JP3316098B2 - ビデオ用adコンバータの試験装置及びその試験方法 - Google Patents
ビデオ用adコンバータの試験装置及びその試験方法Info
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、テレビ映像信号をデ
ジタル信号に変換するビデオ用ADコンバータICのダ
イナミック特性についての試験装置、試験方法に関す
る。
ジタル信号に変換するビデオ用ADコンバータICのダ
イナミック特性についての試験装置、試験方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】ビデオ用ADコンバータICでは、一般
のADコンバータICとは少し異った面での特性が要求
されている。この試験項目の一つとしては、映像信号を
どの程度忠実に量子化変換できるかを試験するのがダイ
ナミック特性試験である。映像信号の中にある色信号
は、ADコンバータICのダイナミック特性によって
は、色彩感覚の変化として特に顕著に表れてくる。この
為、この種のデバイスとしては、特に重要な評価項目で
ある。ダイナミック特性の試験とは、映像信号に対して
どの程度忠実に量子化しているかの試験であり、微分直
線性や積分直線性を評価する試験項目である。例えば、
DUTがAD変換したコードデータの偏差の中で、変換
ゲインが1.00からずれている偏差とか、直流的なオ
フセットコードを有する偏差があるが、このような絶対
精度の値に対する多少の相対的なずれは、デバイス性能
の重要な問題要素とはならない場合がある。むしろ、量
子化コードに変換したときの直線性に関する偏差即ち、
微分直線性や積分直線性の偏差による影響が重要な場合
が多い。これら直線性の偏差は、色信号の変換忠実度に
影響を与えたり、規則的な縞模様画面として現れたりす
る不具合を生じる原因となる場合があるからである。
のADコンバータICとは少し異った面での特性が要求
されている。この試験項目の一つとしては、映像信号を
どの程度忠実に量子化変換できるかを試験するのがダイ
ナミック特性試験である。映像信号の中にある色信号
は、ADコンバータICのダイナミック特性によって
は、色彩感覚の変化として特に顕著に表れてくる。この
為、この種のデバイスとしては、特に重要な評価項目で
ある。ダイナミック特性の試験とは、映像信号に対して
どの程度忠実に量子化しているかの試験であり、微分直
線性や積分直線性を評価する試験項目である。例えば、
DUTがAD変換したコードデータの偏差の中で、変換
ゲインが1.00からずれている偏差とか、直流的なオ
フセットコードを有する偏差があるが、このような絶対
精度の値に対する多少の相対的なずれは、デバイス性能
の重要な問題要素とはならない場合がある。むしろ、量
子化コードに変換したときの直線性に関する偏差即ち、
微分直線性や積分直線性の偏差による影響が重要な場合
が多い。これら直線性の偏差は、色信号の変換忠実度に
影響を与えたり、規則的な縞模様画面として現れたりす
る不具合を生じる原因となる場合があるからである。
【0003】従来技術の被試験用デバイス(DUT)で
あるビデオ信号専用ADコンバータICのダイナミック
特性の試験方法として、正弦波ヒストグラム法による試
験形態の例がある。これについて、図4と図5を参照し
て説明する。本装置の構成は、図4に示すように、ビデ
オ信号発生器40と、正弦波発生器50と、信号切替器
45と、サンプリングクロック発生部20と、被試験用
デバイス(DUT)100と、バッファメモリ60と、
データ処理部70とで構成している。
あるビデオ信号専用ADコンバータICのダイナミック
特性の試験方法として、正弦波ヒストグラム法による試
験形態の例がある。これについて、図4と図5を参照し
て説明する。本装置の構成は、図4に示すように、ビデ
オ信号発生器40と、正弦波発生器50と、信号切替器
45と、サンプリングクロック発生部20と、被試験用
デバイス(DUT)100と、バッファメモリ60と、
データ処理部70とで構成している。
【0004】正弦波発生器50は、純度の高い理想正弦
波信号を発生する信号源であり、例えば試験周波数fts
t=3.58MHzで、DUT100の入力端子にフル
スケールの単一の電圧振幅を供給する。サンプリングク
ロック発生部20は、基準クロック90からのクロック
源を受けて、例えばクロックレートfclk=14MHz
の矩形波を出力するものであり、DUT100がデジタ
ルデータにサンプリングする為のサンプリングクロック
