JPH07111240A - X線マスクの製造方法及びその装置 - Google Patents
X線マスクの製造方法及びその装置Info
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- JPH07111240A JPH07111240A JP5277795A JP27779593A JPH07111240A JP H07111240 A JPH07111240 A JP H07111240A JP 5277795 A JP5277795 A JP 5277795A JP 27779593 A JP27779593 A JP 27779593A JP H07111240 A JPH07111240 A JP H07111240A
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- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
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- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
ング進行が平均化されるようにし、エッチング溶液の圧
力やエッチング溶液の対流等による外力がメンブレンの
一部に集中してかからないようにして製造時にメンブレ
ンが変形したり、破損したりするのを防ぐ。 【構成】 エッチングされる部分の中央部の厚みを周辺
よりも予め薄く形成されたSi基板6を用いてエッチン
グをするようにして、エッチングを必要とする部分全体
のエッチング処理時間をほぼ平均化し、エッチング進行
のばらつきによってエッチング溶液の圧力やエッチング
溶液の対流等による外力がメンブレン1の一部に集中し
てかかることがないようにした。
Description
板上に集積回路パターンを転写するX線マスクの製造方
法及びその装置に関するものである。
い、回路を構成する素子並びに各素子を結合する配線線
幅の微細化が進んでいる。このため、従来の紫外線露光
技術に比べより微細なパターンの転写が可能なX線露光
技術が研究されている。このX線露光技術は、X線に対
して透過性を有する薄膜上にX線を吸収する材料からな
るパターンを形成したX線マスクを、X線源と半導体基
板間に挿入してパターン転写を行うものである。
々と研究されており、その一つは特開平3−12915
号で知ることができる。
X線マスクの製造技術は、図7に示すように、例えばS
iNやBN薄膜等、X線に対して透過性を有する薄膜、
すなわちメンブレン51上にTa(タンタル)やAu
(金)等、X線を吸収する材料でなるX線吸収体パター
ン52を表面に形成しているとともに、裏面中央部にお
およそ25〜30ミリ角の窓55を有するバックエッチ
ングマスク54を設けたSi(珪素)基板53を用意し
[図7の(a)参照]、次いでこのSi基板53の裏面
側で窓55内に表出している中央部分53aをKOH
(水酸化カリウム)等のエッチング溶液によってエッチ
ング除去して、図7の(b)に示すようにメンブレン5
1の表裏面を露出させ、これを露光エリアとして使用す
るX線マスクを得るものである。
た従来におけるX線マスクの製造方法では、バックエッ
チ工程において中央部分53aの中央部が一番最後まで
残り、周辺のエッチングが終了しても中央部にSi残留
部56が残ることがある。このような場合、エッチング
溶液の圧力やエッチング溶液の対流等でメンブレン51
にかかる力がSi残留部56の周辺に集中し、この部分
におけるメンブレン51の変形が大きくなってメンブレ
ン51が破損したりし、X線マスク製造時における歩留
まりが悪いと言う問題点があった。
のであり、その目的は基板のエッチングされる部分にお
けるエッチング進行が平均化されるようにすることによ
って、エッチング溶液の圧力やエッチング溶液の対流等
による外力がメンブレンの一部に集中してかからないよ
うにし、製造時にメンブレンが変形したり、破損したり
するのを防ぎ、X線マスクの歩留まりとX線マスクのパ
ターン位置精度を向上させることのできるX線マスクの
製造方法及びその装置を提供することにある。
っては、表面側にX線吸収体パターンを有するX線透過
性のメンブレンを設けた基板の裏面にエッチング溶液を
触れさせて前記基板の一部をエッチング除去し、前記メ
ンブレンの表裏面側を露出させて形成されるX線マスク
の製造方法において、前記エッチングされる一部におけ
る中央部分の厚みが周辺よりも予め薄く形成されている
基板を用いて前記エッチングをするようにして達成され
る。好ましくは、前記中央部分の肉薄部をフォトリソグ
ラフィまたは予備エッチングにより形成するようにする
と良い。
面側にX線吸収体パターンを有するX線透過性のメンブ
レンを設けた基板の裏面にエッチング溶液を触れさせて
前記基板の一部をエッチングし、前記メンブレンの表裏
面側を露出させて形成されるX線マスクの製造装置にお
いて、前記基板のエッチングされる一部における中央部
分にエッチング溶液を付着させて予備エッチングし、前
記中央部分の厚みを周辺よりも予め薄く形成しておくた
めの手段を設けることにより達成される。
中央部分の厚みを予め薄くしておくので、エッチングを
必要とする部分全体のエッチング処理時間がほぼ平均化
する。したがって、従来の方法で問題となっていた、エ
