JPH0647415B2 - Ｉｃ試験装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はICのリードや外観の検査、あるいはリードの矯
正やカット等を行うIC試験装置に関するものである。

（従来の技術） IC試験装置として、例えばDIP型ICのリードの長さのバ
ラツキやリードの折れ等を検査して不良品をリジェクト
するICリード検査機がある。この従来のICリード検査機
は、検査すべきICを多数個直線状に収納する筒状のICス
ティックを複数本IC取出部に装着して順次のICスティッ
クからICをIC検査部に供給し，このIC検査部において良
・不良を検査した後、不良品をリジェクト部においてリ
ジェクトし、良品のICをIC収納部において空のICスティ
ックに収納するようにしている。

（発明が解決しようとする問題点） しかし、上記の従来のICリード検査機においては、IC取
出部において空となったICスティックをその出口が良品
のICを収納する入口となるようにIC収納部に自動的に搬
送することが困難であるために、IC取出部において空と
なったICスティックを自動的に順次落下させ、これを手
動によりその出入口を確認しながらIC収納部に一本一本
装填するようにしている。このため、作業員に極めて面
倒なICスティックの装填作業を強いることになり、その
省力化が要望されていた。このような不具合は、ICステ
ィクを自動的に搬送する装置を開発することにより解決
されるが、ICスティックは規格化されておらず形状、寸
法等が一定でないのでこのような自動搬送装置を開発す
ることは困難である。またICを収納する筒状のスティッ
クは両端が開放しているが、ICが落下しないようにIC装
填後、両端にプラグ（栓）を挿入している。このプラグ
も多種の構造があり、その挿脱を自動的に行うことは非
常に困難であるため、IC試験装置においては、一端のプ
ラグを外した状態でスティックを装填せざるを得ない。
この点においても自動搬送装置の開発を困難としてい
る。

本発明は、上述した従来の問題点に着目してなされたも
ので、省力化が図れ、かつ簡単な構成でICの所要の試験
を行い得るようにしたIC試験装置を提供することを目的
とするものである。

（問題点を解決するための手段） 上記目的を達成するため、本発明のIC試験装置は、一端
を開放し、他端を閉塞して着脱自在に並列して装着さ
れ、それぞれ多数のICを直線状に整列して格納する複数
本のICスティクを有するトレイを複数格納して順次所定
の位置に供給する第１のとトレイ格納部と、この第１の
トレイ格納部から供給されるトレイをICスティクの長さ
方向に傾斜した状態で間欠的に移送して、該トレイの複
数本のICスティクを所定のIC取出位置に順次位置決めし
てICスティクの一端からICを自重により順次排出するIC
排出部と、このIC排出部から排出されるICを自重により
搬送しながら該ICに対して所要の試験を行うIC試験部
と、複数本の空のICスティクを有するトレイを、ICステ
ィクの長さ方向に傾斜した状態で間欠的に移送して、該
トレイの複数本のICスティクを所定のIC挿入位置に順次
位置決めして前記IC試験部を経たICをICスティクにその
一端から自重により順次挿入するIC挿入部と、トレイを
傾斜した状態で自重により移送するトレイ移送部および
トレイを傾斜平面内で180°回転させるトレイ回転部を
有し、前記IC排出部で空となったICスティクを有するト
レイを傾斜した状態で前記IC挿入部に搬送するトレイ搬
送部と、前記IC挿入部でICが挿入されたICスティクを有
するトレイを複数格納する第２のトレイ格納部とを具え
ることを特徴とするものである。

（作用） 上記構成において、試験前の多数のICをそれぞれ収納し
た複数本のICスティックを有するトレイは、まず第１の
トレイ格納部からIC排出部に供給され、ここで傾斜した
状態で間欠的に移送されて所定のIC取出位置で順次のIC
スティックの一端からICが取付される。その後、ICの取
出しが終了するトレイ搬送部において自重により搬送さ
れると共に傾斜平面内で180°回転されて傾斜した状態
で自動的にIC収納部に搬送され、ここで他のトレイから
取出され、IC試験部において所要の試験が行われたICが
順次のICスティックにそのICの取出端と同一端から自重
により収納される。すなわち本発明では規格されていな
いICスティックの搬送を、規格化されたトレイを用いる
ことによて容易に行うことができる。

（実施例） 第１図は本発明のIC試験装置の一例の構成を示すブロッ
ク図である。本例ではDIP型ICのリードの異常、例えば
長さのバラツキ、折れ、開き角度、スラント、曲がり等
を検査すると共に、ICの外観異常、例えば半田付着、異
物付着、クラック、モールドかけ、ボイト、無捺印、捺
印かすれ等を検査して不良品をリジェクトするものであ
る。IC取出部１はサプライ側トレイ格納部２およびIC排
出部３をもって構成し、トレイ格納部２に検査すべき多
数のICをそれぞれ収納した複数本のICスティックを着脱
自在に並列して装着したトレイを所定個数内で任意の個
数装填する。このトレイ格納部２に装填されたトレイは
順次IC排出部３に搬送し、ここで順次のICスティックが
所定のIC取出位置に位置するようにトレイを間欠的に移
送して、順次のICスティックの一端からICをIC試験部４
に排出する。

IC試験部４はICのリードおよび外観の異常をその上・下
・左・右像から検出するための４個の撮像管装置を有す
る検出部５、不良品リジェクト部６、不良品箱７および
IC反転部８をもって構成し、IC取出部１から取出された
ICを先ず検出部５においてリードおよび外観検査して不
良品リジェクト部６に搬送し、ここで検出部５における
検査結果に基づいて不良品ICを不良品箱７に排出し、良
ICをIC反転部８に搬送して所望に応じてその向きを反転
した後IC収納部９に搬送して、該IC収納部９においてト
レイに装着さた空のICスティック内に順次収納する。

