JPH0685650A - トライステート・バッファ回路 - Google Patents

トライステート・バッファ回路

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Publication number
JPH0685650A
JPH0685650A JP4235792A JP23579292A JPH0685650A JP H0685650 A JPH0685650 A JP H0685650A JP 4235792 A JP4235792 A JP 4235792A JP 23579292 A JP23579292 A JP 23579292A JP H0685650 A JPH0685650 A JP H0685650A
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JP
Japan
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drain
transistor
gate
logic
source
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Application number
JP4235792A
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English (en)
Inventor
Mitsuhiro Emoto
三浩 江本
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】トライステート・バッファ回路を形成する半導
体集積回路のチップ面積を圧縮する。 【構成】イネーブル信号入力端子52より、論理“0”
のイネーブル信号Eが入力されると、PMOSトランジ
スタ2およびNMOSトランジスタ3は共にオフの状態
となり、PMOSトランジスタ6およびNMOSトラン
ジスタ7は共にオンの状態となる。PMOSトランジス
タ9のゲートには論理“1”の信号が入力されてオフの
状態となり、またNMOSトランジスタ10のゲートに
は論理“0”の信号が入力されて、同様にオフの状態と
なる。トライステート・インバータ8はディスエーブル
されて、出力端子53は高インピーダンス状態となる。
また論理“1”のイネーブル信号Eがイネーブル信号入
力端子52に入力されると、データ信号入力端子51に
入力されるデータ信号Aの論理が、そのまま信号Yの論
理として出力端子53より出力される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はトライステート・バッフ
ァ回路に関し、特に半導体集積回路により構成されるト
ライステート・バッファ回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のトライステート・バッファ回路の
一例を図3に示す。図3に示されるのは、高アクティブ
・トライステート・バッファ回路であり、イネーブル信
号入力端子58より論理“0”のイネーブル信号Eが入
力されて、NAND回路21の一方の入力端に入力され
ると、NAND回路21の出力は論理“1”となり、ト
ライステート・インバータ24を形成するPMOSトラ
ンジスタ25のゲートに入力される。これにより、当該
NMOSトランジスタ25はオフの状態となる。また、
上記の論理“0”のイネーブル信号Eは、インバータ2
2にも入力されており、インバータ22により反転され
て論理“1”が出力され、NOR回路23の一方の入力
端に入力される。これにより、NOR回路23の出力は
論理“0”となり、トライステート・インバータ24を
形成するNMOSトランジスタ26のゲートに入力され
て、NMOSトランジスタ26はオフの状態となる。こ
のようにして、論理“0”のイネーブル信号Eの入力に
対応して、トライステート・インバータを構成するPM
OSトランジスタ25およびNMOSトランジスタ26
は共にオフの状態となり、トライステート・インバータ
24はディスエーブルされて、出力端子59は高インピ
ーダンス状態となる。
【0003】この高アクティブ・トライステート・バッ
ファ回路は、論理“1”のイネーブル信号Eによりイネ
ーブル状態となる。データ信号入力端子57より論理
“0”のデータ信号Aが入力され、イネーブル信号入力
端子58より論理“1”のイネーブル信号Eが入力され
ると、NAND回路21の出力は論理“1”となり、こ
れによりPMOSトランジスタ25はオフの状態とな
る。また、この場合、インバータ22の出力は論理
