JPH06311034A - Ａｄ変換器の試験装置 - Google Patents

Ａｄ変換器の試験装置

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JPH06311034A
JPH06311034A JP10118093A JP10118093A JPH06311034A JP H06311034 A JPH06311034 A JP H06311034A JP 10118093 A JP10118093 A JP 10118093A JP 10118093 A JP10118093 A JP 10118093A JP H06311034 A JPH06311034 A JP H06311034A
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JP
Japan
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converter
analog signal
signal
under test
test equipment
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JP10118093A
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English (en)
Inventor
Etsuo Ono
悦男 小野
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Nippon Precision Circuits Inc
Original Assignee
Nippon Precision Circuits Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 基準となる信号と被試験ＡＤ変換器を通して
得られる信号との比較処理等を簡単化することが可能な
ＡＤ変換器の試験装置を提供することである。 【構成】 被試験ＡＤ変換器１２に供給する第一のアナ
ログ信号１６を発生する波形発生手段１１と、前記被試
験ＡＤ変換器１２によりデジタル化された信号を第二の
アナログ信号１７へ変換する基準ＤＡ変換回路１３と、
前記第一のアナログ信号１６と、前記第二のアナログ信
号１７とを比較する比較回路１４とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＡＤ変換器の試験装置
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図２は、従来のＡＤ変換器の試験装置を
示したブロック図である。ここで、２１は基準ＤＡ変換
回路（たとえば２０ビット構成）、２２は被試験ＡＤ変
換器（たとえば１６ビット構成）である。すなわち、被
試験ＡＤ変換器２２の変換誤差を求めるための基準とな
るデジタル信号２３を基準ＤＡ変換回路２１に入力し、
ＤＡ変換されたアナログ信号２４を被試験ＡＤ変換器２
２に入力し、ＡＤ変換されたデジタル信号２５と、基準
となるデジタル信号２３との比較等を行なうことによ
り、被試験ＡＤ変換器２２の試験を行なっていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】したがって従来のＡＤ
変換器の試験装置は、デジタル信号による比較処理を行
なうため処理が煩雑になるという問題点があった。
【０００４】本発明の目的は、基準となる信号と被試験
ＡＤ変換器を通して得られる信号との比較処理等を簡単
化することが可能なＡＤ変換器の試験装置を提供するこ
とである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明におけるＡＤ変換
器の試験装置は、被試験ＡＤ変換器に供給する第一のア
ナログ信号を発生する波形発生手段と、前記被試験ＡＤ
変換器によりデジタル化された信号を第二のアナログ信
号へ変換する基準ＤＡ変換回路と、前記第一のアナログ
信号と、前記第二のアナログ信号とを比較する比較回路
とを有することを特徴とするものである。
【０００６】
【実施例】図１は、本発明の実施例のＡＤ変換器の試験
装置を示したブロック図である。ここで、１１は第一の
アナログ信号１６を発生する波形発生手段、１２は第一
のアナログ信号１６をデジタル信号に変換する被試験Ａ
Ｄ変換器（たとえば１６ビット構成）、１３は被試験Ａ
Ｄ変換器１２の出力デジタル信号を第二のアナログ信号
１７に変換するための基準ＤＡ変換回路（たとえば２０
ビット構成）、１４は第一のアナログ信号１６と第二の
アナログ信号１７とを比較する比較回路、１５は比較回
路１４の出力を取り込むウェーブメモリである。
【０００７】次に、本実施例の動作を説明する。
【０００８】波形発生器１１では、三角波や正弦波等の
第一のアナログ信号１６を発生する。この第一のアナロ
グ信号１６は、被試験ＡＤ変換器１２の変換誤差を求め
るための基準信号である。この第一のアナログ信号１６
を被試験ＡＤ変換器１２でデジタル信号に変換する。こ
のデジタル信号を高精度の基準ＤＡ変換器１３で第二の
アナログ信号１７に変換する。この第二のアナログ信号
１７は、被試験ＡＤ変換器１２の変換誤差成分を含んで
いる。このようにして得られた第二のアナログ信号１７
と第一のアナログ信号１６とを、差動アンプからなる比
較回路１４で比較し、被試験ＡＤ変換器１２の変換誤差
成分のみを抽出する。すなわち、アナログ信号同士の比
較を行なうわけである。そして、比較回路１４の出力信
号をウェーブメモリ１５に取り込み、デジタル演算を用
いて被試験ＡＤ変換器１２の変換誤差を求める。
【０００９】尚、上記実施例では、比較回路から出力さ
れる変換誤差成分をウェーブメモリに取り込んだが、こ
れに限るものではなく、この変換誤差成分をオシロスコ
ープ等を用いて観測することも可能である。
【００１０】
【発明の効果】本発明のＡＤ変換器の試験装置は、アナ
ログ信号同士を比較するため、基準となる信号と被試験
変換器を通して得られる信号との比較処理等を簡単化す
ることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施例を示したブロック図である。
【図２】従来例を示したブロック図である。
【符号の説明】
１１………波形発生手段 １２………被試験ＡＤ変換器 １３………基準ＤＡ変換回路 １４………比較回路 １６………第一のアナログ信号 １７………第二のアナログ信号

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 被試験ＡＤ変換器に供給する第一のアナ
    ログ信号を発生する波形発生手段と、 上記被試験ＡＤ変換器によりデジタル化された信号を第
    二のアナログ信号へ変換する基準ＤＡ変換回路と、 上記第一のアナログ信号と上記第二のアナログ信号とを
    比較する比較回路とを有するＡＤ変換器の試験装置。
JP10118093A 1993-04-27 1993-04-27 Ａｄ変換器の試験装置 Withdrawn JPH06311034A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100340057B1 (ko) * 1998-12-24 2002-07-18 박종섭 아날로그-디지털변환기의시험방법

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100340057B1 (ko) * 1998-12-24 2002-07-18 박종섭 아날로그-디지털변환기의시험방법

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