IC収納部９はIC挿入部10およびレシーブ側トレイ格納部
11をもって構成し、IC挿入部10において空のICスティッ
クを有するトレイをその順次のICスティックが所定のIC
挿入位置に位置するように間欠的に移送して、IC試験部
４から供給される良品のICを順次のICスティック内に挿
入する。このIC挿入部10において装着されたすべてのIC
スティックに対するICの挿入が終了したトレイは、トレ
イ格納部11に搬送して格納する。

一方IC取出部１のIC排出部３において全てのICスティッ
クに対するICの排出が終了したトレイは、トレイ搬送部
12に搬送する。このトレイ搬送部12はトレイ回転部13お
よびトレイ移送部14をもって構成し、IC排出部３におい
て全てのICスティックに対するICの排出が終了したトレ
イを先ずトレイ回転部13に搬送してICスティックのIC取
出口が反対方向に位置するように180°回転し、その後
トレイ移送部14によってIC取出口がIC挿入部10のIC挿入
位置側に位置するように、該IC挿入部10に搬送する。な
お、本例においては装置動作中、空のICスティックを有
する少なくとも１個のトレイをトレイ移送部14に待機さ
せる。

第２図は第１図に示した構成要素を具えるIC試験装置の
外観の一例を示すもので、第２図Ａは正面図、第２図Ｂ
は平面図、第２図Ｃは右側面図、第２図Ｄは左側面図、
第２図Ｅは背面図を表わす。以下、第１図を参照しなが
ら、その概略構成を説明図する。装置本体21の上部はIC
およびトレイが自重で落下し得るように水平面に対して
傾斜させ、この傾斜部分の上方側にIC取出部１、下方側
にIC収納部９を離間して設ける。IC取出部１は本体21の
手前側にトレイ格納部２を、その下方近傍にIC排出部３
を配置し、トレイ格納部２にはトレイを15個までそれぞ
れ傾斜した状態で平行に積み重ねるように格納保持する
昇降可能なトレイ保持搬送機構を設け、このトレイ保持
搬送機構をステップ下降させることによって最下段のト
レイを順次IC排出部３に落下させる。トレイ格納部２の
前面はカバー22で覆うと共に、トレイ保持搬送機構の最
下段のトレイ格納位置に対応する部分にはトレイをその
格納位置に装填するためのトレイ挿入口23を形成し、こ
のトレイ挿入口23からトレイ保持搬送機構をステップ上
昇させながらトレイを装填する。このため、トレイ格納
部２の前面には、トレイ保持搬送機構をステップ上昇さ
せるための上昇用釦24を設けると共に、15個のトレイの
装填完了を知らせるためのランプ25を設ける。また、ト
レイ挿入口23には光学的な検出手段を設け、装置起動中
にこの検知手段が作動したとき、例えばトレイ挿入口23
に手を挿入したときは装置の運転を停止させる。

IC収納部９はIC取出部１と同様に、装置本体21の手前側
にトレイ格納部11を、その下方近傍にIC挿入部10を配置
し、トレイ格納部11にはトレイを15個までそれぞれ傾斜
した状態で平行に積重ねるように格納保持する上昇可能
なトレイ保持搬送機構を設け、このトレイ保持搬送機構
をステップ上昇させることによってIC挿入部10において
ICの挿入が終了したトレイを順次格納する。このトレイ
格納部11の前面には15個のトレイが格納されたことを知
らせるためのランプ26を設ける。

トレイ搬送部12は装置本体21の傾斜部分の背面側におい
てIC取出部１とIC収納部９との間に延在して設け、その
上方側にIC排出部３からのトレイを180°回転してその
向きを反転するトレイ回転部13を配置し、トレイ移送部
14が位置する背面には装置の起動にあたって該トレイ移
送部14に空のICスティックを有するトレイを挿入セット
するためのトレイ挿入口27を形成する。

また、IC試験部４を構成する検出部５、不良品リジェク
ト部６およびIC反転部８は、装置本体２１の傾斜部分の
中央部分においてIC排出部３とIC挿入部10との間のIC搬
送方向に沿った配置する。

更に、傾斜部分の中央部前面には、ICのリードおよび外
観検査に関する情報や各部の動作を制御するための情報
等を入力するための引出式のキーボート28、これらの入
力情報や操作手順を表示するためのモニタ29を設けると
共に各種の操作釦、例えば非常停止釦30、原点設定釦3
1、起動釦32、再起動釦33、停止釦34、反転釦35、警報
停止釦36、トレイ抜き釦37等を設ける。

一方、装置本体21の下部には、その前面に不良品箱７を
引出し可能に収納する扉38を設けると共に電源スイッチ
39を設け、内部には電源、制御回路、駆動回路、エアポ
ンプ、エアバルブ、光源等を収納する。