“0”となり、これによりNOR回路23の出力は論理
“1”となって、NMOSトランジスタ26はオンの状
態となる。従って、出力端子59には論理“0”の信号
Yが出力される。また、これとは対象的に、データ信号
入力端子57より論理“1”のデータ信号Aが入力さ
れ、イネーブル信号入力端子58より論理“1”のイネ
ーブル信号Eが入力されると、PMOSトランジスタ2
5はオンの状態となり、NMOSトランジスタ26はオ
フの状態となって、出力端子59には論理“1”の信号
Yが出力される。
【0004】上記の高アクティブ・トライステート・バ
ッファ回路の動作を真理値表により示すと下記の表1の
ように表わされる。
【0005】
【表1】
【0006】即ち、イネーブル信号Eが論理“0”の時
には、データ信号Aの論理の如何に関せず出力信号Yは
高インピーダンスとなり、イネーブル信号Eが論理
“1”の時には、データ信号Aの論理が、そのまま出力
信号Yの論理として出力される。
【0007】NAND回路21およびNOR回路2は、
それぞれ4個のMOSトランジスタにより構成されてお
り、インバータ22は2個のMOSトランジスタにより
構成されているため、このトライステート・バッファ回
路は、総計12個のMOSトランジスタにより構成され
ている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のトライ
ステート・バッファ回路においては、12個のMOSト
ランジスタを必要とするために、特に多数のトライステ
ート・バッファ回路を使用する半導体集積回路において
は、その構成素子数が著しく多くなり、従って、チップ
・サイズが大きくなるという欠点がある。
【0009】
【課題を解決するための手段】第1の発明のトライステ
ート・バッファ回路は、ソースが高電位電源に接続さ
れ、ゲートが所定のデータ信号入力端子に接続される第
1のPMOSトランジスタと、ゲートが前記データ信号
入力端子に接続され、ソースが低電位電源に接続される
第1のNMOSトランジスタと、入力端が所定のイネー
ブル信号入力端子に接続され、当該イネーブル信号入力
端子より入力されるイネーブル信号を反転して出力する
インバータと、ソースが前記第1のPMOSトランジス
タのドレインに接続され、ゲートが前記インバータの出
力端に接続されて、ドレインが前記第1のNMOSトラ
ンジスタのドレインに接続される第2のPMOSトラン
ジスタと、ドレインが前記第1のPMOSトランジスタ
のドレインに接続され、ゲートが前記イネーブル信号入
力端子に接続されて、ソースが前記第1のNMOSトラ
ンジスタのドレインに接続される第2のNMOSトラン
ジスタと、ソースが高電位電源に接続され、ゲートが前
記イネーブル信号入力端子に接続されて、ドレインが前
記第1のPMOSトランジスタのドレインに接続される
第3のPMOSトランジスタと、ドレインが前記第1の
NMOSトランジスタのドレインに接続され、ゲートが
前記インバータの出力端に接続されて、ソースが低電位
電源に接続される第3のNMOSトランジスタと、ソー
スが高電位電源に接続され、ゲートが前記第3のPMO
Sトランジスタのドレインに接続されて、ドレインが所
定の出力端子に接続される第4のPMOSトランジスタ
と、ドレインが前記出力端子に接続され、ゲートが前記
第3のNMOSトランジスタのドレインに接続されて、
ソースが低電位電源に接続される第4のNMOSトラン
ジスタと、を備えて構成される。
【0010】また、第2の発明のトライステート・バッ
ファ回路は、ソースが高電位電源に接続され、ゲートが
所定のデータ信号入力端子に接続される第1のPMOS
トランジスタと、ゲートが前記データ信号入力端子に接
続され、ソースが低電位電源に接続される第1のNMO
Sトランジスタと、入力端が所定のイネーブル信号入力
端子に接続され、当該イネーブル信号入力端子より入力
されるイネーブル信号を反転して出力するインバータ
と、ソースが前記第1のPMOSトランジスタのドレイ
ンに接続され、ゲートが前記イネーブル信号入力端子に
接続されて、ドレインが前記第1のNMOSトランジス
タのドレインに接続される第2のPMOSトランジスタ
と、ドレインが前記第1のPMOSトランジスタのドレ
インに接続され、ゲートが前記インバータの出力端に接
続されて、ソースが前記第1のNMOSトランジスタの
ドレインに接続される第2のNMOSトランジスタと、
ソースが高電位電源に接続され、ゲートが前記インバー
タの出力端に接続されて、ドレインが前記第1のPMO
Sトランジスタのドレインに接続される第3のPMOS
トランジスタと、ドレインが前記第1のNMOSトラン
