JPH05209926A - リニア増幅集積回路の試験装置 - Google Patents
リニア増幅集積回路の試験装置Info
- Publication number
- JPH05209926A JPH05209926A JP4014939A JP1493992A JPH05209926A JP H05209926 A JPH05209926 A JP H05209926A JP 4014939 A JP4014939 A JP 4014939A JP 1493992 A JP1493992 A JP 1493992A JP H05209926 A JPH05209926 A JP H05209926A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- test
- linear amplification
- integrated circuit
- frequency
- Prior art date
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- Pending
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】利得の周波数特性試験時間を短縮する。
【構成】正弦波複合信号発生器１を被試験リニア増幅回
路２の入力端子Ｔｉに接続し、周波数の異なる複数の正
弦波を重畳した複合信号をテスト信号ｓｔ１として供給
し、出力端子Ｔ０からこれに対応して出力する検出信号
ＳＯ１をデジタイザ３に入力して数値データＳ３に変換
して演算・表示部６に供給する。この演算部では離散フ
ーリエ変換をして、重畳した複数の正弦波の各々の周波
数成分を測定値を表示する。
路２の入力端子Ｔｉに接続し、周波数の異なる複数の正
弦波を重畳した複合信号をテスト信号ｓｔ１として供給
し、出力端子Ｔ０からこれに対応して出力する検出信号
ＳＯ１をデジタイザ３に入力して数値データＳ３に変換
して演算・表示部６に供給する。この演算部では離散フ
ーリエ変換をして、重畳した複数の正弦波の各々の周波
数成分を測定値を表示する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はリニア増幅集積回路の試
験装置に関する。
験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図２（ａ），（ｂ）は従来のリニア増幅
集積回路の試験装置の一例のブロック図および入出力信
号波形図である。一般に、リニア増幅集積回路の利得の
周波数特性を試験する場合に試験装置は、被試験リニア
増幅回路２の入力端子Ｔｉにテスト信号ｓｔ５を供給す
るために周波数が可変できる単一周波数ｆ１の正弦波記
号発生器５と、被試験リニア増幅回路２の出力端子Ｔ０
の出力する検出信号Ｓ０５の電圧を測定するＡＣ電圧計
６で構成される。
集積回路の試験装置の一例のブロック図および入出力信
号波形図である。一般に、リニア増幅集積回路の利得の
周波数特性を試験する場合に試験装置は、被試験リニア
増幅回路２の入力端子Ｔｉにテスト信号ｓｔ５を供給す
るために周波数が可変できる単一周波数ｆ１の正弦波記
号発生器５と、被試験リニア増幅回路２の出力端子Ｔ０
の出力する検出信号Ｓ０５の電圧を測定するＡＣ電圧計
６で構成される。
【０００３】試験は図２（ａ）に示すテスト信号ｓｔ５
として第１の周波数ｆ１の正弦波を設定し、検出信号Ｓ
Ｏ５をＡＣ電圧計６を用いて測定値ａ１を得る。次に周
波数をｆ２に変更して同様の測定を繰り返し行ない、さ
らにその第ｎの周波数ｆｎまでのｎ点に於ける測定まで
行う。ここで周波数一点あたりの試験時間は約数十ミリ
秒以上である。
として第１の周波数ｆ１の正弦波を設定し、検出信号Ｓ
Ｏ５をＡＣ電圧計６を用いて測定値ａ１を得る。次に周
波数をｆ２に変更して同様の測定を繰り返し行ない、さ
らにその第ｎの周波数ｆｎまでのｎ点に於ける測定まで
行う。ここで周波数一点あたりの試験時間は約数十ミリ
秒以上である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】この従来のリニア増幅
集積回路の試験装置は、利得の周波数特性の試験におい
て単一周波数の設定及び信号入力と、被試験リニア増幅
回路からの出力信号の測定という手順を繰り返し行なう
ためＡＣ電圧計による測定を実行する回数が多くので、
試験に要する時間を測定する回数即ち測定点の数に比例
して増加し、試験時間が長いという問題があった。
集積回路の試験装置は、利得の周波数特性の試験におい
て単一周波数の設定及び信号入力と、被試験リニア増幅
回路からの出力信号の測定という手順を繰り返し行なう
ためＡＣ電圧計による測定を実行する回数が多くので、
試験に要する時間を測定する回数即ち測定点の数に比例
して増加し、試験時間が長いという問題があった。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明のリニア増幅集積
回路の試験装置は、複数の正弦波を重畳した複合記号を
発生し被試験リニア増幅回路にテスト信号として供給す
る正弦波複合記号発生器と、前記被試験リニア増幅回路
からの出力する検出信号を入力して数値データに変換す
るデジタイザと、前記数値データを入力して前記複数の
正弦波に対応する各周波数成分の値を演算する演算部を
含んで構成される。
回路の試験装置は、複数の正弦波を重畳した複合記号を
発生し被試験リニア増幅回路にテスト信号として供給す
る正弦波複合記号発生器と、前記被試験リニア増幅回路
からの出力する検出信号を入力して数値データに変換す