fclkの発生器であり、DUT100のサンプリングク
ロック端子と、バッファメモリ60に供給する。このク
ロックレートは、正弦波発生器50の試験周波数ftst
との関係を非整数倍にし、かつ正弦波の各位相点でのデ
ータが一様に平均化されて取得できる所望の周波数関係
を与える。
波信号を発生する信号源であり、例えば試験周波数fts
t=3.58MHzで、DUT100の入力端子にフル
スケールの単一の電圧振幅を供給する。サンプリングク
ロック発生部20は、基準クロック90からのクロック
源を受けて、例えばクロックレートfclk=14MHz
の矩形波を出力するものであり、DUT100がデジタ
ルデータにサンプリングする為のサンプリングクロック
fclkの発生器であり、DUT100のサンプリングク
ロック端子と、バッファメモリ60に供給する。このク
ロックレートは、正弦波発生器50の試験周波数ftst
との関係を非整数倍にし、かつ正弦波の各位相点でのデ
ータが一様に平均化されて取得できる所望の周波数関係
を与える。
【0005】DUT100は、例えば8ビット分解能の
AD変換器であり、アナログ映像信号をデジタル信号に
変換することを主な目的としたビデオ専用の高速AD変
換器であり、例えばビデオ帯域4.2MHzのNTSC
のカラー映像信号を受け、所望のクロック周波数、例え
ば14MHzのサンプリングクロックfclkを受けて、
振幅値に対応したデジタルコードデータDxに量子化変
換し、これをバッファメモリ60に供給する。ここの試
験においては、フルスケールの単一の電圧振幅を受け
て、AD変換する。
AD変換器であり、アナログ映像信号をデジタル信号に
変換することを主な目的としたビデオ専用の高速AD変
換器であり、例えばビデオ帯域4.2MHzのNTSC
のカラー映像信号を受け、所望のクロック周波数、例え
ば14MHzのサンプリングクロックfclkを受けて、
振幅値に対応したデジタルコードデータDxに量子化変
換し、これをバッファメモリ60に供給する。ここの試
験においては、フルスケールの単一の電圧振幅を受け
て、AD変換する。
【0006】バッファメモリ60は、DUT100から
のコードデータDxを受けて、一回の測定で所望ワード
数を連続的にメモリに書き込み保存する記録部であり、
正弦波信号を多数回測定して保存する高速メモリ62
と、このメモリにアドレスを供給するアドレスカウンタ
64を有している。メモリ容量は、測定の精度分解能に
対応した容量を有していて、例えば数十Kワードのメモ
リを有している。
のコードデータDxを受けて、一回の測定で所望ワード
数を連続的にメモリに書き込み保存する記録部であり、
正弦波信号を多数回測定して保存する高速メモリ62
と、このメモリにアドレスを供給するアドレスカウンタ
64を有している。メモリ容量は、測定の精度分解能に
対応した容量を有していて、例えば数十Kワードのメモ
リを有している。
【0007】データ処理部70は、試験周波数ftstと
サンプリングクロックfclkとの関係から、期待値とし
てのリファレンス用ヒストグラム値を予め算出してお
き、この理想ヒストグラム値Ihに対して、実際に測定
されたコードデータDx毎の出現回数の分布を求めてヒ
ストグラムを作成し、これから微分直線性と、積分直線
性を求め、結果を出力する。図5に示すように、DUT
のアナログ入力端子にフルスケールの正弦波200波形
を印加して、これにより量子化されたコードデータDx
の各コードデータ毎の出現回数を棒グラフで表現したの
が正弦波ヒストグラム220のグラフである。このヒス
トグラムから、理想ヒストグラム210の値Ihとの差
を求め、比率を算出すれば微分直線性が得られる。ま
た、この微分直線性データを積分したものが積分直線性
として求まる。
サンプリングクロックfclkとの関係から、期待値とし
てのリファレンス用ヒストグラム値を予め算出してお
き、この理想ヒストグラム値Ihに対して、実際に測定
されたコードデータDx毎の出現回数の分布を求めてヒ
ストグラムを作成し、これから微分直線性と、積分直線
性を求め、結果を出力する。図5に示すように、DUT
のアナログ入力端子にフルスケールの正弦波200波形
を印加して、これにより量子化されたコードデータDx
の各コードデータ毎の出現回数を棒グラフで表現したの
が正弦波ヒストグラム220のグラフである。このヒス
トグラムから、理想ヒストグラム210の値Ihとの差
を求め、比率を算出すれば微分直線性が得られる。ま
た、この微分直線性データを積分したものが積分直線性
として求まる。
