JPH0644091A - メモリ診断回路 - Google Patents
メモリ診断回路Info
- Publication number
- JPH0644091A JPH0644091A JP4199352A JP19935292A JPH0644091A JP H0644091 A JPH0644091 A JP H0644091A JP 4199352 A JP4199352 A JP 4199352A JP 19935292 A JP19935292 A JP 19935292A JP H0644091 A JPH0644091 A JP H0644091A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory
- microprogram
- micro program
- circuit
- data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
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- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Hardware Redundancy (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】マイクロプログラムメモリの初期診断を実施し
た結果、不良メモリが検出された場合にも動作不能状態
になることを防止する。 【構成】マイクロプログラムメモリ１１〜１５の初期診
断の結果をマイクロプログラム修復制御回路２２に格納
し、不良メモリが発生した場合には不良メモリに書き込
むべきデータを、アドレス生成回路２４の生成したアド
レスによってローカルメモリ３１に格納し、読みだし時
に不良メモリのかわりにローカルメモリ３１のデータを
使用し、マイクロプログラムデータ入替回路２３がマイ
クロプログラムを生成し中央処理ユニット２５に引渡す
ことで不良メモリが発生しても中央処理装置１は動作不
能とならずプログラムの実行が可能となる。
た結果、不良メモリが検出された場合にも動作不能状態
になることを防止する。 【構成】マイクロプログラムメモリ１１〜１５の初期診
断の結果をマイクロプログラム修復制御回路２２に格納
し、不良メモリが発生した場合には不良メモリに書き込
むべきデータを、アドレス生成回路２４の生成したアド
レスによってローカルメモリ３１に格納し、読みだし時
に不良メモリのかわりにローカルメモリ３１のデータを
使用し、マイクロプログラムデータ入替回路２３がマイ
クロプログラムを生成し中央処理ユニット２５に引渡す
ことで不良メモリが発生しても中央処理装置１は動作不
能とならずプログラムの実行が可能となる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電子計算機を動作され
るマイクロプログラムの誤りを検出するメモリ診断回路
に関する。
るマイクロプログラムの誤りを検出するメモリ診断回路
に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種のメモリ診断回路は、マイ
クロプログラムメモリの初期診断をおこなうためのアド
レスを生成する回路と、初期診断用のデータを生成する
回路と、マイクロプログラムメモリに書き込んだ値と読
みだした値を比較する回路と、比較の結果不一致があっ
た場合にマイクロプログラムメモリに不良が発生したと
判断し、不一致の情報を記憶する回路とを有し、電子計
算機の立ち上げ時等にハードウェアにて診断を実施した
場合に、メモリに書き込んだ期待値とメモリから読み込
んだ値が一つでも一致しなかった場合には、外部に対し
てメモリ不良を通知する様になっていた。
クロプログラムメモリの初期診断をおこなうためのアド
レスを生成する回路と、初期診断用のデータを生成する
回路と、マイクロプログラムメモリに書き込んだ値と読
みだした値を比較する回路と、比較の結果不一致があっ
た場合にマイクロプログラムメモリに不良が発生したと
判断し、不一致の情報を記憶する回路とを有し、電子計
算機の立ち上げ時等にハードウェアにて診断を実施した
場合に、メモリに書き込んだ期待値とメモリから読み込
んだ値が一つでも一致しなかった場合には、外部に対し
てメモリ不良を通知する様になっていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この従来のメモリ診断
回路では、複数個あるマイクロプログラムメモリのある
一部分に不良が発生した場合に正しいマイクロプログラ
