JPH06508721A - 半導体ウェファー洗浄ブラシ - Google Patents

半導体ウェファー洗浄ブラシ

Info

Publication number
JPH06508721A
JPH06508721A JP4509976A JP50997692A JPH06508721A JP H06508721 A JPH06508721 A JP H06508721A JP 4509976 A JP4509976 A JP 4509976A JP 50997692 A JP50997692 A JP 50997692A JP H06508721 A JPH06508721 A JP H06508721A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
brush
semiconductor wafer
pad
arrow
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4509976A
Other languages
English (en)
Inventor
ギル ジェラルド エル ジュニア
Original Assignee
ウェステック システムズ インコーポレイテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ウェステック システムズ インコーポレイテッド filed Critical ウェステック システムズ インコーポレイテッド
Publication of JPH06508721A publication Critical patent/JPH06508721A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67028Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08CLEANING
    • B08BCLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B1/00Cleaning by methods involving the use of tools
    • B08B1/30Cleaning by methods involving the use of tools by movement of cleaning members over a surface
    • B08B1/32Cleaning by methods involving the use of tools by movement of cleaning members over a surface using rotary cleaning members

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 半導体ウェファ−洗浄ブラシ 本発明は、物体の表面を洗浄するためのブラシに関する。
特に、本発明は、ウェファ−の表面の約45%を連続的に覆うことによって、及 びブラシによってウェファ−表面に加えられる圧力を調整するためにブラシの重 量を利用することによって、半導体ウェファ−表面の一様な洗浄を容易にする洗 浄ブラシに関する。
更なる観点では、本発明はブラシでウェファ−を洗浄中、粒子及び他の副産物の 除去を促進するために流体の平面的な層流を半導体ウェファ−の表面に隣接して 維持する洗浄ブラシに関する。
半導体ウェファ−を洗浄するのに利用されるブラシは、富田他の米国特許第45 66911号に記載されたブラシと同様に、通常円筒形状を有する。種々の欠点 が、このような先行技術の円筒ブラシに関連している。第1に、ブラシの湾曲円 筒外面は、洗浄するのに使用される円形半導体ウェファ−表面の小部分、約5% に接触するに過ぎない。第2に、ブラシの構造は半導体ウェファ−の表面から及 びブラシ自体の表面から粒子及び他の異物を除去するための、洗浄される半導体 ウェファ−に上の流体流れを効率的に促進しない。最後に、先行技術の円筒ブラ シが磨耗すると、ブラシはブラシの半導体ウェファ−への圧力を調整するために 機械的に新しい位置に移動させられる。
従って、半導体ウェファ−又は他の材料の広い領域を被覆し、洗浄し、粒子及び 他の異物をウェファ−及びブラシの表面から運び去るためにウェファ−に隣接し た水流を容易にし、さらにブラシの重量を使って、半導体ウェファ−に対する選 択した圧力を自動的に維持する改良洗浄ブラシを提供することが強く望まれる。
従って、本発明の主目的はガラス、金属及び他の選択した材料を洗浄するための 改良ブラシを提供することである。
本発明のさらなる目的は、重力及び遠心力によって流体の流れを利用して半導体 ウェファ−の表面に隣接し、半導体ウェファ−の表面の中間の平面に流体を分散 させる改良ブラシを提供することである。
本発明のさらに別の目的は、ブラシの重さを利用して、ブラシによって洗浄され る表面に対する選択的な圧力を自動的に維持する改良洗浄ブラシを提供すること である。
