JP3123677B2 - 動特性測定装置 - Google Patents
動特性測定装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は動特性測定装置に関し、
特にデイジタル／アナログ変換回路の動作特性を測定す
るものに適用して好適なものである。
特にデイジタル／アナログ変換回路の動作特性を測定す
るものに適用して好適なものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、デイジタル／アナログ変換回路単
体の測定事項としては最高動作特性、セトリング測定、
グリツチ測定等があるがこれら動特性（すなわち出力ア
ナログ信号周波数が高周波であるときの特性）の測定を
出荷時に測定する方法は未だ確立されていないため、通
常、静特性（すなわち出力アナログ信号周波数が低周波
であるときの特性）のみを測定するようになされてい
る。
体の測定事項としては最高動作特性、セトリング測定、
グリツチ測定等があるがこれら動特性（すなわち出力ア
ナログ信号周波数が高周波であるときの特性）の測定を
出荷時に測定する方法は未だ確立されていないため、通
常、静特性（すなわち出力アナログ信号周波数が低周波
であるときの特性）のみを測定するようになされてい
る。
【０００３】このため量産出荷測定としては、１〔ｋH
z〕程度の信号周波数を有する入力信号をデイジタル／
アナログ変換回路に入力し、直流測定や出力波形の直線
性の測定のみがなされている。
z〕程度の信号周波数を有する入力信号をデイジタル／
アナログ変換回路に入力し、直流測定や出力波形の直線
性の測定のみがなされている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところが静特性測定で
は不良箇所が発見されない場合でも、デイジタル／アナ
ログ変換回路は例えば４０〔ＭHz〕の信号周波数のデイ
ジタル信号をアナログ信号に順次変換しなければならな
いため、実際に使用すると正常に動作しないことがあつ
た。
は不良箇所が発見されない場合でも、デイジタル／アナ
ログ変換回路は例えば４０〔ＭHz〕の信号周波数のデイ
ジタル信号をアナログ信号に順次変換しなければならな
いため、実際に使用すると正常に動作しないことがあつ
た。
【０００５】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、量産出荷測定時に動特性を簡易に測定することがで
きる動特性測定装置を提案しようとするものである。
で、量産出荷測定時に動特性を簡易に測定することがで
きる動特性測定装置を提案しようとするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、交流成分を含む第１のデイジタル
データＤ１を第１の周波数（１〔ｋHz〕）で出力する第
１のデイジタルデータ出力手段２と、所定レベル（論理
「０」）の第２のデイジタルデータＤ２を出力する第２
のデイジタルデータ出力手段３と、第２の周波数（ 500
〔ＭHz〕）により第１及び第２のデイジタルデータＤ１
及びＤ２を時分割多重してデイジタル／アナログ変換回
路５に出力し、当該デイジタル／アナログ変換回路５を
動特性モードで駆動する多重化手段４と、デイジタル／
アナログ変換回路５より出力されるアナログ変換出力Ｓ
１を入力し、当該アナログ変換出力Ｓ１より低周波成分
を抽出するローパスフイルタ６と、ローパスフイルタ６
より抽出される低周波成分に基づいてデイジタル／アナ
ログ変換回路５の動特性を測定する動特性測定手段７と
を備えるようにする。
め本発明においては、交流成分を含む第１のデイジタル
データＤ１を第１の周波数（１〔ｋHz〕）で出力する第
１のデイジタルデータ出力手段２と、所定レベル（論理
「０」）の第２のデイジタルデータＤ２を出力する第２
のデイジタルデータ出力手段３と、第２の周波数（ 500
〔ＭHz〕）により第１及び第２のデイジタルデータＤ１
及びＤ２を時分割多重してデイジタル／アナログ変換回
路５に出力し、当該デイジタル／アナログ変換回路５を
動特性モードで駆動する多重化手段４と、デイジタル／
アナログ変換回路５より出力されるアナログ変換出力Ｓ
１を入力し、当該アナログ変換出力Ｓ１より低周波成分
を抽出するローパスフイルタ６と、ローパスフイルタ６
より抽出される低周波成分に基づいてデイジタル／アナ
ログ変換回路５の動特性を測定する動特性測定手段７と
を備えるようにする。
【０００７】
【作用】多重化手段４を介して第１の周波数（１〔ｋH
z〕）の第１のデイジタルデータＤ１と所定レベル（論
