JPH0633090U - Ｌｓｉテスタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 測定信号の品位の向上を図ったＬＳＩテスタ
に関する。 【構成】 コンタクトピンが設けられているコンタクト
リングに対して回転可能に取り付けられ、周面には上端
が開口したＬ字形の溝が形成され、この溝はＬ字形の横
線部が傾斜溝になっている回転リングと、パフォ−マン
スボ−ド上に搭載され、テストヘッドに向かって伸びた
ア−ムの先端に傾斜溝に係合する係合部を有した固定リ
ングと、を設け係合部をＬ字形の溝へ挿入し、回転リン
グを回転することにより、傾斜溝に沿って係合部を押し
下げ、固定リングによってパフォ−マンスボ−ドをコン
タクトピンに押圧して固定するようにしたＬＳＩテス
タ。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、高周波測定用タイプのＬＳＩテスタに関し、更に詳しくは、テスト ヘッドを被検査対象デバイス（以下、ＤＵＴと省略する）に極力近接して設ける ことによって測定信号の品位の向上を図ったＬＳＩテスタに関する。

【０００２】

【従来の技術】

図５は、従来のＬＳＩテスタのテストヘッド部の分解構成斜視図である。図中 、１０はテストヘッド、２０はテストヘッド側１０とハンドラ側（図６参照）を 電気的に接続するパフォマンスボ−ドで、ロ−ラ貫通穴２１がテストヘッド１０ 側に設けられている作用腕１１に挿入されて、コンタクトリング１２に搭載され る。 コンタクトリング１２は、複数のコンタクトピン１２１が植設されていて 、パフォ−マンスボ−ド２０のパッドと電気的に接続される。尚、図においては 、一部のコンタクトピン１２１のみを示している。 ３０はパフォマンスボ−ド２０をテストヘッド１０に押圧する円形状の押付け リングで、外周に沿って等間隔に４個のテ−パブロック３１が設けられている。

【０００３】 押付けリング３０は、押えリング３０１と回転リング３０２とからなっていて 、回転棒３２を両手でθ方向に回転すると、回転リング３０２のみがそれにとも なって回転し、作用腕１１の先端に設けられている回転ロ−ラ１１１がテ−パブ ロック３１上を登っていく。 このため、押付けリング３０は、矢印Ｄ方向に変位しパフォ−マンスボ−ド２ ０を押し下げ、パフォ−マンスボ−ド２０のパッドをテストヘッド１０のコンタ クトピン１２１に強く押し付ける。 これによって、パフォマンスボ−ド２０は、テストヘッド１０間で電気的な接 続が確実になされる。

【０００４】 図６は、図５に示したＬＳＩテスタをハンドラに接続した場合の要部側面図で ある。図中、図５と同一作用をするものは同一符号を付けて説明する。以下図面 においては同様とする。４０はＤＵＴを供給するハンドラで、テストヘッド１０ 側の接続用ソケット２２に接続されるテストヘッド接続用ソケット４１が設けら れている。ハンドラ４０は、このテストヘッド接続用ソケット４１によってテス トヘッド１０と接続されるが、作用腕１１が押付けリングよりさらに高さｈ突出 しているために、中継ソケット４２等を介して接続用ソケット２２に接続されて いる。

【０００５】

【考案が解決しようとする課題】

ハンドラがぶつからないように中継ソケットを設けなければないために、テスト ヘッドとハンドラ間の信号経路が長くなってしまい、測定信号の品位が低下して しまうという欠点を有する。

【０００６】 本考案は、このような点に鑑みてなされたもので、パフォ−マンスボ−ドとハ ンドラの接続距離を短くして信号品位の維持を図り、ＬＳＩを高精度に測定する ことができるＬＳＩテスタを提供することを目的としている。

【０００７】

【課題を解決するための手段】

測定する被検査対象デバイスにあわせて交換されるパフォ−マンスボ−ドをテ ストヘッドのコンタクトピンに押し付けて固定し、パフォ−マンスボ−ド上に搭 載される被検査対象デバイスを検査するＬＳＩテスタであって、 前記コンタクトピンが設けられているコンタクトリングに対して回転可能に取 り付けられ、周面には上端が開口したＬ字形の溝が形成され、この溝はＬ字形の 横線部が傾斜溝になっている回転リングと、 前記被検査対象デバイスと重ならない位置で、前記パフォ−マンスボ−ド上に 搭載され、前記テストヘッドに向かって伸びたア−ムの先端に前記傾斜溝に係合 する係合部を有した固定リングと、 を設け、前記係合部を前記Ｌ字形の溝へ挿入し、前記回転リングを回転するこ とにより、前記傾斜溝に沿って前記係合部を押し下げ、前記固定リングによって 前記パフォ−マンスボ−ドを前記コンタクトピンに押圧して固定することを特徴 としている。

