JPH06347820A - 空間光変調素子の製造方法 - Google Patents

空間光変調素子の製造方法

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JPH06347820A
JPH06347820A JP5137399A JP13739993A JPH06347820A JP H06347820 A JPH06347820 A JP H06347820A JP 5137399 A JP5137399 A JP 5137399A JP 13739993 A JP13739993 A JP 13739993A JP H06347820 A JPH06347820 A JP H06347820A
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JP
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polymer film
pixel
light
film
layer
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Pending
Application number
JP5137399A
Other languages
English (en)
Inventor
Junko Asayama
純子 朝山
Akio Takimoto
昭雄 滝本
Yukio Tanaka
幸生 田中
Koji Akiyama
浩二 秋山
Yasunori Kuratomi
靖規 藏富
Kuni Ogawa
久仁 小川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 遮光の効果を維持することができ、しかも画
素欠陥の少ない空間光変調素子を提供する。 【構成】 炭素粒子を30重量%だけ含有する光重合型
の高分子膜8を2μmの膜厚で全面に塗布する。約90
℃の基板温度で約5分間にわたって加熱し、その後、全
面露光することにより、光重合層9を形成する。再び約
90℃の基板温度で約5分間にわたって加熱する。酸素
を遮断し紫外線を透過させる透過高分子膜としてポリビ
ニルアルコール10を塗布し、約90℃の基板温度で約
5分間にわたって加熱する。再び全面露光し、溝部5の
高分子膜8を光重合させる(光重合層11)。そして、
酸素を用いたグロー放電によって全面異方性ドライエッ
チングを施すことにより、ポリビニルアルコール10と
光重合層9とを除去し、溝部5に硬質な光重合層11を
残して絶縁層12を形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、投写型ディスプレイ、
ホログラフィーテレビジョン又は光演算装置などに用い
られる空間光変調素子の製造方法に関する。
【0002】
【従来技術】大画面、高密度画素からなる高品位テレビ
が様々な方式で開発され実用化されている。中でも、従
来のブラウン管(CRT)方式に代えて液晶技術を使っ
た投写型ディスプレイの開発が盛んである。ブラウン管
方式であると、高密度画素に対して画面の輝度が低下し
暗くなる。また、ブラウン管自身、大型化が困難であ
る。一方、トランジスタ駆動方式の液晶素子による投写
型ディスプレイ装置は有力な方法ではあるが、開口率が
大きくならないこと、素子が高価であること等の問題が
ある。また、CRTを光入力手段とする液晶ライトバル
ブは従来より素子形状が簡単でかつCRTと液晶の利点
を組み合わせた装置として注目されている(特開昭63
−109422号公報)。
【0003】近年では、高感度なアモルファスシリコン
受光層と液晶とを組み合わせることにより、100イン
チ以上の大画面で動画像を映し出すことが可能となっ
た。また、液晶材料として高速応答可能な強誘電性液晶
を用いることによって、さらに高速・高解像度の液晶ラ
イトバルブを実現することが可能となった。この液晶ラ
イトバルブは、強誘電性液晶の持つメモリー性と2値化
特性を使った次世代の並列演算装置、光コンピューティ
ング装置の核としても期待されている。
【0004】ところで、液晶層と光導電層とからなる空
間光変調素子又は液晶ライトバルブにおいては、各画素
に相当する微小形状の金属反射膜に照射する読み出し光
が光導電層に到達すると、コントラストを低下させる原
因となる。このため、液晶層と光導電層とからなる空間
光変調素子又は液晶ライトバルブにおいては、遮光膜を