本発明のこれらの及び他のさらなる、並びにより特別な目的及n11点は、当業 者にとって図面に関連して行われる以下の詳細な説明から明らかであろう。
図1は、本発明の原理に従って構成された洗浄ブラシ装置を示す斜視図である。
図2は、図1の洗浄ブラシ装置の一部を示し、図1の線2−2における断面図で ある。
図3は、ブラシを所定圧力で半導体ウェファ−に圧力するのに利用される他の構 造要素を示す図1の装置の側断面図である。
図4は、本発明の変形例によって構成された洗浄ブラシ装置を示す側断面図であ る。
図5は、本発明による円形で、平らなニップル付きのブラシパッドを製造するの に利用される金型装置を示す側断面図である。
要約すれば、本発明は、半導体ウェファ−の微細仕上げの平面を洗浄するための 改良装置を提供する。装置は、第1平面内に全体的に横たわる、直立の間隔を隔 てた弾性の脚と、弾性の脚を半導体ウェファ−の平面と関連して位置決めするた めの及びブラシがウェファ−の表面を洗浄するように少なくとも1つのウェファ −とブラシを回転させるための支持手段とを有する。ブラシは好ましくは、半導 体表面積の少なくとも40%に隣接し、覆う。脚は、半導体ウェファ−表面を押 す。ウェファ−を押す脚の圧力は、表面を押すブラシの重量を調整することによ って変えられる。
合本発明の実施を示すために本発明の好ましい実施例を示す図面(同じ参照番号 は種々の図面に渡って対応する要素に言及する)を参照すれば、図1乃至図3は 、本発明の原理に従って構成され、ブツシュ55によって固定テーブル上部に回 転可能に受入れられた下部円筒ネックを備えた円筒プレーH3を有する洗浄ブラ シ装置を示す。上部15を固定位置に維持するのに利用されるレグ又は池のサポ ートは、明瞭性のために図面から寄略している。軸I4が、プレート13を貫通 して形成された円筒部ロア4を貫通して上方に延び、プレート10を貫通して形 成された円筒部ロア5によって摺動可能に受入れられる。セットネジ27、軸1 4を開ロア5に固定する。軸14は又、円筒部材2oの円筒開口アロを貫通して 下方に延びる。軸14の下方円筒端部77は、ロッカー23のブツシュ78によ って回転可能に固定される。ブツシュ78は、ロッカー23に固定して取り付け られる。カッターピン79が、軸14の下方端部77を貫通し、端がロッカー2 3及びブツシュ78から上方に引っ張られるのを防止する。円筒部材2oの上方 端部は、回転のためにブツシュ45内に取り付けられる。ブツシュ45は、円筒 部材44に固定して取り付けられる。コツターピン92が、円筒部材2oの上端 を貫通し、部材20の上端がブツシュ45を通って下方に摺動するのを防止する 。円筒部材44が、ボルト50によってテーブル上部15に固定的に取り付けら れる。弾性洗浄パッド11カプレートIOを貫通するボルト8oによってプレー トIOの下側に固定される。弾性洗浄パッド12がプレーH3を貫通するボッ叶 80(図面では見えな(りによってプレート13の上側に固定される。
細長スロット22がプレート13に形成され、軸14から外方に延びるピン21 を受け入れる。軸14が回転するとき、ピン21はスロット22に当たり、プレ ート13を回転させる。ベルト35がモータ(図示せ豹によって駆動され、部材 20のまわりに延びる。連続ベルト35が移動するとき、ベルトは部材2゜を回 転させる。部材20力徊転すると、細長スロット56はコツタービン61に当た り、軸14を部材20と同時に回転させる。軸14が回転すると、ピン2Iは細 長スロット22を付勢し、プレート13を軸■4と同時に回転させる。スロット 56の形状及び寸法は、スロット22のそれと同じである。所望なら、ピン2I を軸I4と、プーリ53とプーリ53及びプレート13のまわりに延びるプーリ ベルト54とを駆動させるのに用いられる別個のモータ52とから取り除いても よい。プーリ53が回転するとき、プーリはベノ叶54を駆動し、プレート13 を回転させる。モータ52を利用すれば、プレート13はプレートloとは異な る速度で回転することができる。モータ52は又、プレートI3がプレート10 とはFEZM向に回転するのを可能にする。
L字形状の呻牲パネル部材31が、ねし48によってテーブル上部15に固定的 に取り付けられる。ピン41が部材31に固定的に取り付けられ、ロッド24の スロット93に摺動可能に係合する。ロッド24は、ピン39によってビストン 37のアーム38に回動自在に取り付けられる。ピン42は、ロッド25を剛性 り字形状部材31に回動自在に取り付ける。ロッド25の一端94がロッカー2 ;3を上方に付勢する。ロッド25の他端46が、カウンターウェイh46Aを 支持する。端46は1!l1M:細長パネル部材29を貫通上で形成されたスロ ット3゜を貫通ずる。ボルト47がバネA$429をテーブル上部15に固定的 に取り付ける。ピストン37のプランジャーが、中空空気圧シリンダー33に収 容される。
シリンダー33のフランジ34はピン43によってフランジ32に回動自在に取 り付けられる。フランジ32はネジ49によってテーブル上部15に固定的に取 り付けられる。