第３図は第１図および第２図に示したIC試験装置の用部
の概略構成を示す斜視図である。サプライ側トレイ格納
部２は、検査すべきICを多数個それぞれ収納する複数本
のICスティック41を着脱自在に並列して装着したトレイ
42を15個までそれぞれ傾斜した状態で平行に積重ねるよ
うに格納保持すると共に、これら格納保持されたトレイ
42を最下段のものから順次IC排出部３に落下させるトレ
イ保持搬送機構43を具える。このトレイ保持搬送機構43
は、離間対向して配置され、それぞれ外周に複数個のス
テー44を有する一対のエンドレスの保持搬送部材45a,45
bを具え、これら保持搬送部材45a,45bの対向する部分に
おいてトレイ42を15個までそれぞれ一対のステー44によ
り格納保持し得るよう構成すると共に、一対の保持搬送
部材45a,45bをその対向部が下降するようにモータ（図
示せず）によって連動してステップ回動させることによ
りトレイ42を順次IC排出部33に供給するよう構成する。
また、このトレイ格納部２には図示しないがトレイが１
ステップ下降したことを検知する下降センサを設けると
共に、第２図に示したトレイ挿入口23からのトレイ42の
装填にあたって、トレイ42が正しい姿勢で装填されたか
否かを検知するためのセンサを設ける。

IC排出部３にはトレイ格納部２から落下したトレイ42を
受けると共に、このトレイ42を所定のIC取出位置を経て
トレイ回転部13に案内する一対のガイド部材51a,51b
と、トレイ格納部２から落下したトレイ42を所定の位置
に搬送位置決めする定位置セットシリンダ52と、この定
位置セットシリンダ52によって位置決めされたトレイ42
と係合する突起53aを有し、トレイ42に並列して装着さ
たICスティック41が所定のIC取出位置に順次位置するよ
うにトレイ42を間欠的に移送すると共に、最後のICステ
ィック41に対するICの取出終了後に該トレイ42をトレイ
回転部13に移送するトレイ移送機構53と、所定のIC取出
位置においてICスティック41からICを排出させるゲート
シリンダ（第４図参照）とを設ける。更に、このIC排出
部３には、図示しないがトレイ格納部２からのトレイ42
の落下を検知して定位置セットシリンダ52の作動を制御
するための落下検知センサと、順次のICスティック41が
所定のIC取出位置に位置するようにトレイ移送機構53の
動作を制御すると共に、ゲートシリンダの作動を制御す
るための定位置センサを設ける。

トレイ回転部13にはトレイを受けるプレート55と、この
プレート55をトレイとトレイ移送機構53との係合が解除
される所定の位置まで上昇させるアップシリンダ、プレ
ート55を180°回転させる回転シリンダおよびトレイを
プレート55に有効に保持して滑落するの防止するための
トレイ保持シリンダを有するシリンダ機構56とを設け、
プレート55上に搬送されたトレイを180°回転させてト
レイ移送機構53における移送方向と直交する方向に延在
するトレイ移送部14に供給するよう構成する。なお、ト
レイ保持シリンダによるトレイのプレート55への保持
は、プレート55にトレイ保持シリンダが作動したときに
そのプランジャが突出する穴55aを形成し、この穴55aか
ら突出するプランジャをトレイにあけた穴に係合させる
ことによって行うよう構成する。また、このトレイ回転
部13にはトレイがIC排出部３からプレート55の所定の位
置に搬送されたことを検知してトレイ移送機構53による
トレイの移送を停止させるための回転定位置センサ57を
設ける。

トレイ移送部14はトレイ回転部13からのトレイを一時的
に受けるバッファ部14aと、このバッファ部14aからのト
レイを受けてこれをそのままの姿勢でバッファ部14aに
おけるトレイの移送方向と直交する方向に搬送してIC挿
入部10に供給する供給部14bとをもって構成する。バッ
ファ部14aにはトレイ回転部13のプレート55が上昇位置
にある状態でこれと同一平面を成す案内プレート58を設
けると共に、この案内プレート58の先端にはエアシリン
ダによって駆動されるストパ59を設け、トレイ回転部13
からのトレイがその自重によりストッパ59の位置まで案
内プレート58上を滑走するよう構成する。また、このバ
ッファ部14aには図示しないがトレイの有無を検知する
ためのバッファセンサを設ける。供給部14bにはバッフ
ァ部14aからのトレイを受けるプレート61と、このプレ
ート61をバッファ部14aの案内プレート58と同一平面を
成す位置まで上昇させるアップシリンダ62と、プレート
61上のトレイをIC挿入部10の所定の位置に搬送位置決め
する定位置セットシリンダ63とを設け、プレート61の上
昇位置においてバッファ部14aからのトレイを設け、こ
のトレイをプレート61の下降位置において定位置セット
シリンダ62によりIC挿入部10に供給するよう構成する。
また、この供給部14bには、図示しないがプレート61上
でのトレイの有無を検知してプレート61を上下動させる
アップシリンダ62の作動を制御するためのトレイ検知セ
ンサを設ける。

IC挿入部10にはトレイ移送部14からのトレイを所定のIC
挿入位置を経てレシーブ側トレイ格納部11に案内する一
対のガイド部材64a,64bと、トレイ移送部14の定位置セ
ットシリンダ63によって位置決めされたトレイと係合す
る突起65aを有し、トレイに並列して装着されたICステ
ィックが所定のIC挿入位置に順次位置するようにトレイ
を間欠的に移送すると共に、最後のICスティックに対す
るICの挿入終了後に該トレイをトレイ格納部11と対向す
る部分に移送するトレイ移送機構65と、所定のIC挿入位
置においてIC試験部４からのICをICスティック内に挿入
するためのゲートシリンダ（第４図参照）と、トレイ格
納部11と対向する部分においてICの挿入されたトレイを
受けるプレート66と、このプレート66をトレイとトレイ
移送機構65との係合が解除される所定の位置まで上昇さ
せるアップシリンダ67とを設け、トレイ移送部14から供
給されたトレイの順次のICスティック内にIC試験部４に
おいて試験された良品のICを挿入してこれを下降位置に
あるプレート66上に搬送した後、プレート66を上昇させ
てトレイ格納部11に格納するように構成する。また、こ
のIC挿入部10には、図示しないが順次のICスティックが
所定のIC挿入位置に位置するようにトレイ移送機構65の
動作を制御すると共に、ゲートシリンダの作動を制御す
るための定位置センサと、プレート66上にトレイが搬送
されたことを検知してアップシリンダ67の作動を制御す
るトレイ下段センサとを設ける。