設けることが重要になる。
【0005】液晶層と光導電層とからなる空間光変調素
子又は液晶ライトバルブにおいて、微小電極と遮光膜と
を設ける従来例として特開昭62−40430号、62
−169120号の各公報がある。これらの素子におい
ては、遮光膜として、変調を受ける入射光が出力光に重
畳されるのを防止するための入力遮光膜と、読み出し光
が光導電層に漏れ混んでディスプレイのコントラストを
低下させるのを防止するための出力遮光膜との2種類が
必要である。これらの遮光膜が光導電層と反射層にあた
る微小電極との間に設けられる場合には、電気絶縁性の
膜が用いられる。但し、透明導電性電極上に直接設けら
れる場合には電気絶縁体である必要はない。
【0006】一方、本発明者等は、遮光膜を形成する以
下の方法を提案している(特願平3−344521号、
特願平4−125846号、特願平4−136580
号、特願平4−136581号)。すなわち、光導電層
と、液晶層と、これらの層の間の同一平面内に設けら
れ、かつ微小形状に分割された金属反射膜とにより構成
される空間光変調素子において、金属の出力遮光膜を前
記微小形状の金属反射膜とは異なる平面内に設ける。さ
らに、前記各々の分離された金属反射膜の一部と前記出
力遮光膜の一部とを有機高分子膜を介して接触させる。
そして、この有機高分子に、特定の波長域の光を吸収す
る炭素、有機色素又は無機物質を含有させる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、本発明者等
が提案した上記空間光変調素子において、画素部を形成
するには、例えば以下のような方法を採ることができ
る。すなわち、まず、光導電層の上に微小形状に分割さ
れた画素を形成し、画素間の光導電層の一部にエッチン
グを施して溝部を形成する。次いで、炭素粒子を含有し
た高分子膜を塗布し、加熱した後に画素の表面が出現す
るまでドライエッチングを施す。
【0008】しかし、このような方法を採用すると、画
素の表面上に高分子の残屑が残ってしまい、画素欠陥が
発生する虞れがある。また、溝部に抵抗の低い炭素粒子
のみが塊となって残ってしまうため、画素と出力遮光膜
とが短絡して画素欠陥を発生させる虞れがある。
【0009】本発明は、前記従来技術の課題を解決する
ため、遮光の効果を維持することができ、しかも画素欠
陥の少ない空間光変調素子を提供することを目的とす
る。
【0010】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る空間光変調素子の第1の製造方法は、
透明導電性電極を具備した2枚の透明絶縁性基板で挟ま
れた領域に、整流性を有する光導電層と、液晶層と、こ
れらの層の間の同一平面内に設けられ、かつ微小形状に
分割された画素と、この平面とは異なる平面内に設けら
れ、前記画素間に位置する出力遮光膜と、前記画素と前
記出力遮光膜との間に設けられた絶縁層とを少なくとも
備えた空間光変調素子の製造方法であって、前記光導電
層上に前記画素を形成すると共に、画素間に設けた溝部
の底部に前記出力遮光膜を形成した後、特定の波長の光
を吸収する材料を含有する光重合型の高分子膜を全面に
塗布し、第1の光重合を行った後、酸素を遮断し紫外線
を透過させる透過高分子膜を全面に塗布し、第2の光重
合を行った後、酸素を用いて全面に反応性イオンエッチ
ングを施すことにより、前記画素上の高分子膜と透過高
分子膜とを除去すると共に、前記溝部に高分子膜を残し
て絶縁層を形成することを特徴とする。
【0011】また、前記本発明方法の第1の構成におい
ては、第1の光重合に用いる露光量が画素上の高分子膜
を重合する露光量以上であり、第2の光重合に用いる露
光量が出力遮光膜上の高分子膜を重合する露光量以上で
あるのが好ましい。
【0012】また、本発明に係る空間光変調素子の第2
の製造方法は、透明導電性電極を具備した2枚の透明絶
縁性基板で挟まれた領域に、整流性を有する光導電層
と、液晶層と、これらの層の間の同一平面内に設けら
れ、かつ微小形状に分割された画素と、この平面とは異
なる平面内に設けられ、前記画素間に位置する出力遮光
膜と、前記画素と前記出力遮光膜との間に設けられた絶
縁層とを少なくとも備えた空間光変調素子の製造方法で
あって、前記光導電層上に前記画素を形成すると共に、
画素間に設けた溝部の底部に前記出力遮光膜を形成した
後、特定の波長の光を吸収する材料を含有する光重合型