半導体材料、金属又は他の材料から作られる円形ウェファ−28は、図1と図3 に示された仕方で洗浄パッド11と12の間に位置決めされる、しかしながら、 パッドIIと12の直径がパッドがウェファ−28の周縁の一部に渡って、及び ウェファ−28の中心95に渡って延びるに十分であるようにプレート10.1 3及びパッド11.12は大きさ決めされるのが好ましい。図1では、パッド1 1の外周縁がウェファ−28の中心95に渡って延びず、その代わり中心95の 途中まで延びるだけである。パッド11及び12は、円形プレーNO,13及び パッド11.12の直径が適正に増加するなら、ウェファ−28の中心95に渡 って外方に延びるであろう。パッド11がウェファ−28の中心95に渡って外 方に延びるとき、パッド11.12は、ウェファ−28の上部及び下部の平らな 円形総合表面積の約45%を覆う。パッド1112は、ウェファ−28の平らな 表面積の少なくとも40%を覆うのがよい。
ウェファ−28の外周縁は、好ましくは図3に示すような仕方でプレートI3の カラー96に当接する。ヘッド16.17.18が、ウェファ−28の円周縁に 係合してヘッド16乃至18が、それぞれ矢印C,DSEで示す方向に回転する とき、ヘッド16乃至18はウェファ−28の回転を補助するように機能する。
洗浄パッドI+及びI2が矢印Aの方向に回転するとき、バラ白■及び12は又 カラー96とともに、図1の矢印97の方向にウェファ−28を回転させるのを 補助する。
図1及び図3の装置の運転の際、空気圧シリンダー33を作動してピストン37 を矢印、1の方向に移動させて、ロッド24を矢印にの方向に持ち上げる。ロッ ド24が矢印にの方向に移動すると、ロット24はピン39を中心に回動し、矢 FILMの方向に移動する。ロッド24が矢卿の方向に移動するとき、スロット 93はポイント41を越えて摺動し、フランジ34及びシリンダー33はピン4 3を中心に矢印りの方向に回動する。さらに、ロッド24が矢印にの方向に移動 するとき、軸14は矢印Iの方向に移動し、プレートlO及びパッド11をパッ ド12から上方に持ち上げ、ウェファ−28をパッド12の上部で図1及び図3 で全体的に指示する位置に挿入する。一旦ウェファ−28がパッド12上に置か れると、ピストン37は空気圧によって矢印Jの反対方向に移動して、ピストン 37、ロッド24、ロッカー23、軸14、パッド11及びプレー)10は図1 及び図3に示す位置に戻る。
一部ウエファー28をパッド11.12の間の図1及び図3に全体的に示す位置 に挿入すると、モータを作動して連続ベルト35を矢印Gの方向に回転させ、そ の結果軸14を矢印11の方向に回転させ、ウェファ−28の上部平面28Aと 下部平面28B上でパッドII、12を矢印Aの方向に回転させる。補助モータ (図示せわがヘッド16乃至18を図1の矢印C,D、Hで示す方向に駆動する 。
プレートIO及び13が回転する間、リザーバ98からの水は矢印の方向に流れ 、プレートIOを貫通して形成された少な(とも1つの開口61を通る。水は開 口61を通って流れ、洗浄パッド11に隣接したプレートlOの下側に形成され た溝(図示せ豹に沿う。水は溝を通って軸14に向かって図3の矢印■の方向に 流れる。水がプレートlOの下面とパッド11との間から流出した後、遠心力に よってニップル又は脚99の間を通って図1の矢印Bで指示する方向に外方に流 れる。ニップノ凶9は好ましくは図1に示す仕方で形成され、水又は他の流体或 いはスラリーの、図1の矢印Bに示す方向の外方の層流を容易にする領域の間に 閉空間を有するクラスター又は領域に形成される。図1では、矢印口で指示する 方向及び流路に沿って流れる水は、隣接する5つのニップル99のクラスターの 間の閉空間又は流路を通って移動している。図1では、パッド11及び12のニ ップル又は脚のクラスターの幾つかだけを示す。ニップル又は脚99は好ましく はパッド11及び12の全表面に形成された、間隔を隔てたクラスターからなる 。水は又、導管I9によってウェファ−28の上面28Aで矢印Fの方向に差し 向けられる。同様の導管を利用して、水をウェファ−28の下面28Bに差し向 けることができる。
カウンターウェイト46Aによってロッド25の端94は矢印9oの方向に上方 にロッカー23を押す。矢印90の方向に発生する力の大きさは、軸14、プレ ートIO及びウェファ−28を下方に押すパッド11の重量のいくらかを相殺す る。その結果、ロッド25に沿って移動するカウンターウェイト46Aはパッド IIによって発生するウェファ−28に対する圧縮力の大きさを調整する。同様 に、シリンダー33内を移動するピストン37は又、パッドIIによってウェフ ァ−28に発生する圧縮力の大きさを変えることができる。当業者なら理解でき るように、シリンダー33内のピストン37の所望の位置及びカウンターウェイ ト46Aのロッド25」二の位置を決定するための、及びピストン37及びカウ ンターウェイト46Aを移動するための制御は、ピストン37及びカウンターウ ェイh46Aの位置を自動的に調整するのに制御され、使用されるコンピュータ とすることかできる。特に、ロッカー23、軸I4、プレートlo及びロッド2 5をF方に押すパッド11の重量は、ウェファ−28の厚さ、パッド11及び1 2の正縮率及びカウンターウェイト46Aの鉛直位置を含むデータから見積り、 又は決定することができる。次いで、カウンターウェイト46八又はピストン3 7を調整してパッド11によってウェファ−28に対して発生する力の大きさを 増加し、或いは減じることができる。