【０００８】

【作用】

本考案の各構成要素は、次のような作用をする。 回転リングは、テストヘッドのコンタクトリングに回転可能に取り付けられて いる。 固定リングは、パフォ−マンスボ−ド上に搭載されて設けられ、回転リングの 回転によってパフォ−マンスボ−ドをコンタクトピンに押圧する。

【０００９】

【実施例】

以下図面を用いて、本考案の一実施例を詳細に説明する。図１は、本考案に係 るＬＳＩテスタのテストヘッド部の一実施例を示す分解構成斜視図である。図中 、５０は回転リングで、長穴５１がコンタクトリング１２の外周に設けられた４ 個のガイドシャフト１２２に嵌め込まれて取り付けられている。 回転リング５０は、回転リング５０と一体になっているハンドル５２が固定位 置Ｆまで移動されると長穴５１がガイドシャフト１２２に沿って移動し、コンタ クトリング１２の外周に沿って回転する。

【００１０】 回転リング５０が取り付けられたコンタクトリング１２には、パフォ−マンス ボ−ド２０が搭載され、更にパフォ−マンスボ−ド固定リング６０が搭載される 。 パフォ−マンスボ−ド２０は、配線パッド（図省略）とコンタクトピン１２ １の位置合わせが簡単にできるように、コンタクトリング１２の位置決め用ピン １２３に対して嵌め込まれる位置決めよう穴２２が設けられている。 パフォ−マンスボ−ド固定リング６０は、リング６１の４か所にア−ム６２が 設けられていて、その先端には回転ロ−ラ６２１が取り付けられている。

【００１１】 ５３は回転リング５０の周面の上端側に開口部５３１を有したＬ字形の溝（以 下、Ｌ字溝と省略する）で、ア−ム６２の回転ロ−ラ６２１がパフォマンスボ− ド２０のロ−ラ貫通穴２１を介して開口部５３１から挿入されて取り付けられる 。 Ｌ字溝５３は、ハンドルが解放位置Ｅから固定位置Ｆまで移動されると回転 リング５０が回転して、円周方向に設けられている傾斜溝５３２によって回転ロ −ラ６２１を矢印Ｄ方向に押し下げる。 このため、パフォ−マンスボ−ド固定リング６０は、下方に変位し、パフォ− マンスボ−ド２０をコンタクトピン１２１に強く押し付ける。

【００１２】 図２は、図１のＡ−Ａ´断面図であり、図３は図２をａ視の方向から見た要部 構成図、図４は図２をｂ視の方向から見た要部構成図である。回転リング５０は 、長穴５１の下方に設けられた開口部５１１からガイドシャフト１２２に挿入さ れ、コンタクトリング１２に取り付けられる。回転リング５０は、長穴の距離ｒ 1 が回転範囲になっていて、ハンドルを解放位置Ｅと固定位置Ｆ間を移動するこ とによって回転される。 Ｌ字溝５３は、開口部５３１側から下方に向かって距離ｒ2 の傾斜溝５３２が 設けられていて、先端側には距離ｒ3 の水平部５３３が設けられている。

【００１３】 開口部５３１から挿入された回転ロ−ラ６２１は、回転リング５０が回転され ると傾斜溝５３２に沿って、距離ｄだけ下方に引き下げられ、水平部５３３で固 定される。この時、パフォ−マンスボ−ド２０とパフォ−マンスボ−ド固定リン グ６０は、コンタクトピン１２１のばね力によって矢印Ｕ方向に押し上げられて いるために、回転ロ−ラ６２１は、この位置で安定に固定される。 尚、図４の破線で示されたア−ム６２及び回転ロ−ラ６２１は、ハンドル５２ が固定位置Ｆに移動した場合の説明で、図においては横方向に移動したように示 してあるが、実際は、取り付け位置Ｂに止どまっていて下方向に距離ｄだけ変位 するのみである。

【００１４】 次に、上記構成の組み立て方法と動作について説明する。先ず、回転リング５ ０をコンタクトリング１２の外周に設けられた４個のガイドシャフト１７１に嵌 め込んで取り付ける。次に、パフォ−マンスボ−ド２０の位置決めよう穴２２を コンタクトリング１２の位置決め用ピン１２３に挿入する。 パフォ−マンスボ−ド２０は、位置決めよう穴２２と位置決め用ピン１２３が 合わされることによって、パッドとコンタクトピン１２１が正確に位置合わせさ れる。 コンタクトリング１２にパフォ−マンスボ−ド２０が搭載された後、パフォ− マンスボ−ド固定リング６０は、パフォ−マンスボ−ド２０のロ−ラ貫通穴２１ を介して長穴５３の開口部５３１から挿入され、回転リング５０に取り付けられ る。 この時、回転リング５０のハンドル５２の位置は、解放位置Ｅにある。

