JP2571487B2 - 薄円板状ワークのスクラバー洗浄装置 - Google Patents

薄円板状ワークのスクラバー洗浄装置

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体ウエーハ等の薄
円板状ワークを吸着保持してこれの吸着面とは反対側の
面(以下、反吸着面と称す)と周縁部とを同時に洗浄す
る薄円板状ワークのスクラバー洗浄装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体デバイスの基板として用いられる
半導体ウエーハは、例えばシリコン等の単結晶インゴッ
トをその棒軸に対して直角方向に薄くスライスし、スラ
イスして得られたものに、面取り、ラッピング、エッチ
ング、アニーリング、ポリッシング等の処理を施すこと
によって得られる。
【0003】ところで、上述のようにして得られる半導
体ウエーハは、エッジのチッピング防止等のためにその
外周縁が面取りされるが、最近ではパーティクルの発生
防止、熱処理時のスリップの発生防止等を目的として面
取部が鏡面研磨される傾向にある。
【0004】而して、ウエーハ面取部の鏡面研磨にはス
ラリー(研磨液)が使用されるが、鏡面研磨後もスラリ
ーがウエーハに付着して残留すると、ウエーハが局部的
にエッチングされ、その表面が損傷を受けるため、ウエ
ーハに付着したスラリーは出来る限り早く除去されなけ
ればならない。
【0005】そこで、従来、鏡面研磨が終了したウエー
ハを水中に落下させてこれに付着したスラリーを洗い流
したり、或いは一対の回転ブラシ間でウエーハを挟持
し、回転ブラシとウエーハを回転させてウエーハに付着
したスラリーを除去する方法が採られていた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ウエー
ハを水中に落下させるだけでは、該ウエーハに付着した
スラリーを完全に除去することは不可能である。又、ウ
エーハを回転ブラシ間で挟持してこれに付着したスラリ
ーを除去する方法では、ウエーハの両面に付着したスラ
リーは除去できるが、ウエーハ外周部の面取部に付着し
たスラリーを確実に除去することはできない。
【0007】本発明は上記問題に鑑みてなされたもの
で、その目的とする処は、薄円板状のワークの片面と外
周縁とを同時、且つ確実に洗浄することができる薄円板
状ワークのスクラバー洗浄装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成すべく本
発明は、薄円板状のワークを吸着保持してこれを回転駆
動するワーク吸着回転部と、ワークの回転平面と平行な
平面内で、回転自在及びワークの少なくとも半径方向に
揺動自在に支持され、ブラシ構造表面を有するリング状
の平面部と該平面部の中心にワーク側に向かって突出す
る同じくブラシ構造表面を有する円筒部から成る回転ブ
ラシと、該回転ブラシを回転駆動する回転手段と、同回
転ブラシを揺動させる揺動手段を含んで薄円板状ワーク
のスクラバー洗浄装置を構成したことをその特徴とす
る。
【0009】
【作用】本発明装置においては、ワーク吸着回転部に吸
着保持された薄円板状のワークを回転させながら、該ワ
ークの反吸着面に、同じく回転する回転ブラシの平面部
を押圧するとともに、同回転ブラシを、その円筒部がワ
ークの外周縁に当接するまで揺動させる。すると、回転
ブラシとワークとの間に相対運動が生じ、ワークの反吸
着面は回転ブラシの平面部でスクラバー洗浄され、同ワ
ークの外周縁は回転ブラシの円筒部でスクラバー洗浄さ
れるため、ワークの片面(反吸着面)と外周縁が同時、
且つ確実に洗浄される。
【0010】