理「０」）の第２のデイジタルデータＤ２とを第２の周
波数（ 500〔ＭHz〕）により多重化してデイジタル／ア
ナログ変換回路５に入力することにより、当該デイジタ
ル／アナログ変換回路５を動特性モードで駆動させた
後、デイジタル／アナログ変換回路５のアナログ変換出
力Ｓ１から低周波成分をローパスフイルタ６を介して抽
出することにより、動特性を従来に比して一段と簡易な
方法によつて測定することができる。
z〕）の第１のデイジタルデータＤ１と所定レベル（論
理「０」）の第２のデイジタルデータＤ２とを第２の周
波数（ 500〔ＭHz〕）により多重化してデイジタル／ア
ナログ変換回路５に入力することにより、当該デイジタ
ル／アナログ変換回路５を動特性モードで駆動させた
後、デイジタル／アナログ変換回路５のアナログ変換出
力Ｓ１から低周波成分をローパスフイルタ６を介して抽
出することにより、動特性を従来に比して一段と簡易な
方法によつて測定することができる。
【０００８】
【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。
する。
【０００９】図１において、１は全体としてデイジタル
／アナログ変換回路の動作特性測定装置を示し、８ビツ
トのデイジタル／アナログ変換回路の動作特性を測定す
るようになされている。
／アナログ変換回路の動作特性測定装置を示し、８ビツ
トのデイジタル／アナログ変換回路の動作特性を測定す
るようになされている。
【００１０】ここで動特性測定装置１はサインデータ発
生ＲＯＭ（read only memory）２及び直流データ発生回
路３より８ビツトのサインデータＤ１及び直流データＤ
２をマルチプレクサ４に供給するようになされている。
生ＲＯＭ（read only memory）２及び直流データ発生回
路３より８ビツトのサインデータＤ１及び直流データＤ
２をマルチプレクサ４に供給するようになされている。
【００１１】因にサインデータＤ１は１〔ｋHz〕の低周
波サイン波データを 500〔ＭHz〕のクロツク信号ＣＫの
タイミングで読みだしたサイン波形であり、また直流デ
ータＤ２は８ビツト全てが論理「０」のデイジタルデー
タを 500〔ＭHz〕のクロツク信号ＣＫのタイミングで読
みだしたデータである。
波サイン波データを 500〔ＭHz〕のクロツク信号ＣＫの
タイミングで読みだしたサイン波形であり、また直流デ
ータＤ２は８ビツト全てが論理「０」のデイジタルデー
タを 500〔ＭHz〕のクロツク信号ＣＫのタイミングで読
みだしたデータである。
【００１２】このときマルチプレクサ４は、クロツク信
号ＣＫのタイミングでサインデータＤ１及び直流データ
Ｄ２を交互に切り換えて出力することにより、論理値が
櫛状、すなわち論理値が論理「０」レベルとサイン波の
包絡線上の値を交互に切り換わる動特性測定デイジタル
データＤ３をデイジタル／アナログ変換回路５に出力す
るようになされている（図２）。
号ＣＫのタイミングでサインデータＤ１及び直流データ
Ｄ２を交互に切り換えて出力することにより、論理値が
櫛状、すなわち論理値が論理「０」レベルとサイン波の
包絡線上の値を交互に切り換わる動特性測定デイジタル
データＤ３をデイジタル／アナログ変換回路５に出力す
るようになされている（図２）。
【００１３】ここでデイジタル／アナログ変換回路５
は、 250〔ＭHz〕とクロツク周波数の２分の１と信号周
波数が高くかつ論理値の変動が大きい動特性測定デイジ
タルデータＤ３をクロツク信号ＣＫのタイミングで順次
アナログ信号に変換し（以下動特性モードという）、高
周波アナログ信号Ｓ１としてローパスフイルタ６に出力
するようになされている。
は、 250〔ＭHz〕とクロツク周波数の２分の１と信号周
波数が高くかつ論理値の変動が大きい動特性測定デイジ
タルデータＤ３をクロツク信号ＣＫのタイミングで順次
アナログ信号に変換し（以下動特性モードという）、高
周波アナログ信号Ｓ１としてローパスフイルタ６に出力
するようになされている。
【００１４】このときローパスフイルタ６は、高周波ア
ナログ信号Ｓ１から高周波成分を除去して１〔ｋHz〕の
包絡線成分を抽出し、当該包絡線成分を低周波信号Ｓ２
としてスペクトルアナライザ７に出力するようになされ
ている（図３）。
ナログ信号Ｓ１から高周波成分を除去して１〔ｋHz〕の
包絡線成分を抽出し、当該包絡線成分を低周波信号Ｓ２
としてスペクトルアナライザ７に出力するようになされ
ている（図３）。
【００１５】因に高周波アナログ信号Ｓ１は、当該信号
波形を拡大した図４（Ａ）に示すように同一のサインデ
ータＤ１が数クロツク分繰り返され、高周波アナログ信
号Ｓ１の包絡線成分の周波数が小さくなるようになされ