本発明の変形実施例が図・1に示され、変形実施例は図1乃至図3に示す装置に 多ズの点て同様である。図・1ては、プレー1−10Aがセットネジ27Aによ って軸11に同定され、パラI’11を支持する。プレート13Aがブツシュ+ 00上で回転し、モータ52によって駆動されるプーリー53で支持される連続 ベルト5・1によって回転する。水又は別の流体或いはスラリーがパット11及 び12上に分配される。水は導管60を通って矢印Nの方向に流れ、図4の矢印 Pで指示する方向にパット11及び12上に分配される。図4では、パッド11 及びI2の脚99は示していない。部材2oが回転するとき、部材2oは軸14 、プレート1OA及びパッド11を同時に回転させる。連続ベルト53がプレー ト13A及びパッド12を回転させる。所望なら、図4のプレート10A及びプ レート13Aは図1のプレートIO及び13で代用することができる。
図5は弾性洗浄パッド1112を製造するのに利用される金型装置を示す。
金型装置は上部プレート65、金型部材62、テフロン多孔板66及びU字形状 のハウジング67を含む。ハウジング67は、円形基部69と、基部69から垂 下する直立の円筒壁70とを含む。真空ポンプ(図示せ豹が空気をチャンバ6B から導管72を通して矢印Xの方向に引く。多数の小さな気泡を含んだポリビニ ルアセクールの弾性材料が矢鴫の方向に導管73を通して円筒金型チャンバ63 の中に差し向けられる。チャンバ68内の真空はポリビニルアセタール材料内の 空気をテフロンプレート66を介して引く。所望なら、空気が真空下でポリヒニ ールアセタール弾性材料からプレート・65を介して上方に引かれるように円形 プレート65を多孔性テフロンから作ってもよい。ポリビニルアセタル材料が部 材62内の円筒開口64の中に流れ込むときに、パッド12上の脚99が成形さ れる。ポリビニルアセタル材料が固化した後、プレート65を取り外し、ポリビ ニルアセクール材料の成形パッドを金型装置から取り出す。
図I乃至図4の装置の使用の際、パッド11を水で溢れさせることが重要である 。水は潤滑剤として作用し、異物粒子を各ブラシの面からフラッシュする。脚9 9は0.2インチの直径を有し、0.1インチから0.4インチの範囲の直径を 有するのが好ましい。各脚99の高さは、好ましくは0.15インチから0.2 インチである。図1では、脚99は矢印100で指示する方向に弾性的に圧縮さ れ、矢印101で示す方向に弾性的に+Uj向に変位させることができる。
図1に示す脚99の各クラスターでは、1つの脚99から最も近い隣接した脚ま での距離は、0.25インチで、好ましくは0.05インチから0.75インチ である。図1乃至図4の装置の利用中、各脚99の平らな円形表面の先端は、ウ ェファ−28に接触したままであるように、各脚99が矢印+01で指示した方 向に弾性的に購方向に変位する能力は最小である。異なる直径のウェファ−28 が本発明のブラシ装置を(吏用して洗浄できるように、ヘッド16乃至1Bのテ ーブル上部15上の位置は調整可能である。
上部プレート10及びバッド11は下部プレートI3及びパッド12の回転数と は異なる一定の回転数で回転することができる。他のプレー[2に対する1つの プレー1−10のこのような回転数の差は、半導体ウェファ−28のスクラビン グ又は洗浄に重要な利点を与える。ウェファ−28は微細に又は部分的に仕上げ られた上部円形平面2B八と下部円形平面28Bを有することができる。プレー ト10.11は代表的には同じ回転数で回転する。
ヘッドIC乃至18が好ましく駆動される間、所望ならバッド11及び12がウ ェファ−28を回転させるように遊び車となって、駆動されないようにすること ができる。
本発明の平らなブラシ11.12は、脚99とウェファ−28との間に発生する 力を最小にして、ブラシとウェファ−28の磨耗を最小にするように機能する。
脚99はパッド11及び12の円形の平面8及び9から外方に垂下する。既に記 したように、図1乃至図4の装置の運転中いかなる時でも、表面8及び9並びに 脚99は一緒に表面28Δ及び28Bの全面積の5%を十分に越えて覆い、即ち 表面8及び9並びに脚99は、好ましくは表面28Aと28Bの総合面積の少当 業者が理解し、実施できるように本発明を説明し、好ましい実施例を確認した。
Fxr:、、j− 1六5゜3 Jセ石。4 Fxr;、、5 国際調審鶴牛 国際調査報告