レシーブ側トレイ格納部11は、IC挿入部10を経て順次搬
送されるトレイを15個までそれぞれ傾斜した状態で平行
に積重ねるように格納するサプライ側トレイ格納部２と
同様の構成のトレイ保持搬送機構71を具える。すなわ
ち、このトレイ保持搬送機構71は、離間対向して配置さ
れ、それぞれ外周に複数個のステー72を有する一対のエ
ンドレスの保持搬送部材73a,73bを具え、これら保持搬
送部材73a,73bをその対向部が上昇するようにモータ
（図示せず）によって連動してステップ回動させること
により、IC挿入部10を経て順次搬送されるトレイを格納
するよう構成する。また、このトレイ格納部11には、図
示しないが保持搬送部材73a,73bが１ステップ上昇した
ことを検知する上昇センサを設けると共に、15個のトレ
イが格納されたことを検知する上段センサを設ける。

次にIC試験部４の構成を第４図をも参照しながら説明す
る。IC試験部４にはIC排出部３の所定のIC取出位置とIC
挿入部10の所定のIC挿入位置との間に、ICがその自重に
より落下し得るように傾斜して搬送レール81を設け、こ
の搬送レール81に沿って第１のIC送り機構82、第２のIC
送り機構83、検出部４、不良ICリジェクト部６、IC反転
部８および第３のIC送り機構84を順次に配置する。第１
の送り機構82は、IC取出位置においてゲートシリンダ85
の作動によってスティック41から自重により排出される
IC86を一個ずつ順次に排出するものでIC86を係止するス
トッパ87と、このストッパ87によって係止されるICの次
のICを押えるIC押え88とを具え、IC押え88の作動下にお
いてストッパ87を所定時間解除した後、IC押え88を不作
動にする一連の動作によってIC86を順次第２のIC送り機
構83に排出するように構成する。なお、本例ではこの第
１のIC送り機構82にIC86を二個ストックし得るようにし
て、ストッパ87の位置を通過するIC86の個数を計数セン
サ89で計数すると共に、IC押え88により押圧保持される
IC86をIC検知センサ90で検知する。

第２のIC送り機構83は、第１のIC送り機構82から送られ
たIC86を検出部５におけるICの処理に同期して検出部５
に順次一個ずつ排出するもので、第１のIC送り機構82と
同様にIC86を係止するストッパ91と、このストッパ91に
よって係止されるICの次のICを押えるIC押え92とをもっ
て構成する。なお、本例ではこの第２のIC送り機構83に
IC86を４個ストックし得るようにして、ストッパ91で係
止されるIC86をIC検知センサ93で検知すると共に、四個
目の位置のIC86を同様にIC検知センサ94で検知してオー
バーフローを防止する。

検出部５は、上述したようにICのリードおよび外観の異
常をその上、下、左、右像から検出するもので、本例で
はICの搬送方向に沿って平面像を得る撮像装置101、左
側面像を得る撮像装置102、右側面像を得る撮像装置103
および底面像を得る撮像装置104を順次に配置し、各撮
像装置による撮像位置においてIC86をストッパ105〜108
により位置決めして撮像した後、ストッパを解除してエ
アにより迅速に排出するよう構成する。なお、撮像装置
104による撮像位置の近傍には、該撮像装置でのICの有
無を検知するためのIC検知センサ109を配置する。

不良ICリジェクト部６には、搬送レール81の一部を構成
し、その上流側を支点として垂直面内で回動可能なレー
ル111と、このレール111を選択的に回動させるソレノイ
ド112と、検出部５からのIC86をレール111上に選択的に
係止させるストッパ113とを設け、検出部５における不
良検知信号に基いてストッパ113を作動させて不良ICを
レール111上に係止させた後、ソレノイド112を附勢して
レール111を回動させることにより不良ICをリジェクト
し、これをシュータ114を介して不良品箱７に回収する
よう構成する。

また、この不良ICリジェクト部６には、レール111上で
の不良ICの有無を検知してソレノイド112の作動を制御
するための不良IC検知センサ115を設ると共に、シュー
タ114を経て排出される不良ICを検知してストッパ113の
作動を制御するための不良IC検知センサ116を設ける。
なお、本例ではレール111の回動による不良ICのシュー
タ114への排出を迅速かつ確実に行なうために、その排
出の際にエアを吹き付けるようにする。

IC反転部８には、搬送レール81の一部を構成し、該搬送
レール81が延在する傾斜平面内で回転可能なレール121
と、不良ICリジェクト部６を経て搬送される不良のICを
レール121上に係止させるストッパ122と、レール121を
所望に応じて、あるいは検出部５からの信号に基いて18
0°回転させてICの向きを反転する反転シリンダ123と、
レール121の回転中ICを該レール121上に有効に保持する
ためのIC押えシリンダ124とを設け、ストッパ122によっ
て係止させたICを選択的にIC押えシリンダ124によって
押えながら反転シリンダ123によって180°回転させてか
ら、ストッパ122を解除してICを次の第３のIC送り機構8
4に搬送するよう構成する。また、このIC反転部８には
レール121上でのICの有無を検知してIC押えシリンダ124
等の作動を制御するためのIC検知センサ125を設ける。