ッチング進行のばらつきによってエッチング溶液の圧力
やエッチング溶液の対流等による外力がメンブレンの一
部に集中してかかったりすることがなくなる。
詳細に説明する。図1は本発明に係るX線マスク製造方
法の一実施例を説明するための工程図である。
に示すように、例えばSiNやBN薄膜等、X線に対し
て透過性を有する薄膜、すなわちメンブレン1上にTa
(タンタル)やAu(金)等、X線を吸収する材料でな
るパターン2を表面に形成しているとともに、裏面中央
部の露光エリア3となる部分におおよそ25〜30ミリ
角の窓4を有するバックエッチングマスク5を設けたS
i(珪素)基板6を用意し、このSi基板6の裏面側で
窓4内に表出している露光エリア3に対応する部分6a
をKOH(水酸化カリウム)等のエッチング溶液によっ
てエッチング除去し、最終的に図1の工程(d)に示す
ようにメンブレン1の表裏面を露出させ、これを露光エ
リア3として使用するX線マスク10を得るものであ
る。
造工程を順に説明する。まず、工程(a)では表面側に
X線吸収体パターン2を有するX線透過性のメンブレン
1を表面側に設けているとともに裏面側に窓4を有する
バックエッチングマスク5を設けた、Si基板6を用意
する。
光エリア3に対応している部分6aの中央部にエッチン
グ溶液を付着させて予備エッチングし、中央部の厚みが
周辺部に比べて薄くなるように、段階的に200〜40
0μm薄くして形成する(予備エッチング部分7参
照)。
形成したSi基板6を図示せぬバックエッチング装置に
セットし、Si基板6の裏面側、すなわち予備エッチン
グされている部分7を含む露光エリア3に対応する部分
の全体にKOH等のエッチング溶液を触れさせ、窓4内
に表出している裏面部分の全体をエッチング除去する
(エッチング部分8参照)。工程(c)は、このエッチ
ングの途中の状態を示している。
が終了すると、工程(d)に示すように、所定の露光エ
リア3が形成され、この露光エリア3にメンブレン1の
表裏面側が露出されたX線マスク10が形成される。
グ進行が遅くなり易い中央部を予め予備エッチングして
厚みを薄くしておくので、工程(c)でエッチングを行
うときに、窓4内における部分全体のエッチング処理時
間がほぼ平均化する。これにより、エッチング溶液の圧
力やエッチング溶液の対流等による外力がメンブレン1
の一部に集中してかかったりすることがない。よって、
製造時にメンブレンが変形したり、破損したりするのを
防ぎ、X線マスクの歩留まりとX線マスクのパターン位
置精度を向上させることができることになる。
おいて中央部の厚みを薄くする手段としてエッチング溶
液を用いて予備エッチングをする方法を開示したが、こ
れ以外に例えばフォトリソグラフィ等を使用して肉薄部
を形成しても差し支えないものである。
Si基板6に予備エッチング、すなわち肉薄部を形成す
るための予備エッチング装置の一例を示す構造図であ
る。
は、Si基板6を載置するための可動台11と、この可
動台11の上側に対向して配置された固定台12とを備
え、可動台11と固定台12との間が固定ねじ13を介
して互いに連結されている。そして、固定ねじ13の締
め付けを調整することにより、固定台12に対して可動
台11を上下方向に移動させ、この間に配置されるSi
基板6を解放自在に挟持できる構造になっている。
に溝14が周回して設けられており、この溝14内にO
リング15が装着されている。このOリング15の高さ
は溝14の深さよりも大きく、したがって可動台11に
載せられたSi基板6はOリング15を介して可動台1
1により受けられる構造になっている。
4に対応して、この窓4に比べて小さい内径の注入孔1
2aが形成され、この注入孔12a内に貫通孔16を有
したステンレス製のパイプ状をした円柱枠17が上下に
貫通して、かつ取り外し自在に装着されている。また、
固定台12の下面側には、注入孔12aの外側を囲むよ
うにして窓4よりも小さい外径の溝18が設けられてお
り、この溝18内にOリング19が装着されているとと
もに、さらに溝18の外側を囲むようにして溝20が設
けられ、この溝20内にOリング21が装着されてい
る。これら、Oリング19,21の高さは溝18,20
の深さよりも大きく、したがって固定台12にSi基板
6が近づいてくると、最初にOリング19,21がSi
基板6が当接し、続いて固定台12がSi基板6と当接
する構造になっている。
を用いてSi基板6に予備エッチング部分7を形成する
動作を示した図である。そこで、図2に示した装置を用
いてSi基板6に予備エッチング部分7を形成する方法
を次に図3乃至図5と共に説明する。
動台11を下方へ移動させて固定台12との間にSi基
板6の厚みよりも大きな隙間を形成する。次いで、この
状態で図1の(a)で示したところの、表面側にX線吸
収体パターン2を有するX線透過性のメンブレン1を表
面側に設けているとともに裏面側に窓4を有するバック
エッチングマスク5を設けたSi基板6を、バックエッ
チングマスク5側(裏面側)を上、すなわち固定台12
側に向けて可動台11上に載せる。なお、このとき固定
台12の注入孔12aには円柱枠17が装着され、また
この円柱枠17が固定台12の下面より僅かに突出され
た状態にある。
11を固定台12側にSi基板6と共に移動させる。す
ると、Si基板6の窓4の中央部分で円柱枠17の下端
がSi基板6の裏面に密着して当接されるとともに、O
リング15,19,21を介してSi基板6が可動台1
