JP JP32120393A patent/JPH07153719A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011183483A (ja) * | 2010-03-05 | 2011-09-22 | Toshiba Mach Co Ltd | 距離測定機能付きの研削盤 |
JP2013222822A (ja) * | 2012-04-17 | 2013-10-28 | Disco Abrasive Syst Ltd | 分割方法 |
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