CZ42893A3 - Method of investigating quality parameters of an object or a state and apparatus for making the same - Google Patents

Method of investigating quality parameters of an object or a state and apparatus for making the same Download PDF

Info

Publication number
CZ42893A3
CZ42893A3 CZ93428A CZ42893A CZ42893A3 CZ 42893 A3 CZ42893 A3 CZ 42893A3 CZ 93428 A CZ93428 A CZ 93428A CZ 42893 A CZ42893 A CZ 42893A CZ 42893 A3 CZ42893 A3 CZ 42893A3
Authority
CZ
Czechia
Prior art keywords
quality
value
actual
comparison
curve
Prior art date
Application number
CZ93428A
Other languages
English (en)
Inventor
Bernd Brandes
Original Assignee
Bernd Brandes
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Bernd Brandes filed Critical Bernd Brandes
Publication of CZ42893A3 publication Critical patent/CZ42893A3/cs

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G07CHECKING-DEVICES
    • G07CTIME OR ATTENDANCE REGISTERS; REGISTERING OR INDICATING THE WORKING OF MACHINES; GENERATING RANDOM NUMBERS; VOTING OR LOTTERY APPARATUS; ARRANGEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS FOR CHECKING NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • G07C3/00Registering or indicating the condition or the working of machines or other apparatus, other than vehicles
    • G07C3/14Quality control systems

Landscapes

  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Solid-Sorbent Or Filter-Aiding Compositions (AREA)
  • Macromolecular Compounds Obtained By Forming Nitrogen-Containing Linkages In General (AREA)
  • Developing Agents For Electrophotography (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
  • Paper (AREA)