【0008】ビデオ信号発生器40は、基準クロック9
0からのクロック源を受けて、DG(differential gai
n)/DP(differential phase)の試験項目の為に使
用するビデオ信号発生器であり、外部からの所望の設定
条件を与えて任意の映像信号用ランプ波形を発生制御で
きる。即ち、アナログの映像信号と等価のランプ信号を
印加して試験に供するものである。信号切替器45は、
DUT100に入力するアナログ信号を、正弦波発生器
50側か、あるいはビデオ信号発生器40側かに切り替
える為のスイッチである。
0からのクロック源を受けて、DG(differential gai
n)/DP(differential phase)の試験項目の為に使
用するビデオ信号発生器であり、外部からの所望の設定
条件を与えて任意の映像信号用ランプ波形を発生制御で
きる。即ち、アナログの映像信号と等価のランプ信号を
印加して試験に供するものである。信号切替器45は、
DUT100に入力するアナログ信号を、正弦波発生器
50側か、あるいはビデオ信号発生器40側かに切り替
える為のスイッチである。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】上記説明のように、従
来のダイナミック特性の試験では、単一のフルスケール
の正弦波200波形を印加して代用としている。この波
形は実際のビデオ信号波形とは懸け離れた波形である為
に、必ずしも最良の試験波形とはいえず、被試験用デバ
イスの種類によっては、評価結果が妥当な評価結果とは
ならないデバイスが出現するかも知れず、試験評価の信
頼性や確度において難点となる可能性を含んでいる。そ
こで、本発明が解決しようとする課題は、実際のビデオ
信号波形を印加してダイナミック特性の試験を可能にす
る試験装置、試験方法を実現することを目的とする。
来のダイナミック特性の試験では、単一のフルスケール
の正弦波200波形を印加して代用としている。この波
形は実際のビデオ信号波形とは懸け離れた波形である為
に、必ずしも最良の試験波形とはいえず、被試験用デバ
イスの種類によっては、評価結果が妥当な評価結果とは
ならないデバイスが出現するかも知れず、試験評価の信
頼性や確度において難点となる可能性を含んでいる。そ
こで、本発明が解決しようとする課題は、実際のビデオ
信号波形を印加してダイナミック特性の試験を可能にす
る試験装置、試験方法を実現することを目的とする。
【0010】
【課題を解決する為の手段】上記課題を解決するため
に、本発明の構成では、映像信号に重畳した正弦波変調
信号32波形をビデオ信号発生器40からDUT100
に供給し、バッファメモリ60に格納されたコードデー
タDxの中で正弦波変調信号32部分のランプ波形デー
タを抽出し、これから正弦波変調信号32のヒストグラ
ムを算出し、これに対応する正弦波変調信号32の理想
ヒストグラムを算出し、両者の比率から微分直線性を算
出するダイナミック特性演算部15を設ける構成手段に
する。これにより、被試験用デバイス100に試験用映
像信号を供給するビデオ信号発生器40と、これに同期
してAD変換する為のサンプリングクロックをDUT1
00に供給するサンプリングクロック発生部10と、D
UT100からの量子化コードデータDxを格納するバ
ッファメモリ60を有して、実際の色信号に一層近似し
た評価波形を使用して試験実施することができる為、実
情に即したビデオ専用の高速AD変換器のダイナミック
特性試験を実現できる。
に、本発明の構成では、映像信号に重畳した正弦波変調
信号32波形をビデオ信号発生器40からDUT100
に供給し、バッファメモリ60に格納されたコードデー
タDxの中で正弦波変調信号32部分のランプ波形デー
タを抽出し、これから正弦波変調信号32のヒストグラ
ムを算出し、これに対応する正弦波変調信号32の理想
ヒストグラムを算出し、両者の比率から微分直線性を算
出するダイナミック特性演算部15を設ける構成手段に
する。これにより、被試験用デバイス100に試験用映
像信号を供給するビデオ信号発生器40と、これに同期
してAD変換する為のサンプリングクロックをDUT1
00に供給するサンプリングクロック発生部10と、D
UT100からの量子化コードデータDxを格納するバ
ッファメモリ60を有して、実際の色信号に一層近似し
た評価波形を使用して試験実施することができる為、実
情に即したビデオ専用の高速AD変換器のダイナミック
特性試験を実現できる。
【0011】本発明による試験方法としては、映像信号