ムを読みだすことができず中央処理装置の正常動作を保
障することができないため、マイクロプログラムメモリ
の初期診断でデータ不一致が発生した場合には、メモリ
不良を通知した後に動作不能状態になってしまうという
問題点があった。
回路では、複数個あるマイクロプログラムメモリのある
一部分に不良が発生した場合に正しいマイクロプログラ
ムを読みだすことができず中央処理装置の正常動作を保
障することができないため、マイクロプログラムメモリ
の初期診断でデータ不一致が発生した場合には、メモリ
不良を通知した後に動作不能状態になってしまうという
問題点があった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明のメモリ診断回路
は、プログラマが記述したマクロ命令を、中央処理装置
が演算可能である簡単なマイクロ命令１ないし複数で実
現し、該マイクロ命令の集合体であるマイクロプログラ
ムを格納するマイクロプログラムメモリと、装置立ち上
げ時に該マイクロプログラムメモリが正しく読み書きで
きるかを診断するマイクロプログラムメモリ診断回路
と、該マイクロプログラムメモリ診断回路にて実施した
メモリ診断の結果該マイクロプログラムメモリに不良が
発生したかどうかと該マイクロプログラムメモリの不良
部分を記憶するマイクロプログラムメモリ修復回路と、
通常メインメモリのマッピングの一部であるがマイクロ
プログラムメモリ不良発生時に該マイクロプログラムメ
モリの不良部分のアドレスのマイクロプログラムを格納
する高速アクセス可能なメモリであるローカルメモリ
と、該マイクロプログラムメモリに不良が発生した時に
該ローカルメモリよりデータをリード／ライトするため
のアドレスを生成するアドレス生成回路と、該マイクロ
プログラム修復制御回路からの制御によりマイクロプロ
グラムメモリ不良発生時に該マイクロプログラムメモリ
の不良部分の代わりに該ローカルメモリのデータを読み
出してマイクロプログラムを正しく生成するマイクロプ
ログラムデータ入替回路とを備えている。
は、プログラマが記述したマクロ命令を、中央処理装置
が演算可能である簡単なマイクロ命令１ないし複数で実
現し、該マイクロ命令の集合体であるマイクロプログラ
ムを格納するマイクロプログラムメモリと、装置立ち上
げ時に該マイクロプログラムメモリが正しく読み書きで
きるかを診断するマイクロプログラムメモリ診断回路
と、該マイクロプログラムメモリ診断回路にて実施した
メモリ診断の結果該マイクロプログラムメモリに不良が
発生したかどうかと該マイクロプログラムメモリの不良
部分を記憶するマイクロプログラムメモリ修復回路と、
通常メインメモリのマッピングの一部であるがマイクロ
プログラムメモリ不良発生時に該マイクロプログラムメ
モリの不良部分のアドレスのマイクロプログラムを格納
する高速アクセス可能なメモリであるローカルメモリ
と、該マイクロプログラムメモリに不良が発生した時に
該ローカルメモリよりデータをリード／ライトするため
のアドレスを生成するアドレス生成回路と、該マイクロ
プログラム修復制御回路からの制御によりマイクロプロ
グラムメモリ不良発生時に該マイクロプログラムメモリ
の不良部分の代わりに該ローカルメモリのデータを読み
出してマイクロプログラムを正しく生成するマイクロプ
ログラムデータ入替回路とを備えている。
【０００５】
【実施例】次に、本発明のメモリ診断回路について、図
面を参照して説明する。
面を参照して説明する。
【０００６】図１は本発明の一実施例のメモリ診断回路
のブロック図である。中央処理装置１はマイクロプログ
ラムメモリ診断回路２１、マイクロプログラム修復制御
回路２２、マイクロプログラムデータ入替回路２３、ア
ドレス生成回路２４および中央処理ユニット２５を備え
ている。マイクロプログラムメモリ１１，１２，１３１
４，１５は中央処理装置１が動作するためのマイクロプ
ログラムを格納するメモリ、マイクロプログラムメモリ
診断回路２１は、装置立ち上げ時にマイクロプログラム
メモリが正常に動作するかを診断するための回路、マイ
クロプログラム修復制御回路２２は、マイクロプログラ
ムメモリ診断回路２１により診断の結果を格納し、正常
なマイクロプログラムの生成を制御する回路、マイクロ
プログラムデータ入替回路２３はマイクロプログラム修
復制御回路２２の制御により、不良メモリからのデータ
を修復用のメモリより読み込んだデータと入替るための
回路、アドレス生成回路２４は不良メモリ発生時に外部
修復用メモリに対するアドレスを生成する回路、中央処
理ユニット２５はマイクロプログラムを実行する回路、
セレクタ２６はアドレス生成回路２４と中央処理ユニッ
ト２５の出力するアドレスを切り換える回路、ローカル