1と固定台12との間に密着された状態にして挟持され
る。図3はこの状態を示している。
6より例えばフッ酸と硝酸からなるエッチング溶液22
を注入する。すると、このエッチング溶液22が、円柱
枠17の底面に接触しているSi基板6の裏面に付着さ
れ、図4に示すように円柱枠17で囲まれている円形部
分(露光エリア3に対応している部分の中央部)7aが
エッチングされる。
枠17を上方へ移動させて取り除き、注入孔12aより
再びエッチング溶液22を注入する。すると、今度はO
リング19で囲まれた範囲全体にエッチング溶液22が
付着され、この範囲の部分がエッチングされる。したが
って、前にエッチングされた中心部(この部分は前回と
今回の2度エッチングされたことになる)と後からエッ
チングされた部分との間に段差ができた状態にして、段
階的に200〜400μm薄くなった予備エッチング部
分7が形成される。図5はこの状態を示している。
11をSi基板6とともに下方へ移動させて固定台12
との間に大きな隙間を作り、この状態でSi基板6を取
り出すと、図6に示す予備エッチング部分7が形成され
たSi基板6が得られる。
備エッチング部分7を有するSi基板6を、上記製造工
程(図1参照)の工程(b)において作るようにすれ
ば、上記製造工程はスムースに作業が進むことになる。
板を用いた場合について説明したが、これ以外の基板を
用いても良いことは勿論のことである。
エッチング進行が遅くなり易い中央部分の厚みを予め薄
くしておくので、エッチングを必要とする部分全体のエ
ッチング処理時間がほぼ平均化することになり、エッチ
ング溶液の圧力やエッチング溶液の対流等による外力が
メンブレンの一部に集中してかかったりすることがなく
なる。したがって、製造時にメンブレンが変形したり、
破損したりするのを防ぎ、X線マスクの歩留まりとX線
マスクのパターン位置精度を向上させることができる等
の効果が期待できる。
めの工程図である。
例を示す図である。
作説明図である。
作説明図である。
作説明図である。
有するSi基板の一例を示す図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 表面側にX線吸収体パターンを有するX
線透過性のメンブレンを設けた基板の裏面にエッチング
溶液を触れさせて前記基板の一部をエッチング除去し、
前記メンブレンの表裏面側を露出させて形成されるX線
マスクの製造方法において、 前記エッチングされる一部における中央部分の厚みが周
辺よりも予め薄く形成されている基板を用いて前記エッ
チングをすることを特徴とするX線マスクの製造方法。 - 【請求項2】 前記中央部分の肉薄部をフォトリソグラ
フィまたは予備エッチングにより薄く形成するようにし
た請求項1に記載のX線マスクの製造方法。 - 【請求項3】 表面側にX線吸収体パターンを有するX
線透過性のメンブレンを設けた基板の裏面にエッチング
溶液を触れさせて前記基板の一部をエッチングし、前記
メンブレンの表裏面側を露出させて形成されるX線マス
クの製造装置において、 前記基板のエッチングされる一部における中央部分にエ
ッチング溶液を付着させて予備エッチングし、前記中央
部分の厚みを周辺よりも予め薄く形成しておくための手
段を設けたことを特徴とするX線マスクの製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5277795A JPH07111240A (ja) | 1993-10-08 | 1993-10-08 | X線マスクの製造方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5277795A JPH07111240A (ja) | 1993-10-08 | 1993-10-08 | X線マスクの製造方法及びその装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07111240A true JPH07111240A (ja) | 1995-04-25 |
Family
ID=17588395
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5277795A Pending JPH07111240A (ja) | 1993-10-08 | 1993-10-08 | X線マスクの製造方法及びその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07111240A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100592529B1 (ko) * | 1999-06-30 | 2006-06-23 | 호야 가부시키가이샤 | 전자선 묘화용 마스크 블랭크, 전자선 묘화용 마스크 및그 제조방법 |
-
1993
- 1993-10-08 JP JP5277795A patent/JPH07111240A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100592529B1 (ko) * | 1999-06-30 | 2006-06-23 | 호야 가부시키가이샤 | 전자선 묘화용 마스크 블랭크, 전자선 묘화용 마스크 및그 제조방법 |
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