JPH06500875A - 対象または状態の品質の検査法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 対象または状態の品質の検査法 本発明は請求の範囲１の上位概念に記載の方法を前提とする。

対象のまたは状態の品質を短時間にまたは比較的長い時間間隔にわたり比較値と 比較し、この比較値を下回わると、もはや十分ではないとまたは欠かんがあると 指摘することは公知である。その−例は、２重壁の導管の絶縁物中の湿度の、ま たはケーブルの軸の中の湿度の監視である。そのため比較値−これを下回わると 欠かん品質が指摘されるーは通゛常は、所定の意志表示、要求、規定または基準 に依存する。従来は監視毎に警報の閾値が、工場渡しでまたは手動で使用者の判 断に応じてタップ付スイッチでまたはポテンショメータで、設定された。この閾 値の基礎はそれぞれセンサの機種に依存して、検査される対象の必要とされるべ き品質に対する認識であった。

多くの場合、比較値に関しては判定の基準があり、種々の意見の相違がある。例 えば品質を担当する責任者に対しては所定の比較値は高すぎると思はれ、他方、 損害を受けると想定される者にとっては、この比較値はまだ低すぎるように思は れる。即ち全く同一の状況が、一方の使用者には通報が遅すぎると非難され、他 方の使用者には早すぎると非難されることがあり得る。

本発明の課題は、この種の判定差と意見の相違を実買的に回避し、さらに品質検 査において良好に実際のデータに適合化される、対象または状態の品質の検査法 を提供することである。

この課題は請求の範囲１に示された発明により解決されている。

本発明による方法においては、検査時間間隔の始めに、対象または状態の品質に 依存することなく、欠かん品質は指摘されない。それに代えて初期品質値がまず 最初に正常として受け入れられる。比較値は例えば実際の初期品質を下回わるよ うに設定される。このことは自動的に行なえる。次に検査中に実際の品質が変化 すると、自動的に比較値も、これが常に所定の絶対的なまたは相対的な間隔だけ 実際の品質値を下回ゎるように変化する。この方法またはこの方法を実施する装 置は、比較値は上昇はするが迅速には再び低下できないように、構成されている 。実際の品質値が一定に維持されると、比較値も一定に維持される。しかし品質 比較値が低下しても比較値は低下せず、同じく一定に維持される。次に品質値が 所定値だけ低下すると、この品質値は最終的に品質比較値を下回ゎる。その時に はじめて欠かん品質が指摘される。比較値は自動的に常に実際の品質値へ適合調 整され、一定の値ではない。利点は、多（の場合、常駐の監視者としての人間が もはや必要とされないことにある。この種の適合調整される比較値により、実際 には全く存在しない欠かん品質に関する通報が実質的に回避できる。他方、以後 の損傷を引きおこすおそれのある突発的な品質低下は著しく迅速に検出されて、 相応の手段が導入できる。以後の経過に関して劣悪な状態も監視できる。閾値は 通常の場合、実施可能な品質状態にもとづく。

この方法または装置は次の前提の下に動作する：状態は最適にはなり得ない。し かし状態が現在より劣化しない時は、この状態は良好と称すことができる。この 方法により、従来存在した、対象または状態の品質を検査するための装置に対し て、新規な使用領域が開かれる。“良好”状態として手動で操作されるまたは以 後に現われるより良い値が定められる。

次に本発明を図面を用いて説明する。

第１図は品質の検査のための公知の方法の図である第２図および第３図は、本発 明による方法の図である。

第４図は、本発明の方法により動作する測定装置の簡単化した図である。

第５図は、マイクロプロセッサを有する、変形された測定装置である。

第６図は本発明による曲線と閾値を有する図である第１図は、対象の品質の経過 を、また状態の品質の経過を、時間ｔに依存して示す曲線である。一定の比較値 ＧＶが用いられる。時点ｔ１で一定の比較値ＧＶを下回わると、欠かん品質が指 摘される。欠かん品質は、品質Ｇが比較値ＧＶを下回わるすべての場合に、即ち 既に初期品質ＧＡが比較値ＧＶを下回わる時も、指摘される。