Description

Způsob přezkušování kvality předmětu nebo stavu apríštrďj“^ provádění tohoto způsobu
Oblast techniky
Vynález se týká způsobu přezkušování kvality předmětu nebo stavu, při němž se kvalita po delší dobu porovnává s porovnávací hodnotou a při nedosažení této porovnávací hodnoty se chybná kvalita označuje. Vynález se dále týká přístroje k provádění tohoto způsobu.
Dosavadní stav techniky
Je známé krátkodobě nebo po delší dobu porovnávat kvalitu předmětu nebo stavu s porovnávací hodnotou a při nedosažení této porovnávací hodnoty provádět označování kvality předmětu nebo stavu jako již nedostačující nebo chybnou. Jedním příkladem tohoto porovnávání je sledování vlhkosti v izolaci dvoustěnných potrubí nebo vlhkosti v kabelových šachtách. Porovnávací hodnota, pod níž je označována kvalita jako chybná, je přitom obecně závislá na určitém projevu vůle, na nějakém požadavku, předpisu nebo stanoveném úkolu. Doposud se při každém sledování kvality podle uvážení uživatele provádělo strojně nebo ručně pevné nastavení určité ohlašovací meze na stupňových spínačích nebo potenciometrech. Základ pro prahovou hodnotu se vždy řídil požadavkem na kvalitu snímaného předmětu nebo objektu v závislosti na druhu čidel.
V mnoha případech existuje určitá vůle v měření nebo odlišnost názorů na porovnávací hodnotu. Například se může zdát porovnávací hodnota osobě zodpovědné za kvalitu příliš vysoká, zatímco jiné osobě, která by možná byla poškozena, se zdá porovnávací hodnota ještě nízká. Proto bylo možné, že přesně stejné okolnosti měly u jednoho uživatele za následek výtky pozdějšího ohlášení a u jiného uživatele zase výtky předčasného ohlášení.
Úkolem vynálezu je vytvořit způsob přezkušování kvality předmětu nebo stavu, který nebude mít vůle měření a prakticky žádné diskrepance, a který bude dobře přizpůsoben přezkušování kvality z praktické stránky.
Podstata vynálezu
Tento úkol splňuje způsob přezkušování kvality předmětu nebo stavu, při němž se kvalita po delší dobu porovnává s porovnávací hodnotou a při nedosažení této porovnávací hodnoty se chybná kvalita označuje, podle vynálezu, jehož podstatou je, že porovnávací hodnota se na začátku přezkušovací doby nastaví na pevný odstup od skutečné počáteční kvality, při stoupající kvalitě zůstává stejná nebo s odstupem sleduje skutečnou kvalitu a při klesající kvalitě zůstává konstantní, tedy neklesá.
Uvedený úkol dále splňuje přístroj pro provádění způsobu podle vynálezu, jehož podstatou je, že sestává z komparátoru pro porovnávání momentální hodnoty kvality s porovnávací hodnotou, indikátoru pro zobrazení vyhodnocení výsledku komparátoru, měřicího obvodu pro měření momentální hodnoty kvality a obvodu pro řízení porovnávací hodnoty v závislosti na momentální hodnotě kvality.
U způsobu podle vynálezu se tedy na začátku přezkušování nezávisle na kvalitě předmětu nebo stavu neoznačí žádná chybná kvalita. Místo toho se počáteční hodnota kvality akceptuje zpočátku jako normální. Porovnávací hodnota se nastaví například poněkud pod skutečnou počáteční hodnotu kvality. To se může provést automaticky. Když se nyní v průběhu sledování skutečná kvalita změní, změní se automaticky i porovnávací hodnota v tom smyslu, že neustále leží o určitý absolutní nebo relativní odstup pod skutečnou hodnotu kvality. Způsob nebo přístroj pro provádění způsobu přezkušování je však vytvořen tak, že porovnávací hodnota sice může stoupat, avšak nikoli opět bez dalšího klesat. Když tedy skutečná hodnota kvality zůstává konstantní, zůstává konstantní i porovnávací hodnota. Když však kvalita klesá, porovnávací hodnota neklesá, nýbrž zůstává rovněž konstantní. Když tedy hodnota kvality klesne o určitou velikost, dostane se konečně pod porovnávací hodnotu. Teprve potom dochází k označení kvality jako chybné. Porovnávací hodnota se tedy automaticky přizpůsobí vždy skutečné hodnotě kvality a nemá konstantní velikost.