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)(a)第1平面内に全体的に広がる、間隔を隔てた、直立の弾性脚を有す るブラシ手段と、 (b)(i)前記半導体ウェファーの前記平らな表面と接触する前記弾性脚の一 部とともに前記ブラシ手段を位置決めするための、及び(ii)前記弾性脚の各 々が断続的に接触し、前記接触が維持されながら前記平らな表面に渡って弧状に 移動し、前記ブラシが前記ウェファーの前記表面を洗浄するように、前記第1平 面を前記ウェファーの前記平らな表面に平行な固定位置に維持しながら、前記ウ ェファー及び前記ブラシの少なくとも1つを回転させるための、 支持手段とを有することを特徴とする半導体ウェファーの平らな表面を洗浄する ための装置。
  2. (2)前記ブラシは、前記半導体ウェファーの前記表面の領域の少なくとも40 %に隣接し、しかも覆うことを特徴とする請求項1に記載の装置。
  3. (3)(a)前記脚は、前記半導体ウェファーの前記表面に対して圧力を及ぼし 、(b)前記圧力は、前記表面を押す前記ブラシの重量を調整することによって 変わる ことを特徴とする請求項1に記載の装置。
JP4509976A 1991-03-25 1992-03-24 半導体ウェファー洗浄ブラシ Pending JPH06508721A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US674,594 1991-03-25
US07/674,594 US5144711A (en) 1991-03-25 1991-03-25 Cleaning brush for semiconductor wafer
PCT/US1992/002331 WO1992016965A1 (en) 1991-03-25 1992-03-24 Cleaning brush for semiconductor wafer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06508721A true JPH06508721A (ja) 1994-09-29

Family

ID=24707209

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4509976A Pending JPH06508721A (ja) 1991-03-25 1992-03-24 半導体ウェファー洗浄ブラシ

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5144711A (ja)
EP (1) EP0577762B1 (ja)
JP (1) JPH06508721A (ja)
DE (1) DE69221474T2 (ja)
WO (1) WO1992016965A1 (ja)

Families Citing this family (50)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04363022A (ja) * 1991-06-06 1992-12-15 Enya Syst:Kk 貼付板洗浄装置
JP2571487B2 (ja) * 1991-12-27 1997-01-16 信越半導体株式会社 薄円板状ワークのスクラバー洗浄装置
JP3052105B2 (ja) * 1992-11-20 2000-06-12 東京エレクトロン株式会社 洗浄処理装置
DE69421353T2 (de) * 1993-08-31 2000-05-11 Shoyo Seiki Ohme Kk Reinigungsgerät
US5733175A (en) 1994-04-25 1998-03-31 Leach; Michael A. Polishing a workpiece using equal velocity at all points overlapping a polisher
JP3328426B2 (ja) * 1994-05-12 2002-09-24 東京エレクトロン株式会社 洗浄装置
JP3427111B2 (ja) * 1994-05-13 2003-07-14 株式会社ニコン 半導体製造装置、および、液晶表示素子製造用装置
US5607341A (en) 1994-08-08 1997-03-04 Leach; Michael A. Method and structure for polishing a wafer during manufacture of integrated circuits
US6080092A (en) * 1994-10-06 2000-06-27 Xomed Surgical Products, Inc. Industrial cleaning sponge
US6004402A (en) * 1994-10-06 1999-12-21 Xomed Surgical Products, Inc. Method of cleaning silicon material with a sponge
US6130264A (en) 1994-10-06 2000-10-10 Xomed Surgical Products, Inc. Synthetic sponge and surgical spear comprising synthetic sponge