の高分子膜を全面に塗布し、画素間を遮光するフォトマ
スクを用いて第1の光重合を行った後、酸素を遮断し紫
外線を透過させる透過高分子膜を前記高分子膜上に塗布
し、全面に光を照射して第2の光重合を行った後、酸素
を用いて全面に反応性イオンエッチングを施すことによ
り、前記画素上の高分子膜と透過高分子膜とを除去する
と共に、前記溝部に高分子膜を残して絶縁層を形成する
ことを特徴とする。
【0013】また、本発明に係る空間光変調素子の第3
の製造方法は、透明導電性電極を具備した2枚の透明絶
縁性基板で挟まれた領域に、整流性を有する光導電層
と、液晶層と、これらの層の間の同一平面内に設けら
れ、かつ微小形状に分割された画素と、この平面とは異
なる平面内に設けられ、前記画素間に位置する出力遮光
膜と、前記画素と前記出力遮光膜との間に設けられた絶
縁層とを少なくとも備えた空間光変調素子の製造方法で
あって、前記光導電層上に前記画素を形成すると共に、
画素間に設けた溝部の底部に前記出力遮光膜を形成し、
特定の波長の光を吸収する材料を含有する光重合型の高
分子膜を全面に塗布した後、酸素を遮断し紫外線を透過
させる透過高分子膜を前記高分子膜上に塗布し、画素を
遮光するフォトマスクを用いて第1の光重合を行った
後、前記透過高分子膜を除去し、全面に光を照射して第
2の光重合を行った後、酸素を用いて全面に反応性イオ
ンエッチングを施すことにより、前記透過高分子膜及び
前記画素上の高分子膜を除去して、前記溝部に高分子膜
を残して絶縁層を形成することを特徴とする。
【0014】
【作用】前記本発明方法の第1の構成によれば、第1の
光重合によって、高分子膜の表面は酸素の影響を受けて
軟質、すなわち、反応性イオンエッチング工程で除去さ
れやすい膜質状態となる。また、第2の光重合によっ
て、溝部内の高分子膜は酸素が介在しないために硬質層
となる。従って、反応性イオンエッチングを施すことに
より、画素上の高分子膜を除去することができると共
に、溝部内に高分子膜を硬質な膜として残すことがで
き、その結果、炭素粒子の残屑による画素と出力遮光膜
との短絡を抑えることができるので、画素欠陥のない良
好な特性を有する空間光変調素子を実現することができ
る。
【0015】また、前記本発明方法の第1の構成におい
て、第1の光重合に用いる露光量が画素上の高分子膜を
重合する露光量以上であり、第2の光重合に用いる露光
量が出力遮光膜上の高分子膜を重合する露光量以上であ
るという好ましい構成によれば、画素上及び溝部の上部
を十分に軟化させることができると共に、溝部の高分子
膜をさらに硬質な膜とすることができ、その結果、画素
上の残屑のみをを完全に除去することができるので、さ
らに良好な特性を有する空間光変調素子を実現すること
ができる。
【0016】また、前記本発明方法の第2の構成によれ
ば、画素間を遮光したフォトマスクを用いて画素上の高
分子膜に紫外線を照射することにより、画素上の高分子
膜は軟質となる。また、透過高分子膜を塗布し、加熱し
た後に、再び全面露光することにより、溝部内の高分子
膜は硬質層となる。従って、反応性イオンエッチングを
施すことにより、画素上の高分子膜を除去することがで
きると共に、溝部の高分子膜を硬質な膜として残すこと
ができ、その結果、炭素粒子の残屑による画素と出力遮
光膜との短絡を抑えることができるので、画素欠陥のな
い良好な特性を有する空間光変調素子を実現することが
できる。
【0017】また、前記本発明方法の第3の構成によれ
ば、透過高分子膜を塗布し、画素を遮光したフォトマス
クを用いて露光することにより、画素間のみに紫外線が
照射されるので、溝部内の高分子膜は光重合して硬質な
膜となる。また、透過高分子膜を除去し、全面露光する
ことにより、画素上の高分子膜は軟質となる。従って、
反応性イオンエッチングを施すことにより、画素上の高
分子膜を除去することができると共に、溝部の高分子膜
を硬質な膜として残すことができ、その結果、炭素粒子
の残屑による画素と出力遮光膜との短絡を抑えることが
できるので、画素欠陥のない良好な特性を有する空間光
変調素子を実現することができる。
【0018】
【実施例】以下、実施例を用いて本発明をさらに具体的
に説明する。 (実施例1)図1は本発明に係る空間光変調素子の製造
方法の一実施例を示す工程図である。
【0019】まず、55mm×45mm×1.1mmの
ガラス基板1の上に、スパッタ蒸着法によってITO
(インジウム−スズ酸化物)等の透明電極材料を0.0