第３の送り機構84は、IC反転部８を経て順次搬送される
良品のICを、IC挿入位置においてゲートシリンダ131の
作動により挿入状態にあるICスティック42内に順次一個
ずつ挿入するもので、第１，第２のIC送り機構82,83と
同様にIC86を係止するストッパ132と、このストッパ132
によって係止されるICの次のICを押えるIC押え133とを
もって構成する。なお、本例ではこの第３のIC送り機構
84にIC86を七個ストックし得るようにして、ストッパ13
2の位置を通過したIC86の個数を計数センサ134で計数す
ると共に、七個目の位置のICをIC検知センサ135で検知
してオーバーフローを防止する。また、ストッパ132を
解除してICをICスティック41内に挿入する際にはエアを
吹き付けるようにする。

第５図はIC86を収納するICスティック41の一例の構成を
示す斜視図である。ICスティック41全体はプラスチック
の成形体で、底部には台形の突起41aを形成し、この上
にIC86を載せると、IC86のピン86aが突起41aと側壁との
間に形成される溝内に浸入するようにする。ICスティッ
ク41の上部には、収納されたIC86の上面に記載された文
字、記号等を見ることができるように長手方向に亘って
開口41bを形成する。本例では、所定の長さのICスティ
ック41内にIC86を、８ピンの場合には45〜47個、14ピン
の場合には23〜25個、16ピンの場合には21〜25個、18ピ
ンの場合には19〜22個、20ピンの場合には17〜19個まで
収納し得るようにする。このようなICスティック41にお
いては、通常その両端部を弾性部材等より成るプラグに
より閉塞して収納した多数のIC86を有効に保持するよう
にしている。

本例では、このように試験前のIC86を多数収納したICス
ティック41を、その一端部のプラグを取外してトレイ42
に着脱自在に装着する。

第６図はICスティック41を装着するトレイ42の一例の構
成を示す傾斜図である。このトレイ42は、例えば金属ま
たはプラスチックより成り、15本のICスティック41を並
列して着脱自在に装着するもので、トレイ42の一端面側
にはIC出入口42aを形成し、このIC出入口42a側にICステ
ィック41のプラグを取外した端面（出入口）が位置する
ように、ICスティック41を１５本並べて装着する。この
IC出入口42aを形成するトレイ42の一端部には、ICステ
ィック41の突起41aを形成する凹部と係合してICスティ
ック41を上方に偏倚するための板ばね42bを底板42c上に
15個並べて設け、またIC出入口42aの部分には該IC出入
口42aを画成し、かつ板ばね42bによる偏倚を規制してIC
スティック41をトレイ42に有効に保持すると共に、ICス
ティック41からの不所望なICの排出を有効に防止するた
めのストッパ42dを側板42eおよび42f間に亘って設け
る。また、トレイ42の他端部には、ICスティック41の突
起41aを形成する凹部と係合し、板ばね42bと協動してIC
スティック41を位置決めするための位置決め用金具42g
を底板42c上に15個並べて設けると共に、ICスティック4
1の端部を押えてこれをトレイ42に有効に保持するため
の押え板42hを側板42eおよび42f間に亘って設ける。こ
の押え板42hはトレイ42の他端部側を軸とし、かつ装着
されたICスティック41を押圧する方向に回動偏倚して設
けると共に、ICスティック41の長さに応じて所望の位置
でICスティック41の端部を押圧し得るように側板42e,42
fにスライド可能に設ける。このため、側板42e,42fには
押え板42hのスライド方向に長孔42i,42jを形成し、これ
ら長孔に押え板42hの軸部を係合保持するよう構成す
る。

また、底板42cにはその一側縁部に上述したIC排出部３
およびIC挿入部10においてトレイ移送機構53および65の
突起53aおよび65aと係合する開口42kを側板42eの底部に
またがって形成すると共に、トレイ回転部13においてト
レイ保持シリンダのプランジャと係合する開口42lを所
定の位置に形成する。更に、一方の側板42fの所定の位
置には第２図に示したトレイ挿入口23からトレイ42をト
レイ格納部２に装填するにあたって、これが正しい姿勢
で装填されたか否かをトレイ格納部２に設けられたセン
サによって検知するための検知用の穴42mを形成する。

第６図に示すトレイ42にICスティック41を装着すると、
ICスティック41の出入口側は、第７図Ａに示すように板
ばね42bによって上方に偏倚され、その上面はストッパ4
2dに当接し、出入口はストッパ42dで閉塞される。した
がって、この状態ではICスティック41内に収納されたIC
86はICスティック41内に有効にどとまっている。本例で
は、第４図に示したようにIC排出部３の所定のIC取出位
置に位置決めされたICスティック41をゲートシリンダ85
の作動により、第７図Ｂに示すように板ばね42bの力に
抗して偏倚させてその出入口をIC出入口42aに臨ませ、
これにより収納されたIC86をその自重により搬送レール
81に排出する。また、IC挿入部10においても、同様に所
定のIC挿入位置に位置決めされたICスティックをゲート
シリンダ131の作動によりその出入口をIC出入口に臨ま
せることにより試験済のICを挿入し得るようにする。