メモリ３１は、普段はメインメモリにマッピングされ高
速にアクセス可能なメモリであり、不良メモリ発生時に
は、不良メモリのかわりにマイクロプログラムを格納す
るメモリ、メモリコントローラ３２はローカルメモリ３
１の読み書きを制御す回路である。
のブロック図である。中央処理装置１はマイクロプログ
ラムメモリ診断回路２１、マイクロプログラム修復制御
回路２２、マイクロプログラムデータ入替回路２３、ア
ドレス生成回路２４および中央処理ユニット２５を備え
ている。マイクロプログラムメモリ１１，１２，１３１
４，１５は中央処理装置１が動作するためのマイクロプ
ログラムを格納するメモリ、マイクロプログラムメモリ
診断回路２１は、装置立ち上げ時にマイクロプログラム
メモリが正常に動作するかを診断するための回路、マイ
クロプログラム修復制御回路２２は、マイクロプログラ
ムメモリ診断回路２１により診断の結果を格納し、正常
なマイクロプログラムの生成を制御する回路、マイクロ
プログラムデータ入替回路２３はマイクロプログラム修
復制御回路２２の制御により、不良メモリからのデータ
を修復用のメモリより読み込んだデータと入替るための
回路、アドレス生成回路２４は不良メモリ発生時に外部
修復用メモリに対するアドレスを生成する回路、中央処
理ユニット２５はマイクロプログラムを実行する回路、
セレクタ２６はアドレス生成回路２４と中央処理ユニッ
ト２５の出力するアドレスを切り換える回路、ローカル
メモリ３１は、普段はメインメモリにマッピングされ高
速にアクセス可能なメモリであり、不良メモリ発生時に
は、不良メモリのかわりにマイクロプログラムを格納す
るメモリ、メモリコントローラ３２はローカルメモリ３
１の読み書きを制御す回路である。
【０００７】まず装置立ち上げ時に中央処理ユニット２
５が動作する前にマイクロプログラムメモリ診断回路２
１はマイクロプログラムメモリ１１，１２，１３，１
４，１５に対し、すべてのアドレスに対して各メモリデ
ータのビットが“０”，“１”ともに診断可能なデータ
を期待値として書き込みを実施する。次にマイクロプロ
グラム診断回路２１はマイクロプログラムメモリ１１，
１２，１３，１４，１５よりデータの読み込みをおこな
い、期待値と比較し、一致していた場合には正常と判断
する。期待値と比較し不一致が発生した場合には、どの
マイクロプログラムメモリが不良であるかの情報をマイ
クロプログラム修復制御回路２２に送り、マイクロプロ
グラム修復制御回路２２は不良メモリ情報を記憶する。
５が動作する前にマイクロプログラムメモリ診断回路２
１はマイクロプログラムメモリ１１，１２，１３，１
４，１５に対し、すべてのアドレスに対して各メモリデ
ータのビットが“０”，“１”ともに診断可能なデータ
を期待値として書き込みを実施する。次にマイクロプロ
グラム診断回路２１はマイクロプログラムメモリ１１，
１２，１３，１４，１５よりデータの読み込みをおこな
い、期待値と比較し、一致していた場合には正常と判断
する。期待値と比較し不一致が発生した場合には、どの
マイクロプログラムメモリが不良であるかの情報をマイ
クロプログラム修復制御回路２２に送り、マイクロプロ
グラム修復制御回路２２は不良メモリ情報を記憶する。
【０００８】中央処理ユニット２５はマイクロプログラ
ムメモリ１１，１２，１３，１４，１５の診断終了後ま
ずマイクロプログラムをマイクロプログラムメモリ１
１，１２，１３，１４，１５に展開するが、不良メモリ
が発生しなかった場合ローカルメモリ３１はメモリマッ
ピング上、図２にようにアドレを割り当てられているも
のとする。仮にローカルメモリ３１の容量が４Ｍｂｙｔ
ｅであったとする。ローカルメモリ３１のアクセスアド
レスを００００００００（Ｈ）〜００３ＦＦＦＦＦ
（Ｈ）と割り当てメモリアクセスの実行が可能となる。
ムメモリ１１，１２，１３，１４，１５の診断終了後ま
ずマイクロプログラムをマイクロプログラムメモリ１
１，１２，１３，１４，１５に展開するが、不良メモリ
が発生しなかった場合ローカルメモリ３１はメモリマッ
ピング上、図２にようにアドレを割り当てられているも
のとする。仮にローカルメモリ３１の容量が４Ｍｂｙｔ
ｅであったとする。ローカルメモリ３１のアクセスアド
レスを００００００００（Ｈ）〜００３ＦＦＦＦＦ
（Ｈ）と割り当てメモリアクセスの実行が可能となる。
【０００９】マイクロプログラムメモリ１２が正常に診
断データが読み書きできず、不良メモリと診断されたと
する。マイクロプログラムメモリ１２の容量が６４ｋｂ
ｙｔｅであった場合、ローカルメモリ３１の００３Ｆ０
０００（Ｈ）〜００３ＦＦＦＦＦ（Ｈ）の６４Ｋｂｙｔ
ｅ分をマイクロプログラムメモリ１２に格納されるマイ