5μm〜0.5μmの膜厚で成膜し、透明導電性電極2
を形成する(図1(a))。次いで、プラズマCVD法
によってp/i/nダイオード構造の水素化アモルファ
スシリコン(以下、a−Si;Hと略す)膜を2μm程
度の膜厚で成膜し、光導電層3を形成する(図1
(b))。ここで、p層にはボロンが400ppmだけ
ドーピングされており、n層にはリンが50ppmだけ
ドーピングされている。また、p層の膜厚は1000オ
ングストローム、i層の膜厚は1.7μm、n層の膜厚
は2000オングストロームである。
【0020】次に、光導電層3の面上に、抵抗加熱蒸着
法等によってクロム等の金属膜を2000オングストロ
ームの膜厚で成膜し、フォトリソグラフィーを用いて、
画素の大きさを20μm×20μm、ピッチを25μm
として、1000×1000画素の約2μm厚のレジス
トパターンを形成する。次いで、過塩素酸等を含むエッ
チャントによってエッチングした後、発煙硝酸によって
レジストを除去し、第1の画素4を形成する(図1
(c))。次いで、第1の画素4をエッチングマスクと
し、酸素とフッ化炭素の混合ガスをマイクロ波を用いて
励起した等方性ドライエッチング法により、隣接する第
1の画素4、4間の光導電層(a−Si;H膜)3に深
さ1.3μmの溝部5を設ける。尚、この際、第1の画
素4の下部の一部もアンダーエッチする(図1
(d))。この後、基板全面にアルミニウムを3000
オングストロームの膜厚で蒸着し、第2の画素6及び出
力遮光膜7を形成する(図1(e))。
【0021】次に、炭素粒子を30重量%だけ含有する
光重合型の高分子膜8を2μmの膜厚で全面に塗布する
(図1(f))。そして、高分子膜8を硬化させるため
に、約90℃の基板温度で約5分間にわたって加熱し、
その後、全面露光することにより、光重合層9を形成す
る(図1(g))。このように全面露光すれば、高分子
膜8の表面は酸素の影響を受けて軟質となり、後のドラ
イエッチング工程で除去されやすい膜質となる。次い
で、再び約90℃の基板温度で約5分間にわたって加熱
する。次いで、酸素を遮断し紫外線を透過させる透過高
分子膜としてポリビニルアルコール10を塗布し、約9
0℃の基板温度で約5分間にわたって加熱する(図1
(h))。次いで、再び全面露光し、溝部5の高分子膜
8を光重合させる(光重合層11)(図1(i))。こ
の図1(i)の全面露光においては、酸素が介在しない
ために光重合層11は硬質層となる。さらに硬化させる
ために、約200℃の基板温度で約10分間にわたって
加熱する。そして、酸素を用いたグロー放電によって全
面異方性ドライエッチングを施すことにより、ポリビニ
ルアルコール10と光重合層9とを除去し、溝部5に硬
質な光重合層11を残して絶縁層12を形成する(図1
(j))。尚、この全面異方性ドライエッチングによ
り、第2の画素6の上の高分子膜8の残屑を完全に取り
除くことができる。従って、炭素粒子の残屑による画素
と出力遮光膜7との短絡を抑えることができるので、画
素欠陥のない良好な特性を有する空間光変調素子を実現
することができる。
【0022】他方のガラス基板13上にも、スパッタ蒸
着法によってITO等の透明電極材料を0.05μm〜
0.5μmの膜厚で成膜し、透明導電性電極14を形成
する。次いで、両基板上にポリアミック酸をスピンコー
ト法によって塗布し、200℃の温度で約1時間にわた
って加熱することにより、イミド化を行って膜厚が約2
00オングストロームのポリイミド高分子膜を形成す
る。次いで、強誘電性液晶分子の配向が素子の厚さ方向
と平行になるように配向処理を施し、配向膜15、16
を形成する。配向処理(ラビング処理)はレーヨン樹脂
布で表面を一定方向に擦ることによって行う。次いで、
光導電層3を積層した側のガラス基板1の上に、直径
2.6μmの樹脂製ビーズを混合した熱硬化樹脂を、液
晶注入の開口部を除いて光導電層3の全体を包囲するよ
うにスクリーン印刷する。次いで、他方のガラス基板1
3の上には、イソプロピールアルコール中に分散させた
直径約1μmの樹脂製等のビーズをスプレーによって撒
き、ビーズを全体に付着させる。次いで、これら一対の
ガラス基板を張り合わせて真空袋に入れ、真空引きして
密閉した後、内部を真空状態に保ちながら約90℃の雰
囲気で約30分間加熱し、さらに約150℃の雰囲気中
で約2時間加熱し、熱硬化樹脂を硬化させて、液晶パネ
ルを作製する。そして、真空状態で強誘電性液晶を約8
0℃で加熱しながら、窒素ガスの導入による加圧と毛管