なお、本例ではICスティック41のIC取出位置およびIC挿
入位置への位置決めを確実に行なうため、第７図Ｃに示
すように、ゲートシリンダ85,131のプランジャの下端部
85a,131aをICスティック41の上部を覆うように外方に拡
開するテーパー状に切欠いて形成する。このようにする
ことによって、トレイ移送機構53,65によるICスティッ
クの位置決め精度が悪くても常に高精度でICスティック
を所定のIC取出位置およびIC挿入位置に位置決めするこ
とができる。

第８図は撮像装置101〜104および照明系の一例の構成を
示すものである。本例では、照明光源141としてハロゲ
ンランプを用い、この光源141から射出された光をファ
イバー束142の一端に入射させ、このファイバー束142の
他端を四分割して撮像装置101〜104に導く。撮像装置10
1〜104の各々は、結像光学系および固体撮像素子を有す
る撮像部101a〜104aと、その被写体側に設けられ内面を
白色としたフード101b〜104bとをもって構成し、フード
101b〜104b内をファイバー束142の分割した出射端から
の光によって照明して各撮像位置を間接照明し、これに
よりIC像を固体撮像素子上に結像させる。このような間
接照明を行なうことによりハレーションのない高品位の
画像が得られる。

以下、上述したIC試験装置の動作を説明する。

まず、装置の起動に先立って、試験すべきICを多数個収
納するICスティックを装着したトレイを所望個数（15個
まで）サプライ側トレイ格納部２に格納すると共に、バ
ッファ部14aおよびIC挿入部10にそれぞれ空のICスティ
ックを有するトレイをセットする。

起動釦32を押して装置を起動させると、IC取出部１にお
いてはトレイ格納部２の保持搬送部材45a,45bが１ステ
ップ下降して最下段のトレイ42がIC排出部３のガイド部
材51a,51b上に落下する。次にこのトレイ42は定位置セ
ットシリンダ52によりIC取出位置側に押され、これによ
りトレイ42に形成した開口42kにトレイ移送機構53の突
起53aが進入する。この状態では突起53aはほぼ水平状態
にある。その後、トレイ移送機構53が作動して突起が立
上がりトレイ42と係合してトレイが移動し、定位置セン
サの出力に基づいて最初のICスティック41がIC取出位置
に位置決めされ、この状態でゲートシリンダ85が作動し
IC86が搬送レール81に排出される。

搬送レール81に排出されたIC86は、まず第１のIC送り機
構82のストッパ87で係止されると共に計数センサ89で計
数され、第２のIC送り機構83のIC検知センサ94のIC無し
信号によって一個ずつ第２のIC送り機構83に排出され
る。

IC取出位置にあるICスティック41内のIC86が順次排出さ
れ、計数センサ89およびIC検知センサ90によって所定時
間ICが検知されなくなると、その時間の経過後ゲートシ
リンダ85が不作動となってトレイ移送機構53が作動し、
次のICスティック41がIC取出位置に位置決めされて同様
にゲートシリンダ85の作動によりIC86の排出が行われ
る。このようにして、順次のICスティック41に対するIC
86の排出動作が行われる。

IC排出部３にあるトレイ42の最後のICスティック41に対
する排出動作が行われた後、IC検知センサ90が所定時間
ICを検知しなくなると、その時間の経過後ゲートシリン
ダ85が不作動となってトレイ移送機構53が作動し、これ
によりトレイ42はトレイ回転部13に搬送される。

なお、計数センサ89は試験ICの総数を計数すると共に、
その計数値に基づいて各ICスティック41において収納さ
れたIC個数と排出されたIC個数とを比較し、両者が不一
致のときは当該ICスティック内にICが引っかかっている
と判断して、そのICスティックの番号を記憶させて次の
ICスティックにおける排出動作に移行させる。

トレイ回転部13に搬送されたトレイ42は、ここでその姿
勢が反転された後バッファ部14aに搬送される。このト
レイ回転部13におけるトレイ42の反転は、先ずシリンダ
機構56のアップシリンダを作動させてプレート55を上昇
させ、これによりトレイ42をトレイ移送機構53との係合
を解除すると共に、トレイ保持シリンダを作動させてそ
のプランジャをプレート55の穴55aを通してトレイ42に
係合させることによりトレイ42をプレート55上に有効に
保持する。その後、この状態で回転シリンダを作動させ
てトレイ42を180°回転させる。トレイ42の回転後、バ
ッファ部14aのバッファセンサがトレイを検知している
ときは、このセンサがトレイを検知しなくなるまでその
状態を維持し、その後バッファ部14aにトレイが無くな
ってから、トレイ保持シリンダを不作動にし、これによ
り回転したトレイ42をその自重によりバッファ部14aの
案内プレート58上を滑走させてストッパ59で係止される
位置まで搬送し、その後バッファセンサのトレイ検知信
号によって回転シリンダおよびアップシリンダを初期状
態に復帰させる。

ICの排出を終えたトレイ42がトレイ回転部13に搬送さ
れ、トレイ回転部13のアップシリンダが作動した後、す
なわちトレイ42とトレイ移送機構53との係合が解除され
た後、トレイ格納部２の保持搬送部材45a,45bが１ステ
ップ下降して次のトレイがIC排出部３に供給され、同様
にしてICの排出動作が行われる。