【実施例】以下に本発明の一実施例を添付図面に基づい
て説明する。
【0011】図1は本発明に係るスクラバー洗浄装置の
平断面図、図2は図1の矢視A方向の図、図3はワーク
吸着回転部の側断面図、図4、図5はウエーハと回転ブ
ラシとの位置関係を示す側面図、正面図である。
【0012】図1及び図2において、1はケーシングで
あって、該ケーシング1内の上部にはホルダー2が水平
に固定されており、該ホルダー2内にはボールブッシュ
3が保持されている。そして、ホルダー2には、内外二
重軸構造を構成する中空軸4と該中空軸4内に挿通され
た中実の回転軸5が、前記ボールブッシュ3に保持され
て長さ方向(図1の左右方向)に摺動自在に挿通保持さ
れている。
【0013】上記中空軸4のケーシング1外へ延出する
自由端にはケース6が結着されており、前記回転軸5の
ケース6内に臨む一端にはプーリ7が取り付けられてい
る。尚、回転軸5は中空軸4に対して回転自在に支承さ
れている。
【0014】又、上記ケース6の端部には回転軸8が前
記回転軸5と平行、且つ回転自在に支承されており、該
回転軸8のケース6内に臨む中間部にはプーリ9が取り
付けられている。そして、このプーリ9と前記プーリ7
との間にはベルト10が巻装されている。更に、回転軸
8のケース6外へ延出する端部には円板状の回転ブラシ
11が結着されており、この回転ブラシ11は平面部1
1aと該平面部11aの中心に突出する円筒部11bを
有している。尚、回転ブラシ11の平面部11aと円筒
部11bの表面には、例えばプラスチック製の植毛がな
されている。
【0015】一方、前記中空軸4のケーシング1内に臨
む他端部にはアーム12が結着されており、該アーム1
2の自由端には揺動手段であるシリンダ13のロッド1
3aが連結されており、シリンダ13の他端はケーシン
グ1側に固定されたブラケット14に連結されている。
【0016】前記中空軸4にはプレート15が保持され
ており、中空軸4はこのプレート15に対して回転自在
に支承されている。そして、プレート15には回転手段
である駆動モータ16と移動手段であるシリンダ17が
取り付けられており、駆動モータ16の出力軸16aは
カップリング18を介して前記回転軸5の他端に連結さ
れている。又、前記シリンダ17から延出するロッド1
7aは、前記ホルダー2に結着されたブラケット19に
取り付けられている。
【0017】ところで、図示のように、ケーシング1の
側方にはワーク吸着回転部20が固設されているが、こ
こで、このワーク吸着回転部20の構成を図3に基づい
て説明する。
【0018】該ワーク吸着回転部20の上部にはフレー
ム21が水平に固定されており、該フレーム21内には
回転軸22がベアリング23を介して回転自在に支承さ
れている。この回転軸22の一端(前記回転ブラシ11
の反対側)にはプーリ24が結着されており、他端(回
転ブラシ11に対向する側)には吸着ヘッド25が結着
されている。そして、回転軸22と吸着ヘッド25の中
心部には真空孔26が貫設されており、該真空孔26は
不図示の真空ポンプに接続されている。
【0019】又、前記回転軸22の後下方には速度可変
型の駆動モータ27が固設されており、該駆動モータ2
7の出力軸に結着されたプーリ28と前記プーリ24の
間にはベルト29が巻装されている。
【0020】次に、本スクラバー洗浄装置の作用を説明
する。
【0021】ここでは、その外周縁部の面取部がスラリ
ーを用いて鏡面研磨された半導体ウエーハWの洗浄作業
を説明する。この半導体ウエーハWは、ワーク吸着回転
部20の吸着ヘッド25に図示のように垂直に吸着保持
される。即ち、不図示の真空ポンプが駆動されて真空孔
26から真空引きされると、ウエーハWは吸着ヘッド2