【００１５】 両手で、それぞれのハンドル５２を持ち、固定位置Ｆまでハンドルを移動する 。ハンドル５２の移動によって、回転リング５０は、コンタクトリング１２に沿 って回転し、Ｌ字溝５３と係止している回転ロ−ラ６２１が傾斜溝５３２に沿っ て距離ｄだけ下方に変位する。 この回転ロ−ラ６２１の変位にともない、パフォ−マンス固定リング６０は、 同じ距離ｄだけ変位する。このため、パフォ−マンスボ−ド２０は、コンタクト リング１２のコンタクトピン１２１に強く押し付けられることになる。この時、 回転ロ−ラ５０は、パフォ−マンスボ−ド２０がコンタクトピン１２１のばね力 によって常に持ち上げられた状態にあるため水平部５３３で安定に固定される。

【００１６】 次に、パフォマンスボ−ドの取り外しについて説明する。 ハンドル５２が固定位置Ｆから解放位置Ｅまで移動される。ハンドル５２の移 動にともなって、回転リング５０は、コンタクトリング１２に沿って回転し、回 転ロ−ラ６２１が傾斜溝５３２に沿って上方に距離ｄだけ変位する。 ハンドラ５２が解放位置Ｅまでくると、回転ロ−ラ６２１は、開口部５３１か ら外すことができる状態になり、パフォ−マンス固定リング６０は、上方に引き 上げられて回転リング５０から取り外される。 パフォ−マンスボ−ド２０は、パフォ−マンス固定リング６０が外された後、 位置決め用ピン１２２から取り外される。 尚、回転リング５０は、パフォ−マンスボ−ド２０の交換の都度、コンタクト リング１２から取り外す必要はなくメンテナンスの時だけ取り外せばよい。

【００１７】

【考案の効果】

以上詳細に説明したように、本考案のＬＳＩテスタは、パフォマンスボ−ドの 接続用ソケットとハンドラのテストヘッド接続用ソケットに直接接続するために 、パフォ−マンスボ−ドを下側からを引き込むようにしてコンタクトピンに押圧 するようにしたものである。このため、テストヘッドとＤＵＴ間の信号経路が短 くでき、測定信号の品位を落とすことなく高精度でＬＳＩを測定することができ る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案に係るＬＳＩテスタのテストヘッド部の
一実施例を示す分解構成斜視図である

【図２】図１のＡ−Ａ´断面図である。

【図３】図２をａ視の方向から見た要部構成図である。

【図４】図２をｂ視の方向から見た要部構成図である。

【図５】従来のＬＳＩテスタのテストヘッド部の分解構
成斜視図である。

【図６】図５に示したＬＳＩテスタをハンドラに接続し
た場合の要部側面図である。

【符号の説明】

１０ テストヘッド ２０ パフォ−マンスボ−ド ５０ 回転リング ５３ Ｌ字溝 ５３１ 傾斜溝 ６０ パフォ−マンスボ−ド固定リング ６２ ア−ム ６２１ 回転ロ−ラ

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 測定する被検査対象デバイスにあわせて
   交換されるパフォ−マンスボ−ドをテストヘッドのコン
   タクトピンに押し付けて固定し、パフォ−マンスボ−ド
   上に搭載される被検査対象デバイスを検査するＬＳＩテ
   スタにおいて、 前記コンタクトピンが設けられている
   コンタクトリングに対して回転可能に取り付けられ、周
   面には上端が開口したＬ字形の溝が形成され、この溝は
   Ｌ字形の横線部が傾斜溝になっている回転リングと、 前記被検査対象デバイスと重ならない位置で、前記パフ
   ォ−マンスボ−ド上に搭載され、前記テストヘッドに向
   かって伸びたア−ムの先端に前記傾斜溝に係合する係合
   部を有した固定リングと、 を設け、前記係合部を前記Ｌ字形の溝へ挿入し、前記回
   転リングを回転することにより、前記傾斜溝に沿って前
   記係合部を押し下げ、前記固定リングによって前記パフ
   ォ−マンスボ−ドを前記コンタクトピンに押圧して固定
   することを特徴としたＬＳＩテスタ。