一方、IC試験部４においては、第２のIC送り機構83から
順次搬送されるICのリードおよび外観の異常が先ず検出
部５において検出される。検出部５では、撮像装置101
から得られるICの平面像からクラック、モールドかけ、
ボイド、無捺印、捺印かすれ、捺印にじみ等を検出して
その良・不良を判別し、撮像装置102および103から得ら
れるICの左右像から、それぞれ左側および右側のリード
の長さのバラツキ、折れ、スラント、曲がりや半田等の
異物の付着等を検出してその良・不良をそれぞれ判別
し、また撮像装置104から得られるICの底面像からリー
ドの開き角度を検出してその良・不良を判別する。この
検出部５においては、ある撮像装置によってICが不良と
判別されたときは当該ICに対する以後の撮像装置による
判別は行わずに、そのICを不良ICリジェクト部６におい
てリジェクトして不良品箱７に排出し、全ての撮像装置
において良品と判別されたICは不良ICリジェクト部６を
通過させてIC反転部８に搬送する。

IC反転部８に搬送されたICは、所望に応じてすなわち反
転釦35の操作により、あるいは検出部５の撮像装置101
による平面像に基づいてその向きが反転され、第３のIC
送り機構84のIC検知センサ135のIC無し信号によってIC
反転部８から排出され第３のIC送り機構84にストックさ
れる。

他方、IC収納部９においては、IC挿入部10にセットされ
た空のICスティック41を有するトレイ42が定位置セット
シリンダ63によりIC挿入位置側に押され、これによりト
レイ42に形成した開口42kとトレイ移送機構65のほぼ水
平状態にある突起65aとが係合する。その後、トレイ移
送機構65が作動し、定位置センサの出力に基づいて最初
の空のICスティック41がIC挿入位置に位置決めされ、こ
の状態でゲートシリンダ131が作動して試験済の良品のI
Cの挿入が可能となる。このIC挿入位置にあるICスティ
ック41へのIC86の挿入は、第３のIC送り機構84によって
行われるが、この際、計数センサ134により良品のICの
総数が計数されると共に、その計数値に基づいてICステ
ィック41内に予め定めた個数のICが収納されたか否かが
検知される。

計数センサ134によって、IC挿入位置にあるICスティッ
ク41内に所定個数の良品のIC86が挿入されたことが検知
されると、その信号に基づいてゲートシリンダ131が不
作動となってトレイ移送機構65が作動し、次の空のICス
ティック41がIC挿入位置に位置決めされて同様にゲート
シリンダ131の作動により良品のIC86の挿入動作が行わ
れる。このようにして、順次の空のICスティック41に対
する良品のIC86の挿入動作が行われる。

IC挿入部10にあるトレイ42の最後のICスティック41に対
する良品のIC86の挿入動作が完了すると、トレイ42はト
レイ移送機構65によりレシーブ側トレイ格納部11の下方
に位置するプレート66上に搬送された後、トレイ格納部
11に格納される。このトレイ42のトレイ格納部11への格
納は、先ずトレイ42がプレート66上に搬送されたことを
検知するトレイ下段センサの信号に基づいてアップシリ
ンダ67を作動させ、これによりトレイ42とトレイ移送機
構65との係合を解除すると共に、トレイ42を所定の位置
まで上昇させ、その後トレイ格納部11の保持搬送部材73
a,73bを１ステップ上昇させることにより行い、格納後
はアップシリンダ67を不作動にしてプレート66を初期位
置に復帰させる。

また、バッファ部14aにあるトレイは、IC挿入部10にあ
るトレイに対してICの挿入動作が行われている所定のタ
イミングでストッパ59が解除されることにより供給部14
bの上昇位置にあるプレート61上にその自重により搬送
され、その後プレート61上のトレイの有無を検知するト
レイ検知センサの信号に基づいてアップシリンダ62が下
降してIC挿入部10に供給される。この供給部14bからのI
C挿入部10へのトレイの供給は、IC挿入部10においてIC
の挿入が完了したトレイがプレート66上に搬送され、ア
ップシリンダ67の作動によりトレイ格納部11側に上昇し
た後、すなわちICの挿入が完了したトレイのトレイ移送
機構65との係合が解除された後、定位置セットシリンダ
63が作動することによって行われる。このようにして、
供給部14bからIC挿入部10に供給されたトレイは、トレ
イ移送機構65と係合して装着された空のICスティックが
IC挿入位置に順次位置決めされ、上述した良品のICの挿
入動作が行われる。なお、IC挿入部10に供給されたトレ
イの最初の空のICスティックがIC挿入位置に位置決めさ
れた時点でプレート61は上昇位置に復帰する。

以上のようにして、サプライ側トレイ格納部２に装填さ
れたトレイは、IC排出部３に搬送されてICスティック内
のICがIC試験部４に排出され、その後トレイ搬送部14を
経てIC挿入部10に搬送されて、ICスティック内にそのIC
排出端と同一端から試験された良品のICが挿入された後
レシーブ側トレイ格納部11に格納されるが、IC排出部３
において所定数のICが排出されなかったICスティックが
IC挿入部10のIC挿入位置にくると、このICスティックは
スキップされて次のICスティックに良品のICが挿入され
る。

このようにして、順次のトレイに対する良品のICの挿入
が進み、レシーブ側トレイ格納部11に15個のトレイが格
納されたことが上段センサによって検知されるか、ある
いは第３のIC送り機構84の計数センサ134が所定時間IC
を検知しないときは、その時点で装置の動作が終了す
る。なお、レシーブ側トレイ格納部11において、上段セ
ンサがトレイを検知する以前にトレイ格納部11に格納さ
れた最上段のトレイを、トレイ抜き釦37を操作して抜き
出すことにより連続運転を行うことができる。

