JPH06349313A - 導電性ペースト - Google Patents
導電性ペーストInfo
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- JPH06349313A JPH06349313A JP5160446A JP16044693A JPH06349313A JP H06349313 A JPH06349313 A JP H06349313A JP 5160446 A JP5160446 A JP 5160446A JP 16044693 A JP16044693 A JP 16044693A JP H06349313 A JPH06349313 A JP H06349313A
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Abstract
を防止することが可能で、信頼性の高い外部電極を形成
することが可能な導電性ペーストを提供する。 【構成】 導電粉末と、ガラスフリットと、有機ビヒク
ルとを含有してなる導電性ペーストにおいて、ガラスフ
リットとして、 ZnO : 3〜13重量% SiO2 : 35〜55重量% B2O3 : 15〜30重量% アルカリ土類金属の酸化物 : 5〜15重量% アルカリ金属の酸化物 : 5〜10重量% を含有するホウケイ酸亜鉛系ガラスフリットを用いる。
Description
し、詳しくは、積層セラミックコンデンサなどのセラミ
ック電子部品の外部電極を形成するために用いられる導
電性ペーストに関する。
ラミックコンデンサなどのセラミック電子部品には、導
電性ペーストを塗布焼付けすることにより外部電極(端
子電極)を形成し、その上に半田濡れ性などの特性を向
上させるために、NiメッキとSnメッキ、あるいはN
iメッキと半田メッキなどの種々のメッキ処理を施すよ
うにしたもの(メッキ品)がある。
品)の外部電極を形成するために用いられる導電性ペー
ストとしては、通常、導電粉末(金属成分)に、ガラス
フリットや有機ビヒクルなどを配合してなる導電性ペー
ストが使用されている。
て、ガラスフリットは、外部電極とセラミック電子部品
素体(例えば積層セラミックコンデンサ素子などのセラ
ミック素体)との接合のために使用される。
性などの特性を向上させるために外部電極に電解メッキ
を施す場合、従来のガラスフリットを用いて形成した外
部電極では、構成成分の一部であるガラスフリットがメ
ッキ液に溶解し、外部電極とセラミック電子部品素体と
の間の接合力が低下するという問題点がある。
が溶出した部分からメッキ液がセラミックの内部に侵入
し、セラミック電子部品(例えば積層セラミックコンデ
ンサ)のQ特性の劣化や熱衝撃試験後の静電容量の低下
を発生させるという問題点がある。
あり、メッキ液に対する耐性が大きく、特性の劣化を防
止することが可能で、信頼性の高い外部電極を形成する
ことが可能な導電性ペーストに関する。
に、本願第1の発明の導電性ペーストは、導電粉末と、
ガラスフリットと、有機ビヒクルとを含有してなるセラ
ミック電子部品の外部電極形成用の導電性ペーストであ
って、ガラスフリットとして、 ZnO : 3〜13重量% SiO2 : 35〜55重量% B2O3 : 15〜30重量% アルカリ土類金属の酸化物 : 5〜15重量% アルカリ金属の酸化物 : 5〜10重量% を含有するホウケイ酸亜鉛系ガラスフリットを用いたこ
とを特徴とする。
は、導電粉末と、ガラスフリットと、有機ビヒクルとを
含有してなるセラミック電子部品の外部電極形成用の導
電性ペーストであって、ガラスフリットとして、請求項
1記載の導電性ペーストにおいて用いたホウケイ酸亜鉛
系ガラスフリット20〜80重量%と、ホウケイ酸鉛系
ガラスフリットを20〜80重量%とを配合してなる混
合ガラスフリットを用いたことを特徴とする。
おいて、ホウケイ酸亜鉛系ガラスフリットの構成成分
(ZnO,SiO2,B2O3,アルカリ土類金属の酸化
物,アルカリ金属の酸化物)の割合を限定したのは以下
の理由による。
%に限定したのは、ZnOの含有量が3重量%未満にな
るとガラスフリットの軟化温度が高くなるとともに、セ
ラミック電子部品素体(セラミック素体)との相性が悪
くなり、また、13重量%を越えると、セラミック電子
部品素体とガラスフリットとの反応性が大きくなり、そ
の反応生成物がメッキ液に溶解してメッキ劣化を引き起
こすことによる。
重量%に限定したのは、SiO2の含有量が35重量%
未満になるとガラスフリットのメッキ液に対する安定性
が低下してメッキ劣化を引き起こし、また、55重量%
を越えるとガラスフリットの軟化温度が高くなりすぎて