ジスタのドレインに接続され、ゲートが前記イネーブル
信号入力端子に接続されて、ソースが低電位電源に接続
される第3のNMOSトランジスタと、ソースが高電位
電源に接続され、ゲートが前記第3のPMOSトランジ
スタのドレインに接続されて、ドレインが所定の出力端
子に接続される第4のPMOSトランジスタと、ドレイ
ンが前記出力端子に接続され、ゲートが前記第3のNM
OSトランジスタのドレインに接続されて、ソースが低
電位電源に接続される第4のNMOSトランジスタと、
を備えて構成される。
【0011】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
【0012】図1は本発明の第1の実施例を示す回路図
である。図1に示されるように、本実施例は、データ信
号入力端子51、イネーブル信号入力端子52および出
力端子53に対応して、PMOSトランジスタ1、2お
よび6と、NMOSトランジスタ3、4および7と、イ
ンバータ5と、PMOSトランジスタ9およびNMOS
トランジスタ10より成るトライステート・インバータ
8とを備えて構成される。
【0013】図1において、イネーブル信号入力端子5
2より、論理“0”のイネーブル信号Eが入力される
と、この論理“0”のイネーブル信号Eは、直接NMO
Sトランジスタ3およびPMOSトランジスタ6のゲー
トに入力され、また、インバータ5により反転されて出
力される論理“1”の信号は、PMOSトランジスタ2
およびNMOSトランジスタ7のゲートに入力される。
これにより、PMOSトランジスタ2およびNMOSト
ランジスタ3は共にオフの状態となり、PMOSトラン
ジスタ6およびNMOSトランジスタ7は共にオンの状
態となる。従って、PMOSトランジスタ9のゲートに
は論理“1”の信号が入力されてオフの状態となり、ま
たNMOSトランジスタ10のゲートには論理“0”の
信号が入力されて、同様にオフの状態となる。このよう
に、トライステート・インバータ8を形成するPMOS
トランジスタ9およびNMOSトランジスタ10の双方
がオフの状態となると、トライステート・インバータ8
はディスエーブルされて、出力端子53は高インピーダ
ンス状態となる。
【0014】次に、イネーブル信号入力端子52より、
論理“1”のイネーブル信号Eが入力されると、上述の
場合と同様に、この論理“1”のイネーブル信号Eは、
直接NMOSトランジスタ3およびPMOSトランジス
タ6のゲートに入力され、また、インバータ5により反
転されて出力される論理“0”の信号は、PMOSトラ
ンジスタ2およびNMOSトランジスタ7のゲートに入
力される。これにより、PMOSトランジスタ2および
NMOSトランジスタ3は共にオンの状態となり、PM
OSトランジスタ6およびNMOSトランジスタ7は共
にオフの状態となる。この状態において、データ信号入
力端子51より、論理“0”のデータ信号Aが入力され
ると、PMOSトランジスタ1はオンの状態となり、N
MOSトランジスタ4はオフの状態となる。従って、P
MOSトランジスタ9のゲートおよびNMOSトランジ
スタ10のゲートには、それぞれ論理“1”の信号が入
力されて、PMOSトランジスタ9はオフの状態とな
り、NMOSトランジスタ10はオンの状態となって、
出力端子53には、論理“0”の信号Yが出力される。
また、論理“1”のデータ信号Aが入力される時には、
PMOSトランジスタ1がオフの状態となり、NMOS
トランジスタ4がオンの状態となるために、PMOSト
ランジスタ9のゲートおよびNMOSトランジスタ10
のゲートには、それぞれ論理“0”の信号が入力され、
これにより、PMOSトランジスタ9はオンの状態とな
り、NMOSトランジスタ10はオフの状態となる。従
って、出力端子53よりは論理“1”の信号Yが出力さ
れる。
【0015】上記の第1の実施例の動作を示す真理値表
は、前述した従来例の真理表(表1参照)と同一であ
る。即ち、論理“0”のイネーブル信号Eがイネーブル
信号入力端子52に入力されると、データ信号入力端子
51に入力されるデータ信号Aの論理の如何にかかわら
ず、出力端子53より出力される信号Yは高インピーダ
ンス状態となり、また論理“1”のイネーブル信号Eが
イネーブル信号入力端子52に入力されると、データ信
号入力端子51に入力されるデータ信号Aの論理が、そ
のまま信号Yの論理として出力端子53より出力され
る。
【0016】次に、本発明の第2の実施例について説明
する。図2は、第2の実施例を示す回路図である。図2
に示されるように、本実施例は、データ信号入力端子5
