JPH0648752B2 - 厚膜パタ−ンの形成方法 - Google Patents

厚膜パタ−ンの形成方法

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JPH0648752B2
JPH0648752B2 JP17892286A JP17892286A JPH0648752B2 JP H0648752 B2 JPH0648752 B2 JP H0648752B2 JP 17892286 A JP17892286 A JP 17892286A JP 17892286 A JP17892286 A JP 17892286A JP H0648752 B2 JPH0648752 B2 JP H0648752B2
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博三 横山
峰春 塚田
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Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 ガラス−セラミック基板上に薄膜及び厚膜の2層からな
る表面パターンを形成し該基板と表面パターンの密着強
度を向上させる。
〔産業上の利用分野〕
本発明は厚膜パターンの形成方法に係り、特にガラス−
セラミック基板の厚膜パターン(表面パターン)の密着
強度を向上させる膜厚パターンの形成方法に関する。
〔従来の技術と問題点〕
ガラス−セラミック基板は誘電率が低く、しかも熱膨張
率がチップ材質のSi に近い等の特性を有しているた
め、LSIの高密度実装基板として期待されている。こ
の基板を使用するためには、素子からの発熱を冷却する
ための方法が重要となる。この冷却方法の一つとして素
子をフルオロカーボンの冷却用液体に浸漬することによ
って冷却する液冷法が知られている。第2図に示すよう
にこの冷却用液体(冷媒)4は基板1上に形成された厚
膜導体パターン2にはんだ5で直接はんだ付けされた金
属性フランジ内3に収納される。素子の動作中液温はほ
ぼ大気と同程度になりフランジ5内圧力はマイナスとな
りそのためフランジ凸部はへこみ、一方フランジのはん
だ付け部、従って厚膜導体を基板から剥離しようとする
力が働く。
その場合どこか一ケ所でも密着強度が弱い部分がある
と、全体の密着強度を小さくする。
ここに使う厚膜Cu ペーストの基板に対する密度強度は
0.7kg/mmあるが、フランジの密着強度となると
0.1kg/mm低下してしまう。なお、0.7kg/mm
の値は2mm×2mmで評価したものである。
〔問題点を解決するための手段〕
上記問題点は本発明によれば、ガラス−セラミック基板
上の厚膜パターンの形成方法において、該ガラス−セラ
ミック基板上に下地膜として薄膜でパターンを形成した
後、該薄膜パターン上に前記厚膜パターンを形成するこ
とを特徴とする厚膜パターンの形成方法によって解決さ
れる。
〔作 用〕
本発明によれば厚膜の下地層として薄膜層がガラス−セ
ラミック基板に均一に付着されているので全体の膜の密
着強度が大きくなる。さらに厚膜導体がフランジのはん
だ付け強度を大きくしているため,モジュール全体とし
ての接合部分の強度が大きくなる。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を図面に基づき説明する。粒径3
〜4μmのアルミナ粉末50部、粒径3〜4μmのほう
けい酸ガラス50部にPMMA樹脂等有機バインダー、テル
ピネオール等の溶剤を混合しボールミリングを行なっ
た。得られたスラリーでドクターブレード法によって
0.3mm厚さのグリーンシートを作製した。このグリー
ンシートを20枚積層した。次に大気雰囲気中、1000℃
で焼成し、ガラス−セラミック基板を作製した。スパッ
タ装置を用いてこの基板1表面にTi を厚さ 500Åにス
パッタし、Ti 薄膜パターン7を形成した。さらに同様
にCr をTi 薄膜パターン7に1000ÅにスパッタしCr
薄膜パターン8を形成した。これによりTi −Cr 1500
Åの薄膜層(下地層)10が形成された。その後この下
地層10の上にCu ペーストをスクリーン印刷し、窒素
雰囲気中、 900℃で2分間し、Cu 厚膜導体パターン
2、を得た。この導体パターン2を形成した基板1に、
Ni 製のフランジ3を6/4 はんだ6を用い、導体部で接
続する。そしてこのフランジ部と導体の密着強度を測定
し、その結果を従来法と共に第1表に示す。
第1表から明らかなように本発明では従来法の6倍の強
度が得られた。
本実施例では下地層としてガラス−セラミック基板1と
なじみの良いTi 及びCr を用いたがその他Si,Al等
を用いることができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によればガラス−セラミッ
ク基板と厚膜パターンの密着強度を向上させることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1A図から第1D図は本発明の一実施例を説明するた
め工程断面図であり、第2図は従来例を説明するための
断面図である。 1……基板、2……厚膜導体、3……フランジ、 4……冷却用液体、5……はんだ、 7……Ti 厚膜層パターン、 8……Cr 薄膜層パターン、10……下地層。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ガラス−セラミック基板上の厚膜パターン
    の形成方法において、該ガラス−セラミック基板(1) 上
    に下地膜として薄膜パターン(10)を形成した後、該薄膜
    パターン上に前記厚膜パターン(2) を形成することを特
    徴とする厚膜パターンの形成方法。
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JP3279435B2 (ja) * 1994-06-10 2002-04-30 旭硝子株式会社 薄膜パターン形成用ペースト

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