TW316995B (ja) * 1995-01-19 1997-10-01 Tokyo Electron Co Ltd
JPH08238463A (ja) * 1995-03-03 1996-09-17 Ebara Corp 洗浄方法及び洗浄装置
US5639311A (en) * 1995-06-07 1997-06-17 International Business Machines Corporation Method of cleaning brushes used in post CMP semiconductor wafer cleaning operations
US6239038B1 (en) 1995-10-13 2001-05-29 Ziying Wen Method for chemical processing semiconductor wafers
US5778481A (en) * 1996-02-15 1998-07-14 International Business Machines Corporation Silicon wafer cleaning and polishing pads
JP3007566B2 (ja) * 1996-02-16 2000-02-07 株式会社共立 ディスククリーナ
US5861066A (en) * 1996-05-01 1999-01-19 Ontrak Systems, Inc. Method and apparatus for cleaning edges of contaminated substrates
US5675856A (en) * 1996-06-14 1997-10-14 Solid State Equipment Corp. Wafer scrubbing device
US5868857A (en) 1996-12-30 1999-02-09 Intel Corporation Rotating belt wafer edge cleaning apparatus
US5901399A (en) * 1996-12-30 1999-05-11 Intel Corporation Flexible-leaf substrate edge cleaning apparatus
US5870792A (en) * 1997-03-31 1999-02-16 Speedfam Corporation Apparatus for cleaning wafers and discs
US5870793A (en) * 1997-05-02 1999-02-16 Integrated Process Equipment Corp. Brush for scrubbing semiconductor wafers
JP3320640B2 (ja) * 1997-07-23 2002-09-03 東京エレクトロン株式会社 洗浄装置
JPH1154471A (ja) 1997-08-05 1999-02-26 Tokyo Electron Ltd 処理装置及び処理方法
US6115867A (en) * 1997-08-18 2000-09-12 Tokyo Electron Limited Apparatus for cleaning both sides of substrate
US6234883B1 (en) 1997-10-01 2001-05-22 Lsi Logic Corporation Method and apparatus for concurrent pad conditioning and wafer buff in chemical mechanical polishing
US6006391A (en) * 1997-11-10 1999-12-28 Speedfam-Ipec Corporation Workpiece cleaning element with improved rib configuration
US5894622A (en) * 1997-12-31 1999-04-20 International Business Machines Corporation Brush conditioner wing
US6098867A (en) * 1998-03-17 2000-08-08 Advanced Micro Devices, Inc. Automated brush fluxing system for application of controlled amount of flux to packages
US6076217A (en) 1998-04-06 2000-06-20 Micron Technology, Inc. Brush alignment platform
US5944588A (en) * 1998-06-25 1999-08-31 International Business Machines Corporation Chemical mechanical polisher