に重畳した正弦波変調信号32波形をビデオ信号発生器
40からDUT100に供給し、正弦波変調信号32の
サンプリングとして、分割サンプリング回数Q回に分け
てバッファメモリ60に格納し、バッファメモリ60に
格納されたコードデータDxの中で分割サンプリングさ
れた正弦波変調信号32部分のコードデータDxを抽出
し、これから正弦波変調信号32のヒストグラムを算出
し、この正弦波変調信号32のヒストグラムに対応する
理想ヒストグラムを算出し、両者の比率から微分直線性
を算出する方法で実現する。
に重畳した正弦波変調信号32波形をビデオ信号発生器
40からDUT100に供給し、正弦波変調信号32の
サンプリングとして、分割サンプリング回数Q回に分け
てバッファメモリ60に格納し、バッファメモリ60に
格納されたコードデータDxの中で分割サンプリングさ
れた正弦波変調信号32部分のコードデータDxを抽出
し、これから正弦波変調信号32のヒストグラムを算出
し、この正弦波変調信号32のヒストグラムに対応する
理想ヒストグラムを算出し、両者の比率から微分直線性
を算出する方法で実現する。
【0012】
【作用】ビデオ信号発生器40からの映像信号に重畳し
た正弦波変調信号32波形を使用してダイナミック特性
試験をすることにより、実際のビデオ信号波形に近い波
形により評価試験できるので、ビデオ専用の高速AD変
換器の評価がより妥当性のある試験機能を実現できる。
また、このビデオ信号発生器40は、DG/DP試験で
も共通に使用できる。ダイナミック特性演算部15は、
バッファメモリ60に格納されたデータの中で正弦波変
調信号32部分のランプ波部36のデータを抽出し、こ
のデータから正弦波変調信号32のヒストグラムMhが
算出できる作用がある。また、理想ヒストグラム値Imh
も容易に計算でき、両者の比率を算出することにより微
分直線性、及び積分直線性が算出できる。
た正弦波変調信号32波形を使用してダイナミック特性
試験をすることにより、実際のビデオ信号波形に近い波
形により評価試験できるので、ビデオ専用の高速AD変
換器の評価がより妥当性のある試験機能を実現できる。
また、このビデオ信号発生器40は、DG/DP試験で
も共通に使用できる。ダイナミック特性演算部15は、
バッファメモリ60に格納されたデータの中で正弦波変
調信号32部分のランプ波部36のデータを抽出し、こ
のデータから正弦波変調信号32のヒストグラムMhが
算出できる作用がある。また、理想ヒストグラム値Imh
も容易に計算でき、両者の比率を算出することにより微
分直線性、及び積分直線性が算出できる。
【0013】
【実施例】本発明では、DG/DP試験においてビデオ
信号発生器40から発生したアナログの映像信号をAD
変換した測定データを流用して、この測定データを演算
処理することでダイナミック特性の評価とする手段であ
る。これについて、図1と図2を参照して説明する。構
成は、図1に示すように、ビデオ信号発生器40と、サ
ンプリングクロック発生部10と、DUT100と、バ
ッファメモリ60と、データ処理部70と、ダイナミッ
ク特性演算部15とで構成している。この構成で、ビデ
オ信号発生器40と、バッファメモリ60と、データ処
理部70は従来と同様である。
信号発生器40から発生したアナログの映像信号をAD
変換した測定データを流用して、この測定データを演算
処理することでダイナミック特性の評価とする手段であ
る。これについて、図1と図2を参照して説明する。構
成は、図1に示すように、ビデオ信号発生器40と、サ
ンプリングクロック発生部10と、DUT100と、バ
ッファメモリ60と、データ処理部70と、ダイナミッ
ク特性演算部15とで構成している。この構成で、ビデ
オ信号発生器40と、バッファメモリ60と、データ処
理部70は従来と同様である。
【0014】映像信号である試験用のランプ波形は、図
2(a)に示すように、ランプ波信号34に、色信号周
波数fc=3.58MHzの正弦波変調信号32で重畳
した波形となっている。これは、DG/DP試験と同じ
波形である。
2(a)に示すように、ランプ波信号34に、色信号周
波数fc=3.58MHzの正弦波変調信号32で重畳
した波形となっている。これは、DG/DP試験と同じ
波形である。
【0015】サンプリングクロック発生部10は、ビデ
オ信号発生器40からの映像信号の水平同期信号等のラ
ンプ同期信号40bを受けて、以後に説明するタイミン
グでサンプリングクロック14.32MHz(fc=