Výhoda spočívá v tom, že v mnoha případech není zapotřebí člověka jako neustálého kontrolora přezkušování. Takto přizpůsobenou porovnávací hodnotou se prakticky zcela zamezí vzniku hlášení o vadné kvalitě, která sama o sobě vůbec neexistuje. Je však možno velmi rychle zjistit náhlý pokles kvality, který by mohl způsobit pozdější škody, takže je možno provést příslušná opatření. Je tedy možné sledovat rovněž špatný stav z hlediska jeho dalšího průběhu. Prahová hodnota je v případě regulace na ještě obhájitelném kvalitativním stavu.
Způsob nebo přístroj potom pracuje za předpokladu: Stav nemůže být optimální. Když však nebude horší než nyní, může být ještě označován jako dobrý. Způsobem podle vynálezu se tedy pro doposud existující přístroje pro přezkušování kvality předmětů nebo stavů otevírají nové oblasti použití. Jako stav DOBRÝ se definuje ručně potvrzená nebo později zavedená opravená hodnota.
Přehled obrázků na výkresech
Vynález bude dále blíže objasněn na příkladném provedení podle přiložených výkresů, na nichž obr. 1 znázorňuje schéma známého způsobu přezkušování kvality, obr. 2, 3 vždy schéma způsobu podle vynálezu, obr. 4 ve zjednodušené formě měřicí přístroj pracujícím způsobem podle vynálezu, obr. 5 obměněný měřicí přístroj s mikroprocesorem, obr. 6 vývojový diagram mikroprocesoru a obr. 7 schéma s křivkami a prahovými hodnotami podle vynálezu.
Příklady provedeni vynálezu
Obr. 1 znázorňuje křivku průběhu kvality G předmětu nebo stavu v závislosti na času t. Vodorovnou čáru v grafu představuje konstantní porovnávací hodnota GV. Když v okamžiku tl se dostane kvalita G pod porovnávací hodnotu GV, označí se jako chybná kvalita G. Chybná kvalita G se v každém případě zaznamená, když se kvalita G dostane pod porovnávací hodnotu GV, tedy i potom, když již počáteční kvalita GA leží pod porovnávací hodnotou GV.
Na obr. 2 má na začátku to kvalita hodnotu počáteční kvality GA. Porovnávací hodnota GV se automaticky přizpůsobí této počáteční kvalitě GA a leží v určitém odstupu A pod počáteční kvalitou GA. V okamžiku tl skutečná kvalita G stoupne. Porovnávací hodnota GV se nyní podle toho změní tak, že odstup A, s kterým porovnávací hodnota GV leží pod kvalitou G, zůstává přibližně konstantní. Když nyní v časovém okamžiku t2 - t3 nastane menší pokles B kvality G, avšak neklesne pod porovnávací hodnotu GV, bude se hodnota kvality G označovat ještě jako normální. V časovém okamžiku t4 skutečná hodnota kvality G klesne. Porovnávací hodnota GV nyní neklesne, nýbrž zůstává konstantní. Příslušný přístroj nebo obvod obsahuje prostředek, který zabrání klesnutí porovnávací hodnoty GV. V časovém okamžiku t5 se dostane hodnota kvality G pod porovnávací hodnotu GV. V tomto časovém okamžiku t5 dojde tedy k označení kvality G jako chybné, protože tento pokles by mohl s větší pravděpodobností způsobit pozdější škody. Konstantní odstup A má smysl při měřeních s lineární měřenou veličinou (například pro stav naplnění nádoby, který sice stoupá, avšak nikdy nemůže klesnout o více než o výšku x). U jiných měřených veličin často vznikne logaritmický průběh, který může být zohledněn lépe než úměra.
Na obr. 3 je alternativně znázorněno proporcionální neboli úměrné chování porovnávací hodnoty GV s například 50 % kvality G, což má smysl při logaritmickém průběhu. Na tomto obr. 3 je znázorněn odpovídající relativní odstup A1 porovnávaných křivek kvality G a porovnávané hodnoty GV. Rovněž zde sleduje křivka porovnávané hodnoty GV křivku skutečné kvality G jen ve směru zlepšování. Proto se křivka kvality G a křivka porovnávací hodnoty GV protínají při velkém poklesu kvality G v časovém okamžiku t5. Po znázornění nebo ohlášení chybné kvality v časovém okamžiku t5 může porovnávací hodnota GV poklesnout nebo se nastavit (Set) na takovou hodnotu, že křivka porovnávací hodnoty GV začne opět pod křivkou kvality G s požadovaným odstupem A (obr. 2) nebo A1 (obr. 3).