5の吸着面に発生する負圧によって吸着ヘッド25に真
空吸着される。そして、その後駆動モータ27が駆動さ
れ、これの回転がプーリ28,ベルト29及びプーリ2
4を経て回転軸22及び吸着ヘッド25に伝達される
と、吸着ヘッド25に吸着保持されたウエーハWが所定
の速度で回転駆動される。
【0022】一方、駆動モータ16が駆動されると、そ
の回転は出力軸16a、カップリング18、回転軸5、
プーリ9、ベルト10及びプーリ7を経て回転軸8に伝
達され、該回転軸8及び回転ブラシ11が所定の速度で
回転駆動される。そして、この状態でシリンダ17が駆
動されてロッド17aが伸長すると、該シリンダ17、
プレート15、駆動モータ16、中空軸4及び回転軸5
が一体的にウエーハW方向(図1の左方)に移動し、中
空軸4に一体的に支持された回転ブラシ11も同方向に
移動し、図4に示すように、回転ブラシ11の平面部1
1aがウエーハWの反吸着面に当接する。
【0023】その後、シリンダ13を駆動してこれのロ
ッド13aを伸長させれば、アーム12及び中空軸4が
中空軸4の軸心回りに図2の時計方向に回動し、この結
果、中空軸4に一体的に支持された回転ブラシ11も図
2の実線位置から破線位置まで回動し、図5に示すよう
に、回転ブラシ11の円筒部11bがウエーハWの外周
縁の面取部に当接する。
【0024】すると、回転ブラシ11とウエーハWとの
間に相対運動が生じ、ウエーハWの反吸着面は回転ブラ
シ11の平面部11aでスクラバー洗浄され、同ウエー
ハWの面取部は回転ブラシ11の円筒部11bでスクラ
バー洗浄されるため、ウエーハWの反吸着面と面取部が
同時、且つ確実に洗浄される。
【0025】尚、本実施例では、半導体ウエーハWの反
吸着面と面取り部がスクラバー洗浄され、吸着面は洗浄
されないが、該ウエーハWの吸着面は次工程でポリッシ
ングされるため、差し支えない。
【0026】
【発明の効果】以上の説明で明らかな如く、本発明によ
れば、薄円板状のワークを吸着保持してこれを回転駆動
するワーク吸着回転部と、ワークの回転平面と平行な平
面内で、回転自在及びワークの少なくとも半径方向に揺
動自在に支持され、ブラシ構造表面を有するリング状の
平面部と該平面部の中心にワーク側に向かって突出する
同じくブラシ構造表面を有する円筒部から成る回転ブラ
シと、該回転ブラシを回転駆動する回転手段と、同回転
ブラシを揺動させる揺動手段を含んで薄円板状ワークの
スクラバー洗浄装置を構成したため、ワークの片面と外
周縁とを同時、且つ確実に洗浄することができるという
効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るスクラバー洗浄装置の平断面図で
ある。
【図2】図1の矢視A方向の図である。
【図3】ワーク吸着回転部の側断面図である。
【図4】ウエーハと回転ブラシとの位置関係を示す側面
図である。
【図5】ウエーハと回転ブラシとの位置関係を示す正面
図である。
【符号の説明】
11 回転ブラシ 11a 回転ブラシの平面部 11b 回転ブラシの円筒部 13 シリンダ(揺動手段) 16 駆動モータ(回転手段) 17 シリンダ(移動手段) W 半導体ウエーハ(ワーク)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 工藤 秀雄 福島県西白河郡西郷村大字小田倉字大平 150番地信越半導体株式会社 半導体白 河研究所内 (72)発明者 山田 正幸 福島県西白河郡西郷村大字小田倉字大平 150番地信越半導体株式会社 半導体白 河研究所内 (72)発明者 内山 勇雄 福島県西白河郡西郷村大字小田倉字大平 150番地信越半導体株式会社 半導体白 河研究所内