3.58MHz×4倍)を発生し、正弦波変調信号32
の正弦波を16等分に分割する位相点でサンプリングで
きるサンプリングクロック10aをDUT100と、バ
ッファメモリ60に供給する。即ち、一つの正弦波区間
では4箇所のAD変換器データしか得られない為に、取
り込み動作は、全体でm個のランプ波形の取り込みと仮
定すると、m=4回×n個の分割サンプリング回数Q=
4回に分けて、各回毎にΔt時間ずらして取り込み動作
を4回測定することで行う。即ち、4回の取り込みのス
タート位置を映像信号のランプ同期信号40bからの発
生開始位相fsに対してΔt時間の遅延を変えて測定ス
タートさせる。図2(b)に示すように、スタート位置
の1回目はfs=fc×4とし、2回目はfs=fc×4+
Δtとし、3回目はfs=fc×4+2Δtとし、4回目
はfs=fc×4+3Δtとすることにより、1つの正弦
波区間で見ると4×4=16点の等間隔でサンプリング
するようにして各点での振幅値を測定する。
オ信号発生器40からの映像信号の水平同期信号等のラ
ンプ同期信号40bを受けて、以後に説明するタイミン
グでサンプリングクロック14.32MHz(fc=
3.58MHz×4倍)を発生し、正弦波変調信号32
の正弦波を16等分に分割する位相点でサンプリングで
きるサンプリングクロック10aをDUT100と、バ
ッファメモリ60に供給する。即ち、一つの正弦波区間
では4箇所のAD変換器データしか得られない為に、取
り込み動作は、全体でm個のランプ波形の取り込みと仮
定すると、m=4回×n個の分割サンプリング回数Q=
4回に分けて、各回毎にΔt時間ずらして取り込み動作
を4回測定することで行う。即ち、4回の取り込みのス
タート位置を映像信号のランプ同期信号40bからの発
生開始位相fsに対してΔt時間の遅延を変えて測定ス
タートさせる。図2(b)に示すように、スタート位置
の1回目はfs=fc×4とし、2回目はfs=fc×4+
Δtとし、3回目はfs=fc×4+2Δtとし、4回目
はfs=fc×4+3Δtとすることにより、1つの正弦
波区間で見ると4×4=16点の等間隔でサンプリング
するようにして各点での振幅値を測定する。
【0016】ダイナミック特性演算部15は、バッファ
メモリ60に格納された上記説明の4×n個の取り込み
データの中で正弦波変調信号32の黒レベルから白レベ
ルにいたるランプ波部36データのみを抽出する。この
抽出したランプ波部36から、8bit時では256種
の各コードデータDx毎に出現回数を計数して、正弦波
変調信号32のヒストグラムMhが求まる。一方では、
理想ヒストグラム値Imhを計算により求める。この両者
のヒストグラム値の差を求め、理想ヒストグラム値Imh
との比率を算出すれば微分直線性が得られる。また、こ
の微分直線性データを積分すれば積分直線性が求まる。
これにより、実際の色信号に一層近似した評価波形を使
用して試験実施することができるので、実情に即したビ
デオ専用の高速AD変換器のダイナミック特性の評価と
して、妥当性のある有効な試験方法を実現できる。
メモリ60に格納された上記説明の4×n個の取り込み
データの中で正弦波変調信号32の黒レベルから白レベ
ルにいたるランプ波部36データのみを抽出する。この
抽出したランプ波部36から、8bit時では256種
の各コードデータDx毎に出現回数を計数して、正弦波
変調信号32のヒストグラムMhが求まる。一方では、
理想ヒストグラム値Imhを計算により求める。この両者
のヒストグラム値の差を求め、理想ヒストグラム値Imh
との比率を算出すれば微分直線性が得られる。また、こ
の微分直線性データを積分すれば積分直線性が求まる。
これにより、実際の色信号に一層近似した評価波形を使
用して試験実施することができるので、実情に即したビ
デオ専用の高速AD変換器のダイナミック特性の評価と
して、妥当性のある有効な試験方法を実現できる。
【0017】上記実施例の説明では、DUT100への
試験用波形として、図2(a)に示す変調信号32の場
合で説明したが、図3に示すようにフルスケール試験が
可能な振幅波形を供給できるようにした変調信号38波
形としても良く同様にして実施できる。
試験用波形として、図2(a)に示す変調信号32の場
合で説明したが、図3に示すようにフルスケール試験が
可能な振幅波形を供給できるようにした変調信号38波
形としても良く同様にして実施できる。
【0018】また、上記実施例の説明では、正弦波変調
信号32のサンプリングクロックとして、分割サンプリ
ング回数Q=4回に分けて4×n個の取り込みをする場