好ましくないことによる。
量%に限定したのは、B2O3の含有量が15重量%未満
になるとガラスフリットがガラス化しにくくなるととも
に、軟化温度を下げることが困難になり、また、30重
量%を越えるとガラスフリットのメッキ液に対する安定
性が低下することによる。
類金属の酸化物の含有量を5〜15重量%に限定したの
は、アルカリ土類金属の酸化物の含有量が5重量%未満
になるとガラスフリットの安定性が低下し、また、15
重量%を越えるとガラスフリットの軟化温度が高くなり
すぎて好ましくないことによる。
酸化物の含有量を5〜10重量%に限定したのは、アル
カリ金属の酸化物の含有量が5重量%未満になるとガラ
スフリットの作業温度が高くなり好ましくないからであ
り、また、10重量%を越えるとガラスフリットの耐水
性が低下して好ましくないからである。
て、ガラスフリットは、導電粉末とガラスフリットの合
計量(固形分)に対して3〜10重量%の範囲で添加す
ることが望ましい。これは、ガラスフリットの添加量が
Ag粉末とガラスフリットの合計量の3重量%未満にな
ると電極とセラミックの接着強度が低下し、また、10
量%を越えるとメッキ付着性が低下するためである。
は、セラミック電子部品素体との熱膨張係数を調整する
ために、5重量%程度までの割合でガラスフリットにA
l2O3を添加してもよい。
して、その特徴とするところをさらに詳しく説明する。
粉末としてAg粉末を用い、これに、有機ビヒクル(こ
の実施例ではセルロース系樹脂をブチルカルビトールに
溶解したもの)及び表1に示すような組成のホウケイ酸
亜鉛系のガラスフリットを配合することにより導電性ペ
ースト(本願第1の発明にかかる導電性ペースト)を調
製した。
スト中のAg粉末とガラスフリットの合計量(固形分)
を76重量%とし、Ag粉末とガラスフリットの合計量
に対するガラスフリットの割合を6重量%とした。
ミックコンデンサの外部電極(端子電極)を形成した
後、770℃(ピーク)で10分間焼成した。それか
ら、外部電極上にNiの電解メッキとSnの電解メッキ
を重ねて施した。
サについて、Q特性及び外部電極の引張り強度を測定す
るとともに、熱衝撃(ヒートサイクル)試験を行い、そ
の特性を評価した。その結果を表1に示す。
したもの(試料番号5)は本願第1の発明の範囲外の試
料(比較例)であり、その他は本願第1の発明の範囲内
の試料(実施例)である。
ルを200サイクル繰返した後の不良品数と良品数の比
(不良品数/良品数)を示す。なお、不良品と良品と
は、静電容量の大きさから判定した。
さく、特性が良いことを示す。
る導電性ペーストを用いて形成した外部電極は、比較例
(試料番号5)の導電性ペーストを用いて形成した外部
電極と比較して、引張り強度が大きく、また、積層セラ
ミックコンデンサのQ値も大きいことがわかる。
の発明の実施例にかかる導電性ペーストを用いて外部電
極を形成した積層セラミックコンデンサは、比較例の積
層セラミックコンデンサよりも不良品率が低いことが確
認された。
の酸化物としてCaOを用い、アルカリ金属の酸化物と
してLi2Oを用いた場合について説明したが、本願第
1の発明の導電性ペーストにおいては、これらに限ら
ず、他のアルカリ土類金属の酸化物及びアルカリ金属の
酸化物を用いることが可能である。
粉末としてAg粉末を用い、これに、有機ビヒクル(こ
の実施例ではセルロース系樹脂をブチルカルビトールに
溶解したもの)、及び表2に示すような組成のホウケイ
酸亜鉛系ガラスフリットと表3に示すような組成のホウ
ケイ酸鉛系ガラスフリットとを、表4に示すような割合
で配合して導電性ペースト(本願第2の発明にかかる導
電性ペースト)を調製した。
を付したホウケイ酸亜鉛系ガラスフリットは本願第1の
発明の導電性ペーストを構成するホウケイ酸亜鉛系ガラ
スフリットの組成範囲を外れた比較用のホウケイ酸亜鉛
系ガラスフリットである。
スト中のAg粉末と混合ガラスフリットの合計量(固形
分)を76重量%とし、Ag粉末と混合ガラスフリット
の合計量に対する混合ガラスフリットの割合を4重量%
とした。
ミックコンデンサの外部電極(端子電極)を形成した
後、770℃(ピーク)で10分間焼成した。それか
ら、外部電極上にNiの電解メッキとSnの電解メッキ
を重ねて施した。
サについて、外部電極の引張り強度及びたわみ強度を測
定するとともに、熱衝撃(ヒートサイクル)試験を行
い、その特性を評価した。その結果を表4に示す。
したもの(試料番号6,7,8)は本願第2の発明の範
囲外の試料(比較例)であり、その他は本願第2の発明
の範囲内の試料(実施例)である。
は、ホウケイ酸亜鉛系ガラスフリットの組成が本願第1