現象を利用して液晶パネルの開口部から注入し、液晶パ
ネルに強誘電性液晶を均一に充填する。尚、強誘電性液
晶分子を均一配向とするために、この素子を恒温槽中で
液晶相転移温度以上の、例えば約90℃まで加熱し、約
0.2℃/分の徐冷温度で室温に戻した後、液晶パネル
の開口部を熱硬化樹脂で密閉する。これにより、両基板
間に、1μm厚の液晶層17が形成され、図4に示す空
間光変調素子18が得られる。
【0023】尚、上記高分子膜形成工程において、工程
(g)及び工程(i)において、露光量を10mJ、露
光時間を30秒として光重合を行うと、高分子の残屑が
発生する。これに対し、工程(g)において全面露光量
を18mJ/cmとして30秒間照射し、工程(i)に
おいて全面露光量を30mJ/cmとして30秒間照射
したところ、高分子の残屑はなく、画素欠陥のない空間
光変調素子18を得ることができる。
【0024】また、光導電層3に使用する材料として
は、例えば、CdS、CdTe、CdSe、ZnS、Z
nSe、GaAs、GaN、GaP、GaAlAs、I
nP等の化合物半導体、Se、SeTe、AsSe等の
非晶質半導体、Si、Ge、Si1-x x 、Si1-x
x 、Ge1-x x (0<x<1)等の多結晶又は非晶
質半導体、また、(1)フタロシアニン顔料(以下、P
cと略す)、例えば、無金属Pc、XPc(X=Cu、
Ni、Co、TiO、Mg、Si(OH)2 など)、A
lClPcCl、TiOClPcCl、InClPcC
l、InClPc、InBrPcBrなど、(2)モノ
アゾ色素、ジスアゾ色素等のアゾ系色素、(3)ペニレ
ン酸無水化物及びペニレン酸イミドなどのペニレン系顔
料、(4)インジゴイド染料、(5)キナクリドン顔
料、(6)アントラキノン類、ピレンキノン類などの多
環キノン類、(7)シアニン色素、(8)キサンテン染
料、(9)PVK/TNFなどの電荷移動錯体、(1
0)ビリリウム塩染料とポリカーボネイト樹脂から形成
される共晶錯体、(11)アズレニウム塩化合物など有
機半導体等がある。
【0025】また、非晶質のSi、Ge、Si
1-x x 、Si1-x Gex 、Ge1-x x (以下、a−
Si、a−Ge、a−Si1-x x 、a−Si1-x Ge
x 、a−Ge1-x x のように略す)を光導電層3とし
て使用する場合には、水素又はハロゲン元素を含めても
よく、誘電率を小さくしたり抵抗率を増加させるために
酸素又は窒素を含めてもよい。また、抵抗率を制御する
ために、p型不純物であるB、Al、Gaなどの元素、
又はn型不純物であるP、As、Sbなどの元素を添加
してもよい。このように不純物を添加した非晶質材料を
積層してp/n型、p/i型、i/n型、p/i/n型
などの接合を形成し、光導電層6内に空乏層を形成して
誘電率及び暗抵抗又は動作電圧極性を制御することもで
きる。また、このような非晶質材料だけではなく、上記
の材料を2種類以上積層してヘテロ接合を形成し、光導
電層3内に空乏層を形成してもよい。
【0026】また、液晶層17の液晶材料としては、強
誘電性液晶のカイラルスメクティックC液晶を用いるの
が好ましい。液晶層17の厚みは、反射型空間光変調素
子の場合であるので、約1μmに設定するのが出力光の
コントラスト比を高くできて好ましい。
【0027】空間光変調素子18の駆動方法は、両透明
導電性電極2、14間にパルス電圧を印加することによ
ってなされる。そして、光導電層3が成膜されている透
明絶縁性基板1側からの書き込み光36によって光導電
層3に情報が書き込まれる。書き込み光36の強度に応
じて光導電層3の電気抵抗が減少し、第2の画素6と対
向する透明導電性電極14とに挟まれた液晶層17に印
加される電圧が増大する。この電圧の大きさに応じて液
晶層17の配向が変化する。この液晶層17を通過する
直線偏光の読み出し光38は、第2の画素6で反射し再
び液晶層17を通過した後、検光子39を通り偏向光4
0としてその光強度変化が読み出される。尚、図4にお
いて、37は偏光子である。
【0028】(実施例2)図2は本発明に係る空間光変
調素子の製造方法の他の実施例を示す工程図である。
【0029】図2における工程(a)〜(f)は、実施
例1の図1における工程(a)〜(f)と同一であるた
め、説明は省略する。炭素粒子を含有する光重合型の高
分子膜8を全面に塗布した後、高分子膜8を硬化させる
ために約90℃の基板温度で約5分間にわたって加熱す