ている。
波形を拡大した図４（Ａ）に示すように同一のサインデ
ータＤ１が数クロツク分繰り返され、高周波アナログ信
号Ｓ１の包絡線成分の周波数が小さくなるようになされ
ている。
【００１６】ここでスペクトルアナライザ７は、ローパ
スフイルタ６によりデイジタル／アナログ変換回路５を
動特性モードで動作させることにより低周波信号Ｓ２の
ＳＮ比を測定することにより信号波形に生じた歪を測定
し、測定対象であるデイジタル／アナログ変換回路５が
高周波帯域でも正常に動作するか否かを判別するように
なされている。
スフイルタ６によりデイジタル／アナログ変換回路５を
動特性モードで動作させることにより低周波信号Ｓ２の
ＳＮ比を測定することにより信号波形に生じた歪を測定
し、測定対象であるデイジタル／アナログ変換回路５が
高周波帯域でも正常に動作するか否かを判別するように
なされている。
【００１７】因に８ビツトのデイジタル／アナログ変換
回路の場合、当該ＳＮ比は理想的には48〔dB〕前後の値
をとり、デイジタル／アナログ変換回路に異常がある場
合には当該値より小さい値をとることが分かつている。
回路の場合、当該ＳＮ比は理想的には48〔dB〕前後の値
をとり、デイジタル／アナログ変換回路に異常がある場
合には当該値より小さい値をとることが分かつている。
【００１８】以上の構成において、測定信号入出力用の
信号端子と被測定対象であるデイジタル／アナログ変換
回路５の入出力端子とが接続されると、動作特性測定装
置１はマルチプレクサ４においてサイン波ＲＯＭ２及び
直流データ発生回路３から入力されるサインデータＤ１
及び直流データＤ２を交互に切り換え、動特性測定デイ
ジタルデータＤ３としてデイジタル／アナログ変換回路
５に供給する。
信号端子と被測定対象であるデイジタル／アナログ変換
回路５の入出力端子とが接続されると、動作特性測定装
置１はマルチプレクサ４においてサイン波ＲＯＭ２及び
直流データ発生回路３から入力されるサインデータＤ１
及び直流データＤ２を交互に切り換え、動特性測定デイ
ジタルデータＤ３としてデイジタル／アナログ変換回路
５に供給する。
【００１９】ここで被測定対象であるデイジタル／アナ
ログ変換回路５が正常に動作する場合、デイジタル／ア
ナログ変換回路５から出力される高周波アナログ信号Ｓ
１の拡大波形は図４（Ａ）に示すように階段状に規則正
しく増加する右上がりの高周波波形となる。この結果、
高周波アナログ信号Ｓ１の包絡線に対応するローパスフ
イルタ６の出力波形は図４（Ｂ）に示すように微小時間
で観察すると右上がりの直線となる。
ログ変換回路５が正常に動作する場合、デイジタル／ア
ナログ変換回路５から出力される高周波アナログ信号Ｓ
１の拡大波形は図４（Ａ）に示すように階段状に規則正
しく増加する右上がりの高周波波形となる。この結果、
高周波アナログ信号Ｓ１の包絡線に対応するローパスフ
イルタ６の出力波形は図４（Ｂ）に示すように微小時間
で観察すると右上がりの直線となる。
【００２０】これに対してデイジタル／アナログ変換回
路５の内部デコーダが誤動作し、誤つたアナログ信号を
出力する場合（図５（Ａ））やグリツチが発生する場合
（図６（Ａ））、高周波アナログ信号Ｓ１の信号振幅は
部分的に突出した値をとる。この結果、高周波アナログ
信号Ｓ１の包絡線に対応するローパスフイルタ６の出力
波形は図５（Ｂ）や図６（Ｂ）に示すように微小時間で
観察すると出力波形は誤動作が生じた部分でゆがみを生
じ、出力波形が積分されながらも直線上からはずれた波
形となる。
路５の内部デコーダが誤動作し、誤つたアナログ信号を
出力する場合（図５（Ａ））やグリツチが発生する場合
（図６（Ａ））、高周波アナログ信号Ｓ１の信号振幅は
部分的に突出した値をとる。この結果、高周波アナログ
信号Ｓ１の包絡線に対応するローパスフイルタ６の出力
波形は図５（Ｂ）や図６（Ｂ）に示すように微小時間で
観察すると出力波形は誤動作が生じた部分でゆがみを生
じ、出力波形が積分されながらも直線上からはずれた波
形となる。
【００２１】これによりデイジタル／アナログ変換回路
５を 250〔ＭHz〕とクロツク周波数の２分の１という高
周波数かつ論理値の変動が大きい入力信号で駆動した場
合の動特性を１〔ｋHz〕という低周波数の包絡線波形よ
り測定することができ、簡易な方法により動特性を測定
することができる。
５を 250〔ＭHz〕とクロツク周波数の２分の１という高
周波数かつ論理値の変動が大きい入力信号で駆動した場
合の動特性を１〔ｋHz〕という低周波数の包絡線波形よ
り測定することができ、簡易な方法により動特性を測定
することができる。