Obr. 4 znázorňuje přístroj k provádění způsobu podle obr. 2 nebo 3. Přezkušovaný předmět 0 je přes měřicí obvod M pro měření momentální hodnoty připojen na komparátor C, jehož výstup je připojen na zobrazovací zařízení AD, například indikátor nebo zařízení pro vyhodnocování výroků. Do komparátoru C se kromě toho přivádí porovnávací hodnota GV. která se řídí měřicím obvodem M v závislosti na skutečné hodnotě kvality G předmětu 0. Když například začne měření a přezkušování předmětu o, může obsluhující osoba ovládat ovladač 1, kterým může být například tlačítko Set. Tímto vědomým nastavením nebo ovládáním se může porovnávací hodnota GV přizpůsobit momentální kvalitě G předmětu 0. Přístroj může být dimenzován tak, že v každém okamžiku je porovnávací hodnota GV pro skutečnou hodnotu kvality G ovládáním ovladače 1 definována jako normální hodnota, například tím, že při ovládání ovladač 1 nastaví automaticky porovnávací hodnotu GV podle obr. 2 nebo 3 předem poněkud pod skutečnou hodnotu kvality G. Ovladač 1 může být tedy vytvořen jako nastavovací tlačítko Set pro provádění předem stanoveného předběžného nastavovacího příkazu a/nebo pro nastavení odstupu A, A1. Tlačítko ovladače 1 nebo další tlačítko může být upraveno i pro vypnutí automatického nastavování porovnávací hodnoty GV. Na obr. 7 je znázorněna příslušná křivka GVs.
Na obr. 4 jsou v přístroji dále zařazeny zesilovače F1 a F2 nebo podobně pro přenos změřených hodnot funkcí momentální kvality G a porovnávací hodnoty GV do komparátoru C. Ovladač 1 neboli příkaz Set jsou přiřazeny paměti, která od změřené momentální hodnoty kvality G odečte nastavitelnou a funkčně ovlivnitelnou hodnotu soklu. Paměť je dimenzována tak, že připouští jen pomocí ovladače 1 nebo příkazu Set pokles porovnávací hodnoty GV. Funkční zesilovače F1 a F2 jsou s výhodou nastavitelné na průběhy a zesílení s faktorem například 1, 2 nebo podobně.
Obr. 5 znázorňuje obměněné provedení přístroje z obr. 4, u něhož porovnávání provádí mikroprocesor 2. Na obr. 6 je znázorněn vývojový diagram tohoto mikroprocesoru 2. Výrokem ANO, že kvalita G je menší než porovnávací hodnota GV, by mohlo být spojeno spuštění poplachu. Ovládáním tlačítka mikroprocesoru 2 na obr. 5 (Set), vyvolaném uvedeným poplachem, se definuje právě změřená špatná hodnota jako hodnota kvality a tvoří základ pro další měření.
Na obr. 7 je znázorněna křivka skutečné kvality G a křivky porovnávacích hodnot GVa a GVv podle obr. 2, 3 jakož i křivka porovnávací hodnoty GVs (s jako statické) pro nikoli automaticky přizpůsobenou porovnávací hodnotu. Na obr. 7 jsou dále naznačeny křivky Go a Gu. Tyto křivky Go a Gu tvoří ohraničení šířky pásu pro porovnávací hodnotu GV. Všechny křivky porovnávacích hodnot GV, znázorněné na obr. 7, leží pod křivkou skutečné kvality G, jejíž zhoršení znamená zvýšení vlhkosti. Je však rovněž možné provádět měření tak, že jako zhoršení” se detekuje vysušování.
Jako extrémní stavy, u nichž je regulace vyloučená, je možná varianta provedení horní a/nebo dolní mezní hodnoty (křivky Go a Gu).
Příklad křivky Go:
Při pokojové teplotě platí hodnota 10 Μ-Ohm někdy jako všeobecně akceptovatelná hodnota. Dalším vysušováním izolace je si však možno představit, že kvalita G může dosáhnout skutečné hodnoty ÍG-Ohm. Proto by mohla být nesprávně připuštěna porovnávací hodnota GV=800 Μ-Ohm (při například 80 % hodnota 1 M-Ohm). Křivka Go by zde měla smysl například při 8 M-Ohm.
Příklad křivky Gu:
Při úplném provlhnutí izolace (například pod vodou), vznikne někdy hodnota, pod kterou, jako pod nasycený stav nelze klesnout. Bylo by nesprávné připustit pokles porovnávací hodnoty GV pod nasycení. Jako křivka Gu by byla využitelná hodnota, která se zjistí čistě fyzikálně nebo empiricky a představuje mezní hodnotu, která je všeobecné dodatečně akceptovatelná a nepřipouští žádnou vůli měření. Křivky Gu a Go by se podle starší techniky mohly rovnat nejhořejší a nejspodnější nastavitelné prahové hodnotě, i když jsou v našem řešení uváděny extrémní hodnoty.
PATENTOVÉ NÁ RÍCLÍK. Y