4、イネーブル信号入力端子55および出力端子56に
対応して、PMOSトランジスタ11、12および16
と、NMOSトランジスタ13、14および17と、イ
ンバータ15と、PMOSトランジスタ19およびNM
OSトランジスタ20より成るトライステート・インバ
ータ18とを備えて構成される。前述の第1の実施例が
高アクティブのトライステート・バッファの例であった
のみ対比して、本実施例は低アクティブのトライステー
ト・バッファの一例である。
【0017】図2において、イネーブル信号入力端子5
5より、論理“1”のイネーブル信号Eが入力される
と、この論理“1”のイネーブル信号Eは、直接PMO
Sトランジスタ12およびNMOSトランジスタ17の
ゲートに入力され、また、インバータ15により反転さ
れて出力される論理“0”の信号は、NMOSトランジ
スタ13およびPMOSトランジスタ16のゲートに入
力される。これにより、PMOSトランジスタ12およ
びNMOSトランジスタ13は共にオフの状態となり、
PMOSトランジスタ16およびNMOSトランジスタ
17は共にオンの状態となる。従って、PMOSトラン
ジスタ19のゲートには論理“1”の信号が入力されて
オフの状態となり、またNMOSトランジスタ20のゲ
ートには論理“0”の信号が入力されて、同様にオフの
状態となる。このように、トライステート・インバータ
18を形成するPMOSトランジスタ19およびNMO
Sトランジスタ20の双方がオフの状態となると、トラ
イステート・インバータ18はディスエーブルされて、
出力端子56は高インピーダンス状態となる。
【0018】次に、イネーブル信号入力端子55より、
論理“0”のイネーブル信号Eが入力されると、上述の
場合と同様に、この論理“0”のイネーブル信号Eは、
直接PMOSトランジスタ12およびNMOSトランジ
スタ17のゲートに入力され、また、インバータ15に
より反転されて出力される論理“1”の信号は、NMO
Sトランジスタ13およびPMOSトランジスタ16の
ゲートに入力される。これにより、PMOSトランジス
タ12およびNMOSトランジスタ13は共にオンの状
態となり、PMOSトランジスタ16およびNMOSト
ランジスタ17は共にオフの状態となる。この状態にお
いて、データ信号入力端子54より、論理“0”のデー
タ信号Aが入力されると、PMOSトランジスタ11は
オンの状態となり、NMOSトランジスタ14はオフの
状態となる。従って、PMOSトランジスタ19のゲー
トおよびNMOSトランジスタ20のゲートには、それ
ぞれ論理“1”の信号が入力されて、PMOSトランジ
スタ19はオフの状態となり、NMOSトランジスタ2
0はオンの状態となって、出力端子56には、論理
“0”の信号Yが出力される。また、論理“1”のデー
タ信号Aが入力される時には、PMOSトランジスタ1
1がオフの状態となり、NMOSトランジスタ14がオ
ンの状態となるために、PMOSトランジスタ19のゲ
ートおよびNMOSトランジスタ20のゲートには、そ
れぞれ論理“0”の信号が入力され、これにより、PM
OSトランジスタ19はオンの状態となり、NMOSト
ランジスタ20はオフの状態となる。従って、出力端子
56よりは論理“1”の信号Yが出力される。
【0019】即ち、論理“1”のイネーブル信号Eがイ
ネーブル信号入力端子55に入力されると、データ信号
入力端子54に入力されるデータ信号Aの論理の如何に
かかわらず、出力端子56より出力される信号Yは高イ
ンピーダンス状態となり、また論理“0”のイネーブル
信号Eがイネーブル信号入力端子55に入力されると、
データ信号入力端子54に入力されるデータ信号Aの論
理が、そのまま信号Yの論理として出力端子56より出
力される。
【0020】図1および図2に示される第1および第2
の実施例においては、インバータは2個のMOSトラン
ジスタにより構成されているので、本発明のトライステ
ート・バッファ回路は、総計10個のMOSトランジス
タにより構成することが可能となる。即ち、従来の12
個のMOSトランジスタにより構成されるトライステー
ト・バッファ回路に比較して、2個少ないMOSトラン
うスタにより構成することができる。
【0021】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、従来の
トライステート・バッファ回路に比較して、構成数が約
17%少ないMOSトランジスタにより構成することが
可能となり、当該トライステート・バッファ回路を含む
半導体集積回路のチップ面積をより小さくすることがで
きるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例を示す回路図である。