第２図において開始時点ｔｏにおいて、品質は初期品質値ＧＡを有する。比較値 ＧＶは自動的にこの品質値へ適合調整され、間隔Ａを置いて、初期品質値ＧＡの 下側に位置する。時点ｔ１において実際の品質が向上する。そのため比較値ＧＶ は、間隔Ａ−この間隔でＧを下回わるーが実質的に一定となるように相応に変化 される。時点ｔ２．−ｔ３においてわずかな落ち込みＢが品質に生じても、比較 値ＧＶを下回わらないと、この品質値はまだ正常であると指摘される。時点ｔ４ において実際の品質値が低下する。しかし比較値ＧＶは低下せず一定に維持され る。相応の装置または回路は、ＧＶの低下を阻止する手段を含む。時点ｔ５にお いて品質値Ｇが比較値ＧＶを下回わる。この時点において欠かん品質が指摘され る、何故ならばこの種の低下は、以後の損傷を引きおこす確率が大きいからであ る。一定の間隔Ａは、直線的な測定量（例えば容器の充てん状態−上昇はするが 所定の高さよりも多くは決して低下してはならない）による測定機能の場合は重 要である。別の測定量の場合は、比例関係よりも相応に良好に考慮される対数的 な特性曲線が形成されることが多い。

それに代えて第３図には、値ＧＶの比例特性が、対数的な特性曲線の場合に重要 である、例えば５０％Ｇで示されている。この第３図において、比較されるべき 曲線ＧとＧＶとの相応の相対的な間隔がＡ′で示されている。この場合も比較値 の曲線ＧＶが、実際の品質の曲線Ｇへ、改善の方向へだけ追従する。そのため曲 線Ｇは、品質の相応に著しい低下の際に曲線ＧＶと時点ｔ５において交差する。

時点ｔ５における欠かん品質の表示または通報の後に、比較値ＧＶを次の値へ低 下（セット）できるまたは設定できる、即ち比較曲線ＧＶが再び、曲線Ｇの下側 で所望の間隔Ａ（第２図）またはＡ’　（第３図）で始まる値へ、設定できる。

第４図は、第２図または第３図の方法を実施するための装置である。検査される べき対象Ｏは、瞬時値を測定するための測定装置Ｍを介して、比較器Ｃへ接続さ れている。この比較器の出力側は表示装置ＡＤへ、例えば表示器へまたは通報評 価用の装置へ接続されている。比較器Ｃへ比較値ＧＶが加えられる。この比較値 は、このまたは別の測定回路Ｍを介して、対象Ｏの実際の品質値Ｇに依存して、 制御される。例えば対象Ｏの測定および検査が始まると、操作者は手動部材１を 例えば“セット”キーを操作する。この意図的な設定または操作により比較値Ｇ Ｖが、対象Ｏの瞬時の品質値Ｇへ適合調整できる。機器の値を次の様に選定でき る。即ち例えばキー１を操作すると比較値ＧＶが第２図または第３図のように実 際の品質値の下側に自動的に前もって設定されることにより、実際の品質値に対 する比較値ＧＶがキー１の操作により正常値として常に定められるように、選定 できる。キー１を、所定のプリセットされた命令を実施するための、および／ま たは間隔Ａ、Ａ’の設定のためのセットキーとして構成できる。キー１はまたは 別のキーは、比較値ＧＶの自動的な更新化の遮断のためにも、構成できる。相応 の曲線が第６図にＧＶｓで示されている。

第４図にＦｌとＦ２で、瞬時の品質Ｇのおよび比較品質Ｇｖの作用の測定値を比 較器Ｃへ転送するための回路、増幅器等が示されている。キー１は即ち“セ、ソ ト”命令は、測定された瞬時値Ｇから設定可能なかつ機能に応じて制御可能な値 を取り出すメモリへ配属されている。このメモリは、キー１だけを即ち“セ・ッ ト″命令だけを用いて比較値を低下させるように、値が選定されている。演算増 幅器Ｆ１．Ｆ２は例えば特性曲線経過へおよび増幅係数１．２等へ設定される。

第５図は第４図の変形実施例を示し、この実施例ではマイクロプロセッサ２が比 較を実施する。第６図にこの種のマイクロプロセッサ２に対する流れ図が示され ている。Ｇ＜ＧＶがイエスである通報Ｇとアラームのトリガを連動することもで きる。このアラームにより要求された第５図におけるキー２の操作（セット）に より、ちょうどいま測定された“粗悪値”が“品質値“として定められて以後の 測定の基礎とされる。