Claims (8)

  1. PATENTOVÉ NÁ RÍCLÍK. Y
    C?
    O '/M
    428-93
    O co
    1. Způsob přezkušování kvality předmětu nebo stavu, při němž se kvalita po delší dobu porovnává s porovnávací hodnotou a při nedosažení této porovnávací hodnoty se chybná kvalita označuje, vyznačující se tím, že porovnávací hodnota (GV) se na začátku přezkušovací doby nastaví na pevný odstup (A, A') od skutečné počáteční kvality (GA), při stoupající kvalitě (G) zůstává stejná nebo s odstupem (A, A') sleduje skutečnou kvalitu (G) a při klesající kvalitě (G) zůstává konstantní, tedy neklesá.
  2. 2. Způsob podle nároku 1, vyznačující se tím, že je upraven ovladač (1, Set), při jehož ovládání se porovnávací hodnota (GV) nastaví na předem stanovenou nebo na předem stanovitelnou hodnotu poněkud pod momentální skutečnou hodnotu kvality (G).
  3. 3. Způsob podle nároku 1, vyznačující se tím, že odstup (A) mezi porovnávací hodnotou (GV) a skutečnou kvalitou (G) je nastavitelný.
  4. 4. Způsob podle jednoho z nároků 1 až 3, vyznačující se tím, že při přezkušování na minimální hodnotu křivka porovnávací hodnoty (GV) probíhá nad křivkou momentální hodnoty.
  5. 5. Přístroj pro provádění způsobu podle nároku 1, vyznačující se tím, že sestává z komparátoru (C) pro porovnávání momentální hodnoty kvality (G) s porovnávací hodnotou (GV), indikátoru (D) pro zobrazení vyhodnocení výsledku komparátoru (C), měřicího obvodu (M) pro měření momentální hodnoty kvality (G) a obvodu pro řízení porovnávací hodnoty (GV) v závislosti na momentální hodnotě kvality (G).
  6. 6. Přístroj podle nároku 5, vyznačující tím, že obvod je vytvořen tak, že porovnávací hodnota (GV) leží pod momentální hodnotou kvality (G), se stoupající hodnotou kvality (G) vzrůstá, avšak nezávisle na průběhu hodnoty kvality (G) nemůže opět klesnout.
  7. 7. Přístroj podle jednoho z nároků 1 až 6, vyznačující se tím, že obsahuje ovladač (1, Set), který při každém ovládání sníží hodnotu kvality (G) křivky porovnávací hodnoty (GV) o předem určenou hodnotu.
  8. 8. Přístroj podle nároku 1, vyznačující se tím, že obsahuje mikroprocesor pro vyhodnocování výsledků měření a porovnávání.
CZ93428A 1990-09-22 1993-03-17 Method of investigating quality parameters of an object or a state and apparatus for making the same CZ42893A3 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4030108A DE4030108A1 (de) 1990-09-22 1990-09-22 Verfahren zum ueberpruefen der guete eines gegenstandes oder zustandes
PCT/EP1991/001763 WO1992005522A1 (de) 1990-09-22 1991-09-17 Verfahren zum überprüfen der güte eines gegenstandes oder zustandes

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CZ42893A3 true CZ42893A3 (en) 1993-07-14

Family

ID=6414809

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CZ93428A CZ42893A3 (en) 1990-09-22 1993-03-17 Method of investigating quality parameters of an object or a state and apparatus for making the same

Country Status (14)

Country Link
US (1) US5372029A (cs)
EP (1) EP0549649B1 (cs)
JP (1) JPH06500875A (cs)
KR (1) KR930702732A (cs)
AT (1) ATE108921T1 (cs)
CA (1) CA2092095A1 (cs)
CZ (1) CZ42893A3 (cs)
DE (2) DE4030108A1 (cs)
DK (1) DK0549649T3 (cs)
FI (1) FI931262A0 (cs)
HU (1) HUT68348A (cs)
LT (1) LTIP583A (cs)
SK (1) SK21193A3 (cs)
WO (1) WO1992005522A1 (cs)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH686378A5 (de) * 1992-10-12 1996-03-15 Rieter Ag Maschf Maschinenverwaltungssystem.
US5553479A (en) * 1993-03-24 1996-09-10 Flowline Inc. Threshold level calibration method and apparatus
US5736928A (en) * 1995-09-01 1998-04-07 Pittway Corporation Pre-processor apparatus and method
US7098669B2 (en) * 2003-10-01 2006-08-29 Flowline, Inc. Depth determining system
US8834449B2 (en) 2012-01-23 2014-09-16 Ikomed Technologies, Inc. Mixing syringe
US9751056B2 (en) 2012-01-23 2017-09-05 Merit Medical Systems, Inc. Mixing syringe