JP2000180469A (ja) * 1998-12-18 2000-06-30 Fujitsu Ltd 半導体装置用コンタクタ及び半導体装置用コンタクタを用いた試験装置及び半導体装置用コンタクタを用いた試験方法及び半導体装置用コンタクタのクリーニング方法
US6368183B1 (en) 1999-02-03 2002-04-09 Speedfam-Ipec Corporation Wafer cleaning apparatus and associated wafer processing methods
DE19919152C1 (de) * 1999-04-27 2000-05-04 Wacker Chemie Gmbh Verfahren zur Herstellung von Triorganylhalogensilanen und Diorganyldihalogensilanen
US6711775B2 (en) * 1999-06-10 2004-03-30 Lam Research Corporation System for cleaning a semiconductor wafer
US6620257B1 (en) * 1999-06-30 2003-09-16 Hoya Corporation Scrub cleaning method for substrate and manufacturing method for information recording medium
US6406358B1 (en) * 1999-08-05 2002-06-18 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for cleaning a surface of a microelectronic substrate
US6502271B1 (en) * 2000-01-26 2003-01-07 Speedfam-Ipec Corporation Method and apparatus for cleaning workpieces with uniform relative velocity
US6446296B1 (en) 2000-03-06 2002-09-10 Rite Track Equipment Services, Inc. Substrate cleaning apparatus with brush force control and method
US6540841B1 (en) * 2000-06-30 2003-04-01 Chartered Semiconductor Manufacturing Ltd. Method and apparatus for removing contaminants from the perimeter of a semiconductor substrate
US6550091B1 (en) * 2000-10-04 2003-04-22 Lam Research Corporation Double-sided wafer edge scrubbing apparatus and method for using the same
EP1337398A4 (en) 2000-11-29 2005-09-14 Polymer Group Inc BIFUNCTIONAL NON-WOVEN CLEANING PAD
US6634539B2 (en) 2001-09-21 2003-10-21 3M Innovative Properties Company Adjustable-gap rotary ultrasonic horn mounting apparatus and method for mounting
KR100462820B1 (ko) * 2001-11-23 2004-12-17 학교법인연세대학교 작업공구유닛의 배열을 이용한 가공기계장치
KR101158137B1 (ko) 2003-08-08 2012-06-19 엔테그리스, 아이엔씨. 회전식 기부 상에 주조된 일체형 다공성 패드를 제조하기위한 방법 및 재료
US7066506B2 (en) * 2003-09-30 2006-06-27 Key Plastics, Llc System for preventing inadvertent locking of a vehicle door
JP5385537B2 (ja) * 2008-02-26 2014-01-08 大日本スクリーン製造株式会社 基板処理装置
JP2010114123A (ja) * 2008-11-04 2010-05-20 Tokyo Electron Ltd 基板処理装置及び基板洗浄方法
CN102755980A (zh) * 2011-04-25 2012-10-31 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 晶圆清洗刷和晶圆清洗装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2530530A (en) * 1947-10-29 1950-11-21 Frank W Littlefield Buffing and polishing wheel