本実施例においては、以上のように不良ICをリジェクト
するものであるから、IC排出部３におけるトレイの移動
と、IC挿入部10におけるトレイの移動とは同期しない。
しかし、これらのトレイの移動が同期しなくても第２，
第３のIC送り機構83，８４には複数のICがストックされ
るようになっているから、IC排出部３およびIC挿入部10
におけるICスティックやトレイの切換時においても、IC
試験部４においてはICの試験を連続的に行うことができ
る。従って、処理能率が極めて高い。また、ICの不良率
が高い場合であっても、IC排出を終了したトレイは、バ
ッファ部14aのトレイが供給部14bに搬送されるまではト
レイ回転部13に待機しているから何らの不都合も生じな
い。

なお、本発明は上述した例にのみ限定されるものではな
く、幾多の変形または変更が可能である。例えば、トレ
イ回転部13はトレイ搬送部12の下流側に配置してもよい
し、またIC反転部８は検出部５の上流側に配置してもよ
い。また、IC試験部４でのICの搬送およびトレイ搬送部
12でのトレイの搬送は自重によらず、適当な搬送機構を
用いて行ってもよい。更に、搬送レール81を複数設け、
同一トレイの複数のICスティックから同時にICを排出さ
せてそれぞれ並列して試験を行うよう構成することもで
き、これにより更に処理速度を高めることができる。ま
た、トレイは矩形状に限らず、円盤状にしてICスティッ
クを放射状に装着し、このトレイをIC排出部、IC挿入部
において間欠的に回動させることによってICスティック
をIC取出位置、IC挿入位置に位置決めすると共に、IC排
出部においてICの排出が終了したトレイをIC挿入部に搬
送するよう構成することもできる。更に、本発明は上述
したICのリードおよび外観の異常による不良ICのリジェ
クトに限らず、そのいずれ一方あるいはその他の異常に
よる不良ICのリジェクト、ICのリードの矯正やカット、
ICスティック内でのICの向きの整列等、ICをICスティッ
クから取出して再びICスティックに収納する用途に広く
適用することができる。

（発明の効果） 以上述べたように、本発明においては、複数のICスティ
ックをトレイに装着し、このトレイを傾斜平面内でIC排
出部におけるICスティックの出口がIC挿入部において入
口となるように、IC排出部を経てIC挿入部に自重による
搬送および180°回転を行って自動的に搬送するもので
あるから、省力化が図れると共に、ICスティックを一本
一本搬送する場合に比べその搬送機構を簡単にでき、し
たがって装置全体を簡単にできる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のIC試験装置の一例の構成を示すブロッ
ク図、 第２図Ａ〜Ｅは第１図に示した構成要素を具えるIC試験
装置の外観の一例を示す図、 第３図は同じく要部の概略構成を示す斜視図、 第４図はIC試験部の構成を線図的に示す図、 第５図はICスティックの一例の構成を一部切欠いて示す
斜視図、 第６図はトレイの一例の構成を示す斜視図、 第７図Ａ〜ＣはトレイのICスティックに対する作用およ
びトレイに装着されたICスティックに作用するゲートシ
リンダのプランジャ構造を説明するための図、 第８図は撮像装置および照明系の一例の構成を示す図で
ある。 １…IC取出部 ２…サプライ側トレイ格納部 ３…IC排出部、４…IC試験部 ５…検出部、６…不良ICリジェクト部 ７…不良品箱、８…IC反転部 ９…IC収納部、10…IC挿入部 11…レシーブ側トレイ格納部 12…トレイ搬送部、13…トレイ回転部 14…トレイ移送部、14a…バッファ部 14b…供給部、41…ICスティック 42…トレイ 45a,45b,73a,73b…保持搬送機構 53,65…トレイ移送機構 81…搬送レール、85,131…ゲートシリンダ 86…IC、101〜104…撮像装置。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鯉渕 正昭 茨城県那珂郡那珂町大字向山1230 池上通 信機株式会社水戸工場内 (56)参考文献 特開 昭50−78057（ＪＰ，Ａ) 特開 昭54−120170（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−6818（ＪＰ，Ａ) 特公 昭53−47667（ＪＰ，Ｂ２) 実公 昭57−32988（ＪＰ，Ｙ２)

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】一端を開放し、他端を閉塞して着脱自在に
   並列して装着され、それぞれ多数のICを直線状に整列し
   て格納する複数本のICスティクを有するトレイを複数格
   納して順次所定の位置に供給する第１のトレイ格納部
   と、 この第１のトレイ格納部から供給されるトレイをICステ
   ィクの長さ方向に傾斜した状態で間欠的に移送して、該
   トレイの複数本のICスティクを所定のIC取出位置に順次
   位置決めしてICスティクの一端からICを自重により順次
   排出するIC排出部と、 このIC排出部から排出されるICを自重により搬送しなが
   ら該ICに対して所要の試験を行うIC試験部と、 複数本の空のICスティクを有するトレイを、ICスティク
   の長さ方向に傾斜した状態で間欠的に移送して、該トレ
   イの複数本のICスティクを所定のIC挿入位置に順次位置
   決めして前記IC試験部を経たICをICスティクにその一端
   から自重により順次挿入するIC挿入部と、 トレイを傾斜した状態で自重により移送するトレイ移送
   部およびトレイを傾斜平面内で180°回転させるトレイ
   回転部を有し、前記IC排出部で空となったICスティクを
   有するトレイを傾斜した状態で前記IC挿入部に搬送する
   トレイ搬送部と、 前記IC挿入部でICが挿入されたICスティクを有するトレ
   イを複数格納する第２のトレイ格納部とを具えることを
   特徴とするIC試験装置。