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 薄円板状のワークを吸着保持してこれを
    回転駆動するワーク吸着回転部と、ワークの回転平面と
    平行な平面内で、回転自在及びワークの少なくとも半径
    方向に揺動自在に支持され、ブラシ構造表面を有するリ
    ング状の平面部と該平面部の中心にワーク側に向かって
    突出する同じくブラシ構造表面を有する円筒部から成る
    回転ブラシと、該回転ブラシを回転駆動する回転手段
    と、同回転ブラシを揺動させる揺動手段を含んで構成さ
    れることを特徴とする薄円板状ワークのスクラバー洗浄
    装置。
  2. 【請求項2】 前記回転ブラシは、これの回転平面に直
    交する方向に移動自在に支持され、移動手段によって同
    方向に移動せしめられることを特徴とする請求項1記載
    の薄円板状ワークのスクラバー洗浄装置。
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Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3052105B2 (ja) * 1992-11-20 2000-06-12 東京エレクトロン株式会社 洗浄処理装置
DE69421353T2 (de) * 1993-08-31 2000-05-11 Shoyo Seiki Ohme Kk Reinigungsgerät
US5518542A (en) * 1993-11-05 1996-05-21 Tokyo Electron Limited Double-sided substrate cleaning apparatus
US5733175A (en) 1994-04-25 1998-03-31 Leach; Michael A. Polishing a workpiece using equal velocity at all points overlapping a polisher
JP3328426B2 (ja) * 1994-05-12 2002-09-24 東京エレクトロン株式会社 洗浄装置
US5607341A (en) 1994-08-08 1997-03-04 Leach; Michael A. Method and structure for polishing a wafer during manufacture of integrated circuits
DE19544677C2 (de) * 1995-11-30 2000-04-27 Leybold Ag Verfahren zum Reinigen von scheibenförmigen Substraten
TW363903B (en) * 1996-03-11 1999-07-11 Memc Electronic Materials Spa Apparatus for use in automatically cleaning semiconductor wafers and methods for drying a semiconductor wafer in the automatic drying machine
US5675856A (en) * 1996-06-14 1997-10-14 Solid State Equipment Corp. Wafer scrubbing device
GB2319888A (en) * 1996-11-30 1998-06-03 Ibm Brushes for cleaning substrates
JP3320640B2 (ja) * 1997-07-23 2002-09-03 東京エレクトロン株式会社 洗浄装置
JPH1154471A (ja) 1997-08-05 1999-02-26 Tokyo Electron Ltd 処理装置及び処理方法
US6115867A (en) * 1997-08-18 2000-09-12 Tokyo Electron Limited Apparatus for cleaning both sides of substrate
JP3990073B2 (ja) * 1999-06-17 2007-10-10 株式会社荏原製作所 基板洗浄装置及び基板洗浄方法
US9646859B2 (en) * 2010-04-30 2017-05-09 Applied Materials, Inc. Disk-brush cleaner module with fluid jet
KR20140116542A (ko) * 2012-01-24 2014-10-02 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 입자 감소를 위한 세정 모듈 및 프로세스
KR102203498B1 (ko) * 2013-01-31 2021-01-15 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 화학 기계적 평탄화후 기판 클리닝을 위한 방법 및 장치
KR102233392B1 (ko) * 2013-03-15 2021-03-30 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 화학 기계적 폴리싱을 위한 웨이퍼 및 웨이퍼 에지/사면 클리닝 모듈을 이용하는 디스크/패드 클리닝의 설계
CN105722641B (zh) 2013-10-25 2019-05-28 应用材料公司 用于化学机械平坦化后的基板抛光预清洁的系统、方法和装置
US10342326B2 (en) 2016-06-06 2019-07-09 Saudi Arabian Oil Company Underwater marine growth brushing mechanism with passive self-adjust for curved surfaces
CN109316118B (zh) * 2016-11-24 2020-09-04 乐清市风杰电子科技有限公司 转动行走比较方便的用于理发店自动清理碎头发的装置
JP7149869B2 (ja) * 2019-02-07 2022-10-07 株式会社荏原製作所 基板洗浄方法および基板洗浄装置
CN114011772B (zh) * 2022-01-04 2022-04-15 中南大学 一种用于粒子铜整形的设备

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0695508B2 (ja) * 1986-11-28 1994-11-24 大日本スクリ−ン製造株式会社 基板の両面洗浄装置
US5046656A (en) * 1988-09-12 1991-09-10 Regents Of The University Of California Vacuum die attach for integrated circuits
KR0134962B1 (ko) * 1989-07-13 1998-04-22 나까다 구스오 디스크 세척장치
US5144711A (en) * 1991-03-25 1992-09-08 Westech Systems, Inc. Cleaning brush for semiconductor wafer

Also Published As

Publication number Publication date
DE69205142D1 (de) 1995-11-02
EP0549377A3 (en) 1993-08-04
US5282289A (en) 1994-02-01
JPH05182940A (ja) 1993-07-23
EP0549377B1 (en) 1995-09-27
EP0549377A2 (en) 1993-06-30
DE69205142T2 (de) 1996-05-09

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