合で説明していたが、これ以外にも、ランプ波部36を
抽出可能で、平均した位相点分布可能なサンプリングク
ロックを使用し、かつこれによる理想ヒストグラム値I
mhが計算可能とする条件にすれば、他の整数Q回数ある
いは整数Q1回、Q2回の交互条件等のサンプリングクロ
ックで測定しても良く同様にして実施できる。
信号32のサンプリングクロックとして、分割サンプリ
ング回数Q=4回に分けて4×n個の取り込みをする場
合で説明していたが、これ以外にも、ランプ波部36を
抽出可能で、平均した位相点分布可能なサンプリングク
ロックを使用し、かつこれによる理想ヒストグラム値I
mhが計算可能とする条件にすれば、他の整数Q回数ある
いは整数Q1回、Q2回の交互条件等のサンプリングクロ
ックで測定しても良く同様にして実施できる。
【0019】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、下記に記載されるような効果を奏する。ビ
デオ信号発生器40からの映像信号に重畳した正弦波変
調信号32波形を使用してダイナミック特性試験をする
ことにより、実際のビデオ信号波形に近い波形により評
価試験できるので、ビデオ専用の高速AD変換器の評価
がより妥当性のある試験方法を実現できる効果が得られ
る。また、このビデオ信号発生器40は、DG/DP試
験でも使用するので、正弦波発生器50や信号切替器4
5を設ける必要がなくなる利点もある。ダイナミック特
性演算部15は、バッファメモリ60に格納されたデー
タの中で正弦波変調信号32部分のランプ波部36のみ
を抽出し、これから正弦波変調信号32のヒストグラム
Mhを求め、これと理想ヒストグラム値Imhとの比率の
算出により微分直線性、及び積分直線性が得られる効果
がある。
ているので、下記に記載されるような効果を奏する。ビ
デオ信号発生器40からの映像信号に重畳した正弦波変
調信号32波形を使用してダイナミック特性試験をする
ことにより、実際のビデオ信号波形に近い波形により評
価試験できるので、ビデオ専用の高速AD変換器の評価
がより妥当性のある試験方法を実現できる効果が得られ
る。また、このビデオ信号発生器40は、DG/DP試
験でも使用するので、正弦波発生器50や信号切替器4
5を設ける必要がなくなる利点もある。ダイナミック特
性演算部15は、バッファメモリ60に格納されたデー
タの中で正弦波変調信号32部分のランプ波部36のみ
を抽出し、これから正弦波変調信号32のヒストグラム
Mhを求め、これと理想ヒストグラム値Imhとの比率の
算出により微分直線性、及び積分直線性が得られる効果
がある。
【0020】
【図1】本発明の、ビデオ信号発生器40からの映像信
号を使用してダイナミック特性を測定する構成図であ
る。
号を使用してダイナミック特性を測定する構成図であ
る。
【図2】(a)本発明の、ダイナミック特性試験用の映
像信号である試験用の正弦波変調信号32で重畳したラ
ンプ波形図である。 (b)本発明の、正弦波変調信号32の1つの正弦波区
間をΔt時間の遅延を変えて4回の取り込みの測定スタ
ートを説明する図である。
像信号である試験用の正弦波変調信号32で重畳したラ
ンプ波形図である。 (b)本発明の、正弦波変調信号32の1つの正弦波区
間をΔt時間の遅延を変えて4回の取り込みの測定スタ
ートを説明する図である。
【図3】本発明の、ダイナミック特性試験用の正弦波変
調信号32を使用した、第2のランプ波形図の例であ
る。
調信号32を使用した、第2のランプ波形図の例であ
る。
【図4】従来の、ダイナミック特性を測定する構成図で
ある。
ある。
【図5】従来の、DUTにフルスケールの正弦波200
波形を印加して、正弦波ヒストグラムの算出を説明する
図である。
波形を印加して、正弦波ヒストグラムの算出を説明する
図である。
10、20 サンプリングクロック発生部 10a サンプリングクロック 15 ダイナミック特性演算部 32、38 変調信号 34 ランプ波信号 36 ランプ波部 40 ビデオ信号発生器 40b ランプ同期信号 45 信号切替器 50 正弦波発生器 60 バッファメモリ 62 高速メモリ 64 アドレスカウンタ 70 データ処理部 90 基準クロック 100 被試験用デバイス(DUT) 200 正弦波 210 理想ヒストグラム 220 正弦波ヒストグラム
Claims (2)
- 【請求項1】 被試験用デバイス(100)に試験用映
像信号を供給するビデオ信号発生器(40)と、これに
同期してAD変換する為のサンプリングクロックをDU