クロプログラムデータを格納するエリアとして割りあて
る様にアドレス生成回路２４がアドレスを生成する。つ
まり図３のようにローカルメモリ３１は４Ｍ−６４Ｋｂ
ｙｔｅの容量としてメモリマッピングされ、６４Ｋ分は
マイクロプログラムメモリとして使用されることとな
る。この時に本来ローカルメモリに格納されるはずのデ
ータはメインメモリに格納される。
断データが読み書きできず、不良メモリと診断されたと
する。マイクロプログラムメモリ１２の容量が６４ｋｂ
ｙｔｅであった場合、ローカルメモリ３１の００３Ｆ０
０００（Ｈ）〜００３ＦＦＦＦＦ（Ｈ）の６４Ｋｂｙｔ
ｅ分をマイクロプログラムメモリ１２に格納されるマイ
クロプログラムデータを格納するエリアとして割りあて
る様にアドレス生成回路２４がアドレスを生成する。つ
まり図３のようにローカルメモリ３１は４Ｍ−６４Ｋｂ
ｙｔｅの容量としてメモリマッピングされ、６４Ｋ分は
マイクロプログラムメモリとして使用されることとな
る。この時に本来ローカルメモリに格納されるはずのデ
ータはメインメモリに格納される。
【００１０】マイクロプログラム格納分の６４Ｋｂｙｔ
ｅ分のアクセスは中央処理ユニット２５よりの制御信号
とアドレス生成回路２４の生成するアドレスによってア
クセスされマイクロプログラム１２に格納すべきデータ
はローカルメモリ３１に格納される。マイクロプログラ
ムの読み出し時にマイクロプログラム修復制御回路２２
はマイクロプログラムデータ入替回路２３に対しマイク
ロプログラムメモリ１２が不良であることを通知し、マ
イクロプログラム修復制御回路２２はマイクロプログラ
ムメモリ１１，１３，１４，１５及びローカルメモリ３
１より読み出したデータによりマイクロプログラムメモ
リ１２のデータのかわりにローカルメモリ３１のデータ
を使用することでマイクロプログラムを生成し中央処理
ユニット２５へ引きわたすことになる。
ｅ分のアクセスは中央処理ユニット２５よりの制御信号
とアドレス生成回路２４の生成するアドレスによってア
クセスされマイクロプログラム１２に格納すべきデータ
はローカルメモリ３１に格納される。マイクロプログラ
ムの読み出し時にマイクロプログラム修復制御回路２２
はマイクロプログラムデータ入替回路２３に対しマイク
ロプログラムメモリ１２が不良であることを通知し、マ
イクロプログラム修復制御回路２２はマイクロプログラ
ムメモリ１１，１３，１４，１５及びローカルメモリ３
１より読み出したデータによりマイクロプログラムメモ
リ１２のデータのかわりにローカルメモリ３１のデータ
を使用することでマイクロプログラムを生成し中央処理
ユニット２５へ引きわたすことになる。
【００１１】本実施例は立ち上がり時にハードウェア的
にマイクロプログラムの初期診断を実行し、不良発生時
に不良マイクロプログラムメモリにかわりローカルメモ
リを使用し電子計算機を動作させる。
にマイクロプログラムの初期診断を実行し、不良発生時
に不良マイクロプログラムメモリにかわりローカルメモ
リを使用し電子計算機を動作させる。
【００１２】
【発明の効果】以上説明したように本発明のメモリ診断
回路は、マイクロプログラムメモリが正常に読み書きで
きるかを診断するためのマイクロプログラムメモリ診断
回路と、マイクロプログラムメモリ診断の結果マイクロ
プログラムメモリの不良の有無、不漁メモリが発生した
場合にはどのメモリが不良であるかを記憶する、マイク
ロプログラムメモリ修復回路と、通常はメモリマッピン
グの一部であり、高速アクセス可能なメモリでマイクロ
プログラムムメモリ不良発生時には不良マイクロプログ
ラムメモリのかわりにデータを格納するローカルメモリ
と、不良マイクロプログラムメモリのかわりにデータを
格納しているローカルメモリに領域をアクセスするため
のアドレスを生成するアドレス生成回路と、マイクロプ
ログラムメモリ及びローカルメモリから読みだしたデー
タからマイクロプログラムを生成するマイクロプログラ
ムデータ入替回路を設けることにより、メモリ初期診断
の結果、不良メモリが検出された場合に不良マイクロプ
ログラムメモリのかわりにローカルメモリの領域にデー
タを格納することができる様になっているため、マイク
ロプログラムメモリに不良が発生しても中央処理装置は
動作不能状態にならずに動作することが可能であるとい
う効果がある。
回路は、マイクロプログラムメモリが正常に読み書きで
きるかを診断するためのマイクロプログラムメモリ診断
回路と、マイクロプログラムメモリ診断の結果マイクロ
プログラムメモリの不良の有無、不漁メモリが発生した
場合にはどのメモリが不良であるかを記憶する、マイク
ロプログラムメモリ修復回路と、通常はメモリマッピン