【図2】本発明の第2の実施例を示す回路図である。
【図3】従来例を示す回路図である。
【符号の説明】
1、2、6、9、11、12、16、19、26 P
MOSトランジスタ 3、4、7、10、13、14、17、20、25
NMOSトランジスタ 5、15、22 インバータ 8、18、24 トライステート・インバータ 21 NAND回路 23 NOR回路

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ソースが高電位電源に接続され、ゲート
    が所定のデータ信号入力端子に接続される第1のPMO
    Sトランジスタと、 ゲートが前記データ信号入力端子に接続され、ソースが
    低電位電源に接続される第1のNMOSトランジスタ
    と、 入力端が所定のイネーブル信号入力端子に接続され、当
    該イネーブル信号入力端子より入力されるイネーブル信
    号を反転して出力するインバータと、 ソースが前記第1のPMOSトランジスタのドレインに
    接続され、ゲートが前記インバータの出力端に接続され
    て、ドレインが前記第1のNMOSトランジスタのドレ
    インに接続される第2のPMOSトランジスタと、 ドレインが前記第1のPMOSトランジスタのドレイン
    に接続され、ゲートが前記イネーブル信号入力端子に接
    続されて、ソースが前記第1のNMOSトランジスタの
    ドレインに接続される第2のNMOSトランジスタと、 ソースが高電位電源に接続され、ゲートが前記イネーブ
    ル信号入力端子に接続されて、ドレインが前記第1のP
    MOSトランジスタのドレインに接続される第3のPM
    OSトランジスタと、 ドレインが前記第1のNMOSトランジスタのドレイン
    に接続され、ゲートが前記インバータの出力端に接続さ
    れて、ソースが低電位電源に接続される第3のNMOS
    トランジスタと、 ソースが高電位電源に接続され、ゲートが前記第3のP
    MOSトランジスタのドレインに接続されて、ドレイン
    が所定の出力端子に接続される第4のPMOSトランジ
    スタと、 ドレインが前記出力端子に接続され、ゲートが前記第3
    のNMOSトランジスタのドレインに接続されて、ソー
    スが低電位電源に接続される第4のNMOSトランジス
    タと、 を備えることを特徴とするトライステート・バッファ回
    路。
  2. 【請求項2】 ソースが高電位電源に接続され、ゲート
    が所定のデータ信号入力端子に接続される第1のPMO
    Sトランジスタと、 ゲートが前記データ信号入力端子に接続され、ソースが
    低電位電源に接続される第1のNMOSトランジスタ
    と、 入力端が所定のイネーブル信号入力端子に接続され、当
    該イネーブル信号入力端子より入力されるイネーブル信
    号を反転して出力するインバータと、 ソースが前記第1のPMOSトランジスタのドレインに
    接続され、ゲートが前記イネーブル信号入力端子に接続
    されて、ドレインが前記第1のNMOSトランジスタの
    ドレインに接続される第2のPMOSトランジスタと、 ドレインが前記第1のPMOSトランジスタのドレイン
    に接続され、ゲートが前記インバータの出力端に接続さ
    れて、ソースが前記第1のNMOSトランジスタのドレ
    インに接続される第2のNMOSトランジスタと、 ソースが高電位電源に接続され、ゲートが前記インバー
    タの出力端に接続されて、ドレインが前記第1のPMO
    Sトランジスタのドレインに接続される第3のPMOS
    トランジスタと、 ドレインが前記第1のNMOSトランジスタのドレイン
    に接続され、ゲートが前記イネーブル信号入力端子に接
    続されて、ソースが低電位電源に接続される第3のNM
    OSトランジスタと、 ソースが高電位電源に接続され、ゲートが前記第3のP
    MOSトランジスタのドレインに接続されて、ドレイン
    が所定の出力端子に接続される第4のPMOSトランジ
    スタと、 ドレインが前記出力端子に接続され、ゲートが前記第3
    のNMOSトランジスタのドレインに接続されて、ソー
    スが低電位電源に接続される第4のNMOSトランジス
    タと、 を備えることを特徴とするトライステート・バッファ回
    路。
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