JPH04206945A - 真空チャック洗浄方法 - Google Patents
真空チャック洗浄方法Info
- Publication number
- JPH04206945A JPH04206945A JP2338591A JP33859190A JPH04206945A JP H04206945 A JPH04206945 A JP H04206945A JP 2338591 A JP2338591 A JP 2338591A JP 33859190 A JP33859190 A JP 33859190A JP H04206945 A JPH04206945 A JP H04206945A
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- vacuum chuck
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- cleaning
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- chuck
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- Pending
Links
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 title claims abstract description 25
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 13
- 230000001680 brushing effect Effects 0.000 claims abstract description 5
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 3
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 8
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 3
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Manipulator (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野]
本発明は、例えは半導体製造工程において、半導体ウェ
ー八等の薄い板状体を吸着して移動、加工等を行なうた
めの真空チャックを装置内で洗浄する方法に関する。
ー八等の薄い板状体を吸着して移動、加工等を行なうた
めの真空チャックを装置内で洗浄する方法に関する。
[従来の技術]
従来、この種の真空チャックを装置内で洗浄する方法と
しては、強制回転させたブラシを真空チャックに接触さ
せて行なうか、あるいは水なとの洗浄液を真空チャック
に直接噴射して行っていた。
しては、強制回転させたブラシを真空チャックに接触さ
せて行なうか、あるいは水なとの洗浄液を真空チャック
に直接噴射して行っていた。
[発明が解決しよろとする課題]
しかしながら、前者の方法Cはブラシを回転駆動するモ
ータやその制御装置等が必要なため、洗浄装置の構造か
複雑になりコストの高騰を招いていた。。
ータやその制御装置等が必要なため、洗浄装置の構造か
複雑になりコストの高騰を招いていた。。
また後者の洗浄液噴射の方法では、一般に洗浄効果がブ
ラシによる方法よりも低く、洗浄効果を」−けようとす
ればやはり構造の複雑化が避けられなかった。
ラシによる方法よりも低く、洗浄効果を」−けようとす
ればやはり構造の複雑化が避けられなかった。
本発明は上記実情に鑑みてなされたもので、ブラシを強
制回転させることを回避し、簡単な構造でしかも効率良
く真空チA・ツクを洗浄する方法を提供することを目的
とする。
制回転させることを回避し、簡単な構造でしかも効率良
く真空チA・ツクを洗浄する方法を提供することを目的
とする。
[課題を解決するための手段]
本発明は、板状体を吸着して該板状体の移動、加工等を
行なうための真空チャックを洗浄する方法において、真
空チャックの移動軌跡−にであ−っ−C1かつ該真空チ
ャックの吸着面の偏心位置に、回転自在な円形ブラシの
回転中心を設定し、七、記真空チャックを回転駆動しか
つその吸着面を円形ブラシのブラシ面に接触させ゛るこ
とにより、円形ブラシを連れ回すさせながらブラッシン
グすることを特徴とする。
行なうための真空チャックを洗浄する方法において、真
空チャックの移動軌跡−にであ−っ−C1かつ該真空チ
ャックの吸着面の偏心位置に、回転自在な円形ブラシの
回転中心を設定し、七、記真空チャックを回転駆動しか
つその吸着面を円形ブラシのブラシ面に接触させ゛るこ
とにより、円形ブラシを連れ回すさせながらブラッシン
グすることを特徴とする。
[作用]
円形ブラシの回転中心が真空チャックの偏心IN′l。