るデジタイザと、前記数値データを入力して前記複数の
正弦波に対応する各周波数成分の値を演算する演算部を
含んで構成される。
【０００６】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。図１（ａ），（ｂ）は本発明の一実施例のブロック
図および各信号の波形図である。本実施例の試験装置
は、正弦波の複数個ｆ１，ｆ２，ｆ３…，ｆｎを重畳し
た複合信号を発生して被試験リニア増幅回路２の入力端
Ｔｉにテスト信号ｓｔ１として供給する正弦波複合信号
発生１と、被試験リニア増幅回路２の出力端子Ｔ０の出
力する検出信号ＳＯ１を入力して変換データＳ３を出力
するデジタイザ３と、変換データＳ３を入力して複合信
号発生器１の複合信号に含まれる各周波数成分に分解演
算する演算・表示部４とを有している。
る。図１（ａ），（ｂ）は本発明の一実施例のブロック
図および各信号の波形図である。本実施例の試験装置
は、正弦波の複数個ｆ１，ｆ２，ｆ３…，ｆｎを重畳し
た複合信号を発生して被試験リニア増幅回路２の入力端
Ｔｉにテスト信号ｓｔ１として供給する正弦波複合信号
発生１と、被試験リニア増幅回路２の出力端子Ｔ０の出
力する検出信号ＳＯ１を入力して変換データＳ３を出力
するデジタイザ３と、変換データＳ３を入力して複合信
号発生器１の複合信号に含まれる各周波数成分に分解演
算する演算・表示部４とを有している。
【０００７】図１（ｂ）に示すように、被試験リニア増
幅回路２の入出力の振幅特性が直線的な領域において
は、入力するテスト信号ｓｔ１に対応した検出信号ＳＯ
１の出力が得られる。この検出信号ＳＯ１をデジタイザ
３に入力して数値データＳ３に変換し、離散フーリエ変
換等の演算処理を行って、重畳したｎ個の正弦波ｆ１〜
ｆｎに対応する各周波数成分の測定値を得て表示する。
幅回路２の入出力の振幅特性が直線的な領域において
は、入力するテスト信号ｓｔ１に対応した検出信号ＳＯ
１の出力が得られる。この検出信号ＳＯ１をデジタイザ
３に入力して数値データＳ３に変換し、離散フーリエ変
換等の演算処理を行って、重畳したｎ個の正弦波ｆ１〜
ｆｎに対応する各周波数成分の測定値を得て表示する。
【０００８】本実施例によれば、利得の周波数特性の試
験において測定点の個数ｎによらず測定回数は１回のみ
であり、演算に要する時間も通常数十ミリ秒程度である
ため、試験時間の短絡に効果がある。
験において測定点の個数ｎによらず測定回数は１回のみ
であり、演算に要する時間も通常数十ミリ秒程度である
ため、試験時間の短絡に効果がある。
【０００９】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、複
合信号をテスト信号に用いるので、１回の測定で済むた
め、入出力の振幅特性が直線的な領域におけるリニア増
幅回路の周波数特性の試験時間を大幅に短縮することが
できる。
合信号をテスト信号に用いるので、１回の測定で済むた
め、入出力の振幅特性が直線的な領域におけるリニア増
幅回路の周波数特性の試験時間を大幅に短縮することが
できる。
【図１】（ａ），（ｂ）はそれぞれ本発明の一実施例の
ブロック図および信号波形図である。
ブロック図および信号波形図である。
【図２】（ａ），（ｂ）はそれぞれ、従来のリニア増幅
集積回路の試験装置の一例のブロック図および信号波形
図である。
集積回路の試験装置の一例のブロック図および信号波形
図である。
１ 正弦波複合信号発生器 ２ 被試験リニア増幅回路 ３ デジタイザ ４ 演算・表示部 Ｔｉ 入力端子 Ｔ０ 出力端子 ｓｔ１ テスト信号 ＳＯ１ 検出信号
Claims (1)
- 【請求項１】 複数の正弦波を重畳した複合記号を発生
し被試験リニア増幅回路にテスト信号として供給する正
弦波複合記号発生器と、前記被試験リニア増幅回路から
の出力する検出信号を入力して数値データに変換するデ
ジタイザと、前記数値データを入力して前記複数の正弦
波に対応する各周波数成分の値を演算する演算部を含む
ことを特徴とするリニア増幅集積回路の試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4014939A JPH05209926A (ja) | 1992-01-30 | 1992-01-30 | リニア増幅集積回路の試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4014939A JPH05209926A (ja) | 1992-01-30 | 1992-01-30 | リニア増幅集積回路の試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05209926A true JPH05209926A (ja) | 1993-08-20 |
Family
ID=11874933
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4014939A Pending JPH05209926A (ja) | 1992-01-30 | 1992-01-30 | リニア増幅集積回路の試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05209926A (ja) |
-
1992
- 1992-01-30 JP JP4014939A patent/JPH05209926A/ja active Pending
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19981201 |