の発明の導電性ペーストを構成するホウケイ酸亜鉛系ガ
ラスフリットの組成範囲から外れており、かつ、試料番
号6においては、ホウケイ酸鉛系ガラスフリットが配合
されていないガラスフリット(すなわち、ホウケイ酸亜
鉛系ガラスフリットのみ)が用いられている。また、試
料番号8の比較例においては、ホウケイ酸亜鉛系ガラス
フリットが配合されていないガラスフリット(すなわ
ち、ホウケイ酸鉛系ガラスフリットのみ)が用いられて
いる。
トを用いて外部電極を形成した場合においても、本願第
1の発明の導電性ペーストを用いた場合と同様の効果が
得られること、及び優れたたわみ強度が得られることが
わかる。
てAg粉末を用いた場合について説明したが、本願発明
の導電性ペーストにおいては、導電粉末はAg粉末に限
られるものではなく、例えばCu粉末などの他の金属粉
末、あるいはAg−Pd粉末のような合金粉末などを導
電粉末として用いることが可能である。
電性ペーストを用いて積層セラミックコンデンサの外部
電極を形成した場合について説明したが、本願発明の導
電性ペーストは、積層セラミックコンデンサの外部電極
のみではなく、セラミック半導体デバイスや正特性サー
ミスタ装置などの種々のセラミック電子部品の外部電極
を形成する場合に使用することが可能である。
上記実施例に限定されるものではなく、有機ビヒクルの
種類、あるいは各構成成分(導電粉末、ガラスフリット
及び有機ビヒクル)の配合割合などに関して、発明の要
旨の範囲内において、種々の応用、変形を加えることが
可能である。
ペーストは、ガラスフリットとして、ZnO:3〜13
重量%,SiO2:35〜55重量%,B2O3:15〜
30重量%,アルカリ土類金属の酸化物:5〜15重量
%,アルカリ金属の酸化物:5〜10重量%を含有する
ガラスフリットを用いているため、メッキ工程における
外部電極のメッキ液への溶解を防止し、外部電極及び外
部電極を形成したセラミック電子部品の特性の劣化を防
止することができる。
やしたことにより、メッキ液(酸性溶液)に対するガラ
スフリットの安定性が増大するため、外部電極の膜厚を
小さくすることが可能になり、コストを低減することが
できる。
増やしたことにより、ガラスフリットの軟化温度が上昇
するため、外部電極(導電性ペースト)の焼成時に外部
電極の焼結収縮によるセラミック電子部品の締め付けが
緩和され、セラミック電子部品の耐熱衝撃性が向上す
る。
は、本願第1の発明の導電性ペーストにおいて用いられ
ているホウケイ酸亜鉛系ガラスフリット20〜80重量
%と、ホウケイ酸鉛系ガラスフリットを20〜80重量
%とを配合してなる混合ガラスフリットを用いており、
これを用いて外部電極を形成した場合には、本願第1の
発明の導電性ペーストを用いた場合と同様の効果を得る
ことができるとともに、優れたたわみ強度を実現するこ
とができる。
Claims (2)
- 【請求項1】 導電粉末と、ガラスフリットと、有機ビ
ヒクルとを含有してなるセラミック電子部品の外部電極
形成用の導電性ペーストであって、 ガラスフリットとして、 ZnO : 3〜13重量% SiO2 : 35〜55重量% B2O3 : 15〜30重量% アルカリ土類金属の酸化物 : 5〜15重量% アルカリ金属の酸化物 : 5〜10重量% を含有するホウケイ酸亜鉛系ガラスフリットを用いたこ
とを特徴とする導電性ペースト。 - 【請求項2】 導電粉末と、ガラスフリットと、有機ビ
ヒクルとを含有してなるセラミック電子部品の外部電極
形成用の導電性ペーストであって、 ガラスフリットとして、請求項1記載の導電性ペースト
において用いたホウケイ酸亜鉛系ガラスフリット20〜
80重量%と、ホウケイ酸鉛系ガラスフリットを20〜
80重量%とを配合してなる混合ガラスフリットを用い
たことを特徴とする導電性ペースト。
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---|---|---|---|
JP16044693A JP3463320B2 (ja) | 1993-06-03 | 1993-06-03 | 積層セラミックコンデンサ |
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ID=15715113
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- 1993-06-03 JP JP16044693A patent/JP3463320B2/ja not_active Expired - Lifetime
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