第６図に、実際の品質の曲線Ｇと、第２図、第３図に示された比較値ＧＶａ、Ｇ Ｖｒならびに、自動的には適合調整されない比較値ＧＶｓのための曲線ＧＶｓ（ Ｓはスタティックを示す）がまとめて示されている。第６図にさらに曲線ＧＯと Ｇｕが記入されている。

曲線Ｇｏ、Ｇｕが比較値ＧＶに対する幅の制限を形成する。第６図に示されてい る全部の曲線ＧＶは、劣化が湿度の増加の方向へすすむ時に、実際の品質Ｇの曲 線の下側にある。しかし乾燥化を、゛一層層化化た”ものとして検出されるよう に、実施することもできる調整による極端な状態として除去する目的で、変形実 施例として、上側限界値をまたは／および下側限界値（ＣｏおよびＧｕ）を前も って与えることができる）。ＧＯの例：室温において１０Ｍオームの値が、現在 は全般的に受け入れられる値として適用される。しかし絶縁体の以後の乾燥化に より、Ｇに対してＩＧオームの実際の値が生じ得るように、前もって設定できる 。そのためＧ　Ｖ　＝　８００　Ｍオーム（例えばＩＭΩの８０％）を許容する ことは全く正しくない。この場合、Ｇｏは例えば８Ｍオームで適切である。

Ｇｕの例： 絶縁体を完全にぬらす（例えば水に入れて）場合は、飽和された状態としてもは やこれを下回わることのできない値がいつかは現われることがある。この飽和を 下回わるＧＶを許容するとしたら正しくない。Ｇｕとして純物理的にまたは純経 験的にめられ全面的に実施可能でもはや裁量の余地のない値を用いることもでき る。

一層極端な値が本発明による解決手段で実施されても、従来技術の場合のＧｕお よびＧｏは、設定可能な最高のおよび最低の閾値と、同一視できる。

Ｆｉｇ、４ 国際調査報告 品質 国際調査報告 ＥＰ　９１０１７６３ Ｓ＾　５１０８７

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １．品質を比較的長い時間間隔にわたり比較値と比較し、該比較値を下回わると 欠かん品質を指摘する形式の、対象または状態の品質の検査法において、比較量 （ＧＶ）を検査時間間隔の始めに、実際の初期品質（ＧＡ）への固定の間隔（Ａ ，Ａ′）で設定し、品質（Ｇ）が向上する場合は該比較値をそのまま維持するか または間隔（Ａ，Ａ′）を置いて実際の品質（Ｇ）へ追従させ、他方、品質（Ｇ ）が低下する場合は該比較値を一定に維持することを即ち低下させないことを特 徴とする、対象のまたは状態の検査法。 ２．手動部材（１，セット）を設け、該手動部材の操作により比較値（ＧＶ）を 、瞬時の実際の品質値（Ｇ）を多少下回わるプリセット値へまたはプリセット可 能な値へ設定可能である、請求の範囲第１記載の方法。 ３．比較値（ＧＶ）と実際値（Ｇ）との間隔（Ａ）を設定調整可能にした、請求 の範囲第１項記載の方法４．量小値を検査する場合は、比較値曲線が瞬時値曲線 の上側を走行する、請求の範囲第１項記載の方法５．品質を比較的長い時間間隔 にわたり比較値と比較し、該比較値を下回わると欠かん品質を指摘する形式の、 対象または状態の品質の検査装置において、瞬時の品質値（Ｇ）を比較値（ＧＶ ）と比較するための比較器および、該比較器（Ｃ）の比較結果を表示または評価 するための表示器（Ｄ）および、瞬時の品質値（Ｇ）を測定するための測定回路 （Ｍ）および、さらに瞬時の品質値（Ｇ）に依存して比較値（ＧＶ）を制御する ための回路を設けたことを特徴とする、対象または状態の品質の検査装置。 ６．前記の回路を次のように構成し、即ち比較値（ＧＶ）を瞬時の品質値（Ｇ） を下回わるようにし、品質値（Ｇ）が増加すると比較値を上昇させ、かつ比較値 を品質値の低下の経過には依存させず、再び低下できないように、前記の回路を 構成した、請求の範囲第５記載の装置。 ７．キー（１，セット）を設け、該キーは作動毎に、比較曲線（ＧＶ）の品質値 をプリセット値だけ低下させる、請求の範囲第１から第６項までのいずれか１項 記載の装置。 ８．測定−および比較結果を評価するためのマイクロプロセッサを設けた、請求 の範囲第５項記載の装置。