US3150401A (en) * 1963-01-31 1964-09-29 William W Taylor Phonograph record cleaner
JPS58182234A (ja) * 1982-04-17 1983-10-25 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 複数種のブラシ使用可能な洗浄装置
JPS596974A (ja) * 1982-07-05 1984-01-14 カネボウ株式会社 洗浄方法
US4486911A (en) * 1983-12-02 1984-12-11 Beke Steven J Automatic barbecue-grille cleaner
JPH0695508B2 (ja) * 1986-11-28 1994-11-24 大日本スクリ−ン製造株式会社 基板の両面洗浄装置
JP2660248B2 (ja) * 1988-01-06 1997-10-08 株式会社 半導体エネルギー研究所 光を用いた膜形成方法

Also Published As

Publication number Publication date
US5144711A (en) 1992-09-08
DE69221474T2 (de) 1997-12-11
DE69221474D1 (de) 1997-09-11
EP0577762A1 (en) 1994-01-12
WO1992016965A1 (en) 1992-10-01
EP0577762B1 (en) 1997-08-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH06508721A (ja) 半導体ウェファー洗浄ブラシ
TW384244B (en) CMP pad maintenance apparatus and method
US5611943A (en) Method and apparatus for conditioning of chemical-mechanical polishing pads
USRE36767E (en) Wafer scrubbing device
US6283840B1 (en) Cleaning and slurry distribution system assembly for use in chemical mechanical polishing apparatus
US4178188A (en) Method for cleaning workpieces by ultrasonic energy
US4064885A (en) Apparatus for cleaning workpieces by ultrasonic energy
US6179693B1 (en) In-situ/self-propelled polishing pad conditioner and cleaner
EP1080840A2 (en) Polishing apparatus, polishing method and method of conditioning polishing pad
JP2002514976A (ja) 基板ベルト研磨機
JPS58182234A (ja) 複数種のブラシ使用可能な洗浄装置
JPH0375302B2 (ja)
US4869779A (en) Hydroplane polishing device and method
US6358124B1 (en) Pad conditioner cleaning apparatus
US5894622A (en) Brush conditioner wing
JPS58165956A (ja) 芯なし研磨・研削装置
JPH05329769A (ja) スライダ要素を備えた磁気ヘッドフレクシャの加工方法
US5964413A (en) Apparatus for dispensing slurry
KR20040034577A (ko) 연마 헤드와 반도체 웨이퍼 단부면 연마 장치
TW414968B (en) Pad cleaning system of semiconductor device fabrication facility and cleaning method thereby
US2572464A (en) Device for cleaning bowling balls
US20140202491A1 (en) Method and apparatus for cleaning grinding work chuck using a scraper
CN113635176A (zh) 一种玻璃板打磨装置
KR200205180Y1 (ko) 반도체 웨이퍼 연마장치의 패드 컨디셔너
JPH07136572A (ja) 回転カップ式液体供給装置