グの一部であり、高速アクセス可能なメモリでマイクロ
プログラムムメモリ不良発生時には不良マイクロプログ
ラムメモリのかわりにデータを格納するローカルメモリ
と、不良マイクロプログラムメモリのかわりにデータを
格納しているローカルメモリに領域をアクセスするため
のアドレスを生成するアドレス生成回路と、マイクロプ
ログラムメモリ及びローカルメモリから読みだしたデー
タからマイクロプログラムを生成するマイクロプログラ
ムデータ入替回路を設けることにより、メモリ初期診断
の結果、不良メモリが検出された場合に不良マイクロプ
ログラムメモリのかわりにローカルメモリの領域にデー
タを格納することができる様になっているため、マイク
ロプログラムメモリに不良が発生しても中央処理装置は
動作不能状態にならずに動作することが可能であるとい
う効果がある。
【図１】本発明の一実施例のブロック図である。
【図２】図１中のローカルメモリの不良メモリが発生し
ない場合のメモリマッピングを示す図である。
ない場合のメモリマッピングを示す図である。
【図３】図１中のローカルメモリの不良メモリが発生し
た場合のメモリマッピングを示す図である。
た場合のメモリマッピングを示す図である。
１ 中央処理装置 １１，１２，１３，１４，１５ マイクロプログラム
メモリ ２１ マイクロプログラムメモリ診断回路 ２２ マイクロプログラム修復制御回路 ２３ マイクロプログラムデータ入替回路 ２４ アドレス生成回路 ２５ 中央処理ユニット ２６ セレクタ ３１ ローカルメモリ ３２ メモリコントローラ
メモリ ２１ マイクロプログラムメモリ診断回路 ２２ マイクロプログラム修復制御回路 ２３ マイクロプログラムデータ入替回路 ２４ アドレス生成回路 ２５ 中央処理ユニット ２６ セレクタ ３１ ローカルメモリ ３２ メモリコントローラ
Claims (1)
- 【請求項１】 プログラマが記述したマクロ命令を、中
央処理装置が演算可能である簡単なマイクロ命令１ない
し複数で実現し、該マイクロ命令の集合体であるマイク
ロプログラムを格納するマイクロプログラムメモリと、
装置立ち上げ時に該マイクロプログラムメモリが正しく
読み書きできるかを診断するマイクロプログラムメモリ
診断回路と、該マイクロプログラムメモリ診断回路にて
実施したメモリ診断の結果該マイクロプログラムメモリ
に不良が発生したかどうかと該マイクロプログラムメモ
リの不良部分を記憶するマイクロプログラムメモリ修復
回路と、通常メインメモリのマッピングの一部であるが
マイクロプログラムメモリ不良発生時に該マイクロプロ
グラムメモリの不良部分のアドレスのマイクロプログラ
ムを格納する高速アクセス可能なメモリであるローカル
メモリと、該マイクロプログラムメモリに不良が発生し
た時に該ローカルメモリよりデータをリード／ライトす
るためのアドレスを生成するアドレス生成回路と、該マ
イクロプログラム修復制御回路からの制御によりマイク
ロプログラムメモリ不良発生時に該マイクロプログラム
メモリの不良部分の代わりに該ローカルメモリのデータ
を読み出してマイクロプログラムを正しく生成するマイ
クロプログラムデータ入替回路とを含むことを特徴とす
るメモリ診断回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4199352A JPH0644091A (ja) | 1992-07-27 | 1992-07-27 | メモリ診断回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4199352A JPH0644091A (ja) | 1992-07-27 | 1992-07-27 | メモリ診断回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0644091A true JPH0644091A (ja) | 1994-02-18 |
Family
ID=16406336
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4199352A Withdrawn JPH0644091A (ja) | 1992-07-27 | 1992-07-27 | メモリ診断回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0644091A (ja) |
-
1992
- 1992-07-27 JP JP4199352A patent/JPH0644091A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19991005 |