T(100)に供給するサンプリングクロック発生部
(10)と、DUT(100)からの量子化コードデー
タ(Dx)を格納するバッファメモリ(60)を有し
て、被試験用デバイス(100)のダイナミック特性の
試験において、 映像信号に重畳した正弦波変調信号(32)波形をビデ
オ信号発生器(40)からDUT(100)に供給し
て、バッファメモリ(60)に格納されたコードデータ
(Dx)の中で正弦波変調信号(32)部分のランプ波
形データを抽出し、これから正弦波変調信号(32)の
ヒストグラムを算出し、これに対応する正弦波変調信号
(32)の理想ヒストグラムを算出し、両者の比率から
微分直線性を算出するダイナミック特性演算部(15)
を設け、 以上を具備していることを特徴としたビデオ用ADコン
バータの試験装置。 - 【請求項2】 被試験用デバイス(100)に試験用映
像信号を供給するビデオ信号発生器(40)と、これに
同期してAD変換する為のサンプリングクロックをDU
T(100)に供給するサンプリングクロック発生部
(10)と、DUT(100)からの量子化コードデー
タ(Dx)を格納するバッファメモリ(60)を有し
て、被試験用デバイス(100)のダイナミック特性の
試験において、 映像信号に重畳した正弦波変調信号(32)波形をビデ
オ信号発生器(40)からDUT(100)に供給し、 正弦波変調信号(32)のサンプリングとして、分割サ
ンプリング回数(Q)回に分けてバッファメモリ(6
0)に格納し、 バッファメモリ(60)に格納されたコードデータ(D
x)の中で分割サンプリングされた正弦波変調信号(3
2)部分のコードデータ(Dx)を抽出し、 これから正弦波変調信号(32)のヒストグラムを算出
し、 この正弦波変調信号(32)のヒストグラムに対応する
理想ヒストグラムを算出し、 両者の比率から微分直線性を算出し、 以上を具備していることを特徴としたビデオ用ADコン
バータの試験方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31418994A JP3316098B2 (ja) | 1994-11-24 | 1994-11-24 | ビデオ用adコンバータの試験装置及びその試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31418994A JP3316098B2 (ja) | 1994-11-24 | 1994-11-24 | ビデオ用adコンバータの試験装置及びその試験方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08149005A JPH08149005A (ja) | 1996-06-07 |
JP3316098B2 true JP3316098B2 (ja) | 2002-08-19 |
Family
ID=18050336
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31418994A Expired - Fee Related JP3316098B2 (ja) | 1994-11-24 | 1994-11-24 | ビデオ用adコンバータの試験装置及びその試験方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3316098B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5793642A (en) * | 1997-01-21 | 1998-08-11 | Tektronix, Inc. | Histogram based testing of analog signals |
US8706445B2 (en) | 2009-07-22 | 2014-04-22 | Advantest Corporation | Measurement apparatus, program, recording medium, and measurement method |
-
1994
- 1994-11-24 JP JP31418994A patent/JP3316098B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH08149005A (ja) | 1996-06-07 |
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