る。そして、画素間を遮光するフォトマスク19を用い
て、第2の画素6に紫外線を照射し、第2の画素6の上
に光重合層20を形成する(図2(g))。このように
紫外線を照射すれば、第2の画素6の上の高分子膜8は
軟質となり、後のドライエッチング工程で除去されやす
い膜質となる。次いで、再び約90℃の基板温度で約5
分間にわたって加熱する。次いで、酸素を遮断し紫外線
を透過させる透過高分子膜としてポリビニルアルコール
21を塗布し、約90℃の温度で約5分間にわたって加
熱する(図2(h))。次いで、全面露光し、溝部5内
の高分子膜8を光重合させる(光重合層22)(図2
(i))。この図2(i)の全面露光においては、酸素
が介在しないために光重合層22は硬質層となる。次い
で、さらに硬化させるために、約200℃の基板温度で
約10分間にわたって加熱する。次いで、酸素を用いた
グロー放電によって全面等方性ドライエッチングを施す
ことにより、ポリビニルアルコール21と光重合層20
とを除去し、溝部5に光重合層22を残して絶縁層23
を形成する(図2(j))。そして、この後、実施例1
と同一の工程を経れば、図4に示す空間光変調素子18
が得られる。
【0030】(実施例3)図3は本発明に係る空間光変
調素子の製造方法のさらに他の実施例を示す工程図であ
る。
【0031】図3における工程(a)〜(f)は、実施
例1の図1における工程(a)〜(f)と同一であるた
め、説明は省略する。炭素粒子を含有する光重合型の高
分子膜8を全面に塗布した後、高分子膜8を硬化させる
ために約90℃の基板温度で約5分間にわたって加熱す
る。そして、酸素を遮断し紫外線を透過させる透過高分
子膜としてポリビニルアルコール24を塗布し、約90
℃の基板温度で約5分間にわたって加熱する(図3
(g))。次いで、画素を遮光するフォトマスク25を
用いて、溝部5に紫外線を照射し、溝部(出力遮光膜7
上)に光重合層26を形成する(図3(h))。このよ
うにして紫外線を照射すれば、溝部5の高分子膜8は硬
質な膜となる。次いで、約90℃の基板温度で約5分間
にわたって加熱し、ポリビニルアルコール24を除去す
るために水洗する。次いで、全面露光し、出力遮光膜7
の上の溝部5内の光重合層26をさらに硬化させるため
に約200℃の基板温度で約10分間にわたって加熱す
る(図3(i))。この図3(i)の全面露光により、
第2の画素6の上の高分子膜8は軟質となり(8a)、
後のドライエッチング工程で除去されやすい膜質とな
る。次いで、酸素を用いたグロー放電によって全面異方
性ドライエッチングを施すことにより、上部の光重合層
26と軟化した高分子膜8aを除去し、溝部5に光重合
層26を残して絶縁層28を形成する(図3(j))。
そして、この後、実施例1と同一の工程を経れば、図4
に示す空間光変調素子18が得られる。
【0032】次に、上記実施例1、2、3で作製した空
間光変調素子18を投写型ディスプレイとして評価し
た。図5に投写型ディスプレイ装置の模式図を示す。
【0033】空間光変調素子18に、CRTディスプレ
イ30によって光書き込みを行う。素子の画素数は縦4
80横650である。読み出し用の光源31(メタルハ
ライドランプ)をコンデンサーレンズ32、偏光ビ−ム
スプリッタ33を介してによって空間光変調素子18に
照射する。出力像はレンズ34で拡大されスクリーン3
5に映し出される。CRTディスプレイ30上の各ドッ
トが空間光変調素子18の分離された画素内に書き込ま
れると、スクリーン35上では四角形状に変換される。
【0034】空間光変調素子18の開口率は80%と大
きく明るい画像が得られ、100インチ相当の大きさに
拡大した像はスクリーン35上で1000lm以上の照
度を持つ。また、スクリーン35上での画像のコントラ
スト比は200:1、解像度は縦方向650本TVライ
イ数であることが確認された。さらに、動画像を出力し
たところ、ビデオレートの動きに対して残像はなく、鮮
明な高輝度画像が得られた。
【0035】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る空間
光変調素子の第1の製造方法よれば、第1の光重合によ
って、高分子膜の表面は酸素の影響を受けて軟質、すな
わち、反応性イオンエッチング工程で除去されやすい膜
質状態となる。また、第2の光重合によって、溝部内の
高分子膜は酸素が介在しないために硬質層となる。従っ
て、反応性イオンエッチングを施すことにより、画素上