【００２２】以上の構成によれば、低周波のサインデー
タＤ１と論理「０」の直流データＤ２を高周波を交互に
切り換える動特性測定デイジタルデータＤ３を測定対象
であるデイジタル／アナログ変換回路５に入力して動特
性モードで動作させ、アナログ出力の包絡線波形をロー
パスフイルタを介して測定することによりデイジタル／
アナログ変換回路の動特性を簡易な方法により測定する
ことができる。
タＤ１と論理「０」の直流データＤ２を高周波を交互に
切り換える動特性測定デイジタルデータＤ３を測定対象
であるデイジタル／アナログ変換回路５に入力して動特
性モードで動作させ、アナログ出力の包絡線波形をロー
パスフイルタを介して測定することによりデイジタル／
アナログ変換回路の動特性を簡易な方法により測定する
ことができる。
【００２３】なお上述の実施例においては、１〔ｋHz〕
という低周波数のサインデータＤ１と論理「０」の直流
データＤ２をマルチプレクサ４で 250〔ＭHz〕という高
周波で交互に切り換え、デイジタル／アナログ変換回路
に供給する場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、リードオンリメモリに格納される１〔ｋHz〕の低周
波サインデータを 250〔ＭHz〕のサンプリング周波数で
サンプリングする場合にも広く適用し得る。
という低周波数のサインデータＤ１と論理「０」の直流
データＤ２をマルチプレクサ４で 250〔ＭHz〕という高
周波で交互に切り換え、デイジタル／アナログ変換回路
に供給する場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、リードオンリメモリに格納される１〔ｋHz〕の低周
波サインデータを 250〔ＭHz〕のサンプリング周波数で
サンプリングする場合にも広く適用し得る。
【００２４】また上述の実施例においては、低周波信号
として１〔ｋHz〕のサインデータを用いる場合について
述べたが、本発明はこれに限らず、他の周波数のサイン
データを用いる場合にも広く適用し得る。
として１〔ｋHz〕のサインデータを用いる場合について
述べたが、本発明はこれに限らず、他の周波数のサイン
データを用いる場合にも広く適用し得る。
【００２５】さらに上述の実施例においては、低周波の
サインデータＤ１と論理「０」の直流データＤ２を 500
〔ＭHz〕という高周波でマルチプレクスし、 250〔ＭH
z〕の動特性測定デイジタルデータＤ３を出力する場合
について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば 100
〔ＭHz〕等、他の周波数でマルチプレクスして出力する
場合にも広く適用し得る。
サインデータＤ１と論理「０」の直流データＤ２を 500
〔ＭHz〕という高周波でマルチプレクスし、 250〔ＭH
z〕の動特性測定デイジタルデータＤ３を出力する場合
について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば 100
〔ＭHz〕等、他の周波数でマルチプレクスして出力する
場合にも広く適用し得る。
【００２６】さらに上述の実施例においては、低周波信
号としてサイン波形のサインデータを用いる場合につい
て述べたが、本発明はこれに限らず、直流データＤ２と
切り換えたとき論理値が大きく変動する信号波形を用い
る場合に広く適用し得る。
号としてサイン波形のサインデータを用いる場合につい
て述べたが、本発明はこれに限らず、直流データＤ２と
切り換えたとき論理値が大きく変動する信号波形を用い
る場合に広く適用し得る。
【００２７】さらに上述の実施例においては、直流デー
タＤ２の論理レベルを論理「０」とする場合について述
べたが、本発明はこれに限らず、他の論理レベルをとる
場合にも広く適用し得る。
タＤ２の論理レベルを論理「０」とする場合について述
べたが、本発明はこれに限らず、他の論理レベルをとる
場合にも広く適用し得る。
【００２８】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、第１の周
波数の第１のデイジタルデータと所定レベルの第２のデ
イジタルデータとを第２の周波数で時分割多重してデイ
ジタル／アナログ変換回路に入力することにより当該デ
イジタル／アナログ変換回路を動特性モードで動作さ
せ、そのアナログ変換出力の低周波成分をローパスフイ
ルタを介して測定することによりデイジタル／アナログ
変換回路の動特性を容易に測定することができる。
波数の第１のデイジタルデータと所定レベルの第２のデ
イジタルデータとを第２の周波数で時分割多重してデイ