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE322288B (cs) * 1967-11-17 1970-04-06 Ericsson Telefon Ab L M
FR1599340A (cs) * 1968-03-29 1970-07-15
DE2212305A1 (de) * 1972-03-14 1973-09-20 Siemens Ag Schaltungsanordnung zur darstellung eines toleranzschemas und einer bildkurve auf der schreibflaeche eines zwei-koordinaten-sicht- oder -registriergeraetes
US3995478A (en) * 1972-06-09 1976-12-07 Industrial Nucleonics Corporation Plural interrelated set point controller
FR2404881A1 (fr) * 1977-10-03 1979-04-27 Commissariat Energie Atomique Procede et dispositif de detection de presence d'un phenomene physique
DE3127324A1 (de) * 1981-07-10 1983-01-27 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren und anordnung zur erhoehung der ansprechempfindlichkeit und der stoersicherheit in einer gefahren-, insbesondere brandmeldeanlage
JPS59154321A (ja) * 1983-02-22 1984-09-03 Toshiba Mach Co Ltd モニタリングデ−タ表示装置
DE3624119A1 (de) * 1986-07-17 1988-01-21 Rhein Westfael Elect Werk Ag Vorrichtung zur simulation des betriebes einer druckwasserreaktoranlage
DE3624419A1 (de) * 1986-07-19 1988-01-28 Staudacher Horst Vorrichtung zur objektkontrolle
US5084825A (en) * 1988-03-07 1992-01-28 Bct Spectrum Inc. Process control with guard band and fault limit
DE3808128A1 (de) * 1988-03-11 1989-09-28 Wiedemann Gert Dipl Ing Fh Verfahren zur automatischen erarbeitung von grenzwerten und deren kombination bei der objektiven geraeuschpruefung durch iterative klassierung
US5084696A (en) * 1991-01-24 1992-01-28 Aritech Corporation Signal detection system with dynamically adjustable detection threshold
US5161405A (en) * 1991-06-03 1992-11-10 Ford New Holland, Inc. Clutch pedal positon sensor continuous calibration

Also Published As

Publication number Publication date
CA2092095A1 (en) 1992-03-23
SK21193A3 (en) 1993-07-07
DE4030108C2 (cs) 1993-07-01
EP0549649A1 (de) 1993-07-07
FI931262A (fi) 1993-03-22
US5372029A (en) 1994-12-13
HU9300200D0 (en) 1993-04-28
EP0549649B1 (de) 1994-07-20
JPH06500875A (ja) 1994-01-27
DK0549649T3 (da) 1994-11-14
LTIP583A (en) 1994-12-27
WO1992005522A1 (de) 1992-04-02
HUT68348A (en) 1995-06-28
KR930702732A (ko) 1993-09-09
ATE108921T1 (de) 1994-08-15
FI931262A0 (fi) 1993-03-22
DE59102289D1 (de) 1994-08-25
DE4030108A1 (de) 1992-04-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107777292B (zh) 电子皮带秤运行状态监测系统、方法及烟草加工系统
CN102090704B (zh) 一种提高制丝工艺批次过程能力的方法
EP2407946B1 (de) Erkennen von Verstopfungen und Unterbrüchen bei einem Ansaug-rauchmelder (ASD)
US7437208B2 (en) System for computer-aided measurement of quality and/or process data in a paper machine
CN110531033B (zh) 在线水分测量准确性的监测方法和装置、水分测量系统
US3601588A (en) Method and apparatus for adaptive control
CZ42893A3 (en) Method of investigating quality parameters of an object or a state and apparatus for making the same
DE17749826T1 (de) Verfahren und system zur vorhersage eines zustands eines vermögenswertes
JP2003510575A (ja) 高電圧信号の自動監視
US3739260A (en) Method for operating a halogen detection diode and arrangement for carrying out the method
EP1638062B1 (de) Ansaugender Brandmelder und Verfahren zu dessen Betrieb
US4757731A (en) Method and apparatus for selecting the bias upon stacks of sheets in guillotine type cutting machines
CN107607903B (zh) 一种电能计量设备的校准方法和装置
CN112082635A (zh) 一种电子皮带称的状态监测与故障判定方法
CN110806256B (zh) 一种电子皮带秤在线实时计算评判方法
US4357300A (en) Apparatus for process analysis
US7450021B1 (en) Vacuum system capacity analyzer
CN113598407B (zh) 一种双道卷接机烟支外形检测信号校准装置和系统
EP0837328A2 (en) Electronic device for sensing gas present in the environment
CN206740218U (zh) 一种液位计校准装置
CN114910146A (zh) 一种猪场料塔称重模拟量传感器失效后自动测算重量方法
US3487698A (en) Percentage fat analyzer
JPH0520348B2 (cs)
JPS58938B2 (ja) 鋳物砂の水分調節装置
JP2014240756A (ja) 環境試験装置および環境試験装置の制御方法