の高分子膜を除去することができると共に、溝部内に高
分子膜を硬質な膜として残すことができ、その結果、炭
素粒子の残屑による画素と出力遮光膜との短絡を抑える
ことができるので、画素欠陥のない良好な特性を有する
空間光変調素子を実現することができる。
【0036】また、前記本発明方法の第1の構成におい
て、第1の光重合に用いる露光量が画素上の高分子膜を
重合する露光量以上であり、第2の光重合に用いる露光
量が出力遮光膜上の高分子膜を重合する露光量以上であ
るという好ましい構成によれば、画素上及び溝部の上部
を十分に軟化させることができると共に、溝部の高分子
膜をさらに硬質な膜とすることができ、その結果、画素
上の残屑のみをを完全に除去することができるので、さ
らに良好な特性を有する空間光変調素子を実現すること
ができる。
【0037】また、前記本発明方法の第2の構成によれ
ば、画素間を遮光したフォトマスクを用いて画素上の高
分子膜に紫外線を照射することにより、画素上の高分子
膜は軟質となる。また、透過高分子膜を塗布し、加熱し
た後に、再び全面露光することにより、溝部内の高分子
膜は硬質層となる。従って、反応性イオンエッチングを
施すことにより、画素上の高分子膜を除去することがで
きると共に、溝部の高分子膜を硬質な膜として残すこと
ができ、その結果、炭素粒子の残屑による画素と出力遮
光膜との短絡を抑えることができるので、画素欠陥のな
い良好な特性を有する空間光変調素子を実現することが
できる。
【0038】また、前記本発明方法の第3の構成によれ
ば、透過高分子膜を塗布し、画素を遮光したフォトマス
クを用いて露光することにより、画素間のみに紫外線が
照射されるので、溝部内の高分子膜は光重合して硬質な
膜となる。また、透過高分子膜を除去し、全面露光する
ことにより、画素上の高分子膜は軟質となる。従って、
反応性イオンエッチングを施すことにより、画素上の高
分子膜を除去することができると共に、溝部の高分子膜
を硬質な膜として残すことができ、その結果、炭素粒子
の残屑による画素と出力遮光膜との短絡を抑えることが
できるので、画素欠陥のない良好な特性を有する空間光
変調素子を実現することができる。
【0039】
【図面の簡単な説明】
【0040】
【図1】本発明に係る空間光変調素子の製造方法の一実
施例を示す工程図である。
【0041】
【図2】本発明に係る空間光変調素子の製造方法の他の
実施例を示す工程図である。
【0042】
【図3】本発明に係る空間光変調素子の製造方法のさら
に他の実施例を示す工程図である。
【0043】
【図4】本発明に係る空間光変調素子の製造方法によっ
て得られた空間光変調素子を示す断面図である。
【0044】
【図5】本発明の実施例で得られた空間光変調素子を用
いて作製した投写型ディスプレイ装置の模式図である。
【0045】
【符号の説明】
1、13 ガラス基板 2、14 透明導電性電極 3 光導電層 4 第1の画素 5 溝部 6 第2の画素 7 出力遮光膜 8 高分子膜 9、11、20、22、26 光重合層 10、21、24 ポリビニルアルコール(透過高分子
膜) 12、23、28 絶縁層 15、16 配向膜 17 液晶層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 秋山 浩二 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 藏富 靖規 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 小川 久仁 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 透明導電性電極を具備した2枚の透明絶
    縁性基板で挟まれた領域に、整流性を有する光導電層
    と、液晶層と、これらの層の間の同一平面内に設けら
    れ、かつ微小形状に分割された画素と、この平面とは異
    なる平面内に設けられ、前記画素間に位置する出力遮光
    膜と、前記画素と前記出力遮光膜との間に設けられた絶
    縁層とを少なくとも備えた空間光変調素子の製造方法で
    あって、前記光導電層上に前記画素を形成すると共に、
    画素間に設けた溝部の底部に前記出力遮光膜を形成した
    後、特定の波長の光を吸収する材料を含有する光重合型
    の高分子膜を全面に塗布し、第1の光重合を行った後、
    酸素を遮断し紫外線を透過させる透過高分子膜を全面に