ジタル／アナログ変換回路に入力することにより当該デ
イジタル／アナログ変換回路を動特性モードで動作さ
せ、そのアナログ変換出力の低周波成分をローパスフイ
ルタを介して測定することによりデイジタル／アナログ
変換回路の動特性を容易に測定することができる。
【図１】実施例による動特性測定装置の一実施例を示す
ブロツク図である。
ブロツク図である。
【図２】時分割多重された動特性測定デイジタルデータ
の説明に供する略線的信号波形図である。
の説明に供する略線的信号波形図である。
【図３】正常動作時のローパスフイルタ出力を示す信号
波形図である。
波形図である。
【図４】正常動作時におけるアナログ出力及びそのロー
パスフイルタ出力の説明に供する略線的波形図である。
パスフイルタ出力の説明に供する略線的波形図である。
【図５】アナログ変換に誤動作が生じた場合のアナログ
出力及びそのローパスフイルタ出力の説明に供する略線
的信号波形図である。
出力及びそのローパスフイルタ出力の説明に供する略線
的信号波形図である。
【図６】グリツチが生じた場合のアナログ出力及びその
ローパスフイルタ出力の説明に供する略線的信号波形図
である。
ローパスフイルタ出力の説明に供する略線的信号波形図
である。
１……動特性測定装置、２……サイン波ＲＯＭ、３……
直流データ発生回路、４……マルチプレクサ、５……デ
イジタル／アナログ変換回路、６……ローパスフイル
タ、７……スペクトラムアナライザ。
直流データ発生回路、４……マルチプレクサ、５……デ
イジタル／アナログ変換回路、６……ローパスフイル
タ、７……スペクトラムアナライザ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H03M 1/00 - 1/88 G01R 31/28
Claims (2)
- 【請求項１】交流成分を含む第１のデイジタルデータを
第１の周波数で出力する第１のデイジタルデータ出力手
段と、 所定レベルの第２のデイジタルデータを出力する第２の
デイジタルデータ出力手段と、 第２の周波数により上記第１及び第２のデイジタルデー
タを時分割多重してデイジタル／アナログ変換回路に出
力し、当該デイジタル／アナログ変換回路を動特性モー
ドで駆動する多重化手段と、 上記デイジタル／アナログ変換回路より出力されるアナ
ログ変換出力を入力し、当該アナログ変換出力より低周
波成分を抽出するローパスフイルタと、 上記ローパスフイルタより抽出される低周波成分に基づ
いて上記デイジタル／アナログ変換回路の動特性を測定
する動特性測定手段とを具えることを特徴とする動特性
測定装置。 - 【請求項２】上記第２の周波数は上記第１の周波数に対
して高周波であることを特徴とする請求項１に記載の動
特性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04137725A JP3123677B2 (ja) | 1992-04-28 | 1992-04-28 | 動特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04137725A JP3123677B2 (ja) | 1992-04-28 | 1992-04-28 | 動特性測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05308287A JPH05308287A (ja) | 1993-11-19 |
| JP3123677B2 true JP3123677B2 (ja) | 2001-01-15 |
Family
ID=15205375
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04137725A Expired - Fee Related JP3123677B2 (ja) | 1992-04-28 | 1992-04-28 | 動特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3123677B2 (ja) |
-
1992
- 1992-04-28 JP JP04137725A patent/JP3123677B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05308287A (ja) | 1993-11-19 |
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|---|---|---|---|
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