置ζこ設定されであるため、真空チャックか回転駆動し
た場合、その外周側はと速度か速いことから、ブラシに
おいては真空チャックの外周側に接する部分て受ける摩
擦力の方が内周側に接する部分て受ける摩擦力より大き
いので、ブラシは真空チャックの回転方向と同方向に連
れ回りしながら真空チャックの吸着面をブラッシングす
る。
た場合、その外周側はと速度か速いことから、ブラシに
おいては真空チャックの外周側に接する部分て受ける摩
擦力の方が内周側に接する部分て受ける摩擦力より大き
いので、ブラシは真空チャックの回転方向と同方向に連
れ回りしながら真空チャックの吸着面をブラッシングす
る。
[実施例]
第1図、第2図は本発明方法の実施に好適な半導体ウェ
ーハの研磨加工装置を示す平面図および側面図である。
ーハの研磨加工装置を示す平面図および側面図である。
台座1」−には、ウェーハ収納部2、チャック保持装置
二3、加工部4およびチャック洗浄部5か設置しである
。」−記チャック保持装置−3は、アーム7を一体に取
り11けた回転駆動軸6と、アーム7の先端に取り付け
られた支軸8と−1その支軸8 (J)下端に取り同げ
られた真空チi・ツク9とからなる。
二3、加工部4およびチャック洗浄部5か設置しである
。」−記チャック保持装置−3は、アーム7を一体に取
り11けた回転駆動軸6と、アーム7の先端に取り付け
られた支軸8と−1その支軸8 (J)下端に取り同げ
られた真空チi・ツク9とからなる。
この真空チャック9は図示しない駆動源により回転可能
かつ上下動可能に構成されている。また該真空チャック
9は、例えは真空源に連通した多数の吸引孔を設けたセ
ラミックスプレートを下端面ここ取り付けたものである
。
かつ上下動可能に構成されている。また該真空チャック
9は、例えは真空源に連通した多数の吸引孔を設けたセ
ラミックスプレートを下端面ここ取り付けたものである
。
11はウェーハ収納部2のウェーハ10を特機部12に
順次移送するl\ルトである。該特機部12に運ばれた
ウェーハ1(〕は、前記真空チャック9に吸着された後
、回転駆動軸6か回転してアーム7か回動することによ
り真空チャック9とともに加−11部4」−に運はれ、
吹いて真空チャック9か若干下降し、ウェーハ1()が
加]一部4の回転している研磨用定盤1;3ζこ接触し
・て研磨されるよ−)になっている。
順次移送するl\ルトである。該特機部12に運ばれた
ウェーハ1(〕は、前記真空チャック9に吸着された後
、回転駆動軸6か回転してアーム7か回動することによ
り真空チャック9とともに加−11部4」−に運はれ、
吹いて真空チャック9か若干下降し、ウェーハ1()が
加]一部4の回転している研磨用定盤1;3ζこ接触し
・て研磨されるよ−)になっている。
チャック洗浄部5は真空チャック9の[多動軌跡」−に
設置されてあり、円形の四部14因に円形ブラシ15が
」二向きにかつ回転自在に取り1τjは−Cあるととも
に、該ブラシ15の近傍に洗浄液の噴出ノズル16が斜
め−1−向きに設けである。なお、ブラシ15はその回
転中心が真空チャック9の偏心位置、好ましくは真空チ
ャック90半径の中間点1寸近に位置するように配置さ
れている。
設置されてあり、円形の四部14因に円形ブラシ15が
」二向きにかつ回転自在に取り1τjは−Cあるととも
に、該ブラシ15の近傍に洗浄液の噴出ノズル16が斜
め−1−向きに設けである。なお、ブラシ15はその回
転中心が真空チャック9の偏心位置、好ましくは真空チ
ャック90半径の中間点1寸近に位置するように配置さ
れている。
次に上記装置を使用する真空チャック洗浄方法を説明す
る。まず回転駆動軸6を回転させて真空チャック9を洗
浄部5の上方所定位置で停止させる。次いて真空チャッ
ク9を下降させてその吸着面をブラシ15に接触さぜ、
かつ真空チャック9を回転駆動することによりブラシ1
5を連れ回りさせ、同時にノズル16から純水等の洗浄
液を噴出させて洗浄を行なう。
る。まず回転駆動軸6を回転させて真空チャック9を洗
浄部5の上方所定位置で停止させる。次いて真空チャッ
ク9を下降させてその吸着面をブラシ15に接触さぜ、
かつ真空チャック9を回転駆動することによりブラシ1
5を連れ回りさせ、同時にノズル16から純水等の洗浄
液を噴出させて洗浄を行なう。
即ち、ブラシ15の回転中心が真空チャック9の偏心位
置に設定されであるため、真空チャック9が回転駆動し
た場合、その外In fallはと速度が速いことから
、ブラシ15においては真空チャ・ツク9の外周側に接
する部分て受ける摩擦力の方が内1??]側に接する部
分て受(する摩擦力より大きいので、ブラシ15は真空
チャック9の回転方向と同方向に連れ回りする。例えは
、第1図において真空チャック9か時計方向に回転する
と、ブラシ15も時計方向に回転し・ながら真空チャッ
ク9の吸着面をブラッシングする。
置に設定されであるため、真空チャック9が回転駆動し
た場合、その外In fallはと速度が速いことから