    塗布し、第2の光重合を行った後、酸素を用いて全面に
    反応性イオンエッチングを施すことにより、前記画素上
    の高分子膜と透過高分子膜とを除去すると共に、前記溝
    部に高分子膜を残して絶縁層を形成することを特徴とす
    る空間光変調素子の製造方法。
  2. 【請求項2】 第1の光重合に用いる露光量が画素上の
    高分子膜を重合する露光量以上であり、第2の光重合に
    用いる露光量が出力遮光膜上の高分子膜を重合する露光
    量以上である請求項1に記載の空間変調素子の製造方
    法。
  3. 【請求項3】 透明導電性電極を具備した2枚の透明絶
    縁性基板で挟まれた領域に、整流性を有する光導電層
    と、液晶層と、これらの層の間の同一平面内に設けら
    れ、かつ微小形状に分割された画素と、この平面とは異
    なる平面内に設けられ、前記画素間に位置する出力遮光
    膜と、前記画素と前記出力遮光膜との間に設けられた絶
    縁層とを少なくとも備えた空間光変調素子の製造方法で
    あって、前記光導電層上に前記画素を形成すると共に、
    画素間に設けた溝部の底部に前記出力遮光膜を形成した
    後、特定の波長の光を吸収する材料を含有する光重合型
    の高分子膜を全面に塗布し、画素間を遮光するフォトマ
    スクを用いて第1の光重合を行った後、酸素を遮断し紫
    外線を透過させる透過高分子膜を前記高分子膜上に塗布
    し、全面に光を照射して第2の光重合を行った後、酸素
    を用いて全面に反応性イオンエッチングを施すことによ
    り、前記画素上の高分子膜と透過高分子膜とを除去する
    と共に、前記溝部に高分子膜を残して絶縁層を形成する
    ことを特徴とする空間光変調素子の製造方法。
  4. 【請求項4】 透明導電性電極を具備した2枚の透明絶
    縁性基板で挟まれた領域に、整流性を有する光導電層
    と、液晶層と、これらの層の間の同一平面内に設けら
    れ、かつ微小形状に分割された画素と、この平面とは異
    なる平面内に設けられ、前記画素間に位置する出力遮光
    膜と、前記画素と前記出力遮光膜との間に設けられた絶
    縁層とを少なくとも備えた空間光変調素子の製造方法で
    あって、前記光導電層上に前記画素を形成すると共に、
    画素間に設けた溝部の底部に前記出力遮光膜を形成し、
    特定の波長の光を吸収する材料を含有する光重合型の高
    分子膜を全面に塗布した後、酸素を遮断し紫外線を透過
    させる透過高分子膜を前記高分子膜上に塗布し、画素を
    遮光するフォトマスクを用いて第1の光重合を行った
    後、前記透過高分子膜を除去し、全面に光を照射して第
    2の光重合を行った後、酸素を用いて全面に反応性イオ
    ンエッチングを施すことにより、前記透過高分子膜及び
    前記画素上の高分子膜を除去して、前記溝部に高分子膜
    を残して絶縁層を形成することを特徴とする空間光変調
    素子の製造方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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EP0801321A2 (en) * 1996-04-11 1997-10-15 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Spatial light modulator and projector

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0801321A2 (en) * 1996-04-11 1997-10-15 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Spatial light modulator and projector
EP0801321A3 (en) * 1996-04-11 1998-07-01 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Spatial light modulator and projector

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