、ブラシ15においては真空チャ・ツク9の外周側に接
する部分て受ける摩擦力の方が内1??]側に接する部
分て受(する摩擦力より大きいので、ブラシ15は真空
チャック9の回転方向と同方向に連れ回りする。例えは
、第1図において真空チャック9か時計方向に回転する
と、ブラシ15も時計方向に回転し・ながら真空チャッ
ク9の吸着面をブラッシングする。
[発明の効果]
上記のようζご本発明によれは、洗浄部のブラシを回転
自在な中線な構成どし、−1゛ヤツク1^持装置に真空
チャックの回転駆動源を付加ずればよいので、洗浄部の
構造を極めて簡単にすることができコストが低減化され
る。またブラシは真空チャックの回転とともに連れ回り
しながらブラッシングするので、真空チャックの吸着面
を愼めることなく効率的に洗浄を行なうことができる。
自在な中線な構成どし、−1゛ヤツク1^持装置に真空
チャックの回転駆動源を付加ずればよいので、洗浄部の
構造を極めて簡単にすることができコストが低減化され
る。またブラシは真空チャックの回転とともに連れ回り
しながらブラッシングするので、真空チャックの吸着面
を愼めることなく効率的に洗浄を行なうことができる。
第1図は本発明方法の実施に好適な半導体つ〕−−ハの
研磨加工装置を示す平面図、第2図は同、側面図である
。 −〇− 3・・・チャック保持装置 4・・・加工部 5・・・洗浄部 9・・・真空チャック 10・・・ウェーハ(板状体) 15・・・円形ブラシ 出願人:東芝セラミックス株式会社
研磨加工装置を示す平面図、第2図は同、側面図である
。 −〇− 3・・・チャック保持装置 4・・・加工部 5・・・洗浄部 9・・・真空チャック 10・・・ウェーハ(板状体) 15・・・円形ブラシ 出願人:東芝セラミックス株式会社
Claims (1)
- 板状体を吸着して該板状体の移動、加工等を行なうため
の真空チャックを洗浄する方法において、真空チャック
の移動軌跡上であって、かつ該真空チャックの吸着面の
偏心位置に、回転自在な円形ブラシの回転中心を設定し
、上記真空チャックを回転駆動しかつその吸着面を円形
ブラシのブラシ面に接触させることにより、円形ブラシ
を連れ回りさせながらブラッシングすることを特徴とす
る真空チャック洗浄方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2338591A JPH04206945A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | 真空チャック洗浄方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2338591A JPH04206945A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | 真空チャック洗浄方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04206945A true JPH04206945A (ja) | 1992-07-28 |
Family
ID=18319616
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2338591A Pending JPH04206945A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | 真空チャック洗浄方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04206945A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108942902A (zh) * | 2018-10-19 | 2018-12-07 | 江门市恒正自动化设备科技有限公司 | 一种上下料用六轴关节机器人 |
CN113636343A (zh) * | 2021-09-03 | 2021-11-12 | 宁波工程学院 | 一种智能制造工业的码垛机器人设备 |
-
1990
- 1990-11-30 JP JP2338591A patent/JPH04206945A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108942902A (zh) * | 2018-10-19 | 2018-12-07 | 江门市恒正自动化设备科技有限公司 | 一种上下料用六轴关节机器人 |
CN108942902B (zh) * | 2018-10-19 | 2024-04-19 | 江门市恒正自动化设备科技有限公司 | 一种上下料用六轴关节机器人 |
CN113636343A (zh) * | 2021-09-03 | 2021-11-12 | 宁波工程学院 | 一种智能制造工业的码垛机器人设备 |
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